专利名称：应用于输出电源的自动校正装置的制作方法
技术领域：
本发明是一种自动校正装置，尤指一种应用于校正输出电源的自动校正装置。
背景技术：
电源供应器是用来提供电子装置运作所需的电源，依其电路结构，通常可分为线性电源供应器(Linear Power Supply)及切换式电源供应器(Switching Power Supply)等两种。电源供应器广泛地运用至各领域，例如行动通讯装置、个人数字助理、计算机与接口设备、服务器以及网络设备等电子装置中，所以电源供应器对电子装置而言，其是一个重要的装置。为求电源供应器正常稳定的运作，且避免受到损坏，电源供应器的控制电路中的保护机制是非常重要的功能，例如过电压、过电流、过功率与低电压等保护功能。一旦，遇有过载、短路或过低电压的情况发生时，备有周全保护机制的电源供应器会停止供应输出电源，以避免内部组件或相关设备遭受损害，换言的，保护机制即用于限定电源供应器的输出电源。一般而言，电源供应器内部会具有保护准位，当电压或电流超过此保护准位时，即认定有过电压、过电流或过功率情形发生，此时即会关闭电源供应器，以保护电源供应器及其它相关设备。然而，电源供应器的输出电源常因电路组件的生产误差值的累加，例如电阻、电感或电容的生产误差值的累加，而导致每批成品电源供应器的保护准位有所差异，如此即会导致每批电源供应器的输出电源会有所差异。因此，一般电源供应器另外设置一可变电阻，并透过人工方式调整可变电阻的阻值，以调整保护准位。如此，即会增加人工成本，且长期使用下，可变电阻会龟裂或者脱落而造成保护准位变动，进而导致输出电源的限制准位不准确，甚至导致电源供应器损坏。请参阅图1，其为习知电源供应器的生产流程图。由于习知电源供应器需要可变电阻，以调整保护准位，所以在生产流程中，需要先进行步骤SI，进行人工插件以设置可变电阻于电路中；之后，进行步骤S2，电源供应器的电路过锡炉，以将可变电阻焊于电路中；然后，进行步骤S3，初始化电源供应器，其包括有电源供应器的稳定度的测试与调整，以及过电压与过电流的调整，上述的调整为利用人工方式调整可变电阻的电阻值，以调整电源供应器的特性。接着，执行步骤S4，进行烧机(Burn-1n);然后，进行步骤S5，进行高电压测试(H1-pot test);之后，进行步骤S6，进行保护测试；接续，进行步骤S7，进行功能测试；最后，进行步骤S8，进行电源测试。由上述可知，由于习知电源供应器必须具有可变电阻，而藉由人工方式调整可变电阻的电阻值，以调整保护准位，进而调整电源供应器的输出电源，如此极为耗费人力、工时以及成本等等，且可变电阻设置于电路中容易受到损害或受到外在因素(例如湿度、温度等等)的变化而产生变质，导致电阻值改变，而改变保护准位，以致与初始设定的保护准位产生误差，即影响电源供应器的输出电源。因此，本发明针对上述的问题提供了一种自动校正装置，其可自动校正保护准位，以固定输出电源的准位到所预期的限定值，且不需设置可变电阻与利用人工调整保护准位,如此即可解决上述习用技术的缺点。
发明内容
本发明的主要目的，是提供一种应用于输出电源的自动校正装置，其具有一程序化讯号产生单元，而用于产生保护准位，并依据一限定准位与保护准位的差异，而调整保护准位，以自动校正输出电源，因此不需要耗费人力，而减少成本与提高校正精确度。本发明揭示一种应用于输出电源的自动校正装置，其用于校正一电源供应器的一输出电源，其包含一自动校正电路，该自动校正电路包含一比较单元，其比较一限定准位与一保护准位，而产生一比较讯号，该保护准位限定该电源供应器所提供的该输出电源；一程序化讯号产生单元，其产生该保护准位，并依据该比较讯号调整该保护准位，以校正该输出电源。实施本发明产生的有益效果是:本发明的应用于输出电源的自动校正装置，其用于校正电源供应器的输出电源，其利用程序化讯号产生单元调整保护准位，藉此校正输出电源。如此，即可自动校正电源供应器的输出电源，而不需要另外设置可变电阻，因而不需要藉由人工调整可变电阻的电阻值而调整输出电源，所以可解决耗费人力的问题。此外，程序化讯号产生单元可设置于保护芯片中，因此可避免程序化讯号产生单元发生损坏的问题。如此，本发明可提高校正输出电源的精确度。
图1:其为习知电源供应器的生产流程图；图2:其为本发明的电源供应器的一实施例的电路图；图3:其为本发明的保护芯片的一实施例的电路
图4:其为本发明的电源供应器正常运作的波形图；图5:其为本发明的保护芯片执行过电压保护的波形图；图6:其为本发明的保护芯片执行过电流保护的波形图；图7:其为本发明的程序化讯号产生单元的电路图；图8A:其为本发明的电源供应器、测试模块与控制模块的一实施例的连接示意图；图SB:其为本发明的电源供应器、测试模块与控制模块的一实施例的方块图；以及图9:其为本发明的自动校正装置的波形图。图号对照说明10 电源供应器 101 桥式整流器102 电容器103 变压器104 功率晶体管 105 电阻器106 控制器107 二极管108 二极管109 电感器110 电容器111 光I禹合器
21连接器23 连接器30测试模块 301测试负载41连接器 43连接器50控制模块 70自动校正电路701保护芯片 7011调整单元7012程序化讯号产生单元7014电流源单元7015开关单元 7016比较单元7017比较单元 7018比较单元7019比较单元 7020正反器7021晶体管 7022晶体管AC输入电源 ADStl调整讯号ADS1调整讯号ADS2调整讯号ADSn调整讯号AND与门Cs电容器DBl弹跳消除电路DB2弹跳 消除电路 DLl延迟电路DL2延迟电路 DL3延迟电路DL4延迟电路 FPOB保护讯号1ut输出电流I。电流源I1电流源 I2电流源In电流源 IS保护准位J输入端 K输入端N0一次侧绕组Ns二次侧绕组NOR或非门 ORl或门0R2或门 0R3或门PSONB启动讯号 PGI电源正常输入讯号PGO电源正常输出讯号 PWM切换讯号Q输出端 R重置端R1电阻器R2电阻器Ris阻抗组件Rsense侦测组件Sff0开关SW1开关Sff2开关SWn开关TTL测试讯号Vcc供应电压Vcs电流侦测讯号Vdet 侦测电压Vin直流输入电压Vqut输出电压Vrefl参考准位Vref2参考准位Vref3参考准位VS侦测讯号VCC输入电源Vsb供应电源
具体实施方式
为了使本发明的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，特用较佳的实施例及配合详细的说明，说明如下:请参阅图2，其是本发明的电源供应器的一实施例的电路图。如图所示，本发明的电源供应器10包含有一桥式整流器101、复数电容器102、110、一电感器109、一功率晶体管104、一电阻器105、复数二极管107、108、一控制器106以及具有——次侧与一二次侧的一变压器103。一次侧包括——次侧绕组NP，二次侧包括一二次侧绕组Ns。电容器102的一端耦接桥式整流器101的一输出端及一次侧绕组Np的一端，电容器102的另一端耦接一接地端。桥式整流器101整流一输入电源AC为一直流电压，电容器102滤波直流电压而产生一直流输入电压VIN，且供应直流输入电压Vin至一次侧绕组NP。功率晶体管104用于切换变压器103，以控制能量从变压器103的一次侧绕组Np转换至二次侧绕组Ns。功率晶体管104的一漏极端串接一次侧绕组Np的另一端。控制器106耦接功率晶体管104的一栅极端。控制器106产生一切换讯号PWM并将切换讯号PWM输出至功率晶体管104，以控制功率晶体管104而切换变压器103。电阻器105耦接于功率晶体管104的一源极端与接地端之间。变压器103的一切换电流Ip流经电阻器105，而于电阻器105产生一电流侦测讯号Vcs。电流侦测讯号Vcs传输至控制器106。控制器106依据电流侦测讯号Vcs与一回授讯号(图未示)产生切换讯号PWM。回授讯号相关联于电源供应器的负载状态。回授讯号产生方式为一般常用技术，所以于此不再详述。二极管107与108的阳极分别耦接变压器103的二次侧绕组Ns的两端。电感器109的一端耦接二极管107与108的阴极。电感器109的另一端耦接电源供应器10的输出端。电容器110耦接电源供应器10的输出端与接地端之间而产生输出电源，输出电源是表示输出电压Vtot或输出电流Iqot。复参阅图2，本发明的自动校正装置，其用于校正电源供应器10的输出电源，例如校正输出电压Vtot或输出电流Itot的一最大准位。其包含一自动校正电路70以及一测试负载301。自动校正电路70包含一侦测组件Rsense、一阻抗组件Ris以及一保护芯片701。侦测组件Rsense耦接输出端与测试负载301之间。测试负载301经过侦测组件Rsense耦接电源供应器10的输出端，并取样输出电源，测试负载301是用于调校阶段，以校正电源供应器10的输出电源。电源供应器10正常运作下则无耦接测试负载301，而是耦接输出负载。侦测组件Rsense依据提供至测试负载301的输出电源而产生一侦测讯号VS，其相关于电源供应器10的输出电源的状态。于此实施例中，侦测讯号VS系决定于侦测组件Rsense的阻抗值与输出电流1tt的振幅。于本发明中，当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，侦测讯号VS用于作为一限定准位。阻抗组件Ris耦接于电源供应器10的输出端与保护芯片701之间，并用于产生一保护准位IS，且提供至保护芯片701，保护准位IS限定电源供应器10所提供的输出电源。保护芯片701耦接阻抗组件Ris与侦测组件Rsense。当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，保护芯片701比较侦测讯号VS与保护准位IS，而依据比较结果以校正输出电源。校正输出电源的详细内容将描述于后。此外，阻抗组件Ris与侦测组件Rsense之间耦接一电容器Cs,以抑制噪声。保护芯片701耦接于电源供应器10的输出端。电源供应器10正常使用时，保护芯片701依据侦测讯号VS与保护准位IS判断是否发生过电压、低电压或者过电流情形。当电源供应器10发生过电压、低电压或者过电流情形时，保护芯片701产生一保护讯号FPOB，并传输至控制器106，以驱使控制器106禁能电源供应器10。于一实施例中，一光耦合器111耦接于保护芯片107与控制器106之间，保护讯号FPOB经由光耦合器111传输至控制器106。此外,一电阻器R1稱接于光稱合器111与一供应电压Vrc之间。保护芯片701接收一启动讯号PS0NB，且依据启动讯号PSONB禁能保护讯号FP0B，以启动电源供应器10。此外，保护芯片701更耦接电源供应器10的二极管107与108的连接点，以接收一侦测电压Vdet而作为一电源正常输入讯号(power good input signal)PGI,以侦测电源供应器10的输出电源的状态。保护芯片701依据电源正常输入讯号PGI而产生一电源正常输出讯号(power good output signal)PG0,其用来表示电源供应器10的输出电源是否正常，所以电源正常输出讯号PGO相当于一确认讯号。一电阻器R21禹接于供应电压Vcc与保护芯片701之间，以产生电源正常输出讯号PG0。当电源供应器10的输出电源的状态为正常时，保护芯片701依据电源正常输入讯号PGI而致能电源正常输出讯号PG0。当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，保护芯片701会依据启动讯号PSONB与电源正常输出讯号PGO自动校正输出电源。此时，保护芯片701将电源正常输出讯PGO传送至测试负载301，测试负载301接收到电源正常输出讯号PGO后，即会开始取样输出电源，以进行输出电源的自动校正。请一并参阅图3，其为本发明的保护芯片的电路图，如图所示。保护芯片701包含复数比较单元7016、7017、7018、7019、一正反器7020、一调整单元7011、一程序化讯号产生单元7012、复数弹跳消除电路DB1、DB2、复数延迟电路DL1、DL2、DL3、DL4、复数或门0R1、0R2、0R3、一或非门N0R、一与门AND、复数晶体管7021与7022。弹跳消除电路DB2接收启动讯号PS0NB。当启动讯号PSONB的准位由高准位变为低准位且低准位维持一时间T4时，弹跳消除电路DB2则输出低准位的输出讯号，以启动电源供应器10。换言的，当启动讯号PSONB的准位持续为低准位时，弹跳消除电路DB2延迟时间T4后，才输出启动讯号PS0NB。弹跳消除电路DB2是用于消除弹跳现象。如此，可避免启动讯号PSONB的准位受噪声或外在因素影响而短暂为低准位，而误启动电源供应器10。或非门NOR的一输入端耦接弹跳消除电路DB2的一输出端，以接收弹跳消除电路DB2的输出讯号。或非门NOR的一输出端耦接晶体管7021的一栅极端，以控制晶体管7021。晶体管7021的一源极端耦接于接地端。晶体管7021的一漏极端耦接于光耦合器111 (如图2所示)，以产生保护讯号FP0B。当弹跳消除电路DB2的输出讯号的准位为低准位时，或非门NOR的输出讯号的准位为高准位，而导通晶体管7021，如此保护讯号FPOB的准位为低准位，其表示电源供应器10正常，控制器106(如图2所示)则启动电源供应器10。此外，弹跳消除电路DB2的输出端更耦接正反器7020的一重置端R与或门0R3的一非反相输入端。或非门NOR的输出端更耦接或门0R3的一反相输入端。比较单元7019的一正输入端接收电源正常输入讯号PGI，而一负输入端接收一参考准位Vref 1，并比较电源正常输入讯号PGI与参考准位VrefI而输出一比较讯号。延迟电路DL4耦接比较单元7019的一输出端与或门0R3的一反相输入端之间，并接收比较单元7019的比较讯号。当电源正常输入讯号PGI的准位高于参考准位Vrefl时，比较单元7019的比较讯号的准位由低准位变换为高准位。比较单元7019的比较讯号的准位为高准位且持续一时间T8时，延迟电路DL4则输出高准位的输出讯号。换言的，当比较单元7019的比较讯号的准位持续为高准位时，延迟电路DL4延迟T8时间后，才输出比较单元7019的比较讯号，其表不电源供应器10的输出电源为正常状态。延迟电路DL4是用于确认电源正常输入讯号PGI的状态。如此，可避免电源正常输入讯号PGI的准位受噪声或外在因素影响而短暂变化，而误判断电源供应器10的输出电源的状态。或门0R3的一输出端耦接晶体管7022的一栅极端。晶体管7022的一源极端耦接于接地端。晶体管7022的一漏极端耦接于电阻器R2 (如图2所示)，以产生电源正常输出讯号PG0。当延迟电路DL4的输出讯号的准位为高准位时，或门0R3输出的输出讯号的准位为低准位，而截止晶体管7022，如此电源正常输出讯号PGO的准位被供应电压V。。(如图2所示)拉高为高准位，而表示电源供应器10的输出电源为正常状态。此外，当电源正常输入讯号PGI的准位低于参考准位Vrefl时，比较单元7019的比较讯号的准位由高准位变换为低准位。比较单元7019的比较讯号的准位为低准位且持续一时间T6时，延迟电路DL4则输出低准位的输出讯号。换言的，当比较单元7019的比较讯号的准位持续为低准位时，延迟电路DL4延迟时间T6后，才输出比较单元7019的比较讯号，其表示电源供应器10的输出电源为不正常状态。当延迟电路DL4的输出讯号为低准位时，或门0R3输出的输出讯号的准位为高准位，而导通晶体管7022，如此电源正常输出讯号PGO的准位为低准位，而表示电源供应器10的输出电源为不正常状态。此外，比较单元7019的输出端更耦接至延迟电路DL3的一输入端，延迟电路DL3的一输出端耦接至与门AND的一输入端。比较单元7019的比较讯号的准位持续一时间T5不变后，延迟电路DL3则输出比较单元7019的比较讯号至与门AND。请一并参阅图4，其为本发明的电源供应器正常运作的波形图。如图所示，当启动讯号PSONB的准位为低准位时，其表示启动电源供应器10。启动讯号PSONB经弹跳消除电路DB2延迟T4时间后，低准位的启动讯号PSONB会传送至或非门N0R，而导通晶体管7021，如此即禁能保护讯号FP0B，以启动电源供应器10。电源供应器10启动后即会产生输出电源，如此电源供应器10的输出端的侦测电压Vdet(如图2所示)即会增加。换言的，电源正常输入讯号PGI的准位也会增加，而大于参考准位Vrefl，如此比较单元7019的比较讯号的准位为高准位，且经延迟电路DL4延迟时间T8后，而输出至或门0R3的反相输入端。或门0R3的输出讯号的准位即为低准位，而截止晶体管7022，如此电源正常输入讯号PGO的准位即为高准位，其表示电源供应器10的输出电源为正常状态。若电源供应器10发生问题，电源供应器10的输出端的侦测电压Vdet即会降低。换言的，电源正常输入讯号PGI的准位也会降低，而小于参考准位Vrefl，比较单元7019的比较讯号的准位为低准位，且经延迟电路DL4延迟时间T6后，而输出至或门0R3。或门0R3的输出讯号的准位即为高准位，而导通晶体管7022，如此电源正常输入讯号PGO的准位即为低准位，其表示电源供应器10的输出电源为不正常状态。复参阅图3，当电源供应器10运作时，保护芯片701接收侦测讯号VS与保护准位IS,以侦测电源供应器10的输出电源的状态，而判断是否发生过电压、低电压或者过电流情形。比较单元7016的一正输入端接收侦测讯号VS，而一负输入端接收一参考准位Vref2，并比较侦测讯号VS与参考准位Vref2。弹跳消除电路DBl耦接于比较单元7016的一输出端与或门0R2的一输入端之间。或门0R2的输入端接收弹跳消除电路DBl的输出讯号。或门0R2的一输出端耦接正反器7020的一输入端J，正反器7020的一输出端Q耦接或非门NOR的另一输入端。正反器7020依据或门0R2的输出讯号而输出讯号至或非门NOR。正反器7020的一输入端K耦接于接地端。当侦测讯号VS高于参考准位Vref2时，比较单元7016输出的比较讯号的准位为高准位。比较单元7016的比较讯号的准位为高准位且持续一时间T2时，弹跳消除电路DBl则输出高准位的输出讯号，其表示过电压情形发生。当弹跳消除电路DBl的输出讯号的准位为高准位时，或门0R2输出的输出讯号的准位为高准位，而正反器7020所输出的输出讯号的准位亦为高准位，如此或非门NOR会截止晶体管7021，如此保护讯号FPOB的准位为高准位，其表示电源供应器10不正常。保护讯号FPOB传输至控制器106 (如图2所示)，控制器106依据保护讯号FPOB禁能切换讯号PWM，以禁能电源供应器10。请参阅图5，其为本发明的的保护芯片执行过电压保护的波形图。如图所示，当电源正常输入讯号PGI的准位增加，而大于参考准位Vrefl后，经延迟电路DL4延迟时间T8后，电源正常输出讯号PGO的准位即为高准位。当侦测讯号VS的准位高于参考准位Vref2时，比较单元7016的比较讯号的准位为高准位，比较讯号经弹跳消除电路DBl延迟T2时间后，比较单元7016的具高准位的比较讯号会传送至或门0R2，或门0R2会输出具高准位的输出讯号至正反器7020。如此，正反器7020会驱使或非门NOR输出具低准位的输出讯号，而截止晶体管7021，如此即致能保护讯号FP0B，以关闭电源供应器10。此时，侦测讯号VS与电源正常输入讯号PGI则因电源供应器10关闭而为低准位。复参阅图3，比较单元7017的一负输入端接收侦测讯号VS，而一正输入端接收一参考准位Vref3，并比较侦测讯号VS与参考准位Vref3，而输出一比较讯号。延迟电路DLl的一输入端耦接比较单元7017的一输出端，并接收比较单元7017的比较讯号。延迟电路DLl的一输出端耦接或门ORl的一输入端，或门ORl的一输出端耦接与门AND的另一输入端。与门AND的一输出端耦接或门0R2的另一输入端。当侦测讯号VS低于参考准位Vref3时，比较单元7017的比较讯号的准位为高准位。当比较单元7017的比较讯号的准位为高准位且持续一时间Tl时，延迟电路DLl则输出高准位的输出讯号，其表示低电压情形发生。当延迟电路DLl的输出讯号的准位为高准位时，或门ORl的输出讯号的准位为高准位，且输出至与门AND。当延迟电路DLl与延迟电路DL3的输出讯号的准位皆为高准位时，与门AND的输出讯号的准位亦为高准位，并传送至或门0R2。此时，或门0R2的输出讯号的准位为高准位，而正反器7020所输出的输出讯号的准位亦为高准位，如此或非门NOR会截止晶体管7021，如此保护讯号FPOB的准位为高准位，其表示电源供应器10不正常。控制器106 (如图2所示)会依据保护讯号FPOB禁能切换讯号PWM，以禁能电源供应器10。程序化讯号产生单元7012耦接阻抗组件Ris (如图2所示)与比较单元7018的一正输入端。程序化讯号产生单元7012用于产生保护准位IS。于本发明的一实施例中，程序化讯号产生单元7012为一程序化电流源，其提供一程序化电流，以产生保护准位IS。程序化电流的振幅与阻抗组件Ris的阻抗决定保护准位IS的振幅。比较单元7018的一负输入端接收侦测讯号VS，而正输入端接收保护准位IS，并比较侦测讯号VS与保护准位IS，而输出一比较讯号。延迟电路DL2的一输入端耦接比较单元7018的一输出端。延迟电路DL2的一输出端耦接或门ORl的另一输入端。当侦测讯号VS低于保护准位IS时，比较单元7018的比较讯号的准位为高准位。当比较单元7018的比较讯号的准位为高准位且持续一时间T3时，延迟电路DL2则输出高准位的输出讯号，其表示输出电流1tt(如图2所示)过大，而发生过电流情形。当延迟电路DL2的输出讯号的准位为高准位时，或门ORl的输出讯号的准位亦为高准位，且输出至与门AND。当延迟电路DL2与延迟电路DL3的输出讯号的准位皆为高准位时，与门AND的输出讯号的准位亦为高准位。此时，或门0R2的输出讯号的准位为高准位，因此正反器7020的输出讯号的准位亦为高准位，如此或非门NOR会截止晶体管7021，而致能保护讯号FP0B，以禁能电源供应器10。请参阅图6，其为本发明的保护芯片执行过电流保护的波形图。如图所示，当电源供应器10正常运作时，侦测讯号VS高于保护准位IS。当过电流情形发生时，侦测讯号VS会低于保护准位IS，比较单元7018会输出具有高准位的比较讯号，此比较讯号经延迟电路DL2延迟时间T3后传送至或门0R1，以致或门ORl输出具有高准位的输出讯号至与门AND，而与门AND亦输出具有高准位的输出讯号至或门0R2，或门0R2的输出讯号的准位即为高准位，而经正反器7020后传送至或非门N0R，或非门NOR的输出讯号的准位即为低准位，而截止晶体管7021以致能保护讯号FP0B，进而关闭电源供应器10。复参阅图3，调整单元7011耦接比较单元7018的输出端与程序化讯号产生单元7012。当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，调整单元7011会依据比较单元7018的比较讯号而产生一调整讯号ADSchii,以调整程序化讯号产生单元7012的程序化电流的准位，用以调整保护准位IS，如此即可以调整输出电源的最大准位。于此实施例中，调整保护准位IS即可调整输出电流Itot的最大准位。由上述可知，程序化讯号产生单元7012会依据比较单元7018的比较讯号调整保护准位IS，以校正输出电源。此外，调整单元7011更接收启动讯号PSONB与电源正常输出讯号PG0，而受控于启动讯号PSONB与电源正常输出讯号PG0。当启动讯号PSONB的波形为一特定波形且电源正常输出讯号PGO的准位为高准位时，调整单元7011会依据比较单元7018的比较讯号产生调整讯号ADSchii,而控制程序化讯号产生单元7012调整保护准位IS，如此即可以调整输出电源的最大准位。上述的特定波形如图9所示，启动讯号PSONB具有三个脉波，且第一个脉波的脉波宽度大于第二个脉波与第三个脉波的脉波宽度。由此可知，此特定波形不同于图4的启动讯号PSONB的波形。当调整单元7011接收到具有特定波形的启动讯号PSONB与具有高准位的电源正常输出讯号PGO时，调整单元7011即会依据比较单元7018的比较讯号产生调整讯号ADSh。换言的，当电源供应器10正常使用而启动讯号PSONB不具有特定波形时，调整单元7011并不会调整保护准位IS。上述的特定波形仅为本发明的一实施例，并不局限本发明的特定波形仅为此实施例。本发明的电源正常输出讯号PGO是用于作为确认讯号，以确认电源供应器10为正常状态，本发明亦可运用其它讯号作为确认讯号。所以，调整单元7011亦可依据其它讯号与具有特定波形的启动讯号PSONB而调整保护准位IS。请参阅图7，其为本发明的程序化讯号产生单元的电路图。如图所示，程序化讯号产生单元7012包含一电流源单元7014、一开关单元7015。开关单元7015包含复数开关Sff0-Sffn,该些开关SWtl-SWn分别依据调整讯号ADStl-ADSn而导通或截止。电流源单元7014包含复数电流源Itl-1n,以提供复数电流，以产生程序化电流。电流源IcrIn分别耦接开关单元7015的该些开关SWtl-SWnt5调整讯号ADStl-ADSn用于导通或截止该些开关SWtl-SWn,以控制该些电流源Itl-1n的电流。该些开关SWtl-SWn导通时，该些电流源Itl-1n的电流则流至接地端。因此，程序化讯号产生单元7012依据调整讯号ADSchii而切换该些开关SWtl-SWn,即可调整程序化电流的准位，以调整保护准位IS。复参阅图2，当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，测试负载301会耦接电源供应器10的输出端，以取样输出电源。电源供应器10开启且正常提供输出电源时，电源正常输出讯号PGO的准位为高准位，且输出至测试负载301。此时，测试负载301会依据一设定值取样输出电源，譬如取样20安培的输出电流IQUT。所以，提供至测试负载301的输出电源即会相对应于设定值。此设定值即为欲设定电源供应器10的输出电源的最大值。此时，相关于输出电源的侦测讯号VS系作为限定准位，而作为校正保护准位IS的参考准位，以校正输出电源。请参阅图3，当自动校正装置校正电源供应器10的输出电源时，调整单元7011会控制程序化讯号产生单元7012，以调整程序化讯号产生单元7012的程序化电流的振幅而调整保护准位IS，而让保护准位IS等于侦测讯号VS，如此即可校正输出电源的最大准位。此外，本发明的调整单元7011与程序化讯号产生单元7012亦可运用于比较单元7016与7017，而产生用于作为保护准位的参考准位Vref2与Vref3，如此亦可校正输出电压的最大值与最小值。请一并参阅图8A、图SB与图9，其为本发明的电源供应器、测试模块与控制模块的一实施例的连接示意图、方块图与波形图。本发明的自动测试装置可直接应用于自动化测试设备(Automatic Test Equipment, ATE)。本发明的自动校正装置更包含一测试模块30以及一控制模块50。测试模块30设于自动化测试设备,其用于产生一测试讯号TTL,并提供输入电源AC至电源供应器10。电源供应器10依据输入电源AC而提供一供应电源Vsb至控制模块50，而作为控制模块50的输入电源VCC，以提供控制模块50所需的电源。控制模块50依据测试讯号TTL而输出具有特定波形的启动讯号PSONB至电源供应器10。电源供应器10的保护芯片701 (如图2所示)接收启动讯号PSONB后，经时间T4后驱使保护讯号FPOB禁能，即启动电源供应器10而建立输出电源。建立输出电源且经时间T8后，保护芯片701致能电源正常输出讯号PG0。测试模块30接收具高准位的电源正常输出讯号PGO后，测试模块30内的测试负载301 (如图2所示)开始依据设定值而取样输出电源，以产生侦测讯号VS，以产生限定准位。当电源正常输出讯号PGO建立，则保护芯片701依据启动讯号PSONB与电源正常输出讯号PGO进行自动校正。此外，如图8A所示，控制模块50具有一连接器41，而测试模块30具有一连接器43，控制模块50透过连接器41与连接器43将启动讯号PSONB输出至测试模块30，而连接器43与一连接器21电性连接，因此连接器43将启动讯号PSONB传送至连接器21，接着再透过连接器21将启动讯号PSONB传送至电源供应器10的一连接器23，藉此控制电源供应器10进行自动校正。综上所述，本发明的一种应用于输出电源的自动校正装置，其用于校正电源供应器的输出电源，其利用程序化讯号产生单元调整保护准位，藉此校正输出电源。如此，即可自动校正电源供应器的输出电源，而不需要另外设置可变电阻，因而不需要藉由人工调整可变电阻的电阻值而调整输出电源，所以可解决耗费人力的问题。此外，程序化讯号产生单元可设置于保护芯片中，因此可避免程序化讯号产生单元发生损坏的问题。如此，本发明可提高校正输出电源的精确度。上文仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明实施的范围，凡依本发明权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本发明的权利要求范围内。
权利要求
1.一种应用于输出电源的自动校正装置，其特征在于，其用于校正一电源供应器的一输出电源，其包含一自动校正电路，该自动校正电路包含: 一比较单元，比较一限定准位与一保护准位，而产生一比较讯号，该保护准位限定该电源供应器所提供的该输出电源；以及 一程序化讯号产生单元，产生该保护准位，并依据该比较讯号调整该保护准位，以校正该输出电源。
2.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，更包含: 一测试负载，耦接该电源供应器，并依据一设定值取样该输出电源，以产生该限定准位，该电源供应器提供至该测试负载的该输出电源的准位对应于该设定值。
3.如权利要求2所述的自动校正装置，其特征在于，其中该自动校正电路更包含: 一侦测组件，耦接该电源供应器的一输出端与该比较单元，并依据该电源供应器提供至该测试负载的该输出电源的准位而产生该限定准位。
4.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，其中该自动校正电路包含: 一调整单元，依据该比较讯号产生一调整讯号，而控制该程序化讯号产生单元调整该保护准位。
5.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，其中该程序化讯号产生单元为一程序化电流源，该自动校正电路更包含: 一阻抗组件，I禹接该电源 供应器的一输出端与该输出电源； 其中，该程序化电流源耦接该阻抗组件与该比较单元，并提供一程序化电流，而产生该保护准位，该保护准位决定于该程序化电流的准位与该阻抗组件的阻抗，该比较讯号调整该程序化电流的准位，而调整该保护准位。
6.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，其中该该比较单元与该程序化讯号产生单元整合于该电源供应器的一保护芯片。
7.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，其中该限定准位对应于一设定值，该程序化讯号产生单元依据该比较讯号调整该保护准位。
8.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，其中该保护准位限定该电源供应器所提供的该输出电源的一最大准位，该程序化讯号产生单元依据该比较讯号调整该保护准位，以校正该输出电源的该最大准位。
9.如权利要求1所述的自动校正装置，其特征在于，更包含: 一测试模块，产生一测试讯号并提供一输入电源至该电源供应器；以及 一控制模块，依据该测试讯号产生一启动讯号； 其中，该电源供应器接收该输入电源并依据该启动讯号提供该输出电源，该电源供应器提供该输出电源后产生一确认讯号，该测试模块依据该确认讯号与一设定值取样该输出电源，以产生该限定准位，该电源供应器提供至该测试模块的该输出电源的准位对应于该设定值。
10.如权利要求9所述的自动校正装置，其特征在于，其中该电源供应器依据该输入电源提供一供应电源至该控制模块，以提供该控制模块所需的电源而产生该启动讯号。
11.如权利要求9所述的自动校正装置，其特征在于，其中该自动校正电路包含: 一调整单元，受控于该启动讯号与该确认讯号，而依据该比较讯号产生一调整讯号，而控制该程序化讯号产生 单元调整该保护准位。
全文摘要
本发明提出一种应用于输出电源的自动校正装置，其用于校正一电源供应器的一输出电源，其包含一自动校正电路，自动校正电路包含一比较单元与一程序化讯号产生单元。比较单元比较一限定准位与一保护准位，而产生一比较讯号，保护准位限定电源供应器所提供的输出电源。程序化讯号产生单元产生保护准位，并依据比较讯号调整保护准位，以校正输出电源。本发明的程序化讯号产生单元会依据限定准位而调整保护准位，如此即自动校正输出电源，而不需以人工方式调整，所以可减少成本并提高校正精确度。
文档编号H02M3/335GK103219888SQ201310087398
公开日2013年7月24日 申请日期2013年3月8日 优先权日2012年5月2日
发明者潘瑞祥, 曾明志 申请人:极创电子股份有限公司