一种具有导引结构的拨码开关的制作方法

文档序号:12407027阅读:478来源:国知局
一种具有导引结构的拨码开关的制作方法与工艺

本实用新型涉及机械加工设备技术领域,更具体地说,是涉及一种具有导引结构的拨码开关。



背景技术:

拨码开关又名指拨开关、编码开关、DIP开关、平拨开关、侧拨开关或琴健式开关。其中,拨码开关的应用范围包括:1、安防监控产品:监控主机、云台解码板、摄像机、无线传输模块、无线遥控器;2、智能家居产品:楼宇对讲系统、楼宇智能控制系统;3、汽车产业:停车场一卡通系统,汽车防盗器、倒车影像系统;4、网络通讯产品;5、控制电路板、数码产品等。

如图1所示,现有的拨码开关主要包括有开关本体01、上盖02、拨钮03、接触簧片04和金属端子05,其中,上盖02通常是通过超声波熔接方式固定在开关本体01的顶部开口处。然而,在超音波熔接的过程中,接触簧片04在没有被下压时,其反弹力会将上盖顶起,此时上盖02会脱离开关本体01,并有0.08mm左右的浮空距离H,此状态下产品在超音波熔接时,上盖与开关本体容易发生偏位,当上盖与开关本体熔接偏位后会导致接触簧片也发生偏位,从而造成产品的接触不良。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于克服现有技术中的上述缺陷,提供一种具有导引结构的拨码开关,其能够防止上盖与开关本体在熔接时发生偏位。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种具有导引结构的拨码开关,包括开关本体、上盖、拨钮和接触簧片,所述开关本体的内部设有供所述拨钮移动的拨动轨道槽,所述拨钮活动安装在所述拨动轨道槽内,所述接触簧片固定在所述拨钮的底部,所述上盖熔接在所述开关本体的顶部开口处,所述上盖的底部两侧分别设有用于防止上盖与开关本体在熔接时发生偏位的预装导引块,所述预装导引块竖直设置,当所述上盖预装放置在所述拨钮上且位于所述开关本体的顶部开口处时,所述预装导引块置入所述开关本体的内部,从而与所述开关本体的内壁实现接触限位。

作为优选的实施方式,当所述接触簧片没有被下压从而将所述上盖顶起时,所述预装导引块置入所述开关本体内部的深度为0.30mm~0.40mm,其中,可以优选设置为0.31mm。

作为优选的实施方式,所述上盖的底部设有两组波浪型的档位部,所述上盖的档位部位于两块预装导引块之间,所述拨钮的顶部两侧设有与所述上盖的档位部相适配的定位部,所述拨钮的定位部与所述上盖的档位部定位配合。

作为优选的实施方式,所述开关本体的两侧设有与所述接触簧片相接触的金属端子,所述金属端子的接触端置入所述开关本体的内部。

作为优选的实施方式,所述拨码开关设置为DSHP拨码开关。

作为优选的实施方式,所述拨码开关设置为低推型拨码开关或者高推型拨码开关。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:

本实用新型的上盖的底部两侧分别设有竖直设置的预装导引块,当上盖预装放置在拨钮上且位于开关本体的顶部开口处时,预装导引块能够置入开关本体的内部,从而与开关本体的内壁实现接触限位,其能够防止上盖与开关本体在熔接时发生偏位,避免造成产品的接触不良。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术所述的拨码开关的剖面图;

图2是本实用新型提供的具有导引结构的拨码开关(低推型)在熔接预装时的一剖面图;

图3是本实用新型提供的具有导引结构的拨码开关(低推型)在熔接预装时的另一剖面图;

图4是本实用新型提供的具有导引结构的拨码开关(低推型)装配完成时的剖面图;

图5是本实用新型提供的上盖的底部结构示意图;

图6是图5中沿A-A线的剖面图;

图7是图5中沿B-B线的剖面图;

图8是本实用新型提供的具有导引结构的拨码开关(高推型)的剖面图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参考图2、图3和图4,本实用新型的实施例提供了一种具有导引结构的拨码开关,该拨码开关优选设置为低推型的DSHP拨码开关,其包括开关本体1、上盖2、拨钮3、接触簧片4和金属端子5,下面将对上述部件进行详细说明。

开关本体1的顶部设有开口,开关本体1的内部设有供拨钮3移动的拨动轨道槽11,拨钮3活动安装在拨动轨道槽11内,接触簧片4固定在拨钮3的底部,金属端子5设置在开关本体1的两侧,并且金属端子5的接触端置入开关本体1的内部,接触簧片4能够与金属端子5的接触端相接触,上盖2通过超声波熔接在开关本体1的顶部开口处。其中,上盖2的底部设有两组波浪型的档位部21,上盖2的档位部21位于两块预装导引块22之间,拨钮3的顶部两侧设有与上盖2的档位部21相适配的定位部31,拨钮3的定位部31与上盖2的档位部21定位配合。

如图5、图6和图7所示,上盖2的底部两侧分别设有预装导引块22,预装导引块22竖直设置。在上盖2与开关本体1熔接的过程中,当上盖2预装放置在拨钮3上且位于开关本体1的顶部开口处时,预装导引块22置入开关本体1的内部,从而与开关本体1的内壁实现接触限位。

具体实施时,当接触簧片4没有被下压从而通过反弹力将上盖2顶起时,预装导引块22置入开关本体1内部的深度可以为0.30mm~0.40mm。在本实施例中,其深度优选设置为0.31mm。预装导引块22能够防止上盖2与开关本体1在熔接时发生偏位,避免造成产品的接触不良。

如图8所示,该导引结构也适用于高推型拨码开关,当然,其也适用于其他类型的拨码开关,非本实施例为限。

上述实施例为本实用新型较佳的实施方式,但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本实用新型的保护范围之内。

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