用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路的制作方法

文档序号:10978963阅读:639来源:国知局
用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,IR2110芯片U1的VDD引脚连接+5V逻辑电压,Vss引脚通过电容C6连接+5V逻辑电压,Ho引脚通过电阻Rg1连接MOSFET管Q1,Lo引脚通过电阻Rg2连接MOSFET管Q2,COM引脚接地,Vcc引脚连接+15V电压,Vcc引脚通过电容C4连接COM引脚后接地,VB引脚通过自举二极管D1连接+15V电压,VB引脚通过自举电容C1连接MOSFET管Q1和MOSFET管Q2的连接公共端,自举电容C1两端并联自举电容C2,Vs引脚通过电容C3连接MOSFET管Q1和MOSFET管Q2的连接公共端,电容C3两端并联稳压管D2,Vs引脚、电容C3和稳压管D2的连接公共端连接电阻R4后接地,电路简单,成本低,可靠性高,能够吸收高频毛刺干扰电压,加速MOSFET关断,缩短了开关时间,减少了开关损耗。
【专利说明】
用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路
技术领域
[0001]本实用新型涉及一种IR2110驱动电路,特别涉及一种用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,属于安全检测技术领域。
【背景技术】
[0002]近年来,我国机电产品进出口批次、数额逐年增加,社会对安全项目重视程度日益提高,特别是机电设备结构越来越复杂,功能越来越强大,自动化程度越来越高,各地出入境检验检疫机构在进口机电设备安全监管工作中存在的人员数量不足、检验技术落后、检测设备不精的弱点也随之凸显。为了加强机电设备安全指标检测技术研究,研制开发了一种便携式机电设备安全指标综合测试仪器,为提高适应能力,将其内部的电源模块设计直流电源与220V交流市电的双重供电模式,以满足不同环境的检测需要。但是,按照GB5226.1-2008标准要求,绝缘电阻检测时需要在电源进线与可触及的金属外壳之间施加直流500V测试电压。因此,系统内部必须设有能够产生不同高压的直流高压稳压电源,在直流高压稳压电源形成过程中,需要由C8051F020单片机的PWM模块产生30?50KHz的高频脉冲信号,经集成驱动芯片IR2110控制MOSFET实现单向全桥直流逆变,而MOSFET是电压控制型器件,其输入阻抗高,由于各极之间存在寄生电容,在其开通和关断过程中,驱动电路必须能对其寄生电容网络进行快速充放电。但是,现用的驱动芯片IR2110的驱动电路对控制MOSFET开通关断时,会出现高频毛刺干扰信号,影响电源输出的稳定性,且MOSFET开通关断有一定的延时,延长了开关的时间,一定程度上增加了开关的损耗,增加了设备的运行成本。
【实用新型内容】
[0003]根据以上现有技术中的不足,本实用新型要解决的问题是:提供一种可以克服上述缺陷,电路简单,成本低,实用性和可靠性高,能够吸收高频毛刺干扰电压,加速MOSFET关断,缩短开关时间,减少开关损耗的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,包括IR2110芯片Ul,IR2110芯片Ul的HIN引脚连接P丽信号模块,其特征在于:IR2110芯片Ul的VDD引脚连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Vss引脚通过电容C6连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Ho引脚通过电阻Rgl连接MOSFET管Ql的栅极,IR2110芯片Ul的Lo引脚通过电阻Rg2连接MOSFET管Q2的栅极,MOSFET管Q2的源极接地,IR2110芯片Ul的COM引脚接地,IR2110芯片Ul的Vcc引脚连接+15V电压,Vcc引脚通过电容C4连接COM引脚后接地,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举二极管Dl连接+15V电压,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举电容Cl连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,自举电容Cl两端并联自举电容C2,IR2110芯片Ul的Vs引脚通过电容C3连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,电容C3两端并联稳压管D2,Vs引脚、电容C3和稳压管D2的连接公共端连接电阻R4后接地。
[0006]用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路通过自举电容Cl并联自举电容C2来吸收高频毛刺干扰电压,通过电容C3、稳压二极管D2和电阻R4形成5V反向电压,用于加速MOSFET关断,电容C4和电容C6分别作为供电电源和逻辑电源的滤波电容,电路简单,成本低,可靠性高,能够大大缩短开关时间,减少开关损耗,实用性高。
[0007]进一步的优选,自举电容Cl采用1.0yF的钽电容,自举电容C2采用0.1yF的瓷片电容。
[0008]进一步的优选,自举二极管Dl采用FR207快恢复二极管。
[0009]进一步的优选,电容C6和电容C4采用1yF的电解电容。
[0010]本实用新型所具有的有益效果是:
[0011]本实用新型所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路结构简单,成本低,可靠性高,通过自举电容Cl和自举电容C2的并联,能够吸收高频毛刺干扰电压,通过电容C3、稳压二极管D2和电阻R4形成5V反向电压,加速MOSFET关断,缩短了开关时间,减少了开关损耗,具有较强的实用性。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型的结构不意图;
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图对本实用新型的实施例做进一步描述:
[0014]如图1所示,本实用新型所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,包括IR2110芯片U1JR2110芯片Ul的HIN引脚连接PffM信号模块,其特征在于:IR2110芯片Ul的VDD引脚连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Vss引脚通过电容C6连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Ho引脚通过电阻Rgl连接MOSFET管Ql的栅极,IR2110芯片Ul的Lo引脚通过电阻Rg2连接MOSFET管Q2的栅极,MOSFET管Q2的源极接地,IR2110芯片Ul的COM引脚接地,IR2110芯片Ul的Vcc引脚连接+15V电压,Vcc引脚通过电容C4连接COM引脚后接地,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举二极管Dl连接+15V电压,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举电容Cl连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,自举电容Cl两端并联自举电容C2,IR2110芯片Ul的Vs引脚通过电容C3连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,电容C3两端并联稳压管D2,Vs引脚、电容C3和稳压管D2的连接公共端连接电阻R4后接地。
[0015]其中,所述的自举电容Cl采用1.0yF的钽电容,自举电容C2采用0.1yF的瓷片电容,自举二极管Dl采用FR207快恢复二极管,电容C6和电容C4采用1yF的电解电容。
[0016]本实用新型所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,简单,成本低,可靠性高,能够吸收高频毛刺干扰电压,加速MOSFET关断,缩短开关时间,减少开关损耗,具有较强的实用性。
[0017]本实用新型并不仅限于上述【具体实施方式】,本领域普通技术人员在本实用新型的实质范围内做出的变化、改型、添加或替换,也应属于本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.一种用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,包括IR2110芯片U1,IR2110芯片Ul的HIN引脚连接PffM信号模块,其特征在于:IR2110芯片Ul的VDD引脚连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Vss引脚通过电容C6连接+5V逻辑电压,IR2110芯片Ul的Ho引脚通过电阻Rgl连接MOSFET管Ql的栅极,IR2110芯片Ul的Lo引脚通过电阻Rg2连接MOSFET管Q2的栅极,MOSFET管Q2的源极接地,IR2110芯片Ul的COM引脚接地,IR2110芯片Ul的Vcc引脚连接+15V电压,Vcc引脚通过电容C4连接COM引脚后接地,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举二极管Dl连接+15V电压,IR2110芯片Ul的VB引脚通过自举电容Cl连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,自举电容Cl两端并联自举电容C2,IR2110芯片Ul的Vs引脚通过电容C3连接MOSFET管Ql源极和MOSFET管Q2漏极的连接公共端,电容C3两端并联稳压管D2,Vs引脚、电容C3和稳压管D2的连接公共端连接电阻R4后接地。2.根据权利要求1所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,其特征在于:所述的自举电容Cl采用1.0yF的钽电容,自举电容C2采用0.1yF的瓷片电容。3.根据权利要求1所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,其特征在于:所述的自举二极管Dl采用FR207快恢复二极管。4.根据权利要求1所述的用于机电设备安全检测仪直流电源的驱动电路,其特征在于:所述的电容C6和电容C4采用1yF的电解电容。
【文档编号】H02M1/088GK205670743SQ201620643690
【公开日】2016年11月2日
【申请日】2016年6月18日
【发明人】车立志, 刘倩婧
【申请人】车立志
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