一种提高连接器寿命的装置的制作方法

文档序号:6858501阅读:247来源:国知局
专利名称:一种提高连接器寿命的装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种电连接装置,特别是一种提高电连接器寿命的装置。
背景技术
在通信系统或者其他复杂的电路系统中,连接器得到了非常广泛的应用,通过连接器可以很好的把不同的模块连接在一起。随着电路越来越复杂,对连接器的要求也越来越高,往往一个连接器有几十甚至几百个接触点,由于连接器设计比较复杂,连接器插拔次数是非常有限的,目前连接器设计的插拔寿命基本上在200到500次之间。一旦插拔次数超过这个数量,就很可能损坏,在实际的正常应用中,200到500次的插拔寿命是足够了。但是在系统的测试,比如生产测试时,测试平台上的连接器可能需要进行上万次甚至更多次数的插拔。如图1所示,是现有技术测试示意图,在现有技术中,当要对测试单板101进行测试时,需要把测试单板101安装在测试平台104上,在进行安装时,测试单板101上的公连接器102插入测试平台104上的母连接器103上。测试完成之后,需要将测试单板101从测试平台104上拆卸下来,在进行拆卸时,测试单板101上的公连接器102从测试平台104上的母连接器103上拔出。由于母连接器103所能承受的插拔次数(寿命)非常有限,而测试平台104需要测试大量的单板,测试单板的数量大大超过测试平台104上母连接器103所能承受的插拔次数,所以使得母连接器103很容易就损坏了。母连接器103一旦损坏,更换起来非常麻烦,首先更换连接器需要时间,另外,部分连接器是贴片的,在进行多次更换后,焊接成功率也是一个严重的问题,而且还会影响测试。怎样在能够保证测试平台能够在测试上万块单板之后,连接器还可以使用,也就是说怎么提高测试平台上的连接器的寿命呢?业界还没有非常有效的方法。目前尚未检索到解决上述问题的有关国内外文献。
实用新型内容为解决现有技术存在的问题,本实用新型提供一种提高连接器寿命的装置,它解决了现有技术由于连接器需要进行上万次的插拔而容易损坏的问题。
本实用新型的一种提高连接器寿命的装置,它由一个母连接器、一个公连接器和一个使所述公连接器和母连接器上的管脚相互对应并电连接的电连接装置构成。
进一步地,本实用新型还可以具有如下的特点它是由若干个公连接器、与公连接器同样数量的母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使公连接器和母连接器一一对应,并使它们的管脚对应电连接。
进一步地,本实用新型还可以具有如下的特点它是由一个公连接器、若干个母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使每一个母连接器分别与公连接器上的管脚相互对应并电连接。
进一步地,本实用新型还可以具有如下的特点它是由若干个公连接器、一个母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使每一个公连接器分别与母连接器上的管脚相互对应并电连接。
本实用新型所述的电连接装置可以是印刷电路板,也可以是其他任何能够使用的介质,如电缆等。
本实用新型的一种提高连接器寿命的装置,它能够避免测试平台上的连接器多次直接插拔,从而提高测试平台的连接器的寿命。该装置克服了现有技术的不足,避免在测试过程中因连接器寿命不足而影响测试效率的问题。


图1是本实用新型背景技术中所述的现有技术测试工作的示意图;图2是本实用新型实施例一的结构示意图;图3是图2中装置的工作示意图;
图4是本实用新型实施例二的结构示意图;图5是本实用新型实施例三的结构示意图;图6是本实用新型实施例四的结构示意图;图7是本实用新型测试装置应用方法的流程图。
具体实施方式
以下结合附图并用最佳的实施例对本实用新型作详细的说明实施例一参阅图2,本实施例的一种提高连接器寿命的装置由一个母连接器203、一个公连接器202和一个使所述公连接器和母连接器上的管脚相互对应并电连接的印刷电路板201构成。通过印刷电路板201上的走线,使得公连接器202和母连接器203上的管脚一一对应起来,并电连接。所述的母连接器203和公连接器202分别背对背连接在印刷电路板的上下两侧。
参阅图3,要将测试装置302安装在测试平台303上,安装时,公连接器202插入母连接器308。当要对测试单板301进行测试时,将测试单板301上的公连接器305插入测试装置上的母连接器203上,由于测试装置上的母连接器203的管脚和公连接器202上的管脚一一对应,此时的效果就和公连接器305直接插入母连接器308一样。不同的是,母连接器203代替母连接器308与测试单板301上的公连接器305进行插拔,在进行多次测试后,母连接器203如果损坏了,可以更换测试装置,而测试平台303上的母连接器308能够得到有效的保护,从而大大地提高了测试平台303上母连接器308的寿命。
参阅图7,本实用新型的具体使用步骤是开始后,将测试装置安装在测试平台上,然后将测试单板安装在测试装置上进行测试;结束测试后如果测试装置没有损坏,继续重复将其它的测试单板安装在测试平台上;如果测试装置损坏,则将测试装置从测试平台上取下,再将新的测试装置安装在测试平台上。
上述的装置可以结合起来使用,比如(1)当测试单板和测试平台上有多个连接器时,测试装置可以是一个多连接器的装置,或者是多个单连接器的装置;(2)当多个测试单板同时在测试平台上进行测试时,测试装置可以是一个多连接器的装置,或者是多个单连接器的装置等等。在以下的实施例中详述。
所述公连接器和母连接器的位置可以互换。
实施例二参阅图4,本实施例与实施例一不同之处在于它是由三个公连接器、三个母连接器和一个印刷电路板构成,印刷电路板使公连接器和母连接器一一对应,并使它们的管脚对应电连接。
实施例三参阅图5,本实施例与实施例一不同之处在于它是由三个公连接器、一个母连接器和一个印刷电路板构成,印刷电路板使每一个公连接器分别与母连接器上的管脚相互对应并电连接。
实施例四参阅图6,本实施例与实施例一不同之处在于它是由一个公连接器、三个母连接器和一个印刷电路板构成,印刷电路板使每一个母连接器分别与公连接器上的管脚相互对应并电连接。
权利要求1.一种提高连接器寿命的装置,其特征在于它由一个母连接器、一个公连接器和一个使所述公连接器和母连接器上的管脚相互对应并电连接的电连接装置构成。
2.如权利要求1所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于它是由若干个公连接器、与公连接器同样数量的母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使公连接器和母连接器一一对应,并使它们的管脚对应电连接。
3.如权利要求1所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于它是由一个公连接器、若干个母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使每一个母连接器分别与公连接器上的管脚相互对应并电连接。
4.如权利要求1所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于它是由若干个公连接器、一个母连接器和一个电连接装置构成,电连接装置使每一个公连接器分别与母连接器上的管脚相互对应并电连接。
5.如权利要求1、2、3或4所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于所述的母连接器和公连接器分别背对背连接在电连接装置的上下两侧。
6.如权利要求5所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于所述的电连接装置是印刷电路板。
7.如权利要求1、2、3或4所述的一种提高连接器寿命的装置,其特征在于所述的电连接装置是印刷电路板。
专利摘要一种提高连接器寿命的装置,它涉及一种电连接装置,特别是一种提高电连接器寿命的装置。它由一个母连接器、一个公连接器和一个使所述公连接器和母连接器上的管脚相互对应并电连接的电连接装置构成。本实用新型所述的电连接装置可以是印刷电路板,也可以是其他任何能够使用的介质,如电缆等。本实用新型的一种提高连接器寿命的装置,它能够避免测试平台上的连接器多次直接插拔,从而提高测试平台的连接器的寿命。该装置克服了现有技术的不足,避免在测试过程中因连接器寿命不足而影响测试效率的问题。
文档编号H01R31/06GK2789980SQ200520011780
公开日2006年6月21日 申请日期2005年4月13日 优先权日2005年4月13日
发明者唐雄, 黄睿, 王金龙, 彭家银 申请人:中兴通讯股份有限公司
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