加电复位电路的制作方法

文档序号:7522775阅读:294来源:国知局
专利名称:加电复位电路的制作方法
技术领域
示例性实施例涉及半导体集成电路。
背景技术
半导体集成电路可以包括加电复位电路以避免上电故障。

发明内容
实施例可以涉及一种半导体集成电路。一个实施例可以涉及一种加电复位电路,其包括电流镜,其连接到电力节点 (power node),该电力节点接收可变电源电压,该电流镜被配置成向第一线供应第一电流并向第二线供应第二电流;比较电压生成器,其被配置成使用经由第一线提供的第一电流生成比较电压;驱动器,其连接到第二线,该驱动器被配置成响应于第二线的电压激活复位信号;以及地选择晶体管,其被配置成根据所述比较电压连接第二线和接地节点。另一个实施例可以涉及一种加电复位电路,其包括电压电平检测部分,其被配置成接收电源电压,该电压电平检测部分包括检测节点,该检测节点具有根据电源电压而变化的电压;以及驱动器,其被配置成在检测节点的电压高于预定电压时输出复位信号。所述电压电平检测部分包括比较电压生成器,其被配置成生成根据电源电压而变化的比较电压;以及地选择晶体管,其被配置成根据比较电压连接检测节点和接地节点。再一个实施例可以涉及一种加电复位电路,其包括电力节点,其接收电源电压; 电流镜,其连接到该电力节点并被配置成向第一节点和第二节点供应电流;第一电阻器,其一端连接到所述第一节点;第二电阻器,其一端连接到所述第一电阻器的另一端,并且该第二电阻器的另一端接地;第一晶体管,其连接在所述第二节点和接地节点之间,并且受到第一电阻器的另一端和第二电阻器的所述一端的连接节点上的电压的控制;以及第二晶体管,其连接在第一节点和接地节点之间,并且受到所述连接节点上的电压的控制。


通过参照附图详细描述示例性实施例,对本领域普通技术人员而言,上述及其他特征将变得更加清楚,附图中图1图示了示出根据示例性实施例的加电复位电路的框图。图2图示了示出图1中图示的加电复位电路的电路图。图3图示了示出图2中图示的驱动器的电路图。图4图示了示出电源电压变化时内部节点的电压变化的示图。
图5图示了示出根据图3中图示的驱动器输入电压变化的复位信号变化的示图。图6图示了示出包括根据示例性实施例的加电复位电路的计算系统的框图。
具体实施例方式下文中将参照附图更全面地描述示例性实施例;然而,示例性实施例可以以不同的实行来具体实现,不应被看作局限于此处描述的实施例。将会理解,虽然此处可能使用词语“第一”、“第二”、“第三”等来描述不同的元件、 组件、区域、层和/或部分,但这些元件、组件、区域、层和/或部分不受这些词语的限制。这些词语仅仅用于将一个元件、组件、区域、层或部分与另一个区域、层或部分区分开来。因而,下面讨论的第一元件、组件、区域、层或部分也可被称为第二元件、组件、区域、层或部分,而不会偏离本实施例的教导。此处使用的术语仅仅出于描述具体实施例的目的,并非意图构成限制。此处使用的单数形式“一”、“一个”、“该”意图包括复数形式,除非上下文明确给出相反指示。还将理解,当本说明书中使用词语“包括”和/或“包含”时,表明存在所描述的特征、整体、步骤、 操作、元件和/或组件,但不排除存在或附加一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、 组件和/或它们的组合。将会理解,当一元件或层被称为在另一元件或层“上”或“连接到”另一元件或层时,其可以直接在所述另一元件或层上或直接连接到该另一元件或层,或者也可以存在居间的元件或层。图1是示出根据示例性实施例的加电复位电路的框图。参照图1,根据示例性实施例的加电复位电路包括电压电平检测部分100和驱动器200。电压电平检测部分100和驱动器200相互电连接。电压电平检测部分100和驱动器200与电力节点VDDN连接,该电力节点VDDN接收电源电压。电源电压VDD的电平可以是变化的。例如,当提供电源电压以作为包括加电复位电路1000的半导体集成电路(未示出)的工作电压时,电源电压可以增加到该工作电压。驱动器200与电压电平检测部分100电连接。驱动器200根据电压电平检测部分 100的输出电压是否高于预定电压来激活或去激活(inactivate)复位信号RS。例如,当电压电平检测部分100的输出电压高于预定电压时,驱动器200激活复位信号RS。电压电平检测部分100包括电流镜120、比较电压生成器140、检测节点DN和地选择晶体管GST。电流镜120与电力节点VDDN连接。电流镜120通过第一线Ll连接到比较电压生成器140。电流镜120通过第二线L2与地选择晶体管GST连接。检测节点DN位于第二线 L2上。电流镜120分别通过第一线Ll和第二线L2向比较电压生成器140和地选择晶体管GST提供电流。流经第一线Ll和第二线L2的电流可以根据电源电压的电平而变化。比较电压生成器140通过第一线Ll连接到电流镜120。比较电压生成器140使用经第一线Ll提供的电流生成比较电压。此时,比较电压可以根据电源电压变化。比较电压通过第三线L3被提供到地选择晶体管GST的栅极。地选择晶体管GST通过第二线L2连接到电流镜120。地选择晶体管GST与接地节点GN连接。地选择晶体管GST被连接成通过第三线L3接收比较电压。换句话说,地选择晶体管GST根据第三线L3的比较电压导通或截止。当地选择晶体管GST截止时,检测节点DN的电压电平可以由于通过第二线L2提供的电流而增加。换句话说,检测节点DN的电压根据通过第二线L2的电荷流入(charge inflow)而增加。此时,检测节点DN的电压可以根据电力节点VDDN的电压电平而变化。当检测节点DN的电压电平高于预定电压时,与检测节点DN连接的驱动器200激活复位信号 RS0如果地选择晶体管GST导通,则地选择晶体管GST形成电流通路。检测节点DN通过晶体管GST与接地节点GN连接。由于检测节点DN上的电荷被放电到接地节点GN,所以检测节点DN的电压电平可以迅速降低。当检测节点DN的电压电平低于预定电压电平时, 驱动器200去激活复位信号RS。地选择晶体管GST根据比较电压的电平导通或截止,并且调节检测节点DN的电压电平。复位信号RS根据检测节点DN的电压电平而被激活或去激活。图2是示出图1中图示的加电复位电路的电路图。参照图2,电流镜120包括第一晶体管Tl和第二晶体管T2以及控制电阻器CR。此时,图2中的控制电阻器CR可以替换为其他阻抗元件。第一晶体管Tl的源极与电力节点VDDN连接。第一晶体管Tl的漏极与控制电阻器CR连接。第一晶体管Tl的栅极与其漏极连接。控制电阻器CR通过第一线Ll与比较电压生成器140连接。第二晶体管T2的源极与电力节点VDDN连接。第二晶体管T2的漏极与检测节点 DN连接。因而,第二晶体管T2的漏极的电压电平与检测节点DN的相同。第二晶体管T2的栅极与第一晶体管Tl的栅极连接。利用图2中图示的电路结构,电流镜120通过第一线Ll和第二线L2分别向比较电压生成器140和地选择晶体管GST提供电流。流经第一线Ll的电流可以根据电力节点 VDDN的电压电平而变化。可以根据控制电阻器CR的值来调节流经第一线Ll的电流量。当流经第一线Ll的电流量变化时,第二线L2的电流量可以随之变化。例如,流经第一线Ll 的电流在量上可以与流经第二线L2的电流相同。在图2中,第一晶体管Tl和第二晶体管T2可以是ρ型晶体管。然而,第一晶体管 Tl和第二晶体管T2也可以替换为η型晶体管。比较电压生成器140包括第一电阻器Rl和第二电阻器R2、第一节点a和第二节点b、以及检测晶体管DT。第一节点与第一线Ll连接。第一电阻器Rl与第一节点a和第二节点b连接。第二电阻器R2与第二节点b和接地节点GN连接。检测晶体管DT的漏极与第一节点a连接,且其源极接地。检测晶体管DT和地选择晶体管的栅极共同连接到第二节点b。检测晶体管DT根据第二节点b的电压而导通或截止。第二节点b的电压通过第三线L3提供给地选择晶体管GST,以作为比较电压。因而,地选择晶体管GST根据第二节点 b的电压电平而导通或截止。当晶体管DT和GST截止时,可以根据第一电阻器Rl和第二电阻器R2的值的比来确定第一节点a和第二节点b的电压电平。在示例性实施例中,第一节点a和第二节点b
7的电压电平可用下列公式来表示。
[公式 1]
权利要求
1.一种加电复位电路,包括电流镜,其连接到电力节点,该电力节点接收可变电源电压,该电流镜被配置成向第一线供应第一电流并向第二线供应第二电流;比较电压生成器,其被配置成使用经由第一线提供的第一电流生成比较电压;驱动器,其连接到第二线,该驱动器被配置成响应于第二线的电压激活复位信号;以及地选择晶体管,其被配置成根据比较电压连接第二线和接地节点。
2.如权利要求1所述的加电复位电路,其中,第二线的电压根据可变电源电压的增加而增加,并且根据地选择晶体管的导通操作而降低。
3.如权利要求1所述的加电复位电路,其中,所述驱动器在第二线的电压高于预定电压时激活复位信号,并且在第二线的电压低于该预定电压时去激活复位信号。
4.如权利要求3所述的加电复位电路,其中,所述驱动器在第二线的电压变得高于该预定电压且经过了一段时间之后,激活复位信号。
5.如权利要求1所述的加电复位电路,其中,经由第一线提供的第一电流的第一值根据可变电源电压而变化,并且经由第二线提供的第二电流的第二值根据经由第一线提供的第一电流的第一值来确定。
6.如权利要求1所述的加电复位电路,其中,所述比较电压生成器包括连接到第一线的第一阻抗元件和连接在第一阻抗元件与接地节点之间的第二阻抗元件,并且在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点的节点电压被提供作为比较电压。
7.如权利要求6所述的加电复位电路,其中,所述比较电压生成器还包括检测晶体管, 其栅极与在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点连接,该检测晶体管的第一端与在第一线和第一阻抗元件之间形成的第一节点连接,并且该检测晶体管的第二端与接地节点连接。
8.一种加电复位电路,包括电压电平检测部分,其被配置成接收电源电压,该电压电平检测部分包括检测节点,该检测节点的电压根据电源电压而变化;以及驱动器,其被配置成在检测节点的电压高于预定电压时输出复位信号,其中,所述电压电平检测部分包括比较电压生成器,其被配置成生成根据电源电压而变化的比较电压;以及地选择晶体管,其被配置成根据比较电压连接检测节点和接地节点。
9.如权利要求8所述的加电复位电路,其中,所述地选择晶体管连接在检测节点和接地节点之间,并且其栅极被连接为接收比较电压,并且根据该比较电压来确定该地选择晶体管是否导通。
10.如权利要求8所述的加电复位电路,其中,所述电压电平检测部分还包括电流镜, 该电流镜接收电源电压,该电流镜被配置成与比较电压生成器和检测节点连接,并且该电流镜使用电源电压生成第一电流和第二电流,该第一电流被提供给比较电压生成器,并且该第二电流被提供给检测节点。
11.如权利要求10所述的加电复位电路,其中,第一电流的第一量根据电源电压而变化,并且第二电流的第二量根据第一电流的第一量而变化。
12.如权利要求10所述的加电复位电路,其中,所述比较电压生成器使用第一电流生成比较电压。
13.如权利要求10所述的加电复位电路,其中,当地选择晶体管截止时,检测节点的电压因提供第二电流而增加。
14.如权利要求8所述的加电复位电路,其中,所述电压电平检测部分包括电流镜,该电流镜包括第一晶体管,其第一端被连接为接收电源电压; 第二晶体管,其第一端被连接为接收电源电压;以及控制阻抗元件,其连接到第一晶体管的第二端和比较电压生成器, 第一晶体管和第二晶体管的栅极相互连接,第一晶体管的栅极与第一晶体管的第二端连接,并且第二晶体管的第二端与检测节点连接。
15.如权利要求14所述的加电复位电路,其中,所述比较电压生成器包括 第一阻抗元件,其与控制阻抗元件连接;第二阻抗元件,其在第一阻抗元件和接地节点之间;以及检测晶体管,其栅极连接到在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点, 其中,检测晶体管的第一端与在控制阻抗元件和第一阻抗元件之间形成的第一节点连接,并且检测晶体管的第二端与接地节点连接,在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点的节点电压被提供作为比较电压。
16.一种计算系统,包括 存储器;用户接口 ; 中央处理单元;加电复位电路,其提供用于控制存储器的复位操作的复位信号,该加电复位电路包括电压电平检测部分,其被配置成接收电源电压,该电压电平检测部分包括检测节点,该检测节点的电压根据电源电压而变化;以及驱动器,其被配置成在检测节点的电压高于预定电压时输出复位信号, 该电压电平检测部分包括比较电压生成器,其被配置成生成比较电压,该比较电压根据电源电压而变化;以及地选择晶体管,其被配置成根据比较电压连接检测节点和接地节点; 总线,其电连接到存储器、用户接口、中央处理单元和加电复位电路。
17.如权利要求16所述的计算系统,其中,所述电压电平检测部分还包括电流镜,该电流镜接收电源电压,该电流镜被配置成与比较电压生成器和检测节点连接,并且该电流镜使用电源电压生成第一电流和第二电流,该第一电流被提供给比较电压生成器,并且该第二电流被提供给检测节点。
18.如权利要求17所述的计算系统,其中,所述地选择晶体管连接在检测节点和接地节点之间,并且其栅极被连接为接收比较电压的,并且根据该比较电压来确定该地选择晶体管是否导通。
19.如权利要求17所述的计算系统,其中,所述电流镜包括 第一晶体管,其第一端被连接为接收电源电压;第二晶体管,其第一端被连接为接收电源电压;以及控制阻抗元件,其连接到第一晶体管的第二端和比较电压生成器, 第一晶体管和第二晶体管的栅极相互连接,第一晶体管的栅极与第一晶体管的第二端连接,并且第二晶体管的第二端与检测节点连接。
20.如权利要求19所述的计算系统,其中,所述比较电压生成器包括 第一阻抗元件,其与控制阻抗元件连接; 第二阻抗元件,其在第一阻抗元件和接地节点之间;以及检测晶体管,其栅极连接到在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点, 其中,检测晶体管的第一端与在控制阻抗元件和第一阻抗元件之间形成的第一节点连接,并且检测晶体管的第二端与接地节点连接,在第一阻抗元件和第二阻抗元件之间形成的节点的节点电压被提供作为比较电压。
全文摘要
实施例可以公开了一种加电复位电路,其包括电流镜,其连接到电力节点,该电力节点接收可变电源电压,该电流镜被配置成向第一线供应第一电流并向第二线供应第二电流;比较电压生成器,其被配置成使用经由第一线提供的第一电流生成比较电压;驱动器,其连接到第二线,该驱动器被配置成响应于第二线的电压激活复位信号;以及地选择晶体管,其被配置成根据所述比较电压连接第二线和接地节点。
文档编号H03K17/22GK102468834SQ20111034787
公开日2012年5月23日 申请日期2011年11月7日 优先权日2010年11月8日
发明者白承桓, 车首益, 郑智镛 申请人:三星电子株式会社
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