专利名称：测试板的制作方法
技术领域：
本实用新型实施例涉及测试技术，特别涉及一种测试板。
背景技术：
为适应通信网络对传输带宽的要求，可以采用多通道光收发器件，通过 增加传输信道的集成度来达到增加通信传输系统总容量的目的。例如，在光
纤通信的波分复用(Wavelength Division Multiplexing,以下简称WDM)技 术中使用的光集成器件(Photonic Integrated Device，以下简称PID )即在 单芯片中集成了多路不同波长光的传输通道。现有技术对多通道光收发器件 例如PID器件的测试是通过将PID器件连接在测试板上，并由测试仪表、测 试板和PID器件共同搭建形成光传输链路的测试系统来进行测试的。
图1为现有技术提供的测试板应用于测试系统的系统架构图，如图1所 示，现有技术中针对多通道光收发器件的性能测试，以PID器件为例，是通 过将测试仪表脉沖信号发生器(Pulse Pattern Generator,以下简称PPG)、 误码检测单元(Error Detector,以下简称ED)与测试板(TESTBENCH)、 连接在该测试板上的PID器件连接成供测试数据传输的端到端的传输链路， 并将同种测试项目的测试信号逐次输入PID器件的每个传输通道中来完成整 个PID器件各传输通道的性能测试。图1中的PID器件具有N个光传输通道， 包括合波器(MUX)、分波器(DEMUX)、激光器(Laser)、驱动器(Driver)、 光电二极管(PIN)和数据恢复部件(CDR)等功能部件，该PID器件的收 发电接口和测试板上的输入输出接口连接，并通过该输入输出接口和测试板 的对外接口相通。如图1所示，该测试板的测试信号接收端和发送端分别具 有N个对外4妄口 ，该N个对外接口分别和PID器件中集成的N个测试通道相通。外部仪表PPG和ED通过电缆连线连接到测试板的对外接口上。在测 试中，测试信号或串扰测试中的干扰信号在PID器件传输通道之间的切换均 是通过手工切换外部测试仪表PPG、ED与测试板对外接口的电缆连线来实现 的。
设计人在实现本实用新型的过程中发现，上述PID器件等多通道光收发 器件的性能测试尚存在如下技术缺陷
1、 测试过程中人工手动切换测试通道会使得测试效率较低，延长了多通 道光收发器件的测试周期；而且，长期测试会对测试板的对外接口造成可观 的磨损，缩短测试板的使用寿命；此外，手动切换中的过多外力介入，会对 整套测试环境造成影响，降低测试数据的可信度；
2、 多通道光收发器件中集成多路传输通道会使得测试板的对外接口也相 应较多，对测试板的布局布线和对外接口的排布造成很大压力。
实用新型内容
本实用新型实施例提供一种测试板，解决现有手动切换测试通道导致的 测试效率和测试数据可信度均较低的问题，实现测试通道间的自动切换，提 高测试效率和测试数据的可信度，并且减少对测试板对外接口的磨损，P条低 了测试板的复杂度。
本实用新型实施例提供一种测试板，包括
用于将测试信号发送至自动选通的多通道光收发器件中的待测通道的第 一电交叉单元，所述第 一电交叉单元包括用于接收测试信号的一个第一输入 端和用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第一输出端；以及，
用于将所述待测通道输出的测试信号自动输出至信号4企测单元的第二电 交叉单元，所述第二电交叉单元包括用于分别连通多通道光收发器件中多个 通道的多个第二输入端和用于与所述信号检测单元连接的一个第二输出端。本实用新型实施例的测试板通过设置电交叉单元，利用该电交叉单元将测试信号自动发送至多通道光收发器件中的待测通道，并自动接收及将该待测通道输出的测试信号输出至信号才企测单元，解决了现有测试方法的效率和测试数据可信度均较低的问题，实现了待测通道间的自动切换，提高了测试效率和测试数据的可信度，并且可以减少测试板对外接口的磨损，降低测试板的复杂度。
图1为现有技术提供的测试板应用于测试系统的系统架构图2为本实用新型实施例一提供的测试板的结构示意图3为本实用新型实施例二提供的测试板的结构示意图4为本实用新型实施例二提供的测试板应用于测试系统的系统架构图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例进一步说明本实用新型实施例的技术方案。图2为本实用新型实施例一提供的测试板的结构示意图，如图2所示，本实施例的测试板包括第一电交叉单元11和第二电交叉单元12。其中，第一电交叉单元11用于接收测试信号，并将测试信号发送至自动选通的多通道光收发器件中的待测通道；第二电交叉单元12用于接收待测通道输出的测试信号，并将测试信号自动输出至信号检测单元。具体的，第一电交叉单元ll包括用于接收测试信号的一个第一输入端和用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第一输出端；第二电交叉单元12包括用于和多通道光收发
器件中多个通道分别连通的多个第二输入端和用于与信号检测单元连接的一个第二输出端。
具体应用中，本实施例的测试板在用于对多通道光收发器件进行传输性能测试时，该测试板中的第一电交叉单元11的第一输入端接收到外部测试仪表产生的测试信号后，可以通过与待测通道连通的第一输出端将该测试信号自动发送至多通道光收发器件选定的待测通道中。该待测通道是由第一电交叉单元ll自动选通的，由第一电交叉单元ll自动将测试信号发送至该待测通道，而不是通过人工手动切换测试板的对外接口电缆连线来选通。该测试信号经过传输链路的传输后，再从多通道光收发器件的与待测通道对应的电
发送端输出，此时，第二电交叉单元12中与待测通道连通的第二输入端可以自动接收该待测通道输出的测试信号，并通过第二输出端将该测试信号输出至信号检测单元进行测试信号的分析和处理，得到待测通道的传输性能指标分析结果。该测试信号的输出也是由第二电交叉单元12自动将测试信号通过第二输出端发送至信号检测单元的，而不是通过人工手动切换测试板的对外
接口电缆连线来建立测试信号输出至信号检测单元的通道。
在多通道光收发器件的测试过程中，第一电交叉单元11可以将测试信号逐次输入多通道光收发器件的各待测通道中，第二电交叉单元12可以自动接收多通道光收发器件电发送端对应的各待测通道输出的测试信号，并将其逐次输出至ED，从而完成整个多通道光收发器件的测试。
本实施例测试板通过在测试板上设置电交叉单元，通过电交叉单元将测试信号逐次输入多通道光收发器件的各待测通道中，并将各待测通道输出的测试信号逐次接收并输出至信号检测单元，实现了测试信号在待测通道间的自动切换，提高了测试效率；而且自动切换可以减少测试板的对外接口设置，降低测试板的复杂度，减少手工切换测试板接口电缆连线造成的测试板接口磨损。
图3为本实用新型实施例二提供的测试板的结构示意图，如图3所示，本实施例的测试板在实施例一提供的测试板结构的基础上，第一电交叉单元ll还包括第二输入端，该第二输入端用于与干扰信号发生器连接，接收干扰信号；本实施例测试板还包括设置在测试板上的干扰信号产生单元13和控制单元14，其中，干扰信号产生单元13用于产生干扰信号，并将该干扰信号输出至第一电交叉单元11;控制单元14用于预先确定需要检测的多通道光收发器件中的待测通道，并控制第一电交叉单元11将测试信号发送至多通道光收发器件中选定的待测通道，以及，控制第二电交叉单元12接收待测通道输出的测试信号，并将测试信号输出至信号检测单元。控制单元14还可以用于控制干扰信号产生单元13产生的干扰信号的格式。
将本实施例的测试板应用于测试系统，如图4所示，图4为本实用新型实施例二提供的测试板应用于测试系统的系统架构图。下面结合图4具体说明本实施例测试板应用于多通道光收发器件的测试过程。
如图4所示，在进行多通道光收发器件的测试之前，首先需要通过测试设备搭建测试环境。本实施例的多通道光收发器件包括PID器件，或者为多个分立光收发器件的组合，该多个分立光收发器件可以为万兆以太网接口小封装可4翁拔的光才莫块(10-Gigabit small form-factor pluggable transceiver,以下简称XFP)、小封装可插拔光模块(Small Form-Factor Pluggable,以下筒称SFP)或者光电二极管(PIN photodiode，以下简称PIN管)、雪崩光电二极管(avalanche photodiode,以下简称APD管)等。本实施例以PID器件的测试为例进行说明。本实施例中的测试设备可以采用PPG、 ED和测试板，将PID器件连接在测试板上。具体实施中，该测试^反上可以包括两个电交叉(Cross point Switch,以下简称CPS)单元，分别称为第一CPS单元11和第二CPS单元12。其中，第一CPS单元11可以包括多个第一输出端和第一输入端，该多个第一输出端的输出接口与PID器件中的PID-TX收电接口连接，在进行传输性能测试时，该第一输入端为一个，其输入接口与测试信号发生器连接；在进行串扰性能测试时，该第一输入端为两个，其输入接口分别与测试信号发生器和干扰信号发生器连接，该测试信号发生器用于产生测试信号，干扰信号发生器用于产生干扰信号。第二CPS单元12可以包括多个第二输入端和一个第二输出端，该多个第二输入端的输入接口与PID器件的PID-RX发电接口连接，第二输出端的输出接口通过电缆连线和ED连接。PID器件的)R/发电接口与PID器件中集成的各传输通道相通。PG、 ED、测试板和PID器件经过上述连接后，构成了测试信号端到端的传输链路，该传输链路为测试信号发生器输出的测试信号经由测试板上的第一 CPS单元进入PID器件的待测通道，经过传输链路的传输后通过测试板上的第二 CPS单元输出至ED。
在测试环境4答建完成后，结合图4所示的测试系统，具体阐述本实施例测试板的具体应用如下
在进行待测通道的传输性能测试时，其应用与实施例一提供的测试板的应用相同，具体实施中，可以利用控制单元14预先确定需要;^测的多通道光收发器件中的待测通道。例如，控制单元14预先确定需要测试PID器件的第一个待测通道，可以称之为第一通道，则在第一电交叉单元11的第一输入端接收到测试信号后，控制单元14可以向第一电交叉单元11输出控制指令，指示第 一 电交叉单元11通过与第 一通道连通的第 一输出端将接收到的测试信号发送至该第一通道中。测试信号经过传输链路的传输后，在PID器件的电发送端，控制单元14也可以向第二电交叉单元12输出控制指令，指示第二电交叉单元12中的与第一通道连通的第二输入端自动接收该第一通道输出的测试信号，并将接收到的测试信号通过第二输出端发送至信号检测单元中。
在进行待测通道的串扰性能测试时，本实施例测试板的第一电交叉单元ll在接收测试信号之外，还通过第二输入端接收干扰信号，并可以将干扰信号扇出即同时发送至PID器件待测通道以外的其余所有通道中，该其余所有通道可以称为干扰通道。其中，干扰信号可以由外部仪表PPG产生，也可以由设置在测试板上的干扰信号产生单元13产生，本实施例中的干扰信号是由干扰信号产生单元13产生的，该干扰信号产生单元13可以为PPG CHIP单元，该PPG CHIP单元是一个具有信号产生功能的芯片；其可以产生干扰信号，并将该干扰信号通过第二输入端输入至第一电交叉单元11。具体实施中，
可以通过控制单元14控制干扰信号产生单元13产生的干扰信号的格式，并控制第一电交叉单元11将接收到的干扰信号扇出至所有干扰通道中。使用测试板上设置的板载PPG CHIP产生干扰信号，相比使用外部仪表PPG产生干扰信号，可以显著降低测试成本，而且可以使得测试板的对外接口进一步减少，降低测试板的复杂度。
本实施例测试板在进行PID器件测试时，测试板中的第一电交叉单元11和第二电交叉单元12可以将测试信号自动地逐次输入PID器件的各待测通道中，并自动接收各待测通道输出的测试信号，将各测试信号逐次输出至ED进行分析处理，从而完成整个PID器件的测试。当本实施例的测试板应用于多个分立光收发器件时，该多个分立光收发器件的组合即相当于一 PID器件，测试板的第一电交叉单元11和第二电交叉单元12可以将测试信号逐次输入各分立光收发器件的通道中，并且自动接收各分立光收发器件的通道输出的测试信号，将该测试信号逐次输出至ED进行分析处理，从而实现该多个分立光收发器件之间的自动通道切换，完成多个分立光收发器件的通道性能测
试o
本实施例测试板在实现待测通道自动切换，提高测试效率的基础上，通
过设置板载干扰信号产生单元，减少了对产生干扰信号的外部仪表PPG的依赖，进一步降低了测试板的复杂度，且显著节省了测试成本。
最后应说明的是以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
权利要求1、一种测试板，其特征在于，包括用于将测试信号发送至自动选通的多通道光收发器件中的待测通道的第一电交叉单元，所述第一电交叉单元包括用于接收测试信号的一个第一输入端和用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第一输出端；以及，用于将所述待测通道输出的测试信号自动输出至信号检测单元的第二电交叉单元，所述第二电交叉单元包括用于分别连通多通道光收发器件中多个通道的多个第二输入端和用于与所述信号检测单元连接的一个第二输出端。
2、 根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述第一电交叉单元还 包括用于接收干扰信号的第二输入端。
3、 根据权利要求2所述的测试板，其特征在于，还包括 干扰信号产生单元，用于产生所述干扰信号，并将所述干扰信号输出至所述第二输入端。
4、 根据权利要求l、 2或3所述的测试板，其特征在于，还包括用于预先确定所述待测通道，并控制所述第一电交叉单元将测试信号发 送至自动选通的所述待测通道，以及，控制所述第二电交叉单元将所述待测 通道输出的测试信号自动输出至信号检测单元的控制单元，所述控制单元与 所述第 一电交叉单元和第二电交叉单元连接。
5、 根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述多通道光收发器件 包括光集成器件或多个分立光收发器件。
专利摘要本实用新型实施例提供一种测试板，该测试板包括用于将测试信号发送至自动选通的多通道光收发器件中的待测通道的第一电交叉单元，所述第一电交叉单元包括用于接收测试信号的一个第一输入端和用于分别连通多通道光收发器件中多个通道通的多个第一输出端；以及，用于将所述待测通道输出的测试信号自动输出至信号检测单元的第二电交叉单元，所述第二电交叉单元包括用于和多通道光收发器件中多个通道分别连通的多个第二输入端和用于与所述信号检测单元连接的一个第二输出端。本实用新型测试板实现了待测通道间的自动切换，提高了测试效率和数据可信度；并且可以减少测试板对外接口的磨损，降低测试板的复杂度。
文档编号H04B10/08GK201409138SQ200920108139
公开日2010年2月17日 申请日期2009年5月14日 优先权日2009年5月14日
发明者吴双起, 全 周, 张红苹 申请人:华为技术有限公司