专利名称：视图特性的测试方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种通讯晶片的测试方法及其装置，特别涉及一种通讯晶片的视图(Eye Diagram)特性的测试方法及其装置。
一种已知的测试装置，如
图1所示，包括一测试主机(mainframe)11、一射频分析仪15、一待测晶片14及一机械，手臂12，且该待测晶片14置于该机械手臂12的测试盘31上。首先，该主机11发出一预设条件(precondition)至该待测晶片14，并驱使该待测晶片14输出高斯低通滤波信号至该射频分析仪15。该射频分析仪15将该高斯低通滤波信号转换成为视图，而由工作人员经过该射频分析仪15的屏幕检查该待测晶片14是否符合规格。
然而上述方法并无法自动化，导致一个晶片的测试周期需花费许多的时间，而降低产出量。其次，该射频分析仪15很贵，致使整个测试成本被提高。第三，以人眼检查该待测晶片14是否符合规格，往往因为人为的疏忽和无法精确比对，而导致错误。此外，已知的测试装置另须以专人进行系统整合，也非常耗时。
本发明的第二目的是提供一种视图特性的测试方法及装置，可快速测试视图特性。
为了达到上述目的，本发明并不采用已知技艺的射频分析仪，而是直接由一主机送出预设条件至一待测晶片，由该待测晶片读出GLPF信号。经数字化和规格化该GLPF信号后，可执行存在于该主机内的一视图重建程序而重建该视图。接着仍可以软件分析该视图参数和预设规格间的误差，且依据该误差的分析而判断该待测晶片是否仍在规格所允许的范围内。若不在所允许的范围内，则予以丢弃。
具体地讲，本发明提供一种视图特性的测试方法，它包括下列步骤由一主机送出预设条件至一待测晶片，且由该待测晶片读出GLPF信号；数字化和规格化该GLPF信号；依规格化后的GLPF信号而重建一视图；分析该视图的参数和预设规格间的误差；及依据该误差分析而判断该待测晶片的正确性。
所述的视图的参数包括视图的宽度、高度、交叉百分比和RMS抖动。
所述的重建视图的步骤还包括以下步骤计算规格化后的GLPF信号的平均值；依据该平均值而计算零交叉点的位置；及利用GLPF信号的传输速率作为视图周期，且将一连串GLPF信号重叠至该视图周期内。
本发明还提供一种视图特性的测试装置，它包括
一测试主机，包括一提取器，用于提取一待测晶片的GLPF输出信号，且数字化和规格化该GLPF输出信号；一视图重建装置，用于将规格化后的一连串GLPF输出信号重叠至同一视图周期内而形成视图；及一误差比较装置，用于计算该视图的各参数的误差是否仍在规格所允许的范围内；以及一机械手臂，连接至该测试主机，用于承载该待测晶片。
所述的机械手臂另包括一测试盘，用于承载该待测晶片。
所述的视图参数包括视图的宽度、高度、交叉百分比和RMS抖动，
图3是本发明的测试流程图。在步骤31，本发明启始。在步骤32，该主机21送出预设条件至该待测晶片24，且由该待测晶片24读出GLPF信号。一般而言，可依据测试时间，而提取大约数千个测试周期的信号。在步骤33，数字化和规格化该GLPF信号。在步骤34，依图4所述的步骤重建视图。在步骤35，计算视图的参数(例如视图的宽度、高度、交叉百分比、RMS抖动等)，并分析和规格间的误差，该规格和一可接受的误差度可由测试者输入。若该通讯晶片的误差超过可接受的范围，则予以丢弃。在步骤36，本发明结束。
图4是本发明的视图重建流程图，且图5是一视图的示意图。在步骤41，本发明启始。在步骤42，计算所提取信号52的平均值(mean)，例如可将所提取的信号相加，再予以平均。在步骤43，依据该平均值而计算零交叉点(zero-crossing point)的位置(如图5所示的位置51)，以作为一基准点。在步骤44，利用已知信号传输速率(Date Rate)来作一个固定重叠的时间T，而重叠回一个下的时间间格为Δt(即为提取器的取样频率的倒数)，如此一来可以完整正确的将一串的数据重叠回一个周期内，而产生视图。在步骤45，本发明结束。
本发明的技术内容及技术特点已公开如上，然而本领域的技术人员仍可能基于本发明的教导和提示而作种种不背离本发明精神的替换及修饰。因此，本发明的保护范围应不限于实施例所揭示者，而应包括各种不背离本发明的替换及修饰，并为本发明的权利要求所涵盖。
权利要求
1.一种视图特性的测试方法，其特征在于，它包括下列步骤由一主机送出预设条件至一待测晶片，且由该待测晶片读出GLPF信号；数字化和规格化该GLPF信号；依规格化后的GLPF信号而重建一视图；分析该视图的参数和预设规格间的误差；及依据该误差分析而判断该待测晶片的正确性。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于所述的视图的参数包括视图的宽度、高度、交叉百分比和RMS抖动。
3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于所述的重建视图的步骤还包括以下步骤计算规格化后的GLPF信号的平均值；依据该平均值而计算零交叉点的位置；及利用GLPF信号的传输速率作为视图周期，且将一连串GLPF信号重叠至该视图周期内。
4.一种视图特性的测试装置，其特征在于，它包括一测试主机，包括一提取器，用于提取一待测晶片的GLPF输出信号，且数字化和规格化该GLPF输出信号；一视图重建装置，用于将规格化后的一连串GLPF输出信号重叠至同一视图周期内而形成视图；及一误差比较装置，用于计算该视图的各参数的误差是否仍在规格所允许的范围内；以及一机械手臂，连接至该测试主机，用于承载该待测晶片。
5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于所述的机械手臂另包括一测试盘，用于承载该待测晶片。
6.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于所述的视图参数包括视图的宽度、高度、交叉百分比和RMS抖动，
全文摘要
本发明涉及一种视图特性的测试方法及装置，其直接由一主机送出预设条件至一待测晶片，且由该待测晶片读出GLPF信号。经数字化和规格化该GLPF信号后，可执行存在于该主机内的一视图重建程序而重建该视图。接着仍可以软件分析该视图参数和预设规格间的误差，且依据该误差的分析而判断该待测晶片是否仍在规格所允许的范围内。若不在所允许的范围内，则予以丢弃。
文档编号H01L21/66GK1449007SQ0210818
公开日2003年10月15日 申请日期2002年3月28日 优先权日2002年3月28日
发明者郑贻仁 申请人:华邦电子股份有限公司