技术总结
本公开提供了用于检测物体的存在的系统、方法和设备。在一个方面，提供用于检测物体的存在的设备。该设备包括感测线圈，该感测线圈由具有预定形状的导体形成，该导体被配置为衰减由外部时变磁场在导体中感应的电流。感测线圈具有根据物体的存在而变化的电气特性。该设备包括检测电路，该检测电路耦合至感测线圈并且被配置为响应于检测电气特性的测量值与电气特性的参考值之间的差异来检测所述物体的存在。在感测线圈的至少一部分的上方没有物体存在的情况下，电气特性的参考值与电气特性的测量值基本相同。
技术研发人员：S·乔普拉;L·A·珀西博恩;M·维尔纳
受保护的技术使用者：高通股份有限公司
文档号码：201680010181
技术研发日：2016.01.19
技术公布日：2017.09.29