专利名称：天线耦合测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种天线耦合测试装置，特别是指一种用以测试该类内建于电路板上的天线的天线耦合测试装置。
背景技术：
具有天线的电子产品，其在出货前均必须经过功率、场效等的测试，该类测试在传统上有两种测试方法，现叙述如下。
第一种方法，以一信号线将信号传输至一测试仪器，此种方法在实施上需外接一电连接器，才能传输信号给该测试仪器。
第二种方法，是将待测装置的天线与接收信号端的天线置于一隔离罩内进行测试，从而阻绝功率外泄，并能避免与生产在线其它产品的运作或测试产生干扰或影响。
上述两种方法中，无论是外接一电连接器还是使用隔离罩，其均会使得测试程序变得复杂且成本也较高。
此外，该两种测试方法也都仅能测试圆杆型天线，却完全无法测试“板上型天线(天线内建于电路板上)”，该类板上型天线具有天线不外伸的隐藏功效，早已成为现今市场的主流，却没有适当的而且无前述缺陷的测试装置可做为测试使用。
因此，本发明基于上述现有技术的缺陷加以改进，提出了一种设计合理且有效克服其缺陷的发明。
发明内容
本发明天线耦合测试装置的目的，在于有效地提供一种无需外接电连接器且无需使用隔离罩的测试装置，通过其本身具有电性连接功能而根本无需外接电连接器，而且其本身具有阻绝功率外泄功能而根本无需使用隔离罩，因此其测试程序就绝不复杂且还能有效降低成本，并能适用于板上型天线的测试。
为达到上述目的，本发明提供一种天线耦合测试装置，用于测试一待测装置上的天线，该测试装置包括一外壳，其一侧具有向内延伸的插槽，该插槽相对于所述待测装置而利于插置；一绝缘材，其设置于该外壳的插槽内，且该绝缘材具有一容室和一设于该容室内壁的金属片；及一电连接器，其设于该外壳另一侧，该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别予以电性连接。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳和绝缘材均依据所要测试的待测装置形状、大小来设计。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳进一步包含能够彼此对合的第一、二壳体，该第一、二壳体各具有对半的凹陷，该两凹陷即对合成所述的插槽。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳的各该凹陷进一步各形成一扩大部，各该扩大部靠近于所述插槽的前段开口处。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳的第一、二壳体，其一邻接处各具有对半的缺凹部，所述电连接器被夹持并固定于该对合后的两缺凹部之间。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述待测装置呈板状体型式。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述待测装置为一内建有天线的电路板。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳由铝材所制成。
本发明所述的天线耦合测试装置，其中，所述外壳由铝合金材质所制成。
图1为本发明测试装置的立体分解图；图2为本发明测试装置的立体组合图；
图3为本发明测试装置中的绝缘材的前视图；图4为本发明测试装置依据图3的绝缘材4-4剖面图；图5为本发明测试装置与待测装置之间的插置关系图；图6为本发明测试装置在进行测试时的实施示意图。
其中，附图标记说明如下100测试装置1外壳11第一壳体111孔体12第二壳体121孔体13插槽14凹陷141扩大部16缺凹部17电连接器2绝缘材20容室21金属片 211连接部212接地部300待测装置3电路板4天线500测试仪器5对接连接器600信号线6远程连接器700计算机具体实施方式
为能更进一步了解本发明的特征与技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明及附图。
参阅图1至图6所示，本发明提供一种天线耦合测试装置，该测试装置100用于测试一待测装置300，特别是该待测装置300为一板状体，而该板状体为一内建有天线4的电路板3，由此测试该天线4的功率、场效等。
该测试装置100包括一外壳1、一设于该外壳1内的绝缘材2及一设于该外壳1的电连接器17，该外壳1为铝质或铝合金材质所制成，其具有相同于熟知隔离罩的阻绝功率外泄功效，而该绝缘材2可以是例如电木或其它适用的绝缘材料均可。
该外壳1，其一侧具有向内延伸的插槽13(图2所示)，该插槽13相对于所述板状体型式的待测装置300，使该待测装置300能插置于该外壳1的插槽13内。
该绝缘材2，其固定在该外壳1的插槽13内，该绝缘材2具有一贯通状的容室20，该容室20的贯通方向与前述待测装置300的插置方向相同。该绝缘材的容室20内壁以例如贴附固定的方式设置有一层金属片21，该金属片21的相邻边则各形成有一连接部211和一接地部212，该连接部211以电性连接于该电连接器17，而该接地部212用于接地。
该电连接器17，其设于该外壳1的另一侧，且该电连接器17的内端与前述金属片21的连接部211彼此电性连接，外端以电性连接信号线，由此传输信号。
该外壳1除了上述的一体式以外，其还可以是如各图所示的对合式外壳1。该对合式的外壳1包含有能够彼此对合在一起的对半状第一、二壳体11、12，该第一、二壳体11、12之间的邻接面各具有对半的凹陷14，且各该凹陷14还进一步各具有一扩大部141，该两凹陷14能对合成所述的插槽13，而各该扩大部141靠近于所述插槽13的前段开口处，因此该插槽13的前段口径较大而用于避免接触到所述待测装置300的其它电子组件，后段口径则较小而用于设置(例如紧配合)绝缘材2。而且，该第一、二壳体11、12之间的一邻接边处各具有对半的缺凹部16，所述电连接器17则被夹持并固定于对合后的该两缺凹部16之间，所述设置有金属片21的绝缘材2，其金属片21的连接部211电性连接于该电连接器17而传输信号，而其接地部212电性连接于所述外壳1。至于该第一、二壳体11、12的固定，可在该第一、二壳体11、12的其它邻接边处分别设有相对的多个孔体111、121，通过利用多个固定元件来将对合后的第一、二壳体11、12予以固定在一起。如此构组成本发明的测试装置100。
本发明测试装置100特别用于测试呈板状体型式的待测装置，图5所示的待测装置300即为板状体型式的电路板3，该电路板3内建有一天线4、且当然还具有所述的多个其它电子组件。
图5为利用本发明来对该类板状体型式的待测装置300进行测试的立体分解图，由于其插槽13呈扁长条形，且绝缘材2的容室20也为扁形，因此该待测装置300的电路板3能以其全宽来插于插槽13内，进而让该类电路板3具有天线4的部分，能够位于所述绝缘材2的容室20内，而且正好能被所述金属片21所包围，因此能够对该电路板3上的天线4进行例如功率、场效等的测试，而测试的数据经由所述的连接部211传输给电连接器17，并通过该电连接器17将所述数据向其他地方传输。
由于本发明测试装置100中，其外壳1的插槽13和其绝缘材2的容室20均为扁形，因此能够适用于该类呈板状体型式的待测装置300，如图所示的电路板3各部与金属片21之间的间距能被拉近从而初步减少功率的损失。而且，该插槽13和该容室20的形状、大小系可针对不同宽度、不同大小的不同待测装置来设计，因此，任何宽度、形状等的任何待测装置均能以其全宽来插置于测试装置100的插槽13和容室20内，进而使电路板3各部与金属片21之间的间距再度被拉近从而更进一步减少功率的损失。此外，本发明测试装置100的外壳1以铝材或铝合金材质制成，因此能具有与熟知的隔离罩般相同的阻绝功率外泄功效。
参阅图6所示，本发明测试装置100需与一测试仪器500电性连接，该测试仪器500具有对接连接器5，而在本发明测试装置的电连接器17与测试仪器的对接连接器5之间，以一条信号线600连接，该信号线600的一端以一未标示图号的近端连接器电性连接于本发明测试装置的电连接器17，该信号线600的另端以一远程连接器6电性连接于该测试仪器的对接连接器5，由此进行测试并传输信号。该远程连接器6与对接连接器5可为例如USB、Mini USB或1394连接器等等的任意型式连接器。该测试仪器500再与一台计算机700电性连接，用于信号往来、显示、贮存测试结果或显示特性曲线图等等。
如上所述的本发明创造，具有如下述的功效上增进一、通过本发明测试装置100的特殊结构设计，能特别针对呈板状体型式的待测装置，来进行例如功率、场效等的测试。
二、本发明测试装置100本身具有电连接器17，因此根本不需外接其它的电连接器。使得具有测试程序绝不复杂且还能有效降低成本的功效。
三、本发明测试装置100本身具有阻绝功率外泄功能，因此根本不需使用熟知的隔离罩。使得具有测试程序绝不复杂且还能有效降低成本的功效。
四、本发明测试装置100的结构不复杂，且能单个制造后再一起组装，因此能针对各种不同宽度、不同型式的待测装置来设计，通过更进一步地让该类待测装置各部与金属片21之间的间距大幅拉近，从而更进一步地减少功率的损失。
五、本发明测试装置100的插槽13内，具有特别设计的扩大部141，用于避免该待测装置上的其它电子组件接触到外壳1而产生不良的影响。
综上所述，本发明所提供的一种天线耦合测试装置，的确可解决所述现有技术的许多重大缺陷，属于一具有高度产业利用价值的发明产品，而且具功效上的增进。
以上所述仅为本发明之的一优选实施例而已，并非因此来限制本发明的权利要求范围，凡运用本发明说明书及附图所获得的等效结构变化，均可视为包含在本发明的权利要求范围之内，在此一并表明。
权利要求
1.一种天线耦合测试装置，用于测试一待测装置上的天线，其特征在于，该测试装置包括一外壳，其一侧具有向内延伸的插槽，该插槽相对于所述待测装置而利于插置；一绝缘材，其设置于该外壳的插槽内，且该绝缘材具有一容室和一设于该容室内壁的金属片；及一电连接器，其设于该外壳另一侧，该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
2.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳和绝缘材均依据所要测试的待测装置形状、大小来设计。
3.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳进一步包含能够彼此对合的第一、二壳体，该第一、二壳体各具有对半的凹陷，该两凹陷即对合成所述的插槽。
4.如权利要求3所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳的各该凹陷进一步各形成一扩大部，各该扩大部靠近于所述插槽的前段开口处。
5.如权利要求3所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳的第一、二壳体，其一邻接处各具有对半的缺凹部，所述电连接器被夹持并固定于该对合后的两缺凹部之间。
6.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述待测装置呈板状体型式。
7.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述待测装置为一内建有天线的电路板。
8.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳由铝材所制成。
9.如权利要求1所述的天线耦合测试装置，其特征在于，所述外壳由铝合金材质所制成。
全文摘要
一种天线耦合测试装置，尤指用于测试—待测装置上的天线、由此得知该天线的功率、场效等测试值的测试装置，其中，该类待测装置为板状体型式。该测试装置包括一在一侧处设有插槽、且该插槽相对于所述待测装置而利于插置的外壳；一设置于该外壳插槽内的绝缘材，其具有一容室、和一设于该容室内壁的金属片；及，一设于外壳另一侧的电连接器，该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
文档编号H04B17/00GK1896752SQ20051008356
公开日2007年1月17日 申请日期2005年7月11日 优先权日2005年7月11日
发明者周黄弘亚, 余秋庆 申请人:智捷科技股份有限公司