再生装置的制造方法

再生装置的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及能够进行信息再生的再生装置。
【背景技术】
[0002] 在作为光学式记录介质的光盘中，为了保护其记录面，形成有给定厚度的透射基 板以覆盖所述记录面。作为信息读取单元的光拾取器，根据经由该透射基板而向所述记录 面照射了读取射束光时的反射光量，从该光盘进行记录信息的读取。
[0003] 但是，在制造上，难以将所有光盘的透射基板的厚度均形成为规定值以内，通常会 产生几 μπι的厚度误差。因此，由于该透射基板的厚度误差而会产生球面像差。若产生了球面 像差，则有时信息读取信号以及/或者跟踪误差信号的振幅水平会显著下降，存在使信息读 取精度降低的问题。也就是说，若更换光盘，则所述透射基板的厚度会变化，因此所述球面 像差变化，若不进行处理则存在使信息读取精度降低的问题。
[0004] 因此，为了提高信息的再生精度，需要对所述球面像差进行校正。例如在专利文献 1中公开了对这样的球面像差进行校正的技术。在专利文献1的技术中，对所述球面像差进 行校正，以使得RF(Radio Frequency;射频)信号的振幅最大。
[0005] 在先技术文献
[0006] 专利文献
[0007] 专利文献1:日本公开专利公报"特开2004-145987号公报(2004年5月20日公开)"

【发明内容】

[0008] 发明所要解决的课题
[0009] 近年，在光信息记录介质中，为了进行图像等的庞大信息的处理，越来越要求增加 信息记录容量。作为其解决方法，有利用作为再生时的信息处理提高技术之一的超分辨率 技术的方法。
[0010]超分辨率技术是指:再生比再生装置所具有的光学系统分辨率限度（由激光波长 以及光学系统的数值孔径所决定的限度)短的标记长度的信号的技术。由此，能够实现使用 了更小的标记长度的记录，因此实质上的记录密度得以增加。这是由于在高密度化时成为 问题的是再生技术而不是记录技术。此外，在将再生装置所射出的再生光的波长设为λ、将 物镜的数值孔径设为ΝΑ的情况下，光学系统分辨率限度为λ/4ΝΑ。
[0011]但是，在如专利文献1那样对球面像差进行校正以使得RF信号的振幅最大，并且对 能够通过上述超分辨率技术再生的光信息记录介质(超分辨率介质）中记录的信息进行了 再生的情况下，根据所形成的坑点的形状，有可能无法获得充分的信号特性。即，根据由再 生光照射到超分辨率介质而产生的反射光的光量(反射光量、返回光量)成为最大时获得的 球面像差校正值来校正球面像差，并且进行了超分辨率介质中记录的信息的再生的情况 下，根据所形成的坑点的形状，信息再生的可靠性有可能下降。这样，由本申请的发明者们 发现了 ：根据超分辨率介质中形成的坑点的形状，有可能无法获得充分的信号特性。
[0012] 本发明鉴于上述问题点而实现，其目的在于实现一种再生装置，能够高精度地再 生在不特定的多个超分辨率介质中记录的信息。
[0013] 用于解决课题的手段
[0014] 为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够从通过包含比再生 装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点在内的坑点组而记录了内容的光信息 记录介质之中再生该内容，上述再生装置具备：
[0015]照射部，其向上述光信息记录介质照射再生光；
[0016] 变换部，其将由上述照射部照射到上述光信息记录介质的上述再生光在该光信息 记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号；
[0017]信号质量评价部，其对由上述变换部变换而得到的上述再生信号的质量进行评 价;和
[0018] 球面像差校正部，其利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质 量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差。
[0019] 进而，为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够通过经由数值 孔径为0.85的物镜向光信息记录介质照射波长为405nm的再生光来对内容进行再生，上述 光信息记录介质从再生光的入射侧起依次配置有：具有该再生光所入射的入射面的透光 层；用于反射再生光来再生信息的信息记录层;和在扫描方向上设置有包含长度比作为再 生装置所具有的光学系统分辨率限度的119nm短的坑点在内的坑点组的基板，并且，上述光 信息记录介质通过该坑点组而在上述信息记录层中记录有上述内容，上述再生装置具备：
[0020] 照射部，其向上述光信息记录介质照射再生光；
[0021] 变换部，其将由上述照射部照射到上述光信息记录介质的上述再生光在该光信息 记录介质中进行反射而产生的反射光，变换为表示上述内容的再生信号；
[0022] 信号质量评价部，其对由上述变换部变换而得到的上述再生信号的质量进行评 价;和
[0023] 球面像差校正部，其利用由上述信号质量评价部评价而得到的上述再生信号的质 量评价结果，来校正在上述照射部中产生的球面像差。
[0024]进而，为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的再生装置，能够从光信息记录 介质之中对内容进行再生，上述光信息记录介质具有通过第1坑点组而记录了上述内容的 第1区域、和通过第2坑点组而记录了用于识别自身的介质的种类的介质识别信息的第2区 域，上述第1坑点组包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，上述第 2坑点组由再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度以上的坑点构成，上述再生装置 具备：
[0025]第1球面像差校正部，其在对上述第1区域中记录的上述内容进行再生时，利用表 示该内容的再生信号的质量评价结果，来校正在向上述光信息记录介质照射再生光的照射 部中产生的球面像差;和
[0026]第2球面像差校正部，其在对上述第2区域中记录的上述介质识别信息进行再生 时，通过与上述第1球面像差校正部不同的处理，来校正在上述照射部中产生的球面像差。
[0027] 发明效果
[0028] 根据本发明的一方式，具有能够高精度地再生在不特定的多个超分辨率介质中记 录的信息的效果。
【附图说明】
[0029] 图1是表示本发明的实施方式1所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。
[0030] 图2是表示本发明的实施方式1所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理 的流程的一例的图。
[0031] 图3是例示图2所示的处理(校正球面像差的处理)的详细情况的图。
[0032] 图4是本发明的实施方式1所涉及的光盘的剖视图。
[0033] 图5是表示在本发明的实施方式1所涉及的光盘的基板上形成的预制坑点的俯视 图。
[0034] 图6(a)以及图6(b)是分别表示针对与本发明的实施方式1所涉及的光盘同样的两 个不同的光盘的证实试验的结果的图。
[0035] 图7是表示本发明的实施方式2所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。
[0036] 图8是表示本发明的实施方式3所涉及的光盘的外观的立体图。
[0037]图9是表不图9所不的光盘的一部分的详细情况的俯视图。
[0038] 图10是表示本发明的实施方式3所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。
[0039] 图11是表示本发明的实施方式3所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理 的流程的一例的图。
[0040] 图12是表示本发明的实施方式4所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。
[0041] 图13是表示本发明的实施方式5所涉及的光盘的外观的立体图。
[0042] 图14是表示图13所示的光盘的BCA(Burst Cutting Area;突发切割区域)记录区 域中形成的条纹的一例的示意图。
[0043] 图15是表示本发明的实施方式5所涉及的再生装置的简要构成的功能框图。
[0044] 图16是表示本发明的实施方式5所涉及的再生装置中针对光盘的再生动作的处理 的流程的一例的图。
【具体实施方式】
[0045] 〔实施方式1〕
[0046] 以下，基于图1~图6,对本发明的一实施方式进行说明。此外，在实施方式1以及后 述的实施方式2~5中，内容是指用户要利用的信息，具体而言，可列举照片等静止图像、电 影等运动图像、程序等。
[0047]〈再生装置的构成〉
[0048] 图1是表示使光盘1进行再生的再生装置100的简要构成的功能框图。再生装置100 具备:光拾取器6(照射部）、主轴电动机7、聚焦/跟踪处理电路8、RF(Radio Frequency;射 频)信号处理电路9(变换部）、聚焦/跟踪驱动电路10、焦点偏移附加电路12、控制部14以及 存储器15。
[0049] 光盘1是通过包含比再生装置100(或者能够使该光盘1进行再生的再生装置)所具 有的光学系统分辨率限度短的坑点(Pit)在内的坑点组而记录了信息（内容等)的再生专用 的光信息记录介质（参照后述的图4)。关于光盘1的构成在后面描述。光盘1被主轴电动机7 旋转驱动。
[0050] 光拾取器6为了对光盘1中记录的内容进行再生而向光盘1照射作为再生光的激光 束光(光束）。光拾取器6具备:半导体激光器61、准直透镜62、分束器63、λ/4板64、聚光透镜 67、光检测器68、球面像差校正光学系统650、球面像差校正光学系统用驱动机构651、物镜 660、以及聚焦/跟踪执行元件661。
[0051] 半导体激光器61射出具有给定光强度(再生功率)的激光束光。从半导体激光器61 射出的激光束光通过准直透镜62、分束器63以及λ/4板64而入射至球面像差校正光学系统 650〇
[0052]准直透镜62形成平行光。分束器63将该平行光分配为透射光和反射光。λ/4板64使 该透射光的波长位移1 /4波长的量。
[0053]球面像差校正光学系统650具有对伴随于光盘1的透光层4(透射基板、覆盖层）的 厚度误差的球面像差进行校正的功能。球面像差校正光学系统650例如是由凹透镜650a和 凸透镜650b的对所构成的射束放大型的中继透镜，通常被构成为射出使入射的平行光的射 束直径放大后的平行光。通过使凹透镜650a与凸透镜650b之间的透镜间隔变化，从而入射 至物镜660的平行光被变换为发散光或者会聚光，由此调整在物镜660中产生的球面像差。 [0054] 球面像差校正光学系统用驱动机构651对凹透镜650a与凸透镜650b之间的透镜间 隔进行调整。通过球面像差校正光学系统用驱动机构651，能够使球面像差校正光学系统 650发挥功能而校正光盘1的透光层4的厚度的偏差所引起的球面像差。
[0055]物镜660使来自球面像差校正光学系统650的激光束光聚光在光盘1所形成的信息 记录层3(参照后述的图4)上。然后，光盘1对激光束光进行反射而产生的反射光由光检测器 68来检测。
[0056]光检测器68将接受的反射光变换为与反射光的光强度相应的电信号。然后，光检 测器68分别向聚焦/跟踪处理电路8以及RF信号处理电路9提供该电信号。
[0057] 聚焦/跟踪处理电路8生成聚焦误差信号(Focus Error Signal，FES)和跟踪误差 信号(Tracking Error Signal，TES)，并赋予给聚焦/跟踪驱动电路10。
[0058]聚焦/跟踪驱动电路10基于FES信号来生成焦点驱动信号。并且，聚焦/跟踪驱动电 路10驱动聚焦/跟踪执行元件661，以使物镜660进行在光盘1的盘面的垂直方向上位移的聚 焦动作。
[0059]另外，聚焦/跟踪驱动电路10基于TES信号来生成跟踪驱动信号。并且，聚焦/跟踪 驱动电路10驱动聚焦/跟踪执行元件661，以使物镜660进行在光盘1的半径方向（跟踪方向） 上位移的跟踪动作。
[0060]此外，作为聚焦误差信号的检测方法，可采用公知的像散法、刀口法，光斑尺寸检 测法等方法。另外，作为跟踪错误检测方法，可采用公知的推挽法、DPP(Differential Push-Pull;差动推挽)法、DHKDifferential Phase Detect ion;差分相位检测)法等方法。 [0061] RF信号处理电路9将由光拾取器6照射到光盘1的再生光在光盘1中反射而产生的 反射光，变换为表示信息（内容）的再生信号(RF信号）。变换得到的再生信号被输出到控制 部14(特另lj是i-MLSE(Integrated-Maximum Likelihood Sequence Estimation;综合最大 似然序列估计)检测部141)。
[0062 ]控制部14进行光拾取器6的控制、主轴电动机7的控制、以及各伺服系统的控制。例 如，在光盘1被装载(填装)于再生装置100时，控制部14通过控制主轴电动机7,从而使光盘1 在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。
[0063]另外，控制部14具有各评价指标(i-MLSE、RF信号的振幅、以及抖动等）的运算处理 等的功能。另外，控制部14进行对于存储器15中保存的球面像差校正值的读出、以及写入 (保存）。在存储器15中保存了再生装置100的各初始设定值。
[0064]控制部14在结束了光盘1的旋转、半导体激光器61的点亮等的事先处理后，控制聚 焦/跟踪驱动电路10,使其开始聚焦控制。此时，通过实施相位补偿等适当的处理而生成的 FES信号被从聚焦/跟踪处理电路8赋予给聚焦/跟踪驱动电路10,由此进行聚焦/跟踪驱动 电路10中的聚焦控制。
[0065] 另外，控制部14通过控制焦点偏移附加电路12而使其进行聚焦控制的偏移调整。 通过对伺服控制环路附加偏移，由此来调整光盘1中的射束斑点的聚焦状态。
[0066] 另外，控制部14控制聚焦/跟踪驱动电路10，使其开始跟踪控制。此时，通过实施相 位补偿等适当的处理而生成的TES信号被从聚焦/跟踪处理电路8赋予给聚焦/跟踪驱动电 路10,由此进行聚焦/跟踪驱动电路10中的跟踪控制。
[0067] 另外，控制部14对聚焦/跟踪驱动电路10赋予轨道跃变信号。由此，从聚焦/跟踪驱 动电路10向聚焦/跟踪执行元件661中设置的跟踪线圈（未图示)输出轨道跃变驱动信号，进 行轨道跃变控制。此外，聚焦控制、跟踪控制以及轨道跃变控制可以根据公知的适当方法来 进行。
[0068]另外，控制部14具备i-MLSE检测部141 (信号质量评价部）以及球面像差校正部 142。在RF信号处理电路9中，来自光盘1所形成的信息记录层3的反射光被变换为电信号。并 且，在RF信号处理电路9中，电信号被实施适合i-MLSE检测部141中的各种运算的处理（电信 号的大小的调整以及AD变换等），从而被变换为再生信号。RF信号处理电路9将该再生信号 赋予给i-MLSE检测部141。i-MLSE检测部141以及球面像差校正部142的详细动作在后面描 述。
[0069]此外，在再生装置100中，分别设定了从半导体激光器61射出的再生光的波长为 405nm，光拾取器6所设置的光学系统的开口率（物镜660的数值孔径）（Numerical Aperture，ΝΑ)为0.85。但是，也可根据光盘1的种类而适当设定除此之外的波长以及开口 率。
[0070] 〈再生装置中的处理〉
[0071] 图2是表示再生装置100中针对光盘1的再生动作的处理(控制方法、再生方法）的 流程的一例的流程图。
[0072] 首先，光盘1被装载于再生装置100(处理S1)。然后，再生装置100的控制部14通过 在内部设置的传感器(未图示)来辨识光盘1被装载这一情况。
[0073]接着，控制部14在确认了光盘1的装载之后，控制主轴电动机7而使其旋转（处理 S2)。由此，光盘1在线速度恒定或者转速恒定等动作条件下被旋转驱动。然后