一种背照式图像传感器的制造方法

文档序号:9845443阅读:395来源:国知局
一种背照式图像传感器的制造方法
【技术领域】
[0001 ]本发明涉及一种背照式图像传感器。
【背景技术】
[0002]公知的,图像传感器一般包括前照式与背照式,前照式是在图像传感器的半导体衬底的前侧接收图像,光线通过电路层到达光检测区,由于受半透明度的多晶硅电极吸收与反射的影响,前照式图像传感器量子效率低,通常小于50%,特别是对于短波段,如400nm以下,光敏响应将截止。这个缺陷可以由背照式图像传感器避免,背照式即是使光照从图像传感器正面入射改为从背面照射,由于光线入射时不需要经过电路层,所以可以提高图像传感器光谱响应范围和量子效率,峰值可达到95%以上。
[0003]为了提高背照式图像传感器光谱响应范围和量子效率,通常需要将其背面减薄到15?20um,减薄后的结构应该具有低应力的特点,不能影响输出图像的质量。《局部减薄背照式图像传感器结构及封装工艺》(公布号CN 103996687 A)的专利文件公开了一种背照式图像传感器,该传感器局部减薄结构机械应力比较大,另外芯片焊盘与基板焊盘的引线连接为非常规结构,后续封装工艺中不易于批量实现;《低成本、高集成度之背照式图像传感器封装》(授权公告号CN 102751299 B)的专利文件公开了一种背照式图像传感器,该传感器亦采用空腔结构,但空腔结构中空腔尺寸较大、空腔底部厚度很薄并且侧壁高度远大于底部厚度,这种结构会存在机械应力较大的问题,另一方面该器件后续使用一般采用倒装的互连方式,倒装工艺中的填充不均匀性可能会引起可靠性问题;《背照式图像传感器的低应力腔体封装及其制作方法》(授权公告号CN 102891151 B)的专利文件公开了一种背照式图像传感器,该传感器虽然具有低应力的优点,但是焊盘释放结构相对复杂,填充材料的不均匀性也可能对器件的性能造成一定的影响,亦存在一定的可靠性问题。目前,尚没有同时具有整体结构简单、低应力、可靠性好、焊盘释放和封装互连工艺简单以及量子效率高的背照式图像传感器结构。

【发明内容】

[0004]本发明的目的在于提供一种背照式图像传感器,该传感器结构应力低,具有良好的可靠性,量子效率高,并且焊盘释放结构简单、易于后续封装的实现。
[0005]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种背照式图像传感器,包括图像传感器芯片与支撑基板,图像传感器芯片正面嵌设有焊盘,所述图像传感器芯片的正面与支撑基板的顶面分别覆有绝缘层,图像传感器芯片与支撑基板通过键合层键合连接,键合层位于两个绝缘层之间;所述图像传感器芯片的厚度为15?20um;所述图像传感器芯片的背面设有P型注入层,图像传感器芯片的背面设有抗反射膜层,抗反射膜层的上表面设有释放出光感应元件区的反光膜层,所述图像传感器芯片背面还设有使焊盘释放的开窗。
[0006]进一步的,支撑基板采用硅材料。
[0007]进一步的,键合层采用低温玻璃浆料、粘合剂或金等材料。
[0008]进一步的,反光膜层为铝膜。
[0009]本发明的有益效果是,图像传感器芯片与支撑基板通过键合层键合连接,具有良好的热匹配性及可靠性,而且支撑基板可为图像传感器芯片提供良好的机械支撑;P型注入层减少了光复合中心,抗反射膜层能够为光感应元件增加光线透射率,反光膜层能够防止电荷存储放大区受光线照射而失效的问题,通过这些对图像传感器芯片背面的处理结构,提高量子效率;另外,本发明不存在空腔,机械应力低,无需填充和TSV工艺,可靠性好,焊盘释放结构简单,可采用普通的引线键合工艺实现焊盘的连接,在保证产品品质的前提下,降低了工艺难度。
【附图说明】
[0010]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明:
图1是本发明的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]如图1所示,本发明提供一种背照式图像传感器,包括图像传感器芯片I与支撑基板2,图像传感器芯片I正面嵌设有焊盘8,所述图像传感器芯片I的正面与支撑基板2的顶面分别覆有绝缘层3,绝缘层3可采用二氧化硅介质并使用化学气相沉积工艺生长,图像传感器芯片I与支撑基板2通过键合层4键合连接,键合层4位于两个绝缘层3之间,键合层4可采用丝网印刷、旋转涂胶或多靶溅射金等工艺制作,图像传感器芯片I与支撑基板2采用晶圆级热压键合工艺键合固定;所述图像传感器芯片I的厚度为15?20um;所述图像传感器芯片I的背面设有P型注入层5,可采用离子注入法及激光退火的工艺制作P型注入层,图像传感器芯片I的背面设有抗反射膜层6,抗反射膜层6可采用真空蒸镀工艺制作,抗反射膜层6的上表面设有释放出光感应元件区的反光膜层7,反光膜层7可采用溅射铝膜工艺制作;所述图像传感器芯片I背面还设有使焊盘8释放的开窗9,可采用背面ICP深槽刻蚀工艺制作开窗9,释放出焊盘8。作为优选的,支撑基板2可采用硅材料;键合层4可采用低温玻璃浆料、粘合剂或金等材料,优选金材料;反光膜层7可采用铝膜制作。
[0012]图像传感器芯片与支撑基板通过键合层键合连接,具有良好的热匹配性及可靠性,而且支撑基板可为图像传感器芯片提供良好的机械支撑;P型注入层减少了光复合中心,抗反射膜层能够为光感应元件增加光线透射率,反光膜层能够防止电荷存储放大区受光线照射而失效的问题,通过这些对图像传感器芯片背面的处理结构,提高量子效率;另夕卜,本发明不存在空腔,机械应力低,无需填充和TSV工艺,可靠性好,焊盘释放结构简单,可采用普通的引线键合工艺实现焊盘的连接,在保证产品品质的前提下,降低了工艺难度。
[0013]以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制;任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围情况下,都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰,均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
【主权项】
1.一种背照式图像传感器,包括图像传感器芯片(I)与支撑基板(2),图像传感器芯片(I)正面嵌设有焊盘(8),其特征在于,所述图像传感器芯片(I)的正面与支撑基板(2)的顶面分别覆有绝缘层(3),图像传感器芯片(I)与支撑基板(2)通过键合层(4)键合连接,键合层(4)位于两个绝缘层之间;所述图像传感器芯片(I)的厚度为15?20um;所述图像传感器芯片(I)的背面设有P型注入层(5),图像传感器芯片(I)的背面设有抗反射膜层(6),抗反射膜层(6)的上表面设有释放出光感应元件区的反光膜层(7),所述图像传感器芯片(I)背面还设有使焊盘(8)释放的开窗(9)。2.根据权利要求1所述的一种背照式图像传感器,其特征在于,所述支撑基板(2)采用娃材料。3.根据权利要求1或2所述的一种背照式图像传感器,其特征在于,所述键合层(4)采用粘合剂或金材料。4.根据权利要求3所述的一种背照式图像传感器,其特征在于,所述反光膜层(7)为铝膜。
【专利摘要】本发明公开一种背照式图像传感器,包括图像传感器芯片与支撑基板,图像传感器芯片正面嵌设有焊盘,图像传感器芯片的正面与支撑基板的顶面分别覆有绝缘层,图像传感器芯片与支撑基板通过键合层键合连接;图像传感器芯片的厚度为15~20um;图像传感器芯片的背面设有P型注入层,图像传感器芯片的背面设有抗反射膜层,抗反射膜层的上表面设有释放出光感应元件区的反光膜层,图像传感器芯片背面还设有使焊盘释放的开窗;图像传感器芯片与支撑基板通过键合层键合连接,具有良好的热匹配性和可靠性;通过对图像传感器芯片背面的处理,提高量子效率;本发明整体结构简单、应力低、可靠性高、焊盘释放结构简单,后续封装可采用常规的引线键合工艺实现。
【IPC分类】H01L27/146
【公开号】CN105609517
【申请号】CN201610026416
【发明人】谢斌, 秦盼, 向圆, 张乐银, 欧阳径桥, 吴慧, 李彪
【申请人】华东光电集成器件研究所
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2016年1月16日
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