一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及双脚双色发光二极管装配领域，尤其涉及一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置。
【背景技术】
[0002]目前，双脚双色二极管在电子产品制造领域使用越来越多，颜色相近的也越来越多，在类似红橙双色双脚二极管。在装配时如果使用机械折弯二极管的引脚，最终定型后需要对二极管的质量进行检测，但是机械弯折后成型后的二极管，无法对二极管及其引脚的质量进行检测。
【发明内容】
[0003]本发明的目的在于提供一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，解决现有技术中对弯折成型后的双脚双色发光二极管质量无法进行检测的问题。
[0004]为解决上述问题，本发明所采取的技术方案是:
[0005]—种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，包括主体、A探针和B探针，主体的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔和第二探孔，所述第一探孔和第二探孔的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔相连通，另一个竖直向下和第二探孔相连通;所述A探针和B探针可分别从第一探孔和第二探孔插入。
[0006]进一步的，所述主体为透明绝缘玻璃构成。
[0007]采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本发明实现了二极管在成型时的引脚检测，整个测试过程简单快捷，测试准确，提高了整个生产效率和质量。
【附图说明】
[0008]图1是本发明一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置的结构示意图。
[0009 ]图2是本发明测试不良品的状态示意图。
[0010]图3是本发明测试良品的状态示意图。
【具体实施方式】
[0011]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0012]图1示出了本发明一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置的一个实施例:一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，包括主体1、A探针和B探针，主体I的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔2和第二探孔3，所述第一探孔2和第二探孔3的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体I的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔2相连通，另一个竖直向下和第二探孔3相连通;所述A探针和B探针可分别从第一探孔2和第二探孔3插入。
[0013]根据发明一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置的另一个实施，所述主体I为透明绝缘玻璃构成。
[0014]本发明的使用方式如下:
[0015]前期准备
[0016]识别物料类型，确认属于双脚双色二极管尤其注意红橙双色的二极管，其电参数十分接近，一般的二极管测试仪无法识别，其长短脚需要在2.5MM以上；
[0017]如图2所示，利用本装置测试出不良品
[0018]将双脚双色二极管的短脚从主体I的顶面插入，利用A探针和B探针分别从第一探孔2和第二探孔3插入，如果A探针能接触到二极管的引脚，而B探针却没有接触到二极管的引脚，则B探针无法反馈回电流信号，则属于不良品。
[0019]如图3所示，利用本装置测试出良品
[0020]将双脚双色二极管的短脚从主体I的顶面插入，利用A探针和B探针分别从第一探孔2和第二探孔3插入，如果A探针能接触到二极管的引脚，而B探针同时也接触到二极管的引脚，则A探针和B探针均反馈回电流信号，则属于良品。
[0021]尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解，本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局进行的变形和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
【主权项】
1.一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，其特征在于:包括主体(1)、A探针和B探针，主体(I)的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔(2)和第二探孔(3)，所述第一探孔(2)和第二探孔(3)的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体(I)的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔(2)相连通，另一个竖直向下和第二探孔(3)相连通;所述A探针和B探针可分别从第一探孔(2)和第二探孔(3)插入。2.根据权利要求1所述的一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，其特征在于:所述主体(I)为透明绝缘玻璃构成。
【专利摘要】本发明涉及双脚双色发光二极管装配领域，尤其涉及一种用于双脚双色发光二极管折弯成型时的质检装置，包括主体(1)、A探针和B探针，主体(1)的侧面设有孔径均为2.5mm的第一探孔(2)和第二探孔(3)，所述第一探孔(2)和第二探孔(3)的水平距离为5.5mm，垂直距离为13mm，所述主体(1)的顶面设有供二极管双引脚插入的孔，该孔其中一个竖直向下和第一探孔(2)相连通，另一个竖直向下和第二探孔(3)相连通；所述A探针和B探针可分别从第一探孔(2)和第二探孔(3)插入。本发明实现了二极管在成型时的引脚检测，整个测试过程简单快捷，测试准确，提高了整个生产效率和质量。
【IPC分类】H01L21/66
【公开号】CN105513993
【申请号】CN201610086460
【发明人】杜思元, 顾萍萍, 汪扬, 杜春荣
【申请人】太仓市同维电子有限公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2016年2月16日