专利名称：一种氧化铝弥散强化铜引线框架材料及制备方法
技术领域：
本发明涉及微电子封装用金属材料，具体地说是一种集成电路或大规模集成电路用的氧化铝弥散强化铜引线框架铜合金材料及制备方法。
背景技术：
在现有技术中用于集成电路或大规模集成电路的合金主要为Fe-Ni42合金，该合金其它性能尚好，只是导电率和导热率较低，其导电率仅为3％IACS(国际退火铜导电率标准)，近期的引线框架材料已大量采用铜合金，如Cu-2.3Fe-0.1Zn-0.03P和Cu-3Ni-0.7Si等合金，这些合金的抗拉强度在450～500MPa之间，导电率在50～60％IACS之间，软化温度在425～450℃之间，已有中国发明专利技术公开一种更高强度和更高导电率的铜合金，即氧化物弥散强化铜合金，(专利号ZL94112582.3)其强度可以达到520MPa，导电率可达到75～78％ IACS，软化温度可达750～780℃之间，但这种合金主要作为电阻焊电极材料。
发明内容
为了进一步提高氧化铝弥散强化铜引线框架材料的抗拉强度，本发明的目的在于提供一种含铬的氧化铝弥散强化铜引线框架材料及制备方法。
为了实现上述目的，本发明的技术方案如下氧化铝弥散强化铜引线框架材料按重量百分比计，其成份为0.2～0.3％的铬粉，1～3％的氧化铝粉，铜粉为余量；其中铬粉粒度小于300目，氧化铝粉粒度小于1微米，铜粉粒度为200～300目。
其制备方法将气雾化的铜粉(粒度200～300目)与1～3wt％的氧化铝粉(粒度小于1微米)和0.2～0.3wt％铬粉(粒度小于300目)，在混料机中进行充分的混合，然后在高能球磨机中进行球磨(转速为600～800转/分，时间为1～2小时)，球磨后在氢气炉中进行还原处理，处理温度为400～500℃，时间为1.5～2小时，将处理后的混合粉在模具中冷压成型，压制压力为4～6吨/厘米2，一般为圆柱形坯体，该坯体在氢气保护下进行烧结，烧结温度为800～850℃时间为2～3小时，烧结后的圆柱体坯体进行挤压，挤压成方形型材，挤压温度为800～840℃，压力为7～8吨/厘米2；然后进行热处理使合金获得弥散强化和沉淀强化的双重强化效果，从而获得高强高导铜合金，具体是先进行固溶处理，将该型材加热至950～1020℃，保温1～2小时并进行水淬；再冷轧并进行时效处理，冷轧成0.2～0.3mm的带材，其中当轧至1.5～2.0mm和0.8～1.2mm小时，分别在450～480℃温度下进行2～3小时时效处理。得到的带材可具有抗拉强度540～580MPa，导电率为73～76％ IACS和软化温度为750～780℃的优良特性。
本发明具有如下优点1.具有优良的材料特性。本发明在氧化铝弥散强化铜材料中添加了0.2～0.3％的铬，经过适当的热处理工艺，可进一步提高材料的强度，使其抗拉强度可以达到540～580MPa之间，导电率为73～76％ IACS，软化温度为750～780℃之间(该指标适合作引线框架材料)。
2.采用本发明方法制备的氧化铝弥散强化铜引线框架材料适用于集成电路或大规模集成电路。
具体实施例方式
实施例1将粒度为200目以下的气雾化铜粉与重量百分比为1％的氧化铝粉(粒度小于0.8微米)和重量百分比0.2％的铬粉(粒度小于300目)在混料机中进行充分混合，混粉时间为12小时，将混合后的粉放入搅拌式高能球磨机中球磨，搅拌机转速为600转/分，搅拌时间为2小时。球磨后的粉在氢气炉中进行还原处理，处理温度400℃，还原时间2小时。将还原后的粉放入冷压模中进行冷压，压制压力为4吨/厘米2，压坯为直径Φ80mm，高度为150mm的圆柱体，然后将圆柱体在氢气炉中烧结2小时，烧结温度为800℃，该圆柱体被热挤压成5×40mm的方型板坯，挤压温度为800℃，挤压压力为7吨/厘米2。
将该板材加热到950℃保温1小时，然后进行水淬。将水淬后的板材冷轧到1.5mm厚的带材，该带材在热处理炉中在450℃的温度下进行2小时的时效处理，然后再冷轧到0.8mm厚的带材，该带材在450℃温度下进行二次时效2小时，然后再冷轧到0.25mm的薄带。该带材的抗拉强度为540MPa，导电率为76％ IACS，软化温度为750℃。
实施例2将粒度为200目以下的气雾化铜粉与重量百分比为3.0％的氧化铝粉(粒度小于0.6微米)和重量百分比0.3％的铬粉(粒度小于300目)在混料机中进行充分混合，混粉时间为24小时，将混合后的粉放入搅拌式高能球磨机中球磨，搅拌机转速为800转/分，搅拌时间为1小时。球磨后的粉在氢气炉中进行还原处理，处理温度为500℃，还原时间为1.5小时，将还原后的粉放入冷压模中进行冷压，压制压力为6吨/厘米2，压坯为直径Φ80mm，高140mm的圆柱体，然后将圆柱体在氢气炉中烧结3小时，烧结温度为850℃，该圆柱体被热挤压成5×40mm的方型板坯，挤压温度为840℃，挤压压力为8吨/厘米2。将该板材加热到1020℃保温1小时然后水淬。将水淬后的板材冷轧到2.0mm厚的带材，该带材在热处理炉中在480℃温度下进行时效3小时，然后再冷轧到1.2mm厚，该带材在480℃温度下进行二次时效3小时，最后冷轧到0.28mm的薄带。该带材的抗拉强度为560MPa，导电率为74％ IACS，软化温度为780℃。该指标特别适合作为引线框架材料。
权利要求
1.一种氧化铝弥散强化铜引线框架材料，其特征在于按重量百分比计，其成份为0.2～0.3％的铬，1～3％的氧化铝粉，铜粉为余量。
2.按照权利要求1所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料，其特征在于其中铬粉粒度小于300目，氧化铝粉粒度小于1微米，铜粉粒度为200～300目。
3.一种氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于在铜粉合金中添加重量百分比为0.2～0.3的铬粉及1～3的氧化铝粉，充分混合后球磨，在氢气环境中进行还原处理，再将还原处理后的混合粉冷压成型、烧结、挤压；然后进行热处理使合金获得弥散强化和沉淀强化的双重强化效果，从而获得高强高导铜合金，具体是先进行固熔处理，将坯体加热至950～1020℃，保温1～2小时后水淬，再冷轧并进行时效处理即可。
4.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于所述铜粉为气雾化、粒度为200～300目的铜粉；氧化铝粉粒度小于1微米，铬粉粒度小于300目。
5.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于所述球磨的转速为600～800转/分，时间为1～2小时。
6.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于所述还原处理温度为400～500℃，时间为1.5～2小时。
7.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于其中冷压成型所用压制压力为4～6吨/厘米2。
8.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于其中冷压成型后的坯体在氢气保护下进行烧结，烧结温度为800～850℃，时间为2～3小时。
9.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于挤压是将烧结后的坯体挤压成型材，挤压温度为800～840℃，压力为7～8吨/厘米2。
10.按照权利要求3所述氧化铝弥散强化铜引线框架材料的制备方法，其特征在于其中所述冷轧后的热处理过程中将坯体冷轧成0.2～0.3mm的带材，进行时效处理；其中当轧至1.5～2.0mm和0.8～1.2mm时，分别在450～480℃温度下进行2～3小时时效处理。
全文摘要
本发明涉及微电子封装用金属材料，具体公开一种氧化铝弥散强化铜引线框架铜合金材料及制备方法。在铜粉合金中添加重量百分比为0.2～0.3的铬粉及1～3的氧化铝粉，充分混合后球磨，并在氢气环境中进行还原处理，再冷压成型、烧结、挤压，最后进行热处理使合金获得弥散强化和沉淀强化的双重强化效果，从而获得高强高导铜合金。采用本发明进一步提高了氧化铝弥散强化铜引线框架材料的抗拉强度，适用于集成电路或大规模集成电路。
文档编号H01L21/60GK1626691SQ20031011900
公开日2005年6月15日 申请日期2003年12月9日 优先权日2003年12月9日
发明者闵家源 申请人:中国科学院金属研究所