一种v-cut防呆线路板的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及PCB线路板制作技术领域，尤其涉及一种V-CUT防呆线路板。
【背景技术】
[0002]PCB线路板就是印刷电路板，几乎会出现在每一种电子设备当中。而电子零件就在镶在大小各异的PCB线路板上。现有所有PCB板单只较小时都需要拼版以提高SMT贴片效率，即使单只较大有焊盘靠边时为避免SMT过轨道被挡住也会在板边增加工艺边。请参阅图1，凡是有拼版的或有加工艺边的都需要进行V-⑶T操作，以便过贴片后分板。V-⑶T工序无论是半自动机还是全自动机都需要人工装刀或人工画V-CUT线，如遇生手操作经常有出现少装刀和少画线导致漏V-CUT现象，一旦出现漏V-CUT现象的产品，并流到客户手里贴完元器件将可能无法返工处理，这样就会造成赔偿元器件等重大损失。
[0003]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种成本低廉、可靠的可防漏V-⑶T操作的V-⑶T防呆线路板。
[0005]本实用新型的技术方案如下:本实用新型提供一种V-⑶T防呆线路板，包括线路板本体、围绕着所述线路板本体的工艺边以及第一、第二测试部，所述工艺边包括:位于线路板本体一端的第一部分、位于线路板本体另一端的第二部分以及连接第一、第二部分的第三部分，所述线路板本体包括并排设计的若干PCB板单元，所述PCB板单元与工艺边交界处、以及相邻的两PCB板单元交界处均设有V-CUT路径，所述第一测试部将工艺边的第三部分与与第三部分相邻的PCB板单元连接，所述第二测试部将工艺边的第三部分分别与工艺边的第一部分和第二部分连接。
[0006]每一所述第一测试部包括:两第一测试焊盘以及连接两第一测试焊盘的第一测试导线，所述两第一测试焊盘设于工艺边上，所述第一测试导线呈“U”形设计，其迂回穿过V-CUT路径。
[0007]所述第一测试焊盘的直径为1mm，所述两第一测试焊盘之间的距离为1.7mm，所述第一测试导线的线宽为0.15mm。
[0008]每一所述第二测试部包括:两第二测试焊盘以及连接两第二测试焊盘的第二测试导线，所述第二测试导线呈“一”字形，其穿过V-⑶T路径。
[0009]所述第二测试焊盘的直径为1mm，所述两第二测试焊盘之间的距离为2.7mm，所述第二测试导线的线宽为0.15mm。
[0010]所述V-CUT防呆线路板还包括第三测试部，所述第三测试部将相邻的两PCB板单元连接。
[0011]每一所述第三测试部为一第三测试导线。
[0012]所述第三测试导线的线宽为0.15mm。
[0013]采用上述方案，本实用新型的V-⑶T防呆线路板，通过在V-⑶T路径两侧设置测试导向以及选择性地在测试导线两端设置测试焊盘，配合测试设备能够快速、精确地检测线路板的V-⑶T情况，可以百分百精准发现生产过程中的品质异常，甚至可以免去此项检查项目，大大提高了外观检查效率，降低生产成本和客户报废、返工成本，还可以实现机器化检测，效率高。
【附图说明】
[0014]图1为现有技术的V-⑶T防呆线路板结构示意图。
[0015]图2为本实用新型V-⑶T防呆线路板的结构示意图。
[0016]图3为图2中A处的放大图。
[0017]图4为图2中B处的放大图。
[0018]图5为图2中C处的放大图。
[0019]图6为测试治具种针抵触焊盘的结构示意图。
【具体实施方式】
[0020]以下结合附图和具体实施例，对本实用新型进行详细说明。
[0021]请参阅图2至图6，本实用新型提供一种V-⑶T防呆线路板，结构简单、易于实现，成本低廉；其具体包括线路板本体10、围绕着所述线路板本体10的工艺边20以及第一、第二测试部31、35。所述工艺边20包括:位于线路板本体10 —端的第一部分22、位于线路板本体10另一端的第二部分24以及连接第一、第二部分22、26的第三部分26。所述线路板本体10包括并排设计的若干PCB板单元12，所述PCB板单元12与工艺边20交界处、以及相邻的两PCB板单元12交界处均设有V-⑶T路径，所述第一测试部31将工艺边20的第三部分26与与第三部分26相邻的PCB板单元12连接，所述第二测试部35将工艺边20的第三部分26分别与工艺边20的第一部分22和第二部分24连接。
[0022]具体的，每一所述第一测试部31包括:两第一测试焊盘32以及连接两第一测试焊盘32的第一测试导线33。所述两第一测试焊盘32设于工艺边20上，所述第一测试导线33呈“U”形设计，其迂回穿过V-CUT路径。在本实施例中，第一测试导线33与PCB板单元12中线路结构的距离为0.15mm (常用V-CUT线的角度为30度，V-CUT线宽度为0.3-0.5mm)ο所述第一测试焊盘32处开窗露铜，供测试治具的种针40测试用。所述第一测试焊盘32直径为1mm，所述两第一测试焊盘32之间的距离为1.7mm，所述第一测试导线33的线宽为0.15mm0
[0023]每一所述第二测试部35包括:两第二测试焊盘36以及连接两第二测试焊盘36的第二测试导线37，所述第二测试导线37呈“一”字形，其穿过V-CUT路径。所述第二测试焊盘36处开窗露铜，供测试治具的种针40测试用。所述第二测试焊盘36的直径为1_，所述两第二测试焊盘36之间的距离为2.7mm，所述第二测试导线34的线宽为0.15mm。
[0024]作为可供选择的另一实施例，当PCB板单元12的地线铜片上设有开窗焊盘时，所述V-CUT防呆线路板还包括第三测试部38，所述第三测试部38将相邻的两PCB板单元12连接。每一所述第三测试部38为一第三测试导线。所述第三测试导线的线宽为0.15mm，其直接连接到两个相邻PCB板单元的地线铜皮上，依地线上的开窗焊盘种针。
[0025]本实用新型的工作原理如下:当PCB线路板有正常过V-⑶T时，V-⑶T线上的第一测试导线33、第二测试导线35以及第三测试导线会被断开，OPEN/SHORT测试时会显示两点不连通，即为正常；当员工操作漏V-⑶T时，第一测试导线33、第二测试导线35以及第三测试导线中一条或多条仍完整存在，测试时会显示两点相通，即短路，需隔离返工重新进行V-CUT操作。
[0026]综上所述，本实用新型提供一种V-⑶T防呆线路板，通过在V-⑶T路径两侧设置测试导向以及选择地在测试导线两端设置测试焊盘，配合测试设备能够快速、精确地检测线路板的V-⑶T情况，可以百分百精准发现生产过程中的品质异常，甚至可以免去此项检查项目，大大提高了外观检查效率，降低生产成本和客户报废、返工成本。
[0027]以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种V-CUT防呆线路板，其特征在于，包括线路板本体、围绕着所述线路板本体的工艺边以及第一、第二测试部，所述工艺边包括:位于线路板本体一端的第一部分、位于线路板本体另一端的第二部分以及连接第一、第二部分的第三部分，所述线路板本体包括并排设计的若干PCB板单元，所述PCB板单元与工艺边交界处、以及相邻的两PCB板单元交界处均设有V-CUT路径，所述第一测试部将工艺边的第三部分与与第三部分相邻的PCB板单元连接，所述第二测试部将工艺边的第三部分分别与工艺边的第一部分和第二部分连接。2.根据权利要求1所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，每一所述第一测试部包括:两第一测试焊盘以及连接两第一测试焊盘的第一测试导线，所述两第一测试焊盘设于工艺边上，所述第一测试导线呈“U”形设计，其迂回穿过V-⑶T路径。3.根据权利要求2所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，所述第一测试焊盘的直径为1mm，所述两第一测试焊盘之间的距离为1.7mm，所述第一测试导线的线宽为0.15mm。4.根据权利要求1所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，每一所述第二测试部包括:两第二测试焊盘以及连接两第二测试焊盘的第二测试导线，所述第二测试导线呈“一”字形，其穿过V-⑶T路径。5.根据权利要求4所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，所述第二测试焊盘的直径为1mm，所述两第二测试焊盘之间的距离为2.7mm，所述第二测试导线的线宽为0.15mm。6.根据权利要求1所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，还包括第三测试部，所述第三测试部将相邻的两PCB板单元连接。7.根据权利要求6所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，每一所述第三测试部为一第三测试导线。8.根据权利要求7所述的V-CUT防呆线路板，其特征在于，所述第三测试导线的线宽为.0.15mm0
【专利摘要】本实用新型公开一种V-CUT防呆线路板，包括线路板本体、工艺边及第一、第二测试部，工艺边包括：第一部分、第二部分及第三部分，线路板本体包括并排设计的若干PCB板单元，PCB板单元与工艺边交界处及相邻的两PCB板单元交界处均设有V-CUT路径，第一测试部将第三部分与第三部分相邻的PCB板单元连接，所述第二测试部将第三部分分别与工艺边的第一部分和第二部分连接。本实用新型通过在V-CUT路径两侧设置测试导向以及选择性地在测试导线两端设置测试焊盘，配合测试设备能够快速、精确地检测线路板的V-CUT情况，可以百分百精准发现生产过程中的品质异常，大大提高了外观检查效率，降低生产成本和客户报废、返工成本。
【IPC分类】H05K1/02
【公开号】CN204652771
【申请号】CN201520341688
【发明人】钟红生, 李伟章, 曾巨湘, 张由春
【申请人】深圳市翔宇电路有限公司
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2015年5月22日