专利名称：：一种自环光收发模块及其测试装置和方法
技术领域：
：本发明涉及通信设备
技术领域：
，尤其涉及10Gbit/s小封装可热插拔光模块(XFP，10GigabitSmallFormFactorPluggable)的应用才支术领i或，该模块符合小封装可热插拔光模块多源协议(MSA,Multi-sourceAgreement)INF8077i版本的要求。
背景技术：
：XFP光模块(10Gbit/s小封装可热插拔光模块)，其具有封装小、可热插拔这两个优点，在通讯领域中已经被广泛应用。在通信设备生产测试过程中，设备的组成部件(各种板卡)在生产完成后都要经过各种测试以达到质量控制，其中一个环节就是长时间的高温老化测试。这些板卡中就有通常称之为光接口板的单板，光模块在光接口板中承担了光电/电光转换这一不可缺少的重要角色。常规的高温老化测试方法是将被测设备放置高温环境运行，并且通过测试仪表监控设备的运行情况，监控包括数据误码率，告警等设备参数。设备中光接口板的光模块通常承担了业务接入、环回或者串接的功能，所以光模块必须配置在光接口板中才能进行正常的高温老化测试，如图1所示的设备配置和业务连接示意图。光模块在制造出厂前，按照相关的行业标准，也是必须要经过老化流程。因此，光模块在整机设备进入用户手中之前，经过了2次老化过程，造成了光模块被过度老化，导致寿命缩短，故障率增高。由于XFP光模块的速率为10Gbit/s，传输速率高，在运行过程中一旦出现故障，造成的业务损失是非常大的。虽然专利号为200520126384.8的专利描述了一种SFP光模块的自环技术，但是并没有针对XFP光模块的相关规格标准，提出相应地降低XFP光模块的老化程度和故障率、及延长其寿命的方法。因此，必须针对XFP光模块的过度老化找到解决办法，而关键点在于光模块在老化过程中承担的业务接入、环回或者串接的重要功能，必须找到一种替代器件承担上述功能，使得设备在老化过程中可以不安装实际的光模块，从而降低光模块的老化程度。
发明内容为了解决现有的光模块测试方法导致XFP光模块被过度老化、其寿命缩短及降低其故障率的问题，本发明提供了一种自环光收发模块及其测试装置和方法。本发明的自环光收发模块，包括符合XFPMSA多源协议要求的光模块电接口，所述光模块电接口的差分信号输入端分别经串接的电容与所述光模块电接口的差分信号输出端对应连接，所述光模块接口的两个差分信号输出端之间跨接有一个电阻。其中，在所述光才莫块电接口中，I2C(Intel-IntegratedCircuitbus,I2C总线)二线制串行通信接口分别与所述自环光收发模块内部的存储单元的总线端口对应连接。所述存储单元采用EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableReadOnlyMemory,电可擦除只读存储器)存储器。其中，所述光模块电接口的参考时钟的输入信号端之间跨接一电阻。采用上述自环光收发模块的测试装置，所述测试装置包括同步数字体系测试仪，其用于提供模拟实际的同步数字体系光纤通路数据、及监控输入的数据合法性；所述测试装置还包括业务接入板，用于实现同步数字体系业务的接入、且所述业务接入板直接与同步数字体系测试仪连接；交叉板，用于将来自所述业务接入板的业务数据交叉到配有自环光收发模块的被测光板上；被测光板及自环光收发模块，所述自环光收发模块插接在被测光板上，所述自环光收发模块通过被测光板的光口与所述交叉板进行业务数据的传输。其中，所述业务接入板包括光电转换单元，用于将同步数字体系测试仪输出的光信号转换为所需要的电信号；和业务处理单元，用于对上述信号进行业务分配和划分。采用上述自环光收发模块的测试方法，所述测试方法按照以下步骤进行A、所述同步数字体系测试仪通过所述业务接入板将业务数据传输给交叉板；B、所述交叉板将业务数据传输给所述被测光板；C、上述业务数据到达所述被测光板的光口后由所述自环光收发模块将业务数据环回；D、业务数据环回后，所述被测光板将业务数据送至所述交叉板交叉至其他待测光板上；E、上述业务数据交叉回所述业务接入板上，所述同步数字体系测试仪的收发光口连接至所述业务接入板的光口来完成对所述被测光板的间接测试任务。本发明提出了一种自环光收发模块，这种自环光收发模块可以用来替代功能正常的实际XFP光模块，实现通信业务在光模块内部环回，安装在设备的光接口板申，可以在设备的测试和老化过程中广泛使用。本发明的自环光收发模块电路结构简单，几个阻容器件即可实现业务在电信号的环回，同时成本低，其内部只有阻容以及EEPROM存储器件相关的电路；整个装置成本低，可靠性高，使用起来也方便简单。本发明通过利角自环光收发模块替代实际的XFP光模块来进行测试和老化，所以从一定程度上降低了光模块的老化程度，避免了由于光模块老化而带来的寿命缩短和故障率增高的情况发生。同时，本发明还提出了一种采用上述自环光收发模块的测试装置和方法，其相对于常规的测试方法来说，本发明的测试方法更易操作、更容易与本发明的自环光收发模块相匹配，且可以同时对多个被测光板进行测试。图1为常规XFP光模块的测试装置结构示意图2为本发明的自环光收发模块的测试装置结构示意图3为本发明的自环光收发模块的必要硬件连接示意图。具体实施例方式以下将详细描述本发明的各较佳实施例。如图3所示，本发明的自环光收发模块150,其包括符合XFPMSA多源协议要求的双LC光接口和30插针的光模块电接口，所述光模块电接口的差分信号输入端Pinl7脚(RD-)和Pinl8脚(RD+)分别经串接的电容Cl、C2与所述光模块电接口的差分信号输出端Pin28脚(TD-)和Pin29脚(TD+)对应连接，所述光才莫块电接口的两个差分信号输出端Pin28脚(TD-)和Pin29脚(TD+)之间跨接有一个电阻Rl。两个差分信号输入端Pinl7脚(RD-)和Pinl8脚(RD+)3争接的电阻为差分信号阻抗匹配电阻，差分信号间串接的电容C1、C2是交流耦合电容。接收数据差分输入端跨接的电阻R1阻值可为100Q±5%，交流耦合电容C1、C2可采用为O.lpF的贴片陶瓷电容。在光模块电接口中，I2C二线制串行適信接口分别与所述自环光收发模块内部的存储单元的总线端口PinlO脚(SCL)和Pinll脚(SDA)对应连接/所述存储单元采用EEPROM存储器。光模块电接口Pin3脚(MOD—DESEL)控制信号保留有效，则光模块内的EEPROM存储器能够正常工作，存储相关的信息可供外部读写。上述光模块电4妄口的参考时钟的输入信号端Pin24脚(REFCLK+)和Pin25脚(REFCLK-)之间跨接一电阻R2，用以实现针对外部时钟源信号的阻抗匹配。电阻R2可为100Q±5%。在光模块的电接口中，其他的信号都要有固定的有效或无效状态，即Pinl4脚(RX—LOS)、Pinl2脚(MOD_ABS)、Pinl3脚(MOD_NR)接光模块内部的低电平，而Pin4脚(INTERRUPT)接高电平使其无效，以免单板软件误判，影响单板的正常工作。所述光模块电接口的电源和接地的管脚连接符合XFPMSA(Multi-sourceAgreement,多源协议)多源协议INF8077i的要求。其余未特殊定义的电接口符合XFP光模块MSA多源协议INF8077i的要求。本发明的自环光收发模块的外形和结构符合XFPMSA多源协议INF8077i的要求，其金手指(30插针的光模块电接口)外形规格和管脚排列符合XFPMSA多源协议的要求。本发明的自环光收发模块收发数据差分线的PCB走线要求PCB上走差分线对，差分阻抗为100Q±10%,单端阻抗为50Q±10%。从上述的结构可以看出，本发明的自环光收发模块与INF8077i标准定义的正常XFP光模块相比，由于所述光模块内部省去了价格昂贵的激光器件，所以光模块成本大大降低，另外光模块内部已经对数据信号进行了环回，测试时无须再加光纤和光衰减器，结构简单，价格客观，操作方便，特别适合在各种测试场合中使用。上述自环光收发模块150电接口的管脚定义见下表。<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage9</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>如图2所示，采用上述自环光收发模块的测试装置，包括SDH(SynchronousDigitalHierarchy,同步数字体系)测试仪110、业务接入板120、交叉板130、被测光板140及自环光收发模块150;SDH测试仪llO用于提供模拟实际的SDH光纤通路数据、及监控输入的数据合法性；业务接入板120用于实现SDH业务的接入、且业务接入板120直接与SDH测试仪110连接；交叉板130用于将来自业务接入板120的业务数据交叉到配有自环光收发模块150的被测光板140上；自环光收发模块150插接在被测光板140上，自环光收发模块150通过被测光板140的光口与交叉板130进行业务数据的传输。其中，业务接入板120包括光电转换单元121和业务处理单元122，光电转换单元121用于将SDH测试仪IIO输出的光信号转换为所需要的电信号，业务处理单元122用于对上述信号进行业务分配和划分。如图2所示，采用上述装置的测试方法，按照以下步骤进行A、SDH测试仪110通过业务接入板120将业务数据传输给交叉板130;B、交叉板130将业务数据传输给被测光板140;C、上述业务数据到达被测光板140的光口后由自环光收发模块150将业务数据环回；D、业务数据环回后，被测光板140将业务数据送至交叉板130交叉至其他待测光板上；E、上述业务数据交叉回业务接入板130上，SDH测试仪110的收发光口连接至业务接入板120的光口来完成对^皮测光板140的间接测试任务。本发明的测试装置和方法能保证在可靠性等测试条件下，不损伤价格昂贵的光模块，从而降低测试成本。上述各具体步骤的举例说明较为具体，并不能因此而认为是对本发明的专利保护范围的限制，本发明的专利保护范围应以所附权利要求为准。权利要求1、一种自环光收发模块，其包括符合小封装可热插拔光模块多源协议要求的光模块电接口，其特征在于，所述光模块电接口的差分信号输入端分别经串接的电容与所述光模块电接口的差分信号输出端对应连接，所述光模块电接口的两个差分信号输出端之间跨接有一个电阻。2、根据权利要求1所述的光收发模块，其特征在于，在所述光模块电接口中，I2C二线制串行通信接口分别与所述自环光收发模块内部的存储单元的总线端口对应连接。3、根据权利要求2所述的光收发模块，其特征在于，所述存储单元采用EEPROM存储器。4、根据权利要求1所述的光收发模块，其特征在于，所述光模块电接口的参考时钟的输入信号端之间跨接一电阻。5、釆用权利要求1所述自环光收发模块的测试装置，所述测试装置包括同步数字体系测试仪，其用于提供模拟实际的同步数字体系光纤通路数据、及监控输入的数据合法性；其特征在于，所述测试装置还包括业务接入板，用于实现同步数字体系业务的接入、且所述业务接入板直接与同步数字体系测试仪连接；交叉板，用于将来自所述业务接入板的业务数据交叉到配有自环光收发模块的被测光板上；被测光板及自环光收发模块，所述自环光收发模块插接在被测光板上，所述自环光收发模块通过被测光板的光口与所述交叉板进行业务数据的传输。6、根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述业务接入板包括光电转换单元，用于将同步数字体系测试仪输出的光信号转换为所需要的电信号；和业务处理单元，用于对上述信号进行业务分配和划分。7、采用权利要求l所述自环光收发模块的测试方法，其特征在于，所述测试方法按照以下步骤进行A、所述同步数字体系测试仪通过所述业务接入板将业务数据传输给交叉板；B、所述交叉板将业务数据传输给所述^皮测光板；C、上述业务数据到达所述被测光板的光口后由所述自环光收发模块将业务数据环回；D、业务数据环回后，所述被测光板将业务数据送至所述交叉板交叉至其他待测光纟反上；E、上述业务数据交叉回所述业务接入板上，所述同步数字体系测试仪的收发光口连接至所述业务接入斧反的光口来完成对所述^皮测光板的间接测试任务。全文摘要本发明公开了一种自环光收发模块及其测试装置和方法，其包括符合小封装可热插拔光模块多源协定要求的光模块电接口，所述光模块电接口的差分信号输入端分别经串接的电容与所述光模块电接口的差分信号输出端对应连接，所述光模块接口的两个差分信号输出端之间跨接有一个电阻。本发明提出的自环光收发模块可以用来替代功能正常的实际XFP光模块，实现通信业务在光模块内部环回，安装在设备的光接口板中，可以在设备的测试和老化过程中广泛使用，从一定的程度上降低了光模块的老化程度，避免了由于光模块老化而带来的寿命缩短和故障率增高的情况发生。文档编号H04B10/08GK101110641SQ20071007572公开日2008年1月23日申请日期2007年8月8日优先权日2007年8月8日发明者璞李申请人:中兴通讯股份有限公司