专利名称：一种电路测试仪的电路转换装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种电路测试仪的电路转换装置。
背景技术：
在电子产品设计过程中，为了检验电路设计是否达到设计要求，或检验电路排布是否达到批量生产要求，需要使用测试仪进行测试；为了确保测试效果准确，要求待测试电路与测试仪连接稳固而通畅；但实际测试过程中，往往需要多次修订并检测，才能使待测试电路达到生产要求，因而待测试电路需与测试仪多次连接，这难免造成测试仪接口损伤。因此生产商多采用测试板作为待测试电路与测试仪之间的电路转换装置，目前电路测试仪的电路转换装置广泛应用于各式各样的电连接器和线材的测试中。现有技术中的测试板通常包括PCB板、设置在PCB板前端部的测试头，以及设置于 PCB板后端部的依次排列的引脚，测试头通过PCB板电路与引脚相连，然而该现有技术的测试板在测试时，需要先将测试线一根根焊接在引脚上，然后将测试头与测试仪插接进行测试，在使用过程中，由于测试板需要频繁被拔插，当PCB板或测试头等由于频繁拔插而损坏时，就必须更换整个测试板，测试线也不得不重新焊接，操作繁琐。另外，随着信息技术的发展，电子设备越来越复杂，电连接器上的线路和零件也越来越密集，相应的测试板上引脚的排列也越来越紧凑，当引脚越来越小，密度越密时，其焊接的难度就越大，焊线也越麻烦，当测试线与引脚进行焊接时，由于引脚的间隔距离小，测试线与引脚对位定位难度大，焊接操作中相互干扰大，线路连接不稳定，导致测试过程费时费力，容易造成人为失误，测试效率低。
发明内容本实用新型的目的在于针对现有技术的不足而提供一种操作简单、线路连接稳定、人为失误小且测试效率高的电路测试仪的电路转换装置。为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案。一种电路测试仪的电路转换装置，包括PCB板，以及设置于PCB板前端部的与测试仪配合使用的测试头，还包括排针座，以及与测试线相连接的排母座，所述排针座固接于 PCB板的后端部，所述测试头通过PCB板电路与排针座相连，所述排针座的后端部与排母座插接。本实用新型还包括如下的进一步技术方案。其中，所述PCB板的后端部开设有通孔，所述排针座插接于所述通孔。其中，所述通孔在PCB板的后端部呈上下两排排列，所述PCB板电路包括设置于 PCB板上表面的上PCB板电路和设置于PCB板下表面的下PCB板电路，所述上PCB板电路和下排的通孔相连，所述下PCB板电路和上排的通孔相连。其中，所述排针座包括与通孔配合使用的排针和开设有排针插槽的排针壳体，所述排针穿过并伸出排针壳体，所述排针包括上排排针和下排排针，所述上排排针的前端部
3与上排的通孔插接，所述下排排针的前端部与下排的通孔插接。其中，所述排母座包括与排针配合使用的排母端子和开设有排母端子插槽的排母壳体，所述排母端子包括上排排母端子和下排排母端子，所述排母端子的前端部固定于排母端子插槽内，所述排母端子的后端部穿过并伸出排母壳体。其中，所述PCB板电路的后端部成型有与通孔形状相匹配的插接部，所述插接部套设于所述通孔内。其中，所述PCB板后端部的PCB板电路的密度大于PCB板前端部的PCB板电路的
也/又。其中，所述PCB板开设有螺纹孔，所述PCB板与一底板螺接。其中，上排的所述通孔与下排的所述通孔相对并列设置。其中，上排的所述通孔与下排的所述通孔相对错位设置。本实用新型有益效果为本实用新型的一种电路测试仪的电路转换装置，包括 PCB板，以及设置于PCB板前端部的与测试仪配合使用的测试头，还包括排针座，以及与测试线相连接的排母座，所述排针座固接于PCB板的后端部，所述测试头通过PCB板电路与排针座相连，所述排针座的后端部与排母座插接。由于排母座和排针座插接，避免重复焊线， 操作简单且确保线路连接稳定，便于拆卸更换PCB板，测试效率高，使用方便；此外，排针座和排母座插接连接，降低焊接操作对位定位难度，有效避免人为失误，为测试电路的频繁拔插提供方便，测试效率高。
[0018]利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制U[0019]图1是本实用新型--种电路测试仪的电路转换装置的结构示意图。[0020]图2是本实用新型--种电路测试仪的电路转换装置的正面结构示意图。[0021]图3是本实用新型--种电路测试仪的电路转换装置的背面结构示意图。[0022]图4是本实用新型--种电路测试仪的电路转换装置的分解结构示意图。[0023]图5是附图4中“A’’位置的结构放大示意图。[0024]图6是本实用新型--种电路测试仪的电路转换装置固定于底板的结构示意图。[0025]在图1至图6中包括有[0026]1—-PCB 板11—通孔[0027]12—一PCB板电路121——上PCB板电路[0028]122-—下PCB板电路13——插接部[0029]14—一螺纹孔2——测试头[0030]3——-排针座31——排针[0031]311-——上排排针312——下排排针[0032]32—一排针壳体321——排针插槽[0033]4——一排母座41——排母端子[0034]411-——上排排母端子412——下排排母端子[0035]42—一排母壳体421——排母端子插槽[0036]5——底板51——凹槽。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图和实施例对本实用新型进行进一步详细说明。实施例一。如图1至图6所示，一种电路测试仪的电路转换装置，包括PCB板1，以及设置于 PCB板1前端部的与测试仪配合使用的测试头2，还包括排针座3，以及与测试线相连接的排母座4，所述排针座3固接于PCB板1的后端部，所述测试头2通过PCB板电路12与排针座 3相连，所述排针座3的后端部与排母座4插接。测试前，排针座3固接于PCB板1的后端部，测试头2通过PCB板电路12与排针座3电连接，测试头2、PCB板1和排针座3即形成一套件；测试时，使测试头2与测试仪插接连接，与此同时将测试线与排母座4焊接连接，再将排母座4与排针座3插接连接，使得测试线与测试仪电性导通，即可进行测试。排母座4和排针座3插接连接，组装方便，确保线路连接稳定，提高测试效率；测试完毕后，取下排母座4即可进行下一次的测试，一组测试线在进行测试时，还可同时将另一组待测的测试线先焊接在排母座4上，每次测试只需要拔插排母座4，使用方便。本实用新型操作简单，一旦PCB板1由于频繁插拔而损坏时，取下排针座3和排母座4，拆卸更换设置有测试头2的PCB板1，只需要在排母座4上焊一次线即可进行测试，使用方便，测试效率高。此外，排针座3和排母座4插接连接，降低焊接操作对位定位难度，有效避免人为失误，为测试电路的频繁拔插提供方便，提高测试效率。本实施例中PCB板1的后端部开设有通孔11，所述排针座3插接于所述通孔11。 排针座3插接于通孔11中，使排针座3与PCB板1固接连接，有效避免焊接固接带来的麻烦，防止焊线时产生人为误差，省时省力，一次插接便可进行多次测试，提高本实用新型的测试效率。本实施例中通孔11在PCB板1的后端部呈上下两排排列，所述PCB板电路12包括设置于PCB板1上表面的上PCB板电路121和设置于PCB板1下表面的下PCB板电路122， 所述上PCB板电路121和下排的通孔11相连，所述下PCB板电路122和上排的通孔11相连。通孔11在PCB板1的后端部呈上下两排排列，增大焊接间距，降低焊接操作对位定位难度，有效避免焊接操作过程中的干扰而导致线路连接不稳定，避免产生人为失误，有效提高测试效率。上PCB板电路121和下排的通孔11相连，所述下PCB板电路122和上排的通孔11相连，有效增大PCB板电路12的分布密度，便于加工成型，提高PCB板1的使用可靠性。本实施例的排针座3包括与通孔11配合使用的排针31和开设有排针插槽321的排针壳体32，所述排针31穿过并伸出排针壳体32，所述排针31包括上排排针311和下排排针312，所述上排排针311的前端部与上排的通孔11插接，所述下排排针312的前端部与下排的通孔11插接。上排排针311和上排的通孔11插接，下排排针312和下排的通孔11 插接，确保排针31和测试头2分别电性导通，且排针座3与PCB板1插接，便于组装，操作方便，提高使用便利性。本实施例的排母座4包括与排针31配合使用的排母端子41和开设有排母端子插
5槽421的排母壳体42，所述排母端子41包括上排排母端子411和下排排母端子412，所述排母端子41的前端部固定于排母端子插槽421内，所述排母端子41的后端部穿过并伸出排母壳体42。测试线分别焊接于排母端子41的后端部，排针31的后端部与排母端子41的前端部插接连接并固定在排母端子插槽421内，确保测试线与测试仪电性导通，电连接稳定性高，测试效果好，只需要焊一次线即可完成测试，有效避免PCB板1因频繁拔插损坏而导致重复焊线，提高测试效率。优选地，本实施例中排母端子41呈音叉形。排母座4与排针座3插接时，由于排母端子41呈音叉形，当排针31的后端与音叉形的排母端子41的叉位相抵时，则排针31与排母端子41电连接，确保测试线与测试头2电性导通，排针31与排母端子41抵接连接确保排针31与排母端子41连接稳定，方便组装，操作简单，提高本实用新型的使用便利性。本实施例中PCB板电路12的后端部成型有与通孔11形状相匹配的插接部13，所述插接部13套设于所述通孔11内，排针31与通孔11插接时，由于插接部13套设在通孔 11内，则排针31的外侧面与插接部13的内侧面相接触而实现电连接，具体地，插接部13的外侧面与通孔11的内侧面形状相匹配，增大了排针31与PCB板电路12的接触面积，确保排针31与测试头2连接稳定，提高测试效率。本实施例中PCB板1后端部的PCB板电路12的密度大于PCB板1前端部的PCB 板电路12的密度，通过PCB板电路12将紧凑的测试仪接口电路转移至PCB板1，通过PCB 板电路12的转换，在PCB板1后端的通孔11插接排针座3，降低测试线焊接连接的对位定位难度，有效降低人为误差。因此，测试线接入本实用新型的连接方式，既可采用焊接连接， 亦可采用排针座3或排母座4等标准件进行连接，这提高了加工操作便利性，扩大了工艺结构可选择范围，提高了适用范围。本实施例中PCB板1开设有螺纹孔14，所述PCB板1与一底板5螺接。将PCB板 1固定在底板5上，避免在测试过程中PCB板1发生偏移，确保在测试过程中电性连接稳定， 信号传输效果好。优选的，底板5对应通孔11的位置开设有凹槽51，便于排针座3与PCB 板1插接连接，提高本实用新型的使用便利性。本实施例中上排的所述通孔11与下排的所述通孔11相对并列设置，使同一个PCB 板1中可设置的通孔11数量增加，当待测试成品为导线时，则每次测试的导线的数量亦可增加，提高测试效率；当待测试成品为电连接器等电子设备时，同一个PCB板1中可设置的通孔11数量的增加能较好地适应现代电子元件多线路、多端子的需要。实施例二。与实施例一不同的是，本实施例的上排的所述通孔11与下排的所述通孔11相对错位设置，相应的，所述PCB板1的上PCB板电路121和下PCB板电路122亦错位分布，这增大了 PCB板电路12的分布密度，降低了使用过程中因瞬时高压而使PCB板1被击穿的风险，提高了 PCB板1的使用可靠性，进一步延长了本实用新型的使用寿命。本实施例其余部分与实施例一相同，这里不再赘述。以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
权利要求1.一种电路测试仪的电路转换装置，包括PCB板，以及设置于PCB板前端部的与测试仪配合使用的测试头，其特征在于还包括排针座，以及与测试线相连接的排母座，所述排针座固接于PCB板的后端部，所述测试头通过PCB板电路与排针座相连，所述排针座的后端部与排母座插接。
2.根据权利要求1所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述PCB板的后端部开设有通孔，所述排针座插接于所述通孔。
3.根据权利要求2所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述通孔在 PCB板的后端部呈上下两排排列，所述PCB板电路包括设置于PCB板上表面的上PCB板电路和设置于PCB板下表面的下PCB板电路，所述上PCB板电路和下排的通孔相连，所述下PCB 板电路和上排的通孔相连。
4.根据权利要求3所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述排针座包括与通孔配合使用的排针和开设有排针插槽的排针壳体，所述排针穿过并伸出排针壳体，所述排针包括上排排针和下排排针，所述上排排针的前端部与上排的通孔插接，所述下排排针的前端部与下排的通孔插接。
5.根据权利要求4所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述排母座包括与排针配合使用的排母端子和开设有排母端子插槽的排母壳体，所述排母端子包括上排排母端子和下排排母端子，所述排母端子的前端部固定于排母端子插槽内，所述排母端子的后端部穿过并伸出排母壳体。
6.根据权利要求5所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述PCB板电路的后端部成型有与通孔形状相匹配的插接部，所述插接部套设于所述通孔内。
7.根据权利要求6所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述PCB板后端部的PCB板电路的密度大于PCB板前端部的PCB板电路的密度。
8.根据权利要求7所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于所述PCB板开设有螺纹孔，所述PCB板与一底板螺接。
9.根据权利要求1至8中任意一项所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于上排的所述通孔与下排的所述通孔相对并列设置。
10.根据权利要求1至8中任意一项所述的一种电路测试仪的电路转换装置，其特征在于上排的所述通孔与下排的所述通孔相对错位设置。
专利摘要本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种电路测试仪的电路转换装置，包括PCB板，以及设置于PCB板前端部的与测试仪配合使用的测试头，还包括排针座，以及与测试线相连接的排母座，所述排针座固接于PCB板的后端部，所述测试头通过PCB板电路与排针座相连，所述排针座的后端部与排母座插接。由于排母座和排针座插接，避免重复焊线，操作简单且确保线路连接稳定，便于拆卸更换PCB板，测试效率高，使用方便；此外，排针座和排母座插接连接，降低焊接操作对位定位难度，有效避免人为失误，为测试电路的频繁拔插提供方便，测试效率高。
文档编号H01R13/66GK202042780SQ201120067758
公开日2011年11月16日 申请日期2011年3月15日 优先权日2011年3月15日
发明者周法勇 申请人:周法勇