一种电性能综合测试插座的制作方法

文档序号:7073047阅读:407来源:国知局
一种电性能综合测试插座的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种电性能综合测试插座,包括主板体,所述主板体上设置有供插头插入的工位,所述工位上分布有对应插头插柱的插孔,所述主板体的下端设置有与插孔对应联通的测试插柱,所述主板体上设置有用于对插头定位的定位块;该测试插座通过合理的结构改良,可针对各种型号的插头,也适应各种电检测仪器,而且当这种测试插座有损坏时也可直接替换,而不用对仪器本身进行维修。
【专利说明】一种电性能综合测试插座

【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及一种,特别是一种针对欧式法国烟斗插头的测试用插座。

【背景技术】
[0002] 插头是电器的重要部件,其质量直接影响电器的工作。众所周知插头的型号多种 多样,而可测试插头电性能的型号也较多,这些型号很少有能针对所有型号的插头,例如欧 式法国烟斗插头的形状与国内插头差别较大,国内这种仪器就不适应与欧式法国烟斗插 头。此外,公知的国内一般测试插座在对被测器件进行测试时,工作时间短、引线根数少、接 触件节距宽、结构简单,存在着与被测器件之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用 寿命短的重大缺陷,不能满足对器件的质量筛选和性能指标的测试要求,直接影响测试仪 器的检测效果。


【发明内容】

[0003] 为了克服现有技术的不足,本实用新型提供一种简单易用的电性能综合测试插 座。
[0004] 本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005] -种电性能综合测试插座,包括主板体,所述主板体上设置有供插头插入的工位, 所述工位上分布有对应插头插柱的插孔,所述主板体的下端设置有与插孔对应联通的测试 插柱,所述主板体上设置有用于对插头定位的定位块。
[0006] 作为一种优选项,所述工位上设置有对应接地孔的凸柱。
[0007] 作为一种优选项,所述定位块分布在工位左右两侧。
[0008] 作为一种优选项,所述定位块朝向工位的一侧设置有弧度。
[0009] 作为一种优选项,所述主板体的下端设置有凸台,所述测试插柱位于凸台中。
[0010] 作为一种优选项,所述定位块设计为凸字型。
[0011] 作为一种优选项,所述插孔为圆形。
[0012] 本实用新型的有益效果是:该测试插座通过合理的结构改良,可针对各种型号的 插头,也适应各种电检测仪器,而且当这种测试插座有损坏时也可直接替换,而不用对仪器 本身进行维修。

【专利附图】

【附图说明】
[0013] 下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0014] 图1是欧式法国烟斗插头主视图;
[0015] 图2是欧式法国烟斗插头的左视图;
[0016] 图3是本实用新型的立体图。

【具体实施方式】
[0017] 参照图3,一种电性能综合测试插座,包括主板体1,所述主板体1上设置有供插头 插入的工位11,所述工位11上分布有对应插头插柱的插孔2,所述主板体1的下端设置有 与插孔对应联通的测试插柱3,所述主板体1上设置有用于对插头定位的定位块4,可针对 各种型号的插头,也适应各种电检测仪器,而且当这种测试插座有损坏时也可直接替换,而 不用对仪器本身进行维修。
[0018] 参照图1、图2、图3,针对欧式法国烟斗插头的插片7和接地孔8,所述工位11上 设置有对应接地孔的凸柱5,所述插孔2为圆形。
[0019] 所述定位块4分布在工位11左右两侧,所述定位块4朝向工位11的一侧设置有 弧度41,以更好地对待检测插头定位。所述定位块4设计为凸字型,减少定位块4碰损待检 测插头的机会。
[0020] 所述主板体1的下端设置有凸台6,所述测试插柱3位于凸台6中,以更好地适应 各种电检测仪器,避免因为一些电检测仪器的检测口空间过小而导致测试插座不适用。
[0021] 根据上述原理,本实用新型还可以对上述实施方式进行适当的变更和修改。因此, 本实用新型并不局限于上面揭示和描述的【具体实施方式】,对本实用新型的一些修改和变更 也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。
【权利要求】
1. 一种电性能综合测试插座,包括主板体(1),所述主板体α)上设置有供插头插入的 工位(11 ),其特征在于:所述工位(11)上分布有对应插头插柱的插孔(2),所述主板体(1) 的下端设置有与插孔对应联通的测试插柱(3),所述主板体(1)上设置有用于对插头定位 的定位块(4)。
2. 根据权利要求1所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述工位(11)上设 置有对应接地孔的凸柱(5 )。
3. 根据权利要求1或2所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述定位块(4) 分布在工位(11)左右两侧。
4. 根据权利要求3所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述定位块(4)朝向 工位(11)的一侧设置有弧度(41)。
5. 根据权利要求1或2所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述主板体(1) 的下端设置有凸台(6),所述测试插柱(3)位于凸台(6)中。
6. 根据权利要求1所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述定位块(4)设计 为凸字型。
7. 根据权利要求1所述的一种电性能综合测试插座,其特征在于:所述插孔(2)为圆 形。
【文档编号】H01R13/652GK203850589SQ201420160451
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2014年4月3日 优先权日:2014年4月3日
【发明者】李汉初, 张建平 申请人:广东华声电器股份有限公司
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