Adc芯片特性参数测试精度的测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其是一种ADC芯片特性参数测试精度的测试系统。
【背景技术】
[0002]ADC 芯片(Analog-to-Digital Converter，模数转换器)需要通过ATE (AutomaticTest Equipment，自动测试设备)对其性能参数进行测试。如图1所示，所述ATE 101上的一直流电源103与所述ADC芯片102连接，为所述ADC芯片102提供参考电源，所述ATE101为所述ADC芯片102提供模拟输入信号VI’以及时钟信号V2’，所述模拟输入信号经过所述ADC芯片102后，被转换为数字信号V3’，并将所述数字信号输出到所述ATElOl上的一数字处理器104。
[0003]ADC芯片在实际高速采样过程中，为保证ADC芯片内部采样时钟与ATE数字端采样信号的同步，确保没有较大延时导致信号采样过程中量化误差增大，以及数字输出端信号高低电平幅值满足性能评估的准确性，通常要求所述ADC芯片的输出端负载电容不超过所述ADC芯片的容抗要求，以保证被采样数字信号转换时间和输出电平符合所述ADC芯片性能评估要求。
[0004]但是，目前集成电路主流高端ATE测试设备数字测试端的本身容抗负载在60pF-100pF之间，超过了所述ADC芯片的输出端负载容抗要求，在进行高速ADC芯片测试时会增加所述ADC芯片的输出信号延时和拉低信号电平幅值，导致所述ADC芯片性能评估不准确或者无法评估。
[0005]具体的，图2示出了当所述ADC芯片没有连接到所述ATE时，所述ADC芯片单位周期内的输出信号，其中横坐标为时间，单位为ms，纵坐标为输出信号的振幅，单位为V。图3示出了当所述ADC芯片连接到所述ATE时，所述ADC芯片单位周期内的输出信号，其中横坐标为时间，单位为ms，纵坐标为输出信号的振幅，单位为V。其中，DO表示数字输出信号，tR表示输出电压的上升时间，tPH表示单位周期内输出高电平的脉冲宽度。可以看出，由于连接到所述ATE后，所述ATE自身的容抗使得所述ADC芯片的数字输出信号在单位周期内输出高电平的脉冲宽度(tPH)减少。而所述ATE测试设置在采样过程中，需要在固定时刻去采样所述ADC芯片的数字输出信号的电平幅值。由于信号延时，将导致采样电平与所述ADC芯片的实际输出情况不符，则所述ADC芯片解码不正确，导致所述ADC芯片的静态参数和动态参数产生误差。
[0006]图4示出了未连接所述ATE测试设备情况时，所述ADC芯片的输出信号的幅值，达到2.5Vpk，其中横坐标为时间，单位为ms，纵坐标为输出信号的振幅，单位为V。图5示出了在连接所述ATE测试设备情况时，所述ADC芯片的输出信号的幅值，其中横坐标为时间，单位为ms，纵坐标为输出电压的振幅，单位为V。所述ADC芯片的输出信号的幅值只有lVpk。所述ADC芯片输出信号幅值的减少会直接影响所述ADC芯片特性测试的结果，导致电平冗余幅度变小，造成所述ATE测试设备采样后的电平出现误差，最终影响所述ADC芯片的测试结果的准确性。
[0007]目前常用的一种方法是采用具有较低容性负载的逻辑分析仪对所述ADC芯片进行测试，但是这种方法灵活性差，操作复杂。另一种方法是直接用所述ATE测试设备进行测试，使得所述ADC芯片的性能指标达不到精度要求。
【发明内容】
[0008]本发明的目的在于提供一种ADC芯片特性参数测试精度的测试系统，以解决利用逻辑分析仪灵活性差，操作复杂，牺牲ADC芯片的性能指标达不到精度要求的问题。
[0009]为了达到上述目的，本发明提供了一种ADC芯片特性参数测试精度的测试系统，包括:与被测ADC芯片的输入端和输出端连接的ATE测试设备，在所述被测ADC芯片的输出端连接一缓冲器，所述缓冲器的输出端与所述ATE测试设备连接。
[0010]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述缓冲器的信号带宽大于等于所述被测ADC芯片的带宽。
[0011]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述缓冲器的输入容抗小于所述被测ADC的容抗要求。
[0012]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述缓冲器的输出电平大于等于所述被测ADC芯片的输出幅值。
[0013]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述缓冲器的电压转换时间小于所述被测ADC芯片输出信号上升/下降的时间。
[0014]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述ATE测试设备上的直流电源为所述被测ADC芯片提供参考电源。
[0015]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述ATE测试设备为所述被测ADC芯片提供时钟信号。
[0016]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述ATE测试设备的一任意波形发生器为所述被测ADC芯片提供模拟输入信号。
[0017]优选的，在上述的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，所述被测ADC芯片的输出信号经过所述缓冲器后与所述ATE测试设备上的一数字处理器连接。
[0018]在本发明提供的ADC芯片特性参数测试精度的测试系统中，在所述被测ADC芯片的输出端与所述ATE之间连接一缓冲器，提高所述ADC芯片的输出驱动能力，保障所述ADC芯片的输出信号时序和电平的准确性，从而能够得到更加精准的所述ADC芯片的特性测试结果。
【附图说明】
[0019]图1为现有技术中利用ATE对ADC芯片进行性能参数测试的结构示意图；
[0020]图2为现有技术中没有连接ATE时，所述ADC芯片单位周期内的输出信号；
[0021]图3为现有技术中连接ATE时，所述ADC芯片单位周期内的输出信号；
[0022]图4为现有技术中未连接所述ATE测试设备情况时，所述ADC芯片的输出信号示意图；
[0023]图5为现有技术中连接所述ATE测试设备情况时，所述ADC芯片的输出信号示意图；
[0024]图6为本发明实施例中ADC芯