专利名称：具有电子式切换功能的射频性能测试结构的制作方法
技术领域：
本实用新型有关于一种射频性能测试结构，尤指一种具有电子式切换功能 的射频性能测试结构。
背景技术：
科技的普及和发展，不仅改变了人们的生活方式，亦使得社会形态起了相 当大的变化，尤其是无线通讯技术的发展与普及，改变了人际间沟通的方式与 频率，更縮短了人与人之间的距离。也因此，对于移动通讯的品质要求，也不 断地增加。要达到较高品质的移动通讯品质，除了要有良好的通讯系统设计外， 天线与射频元件的设计也成为极重要的一环。然而，现今对无线通讯技术的发展需求，天线增益的增加为目前重要的技 术发展瓶颈。因此，如何能让既有的天线设计发展为具有较高增益的天线，莫 不成为研发人员所思索的课题。除了设计之外， 一个相当重要的问题即是频率 样本的测试，除了检测设计出来的射频元件的频宽及辐射能量是否达到标准 外，更是射频元件操作品质最重要的一环。目前在射频元件样本的测试，均采用一种称为射频开关(RF switch)作为 测试的元件。利用射频开关主要的目的在于测试射频信号样本(RF Sample) 时，以切断天线端的信号输出，并将全部的功率传至测试仪器，方能得到正确 的输出功率，确保所得到数据的正确性。虽然使用射频开关为一种相当普遍的方式，然而却仍然具有许多可以待改 进的空间。首先是价格的问题，上述的射频开关大约0.1元美金，对于天线的 制造商或研发人员而言，可谓相当的昂贵。另夕卜，在具有射频天线的印刷电路 板上，放置射频开关作为测试的元件，相当的占用空间，在目前縮小化的设计 潮流下，采用射频开关可能会遭遇到许多的困难。实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一种具有电子式切换功能的射频性能测 试结构。本实用新型通过一电子式电路切换芯片的使用，以更简单且更便宜的 方式来进行射频元件的射频性能的测试。为了解决上述技术问题，根据本实用新型的其中一种方案z提供一种具有 电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射频元件的射频性能，该射频性能测试结构包括 一天线元件、 一射频测试接点 及一 电子式电路切换芯片。其中，该射频测试接点电性连接于该射频测量仪器。 该电子式电路切换芯片至少具有一第一切换控制输入端、一第二切换控制输入 端、 一电性连接于该射频元件的射频信号输入端、 一电性连接于该天线元件的 第一射频信号输出端、及一电性连接于该射频测试接点的第二射频信号输出 端，其中通过该第一切换控制输入端与该第二切换控制输入端分别所接收到的 不同信号，以使得该射频信号输入端从该射频元件所接收到的射频信号可选择 地(sdectably)传送至该天线元件或上述已电性连接至该射频测试接点的射频 测量仪器。为了解决上述技术问题，根据本实用新型的其中一种方案，提供一种具有 电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射 频元件的射频性能，该射频性能测试结构包括 一天线元件、 一射频测试接点 及一电子式电路切换芯片。该射频测试接点电性连接于该射频测量仪器。该电 子式电路切换芯片电性连接于该射频元件、该天线元件及该射频测试接点，以 将从该射频元件所接收到的射频信号选择性地传送至该天线元件或上述已电 性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。因此，本实用新型的有益效果在于当该第一切换控制输入端电性连接至一第一信号并且该第二切换控制输入端电性连接至一第二信号时，在一般正常 使用该射频元件的情况下(该射频元件与该天线元件相互配合)，设定该第一 信号大于该第二信号，因此本实用新型的射频元件所输出的射频信号可通过该 电子式电路切换芯片的切换而传送至该天线元件。在进行该射频元件的射频性 能测试的情况下(切断该射频元件与该天线元件的配合关)，设定该第一信号 小于该第二信号，因此本实用新型的射频元件所输出的射频信号可通过该电子 式电路切换芯片的切换而传送至上述已电性连接至该射频测试接点的射频测 量仪器，以利用该射频测量仪器来进行该射频元件的相关射频性能测试。为了能更进一步了解本实用新型为达成预定目的所采取的技术、手段及功 效，请参阅以下有关本实用新型的详细说明与附图，相信本实用新型的目的、 特征与特点，当可由此得一深入且具体的了解，然而所附附图仅提供参考与说 明用，并非用来对本实用新型加以限制。
图1A为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第一实施 例的功能方块图(一般正常使用该射频元件的情况下)；图1B为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第一实施 例的功能方块图(在进行该射频元件的射频性能测试的情况下)；图2为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的探针元件 的侧视示意图；图3A为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第二实施 例的功能方块图(一般正常使用该射频元件的情况下)；以及图3B为本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试结构的第二实施 例的功能方块图(在进行该射频元件的射频性能测试的情况下)。其中，附图标记射频测量仪器 T射频元件 R印刷电路板 1天线元件 2射频测试接点 3 电子式电路切换芯片4a电子式电路切换芯片4b 第一信号 Sl第一切换控制输入端41 第二切换控制输入端42 射频信号输入端 43 第一射频信号输出端44 第二射频信号输出端45探针本体 Pl射频测试针脚 P2 环形爪剌结构 "P3刺部 P30第一信号输入针脚P4第二信号输入针脚P具体实施方式
请参阅图1A及图1B所示，本实用新型第一实施例提供一种具有电子式 切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器T以用于测试一射频元 件R的射频性能，该射频性能测试结构包括 一印刷电路板l、 一天线元件2、 一射频测试接点3及一电子式电路切换芯片4a，并且该天线元件2、该射频测 试接点3及该电子式电路切换芯片4a皆电性地设置于该印刷电路板1上。其中，该天线元件2可为一内建天线(built-in antenna)，该射频测试接 点3电性连接于该射频测量仪器T，并且该天线元件2与该射频测试接点3皆 电性连接于该电子式电路切换芯片4a。再者，该电子式电路切换芯片4a至少具有一第一切换控制输入端41、 一 第二切换控制输入端42、 一电性连接于该射频元件R的射频信号输入端43、 一电性连接于该天线元件2的第一射频信号输出端44、及一电性连接于该射 频测试接点3的第二射频信号输出端45，其中通过该第一切换控制输入端41 与该第二切换控制输入端42分别所接收到的不同信号，以使得该射频信号输 入端43从该射频元件R所接收到的射频信号可选择地(sdectably)传送至该 天线元件2或上述已电性连接至该射频测试接点3的射频测量仪器T。举例来说，该第一切换控制输入端41电性连接至一第一信号S1，并且该 第二切换控制输入端42电性连接至一第二信号S2。以第一实施例所举的例子而言，请复参考图1A所示，当该第一信号Sl 大于该第二信号S2时(例如该第一信号Sl为一预定电压信号，并且该第二 信号S2为一接地信号)，则该射频信号输入端43从该射频元件R所接收到 的射频信号将经过该第一射频信号输出端44而传送至该天线元件2 (如图1A以第一实施例所举的例子而言，请复参考图IB所示，当该第一信号Sl小于该第二信号S2时(例如该第一信号Sl为一接地信号，并且该第二信号S2为一预定电压信号)，则该射频信号输入端43从该射频元件R所接收到的 射频信号将经过该第二射频信号输出端45而传送至上述已电性连接至该射频 测试接点3的射频测量仪器T。换言之，在一般正常使用该射频元件R的情况下(该射频元件R与该天 线元件2相互配合)，设定该第一信号S1大于该第二信号S2，因此本实用新 型的射频元件R所输出的射频信号可通过该电子式电路切换芯片4a的切换而 传送至该天线元件2 (如图1A所示)。在进行该射频元件R的射频性能测试 的情况下(切断该射频元件R与该天线元件2的配合关)，设定该第一信号 Sl小于该第二信号S2，因此本实用新型的射频元件R所输出的射频信号可通 过该电子式电路切换芯片4a的切换而传送至上述已电性连接至该射频测试接 点3的射频测量仪器T，以利用该射频测量仪器T来进行该射频元件R的相 关射频性能测试(如图1B所示)。再者，请参阅图2所示，本实用新型具有电子式切换功能的射频性能测试 结构更进一步包括 一电性连接至该射频测量仪器T的探针元件P，其具有一 探针本体P1、 一从该探针本体P1向下延伸而出且电性连接至该射频测试接点 3的射频测试针脚P2、 一从该探针本体Pl向下延伸且环绕该射频测试针脚P2 的环形爪刺结构P3、 一从该探针本体P1向下延伸而出且电性连接至该第一切 换控制输入端41的第一信号输入针脚P4、及一从该探针本体P1向下延伸而 出且电性连接至该第二切换控制输入端42的第二信号输入针脚P5。因此，本实用新型可通过上述电性连接至该射频测量仪器T的探针元件P 的使用，以将该射频测试针脚P2、该第一信号输入针脚P4及该第二信号输入 针脚P5分别电性连接于该射频测试接点3、该第一切换控制输入端41及该第 二切换控制输入端42。借此，通过设定该第二信号输入针脚P5所输出的信号 大于该第一信号输入针脚P4所输出的信号(例如第二信号输入针脚P5设定 输出一预定电压信号，并且该第一信号输入针脚P4设定为一接地针脚)，如 同上述图1B所示，本实用新型的射频元件R所输出的射频信号可通过该电子 式电路切换芯片4a的切换而传送至上述已电性连接至该射频测试接点3的射频测量仪器T，以利用该射频测量仪器T来进行该射频元件R的相关射频性能测试。另外，该环形爪刺结构P3的底端具有多个用于紧迫地嵌入该射频测试接 点3内的刺部P30，以使得该射频测试针脚P2完全被密封在该环形爪刺结构 P3内(亦即，通过该环形爪刺结构P3与该射频测试接点3的配合来封闭该射 频测试针脚P2)。因此，该射频测试接点3所输出的射频信号能够完全被该 射频测试针脚P2所接收，而无任何造成射频信号泄漏之虑。请参阅图3A及图3B所示，本实用新型第二实施例提供一种具有电子式 切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器T以用于测试一射频元 件R的射频性能，该射频性能测试结构包括 一印刷电路板l、 一天线元件2、 一射频测试接点3及一电子式电路切换芯片4b，并且该天线元件2、该射频测 试接点3及该电子式电路切换芯片4a皆电性地设置于该印刷电路板1上。由图3A及图3B可知，本实用新型第二实施例与第一实施例最大的差别 在于该电子式电路切换芯片4b可通过任何的方式来进行切换，以将从该射 频元件R所接收到的射频信号选择性地传送至该天线元件2或上述已电性连 接至该射频测试接点3的射频测量仪器T。换言之，本实用新型不受限于利用 "高、低信号的落差"来控制该电子式电路切换芯片4b的切换(如图1A及 图1B所示)，只要是任何"可以趋动该电子式电路切换芯片4b来进行电路 路径的切换"的方式，皆为本实用新型所保护的范畴。综上所述，当该第一切换控制输入端41电性连接至一第一信号Sl,并且 该第二切换控制输入端42电性连接至一第二信号S2时，在一般正常使用该射 频元件R的情况下(该射频元件R与该天线元件2相互配合)，设定该第一 信号Sl大于该第二信号S2，因此本实用新型的射频元件R所输出的射频信号 可通过该电子式电路切换芯片4a的切换而传送至该天线元件2 (如图1A所 示)。在进行该射频元件R的射频性能测试的情况下(切断该射频元件R与 该天线元件2的配合关)，设定该第一信号S1小于该第二信号S2，因此本实 用新型的射频元件R所输出的射频信号可通过该电子式电路切换芯片4a的切 换而传送至上述已电性连接至该射频测试接点3的射频测量仪器T，以利用该 射频测量仪器T来进行该射频元件R的相关射频性能测试(如图1B所示)。当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型做出各种相应的改 变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保 护范围。
权利要求1、一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射频元件的射频性能，其特征在于，该射频性能测试结构包括一天线元件；一射频测试接点，其电性连接于该射频测量仪器；以及一电子式电路切换芯片，其至少具有一第一切换控制输入端、一第二切换控制输入端、一电性连接于该射频元件的射频信号输入端、一电性连接于该天线元件的第一射频信号输出端、及一电性连接于该射频测试接点的第二射频信号输出端，其中通过该第一切换控制输入端与该第二切换控制输入端分别接收到不同的信号，以使得该射频信号输入端从该射频元件所接收到的射频信号可选择地传送至该天线元件或上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。
2、 根据权利要求1所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其特征在于，还进一步包括 一印刷电路板，其中该天线元件、该射频测试接点 及该电子式电路切换芯片皆电性地设置于该印刷电路板上。
3、 根据权利要求1所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其 特征在于该天线元件为一内建天线。
4、 根据权利要求1所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其 特征在于该第一切换控制输入端电性连接至一第一信号，该第二切换控制输 入端电性连接至一第二信号；借此，当该第一信号大于该第二信号时，则该射 频信号输入端从该射频元件所接收到的射频信号经过该第一射频信号输出端 而传送至该天线元件。
5、 根据权利要求4所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其 特征在于该第一信号为一预定电压信号，并且该第二信号为一接地信号。
6、 根据权利要求1所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其特征在于该第一切换控制输入端电性连接至一第一信号，该第二切换控制输 入端电性连接至一第二信号；借此，当该第一信号小于该第二信号时，则该射 频信号输入端从该射频元件所接收到的射频信号经过该第二射频信号输出端 而传送至上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。
7、 根据权利要求6所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其特征在于该第一信号为一接地信号，并且该第二信号为一预定电压信号。
8、 根据权利要求1所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其特征在于，更进一步包括,一电性连接至该射频测量仪器的探针元件，其具有 一探针本体、一从该探针本体向下延伸而出且电性连接至该射频测试接点的射 频测试针脚、 一从该探针本体向下延伸且环绕该射频测试针脚的环形爪刺结 构、一从该探针本体向下延伸而出且电性连接至该第一切换控制输入端的第一 信号输入针脚、及一从该探针本体向下延伸而出且电性连接至该第二切换控制 输入端的第二信号输入针脚。
9、 根据权利要求8所述的具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其特征在于该环形爪刺结构的底端具有多个用于紧迫地嵌入该射频测试接点内的刺部，以使得该射频测试针脚完全被密封在该环形爪刺结构内。
10、 一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其通过一射频测量仪器以用于测试一射频元件的射频性能，其特征在于，该射频性能测试结构包括 一天线元件；一射频测试接点，其电性连接于该射频测量仪器；以及 一电子式电路切换芯片，其电性连接于该射频元件、该天线元件及该射频测试接点，以将从该射频元件所接收到的射频信号选择性地传送至该天线元件或上述已电性连接至该射频测试接点的射频测量仪器。
专利摘要一种具有电子式切换功能的射频性能测试结构，其包括一天线元件、一射频测试接点及一电子式电路切换芯片。该射频测试接点电性连接于一射频测量仪器。该电子式电路切换芯片具有一第一切换控制输入端、一第二切换控制输入端、一电性连接于一射频元件的射频信号输入端、一电性连接于该天线元件的第一射频信号输出端及一电性连接于该射频测试接点的第二射频信号输出端。通过该第一切换控制输入端与该第二切换控制输入端分别接收到的不同信号，以使得该射频信号输入端所接收到的射频信号可选择地传送至该天线元件或该射频测量仪器。
文档编号H04B17/00GK201425611SQ20092014733
公开日2010年3月17日 申请日期2009年4月14日 优先权日2009年4月14日
发明者傅嘉俊, 朱志伟 申请人:海华科技股份有限公司