光谱检测系统及光谱仪的制作方法

文档序号:7818030阅读:306来源:国知局
专利名称:光谱检测系统及光谱仪的制作方法
技术领域
本实用新型涉及通信领域,具体而言,涉及一种光谱检测系统及光谱仪。
背景技术
密集波分复用(DenseWavelength Division Multiplexing,简称为 DWDM)技术是一种宽带光传输技术,它将多路不同波长的光信号复用起来传输,传输后再解复出多路光信号,送入不同的通信终端。即在一根物理光纤上提供多个虚拟的光纤通道,从而可以节省大量的光纤资源。在DWDM系统中,主光通道参考点复用段各通道的性能(例如,光功率、光波长和光信噪比(Optical Signal Noise I^atio,简称为0SNR)是系统的重要参数,它体现了单信道传输性能,对提高系统复用段性能具有重要的意义。尤其是其中的中心波长数据,直接影响到信号传输的质量和稳定性。中心波长发生大范围的偏移,意味着整个传输系统的崩溃。因此,检测中心波长偏移具有非常重要的意义。在DWDM系统中,一般通过配置光谱检测模块进行这些光学性能的检测以达到校准系统性能的目的。相关技术中,光谱检测模块有一个不可弥补的缺陷中心波长偏移检测精度仅仅为士 10GHz,即中心波长偏差超过(-10GHz,+10GHz)。而DWDM系统对中心波长偏移检测精度是士5GHz,即中心波长偏差值超过[-5GHz,+5GHz]的范围时,即可检测到波长偏差。但是,目前只有单个光器件可以实现此功能,但是该光器件不具备检测密集波分复用系统中主光路性能参数的功能。

实用新型内容针对相关技术中单个光器件不具备检测密集波分复用系统中主光路性能参数的功能的问题,本实用新型提供了一种光谱检测系统及光谱仪,以解决上述问题至少之一。根据本实用新型的一个方面,提供了一种光谱检测系统。根据本实用新型的光谱检测系统,应用于密集波分复用系统。该光谱检测系统包括光谱检测模块,所述光谱检测模块包括输入光接口单元,用于将接收到的光信号进行传送;光性能检测单元,用于对来自于所述输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数; 波长偏差检测单元,与所述光性能检测单元相连接,用于对所述光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测;微控制器单元(Micro-controller Unit,简称为MCU),分别与所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元相连接,用于根据用户操作指令,控制所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元进行检测,并对来自于所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元的检测结果进行处理。根据本实用新型的另一方面,提供了一种光谱仪。根据本实用新型的光谱仪包括上述光谱检测模块。通过本实用新型,采用将光性能检测单元和波长偏差检测单元集成的光谱检测模块,对密集波分复用系统中主光路性能以及波长偏差进行检测,解决了相关技术中单个光器件不具备检测密集波分复用系统中主光路性能参数的功能的问题,从而既可用于现有 DffDM系统,测量主光通道中各单通道的中心波长、光功率、OSNR等光学性能参数,也可用于系统校准,即检测到中心波长的偏差,然后对该单波进行调整。

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,构成本申请的一部分, 本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中图1根据本实用新型实施例的光谱检测系统的结构框图;图2为根据本实用新型优选实施例的光谱检测系统中光谱检测模块的结构示意图;图3为根据本实用新型实例一的光谱检测系统的结构框图;图4为根据本实用新型实例二的光谱检测系统的结构框图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。根据本实用新型的实施例,提供了一种光谱检测系统。图1根据本实用新型实施例的光谱检测系统的结构框图。其中,该光谱检测系统, 可以应用于密集波分复用系统。如图1所示,该光谱检测系统包括但不限于光谱检测模块 10。该光谱检测模块10进一步包括输入光接口单元100、光性能检测单元102、波长偏差检测单元104以及MCU106,以下分别进行描述上述各单元。输入光接口单元100,用于将接收到的光信号进行传送;光性能检测单元102,用于对来自于输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数;其中,上述主光路性能参数主要为主光通道中各单通道的中心波长、光功率、OSNR
等参数。波长偏差检测单元104,与光性能检测单元相连接,用于对光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测;微控制器单元(MCU) 106,分别与光性能检测单元和波长偏差检测单元相连接,用于根据用户操作指令,控制光性能检测单元和波长偏差检测单元进行工作,并对来自于光性能检测单元和波长偏差检测单元的检测结果进行处理。上述光谱检测系统,包含有集成了光性能检测单元102以及波长偏差检测单元 104的光谱检测模块,既可用于现有DWDM系统,测量主光通道中各单通道的中心波长、光功率、OSNR等光学性能参数,也可用于系统校准,即检测到中心波长的偏差,然后对该单波进行调整。优选地,上述光谱检测模块10还可以包括供电电源108,分别与光性能检测单元以及波长偏差检测单元相连接。在实际使用中,上述光性能检测单元和波长偏差检测单元均需要供电,可以将供电电源内置在光谱检测模块中。当然,也可以设置在光谱检测模块之外。即可以通过外接电源或者内置的电源实现对上述功能单元的供电。优选地,光谱检测模块10还可以包括光滤波器110,其光信号输入端连接至输入光接口单元,其光信号输出端连接至光性能检测单元,其控制端连接至MCU;则供电电源 108,还与光滤波器相连接。优选地,微控制器单元(MCU) 106,还用于根据用户操作指令,控制光滤波器对不同波段的光信号进行滤波操作。优选地,上述输入光接口单元100可以为法兰盘。在具体实施过程中,输入光纤通过法兰盘与检测部分(光性能检测单元和波长偏差检测单元)相连,完成信号的采集和处理。优选地,上述波长偏差检测单元104对中心波长的偏差检测精度为士5GHz。上述波长偏差检测单元的检测精度很高,可以达到士5GHz,有效满足了用户的高精度测量需求。以下结合图2描述上述优选的光谱检测模块。图2为根据本实用新型优选实施例的光谱检测系统中光谱检测模块的结构示意图。如图2所示,该光谱检测模块包括以下几部分供电电源20(相当于上述供电电源 108)、光滤波器22 (相当于上述光滤波器110)、光性能检测单元对(相当于上述光性能检测单元10 、波长偏差检测单元沈(相当于上述波长偏差检测单元104)、法兰盘洲(相当于上述输入光接口单元100)、以及MCU30 (相当于上述MCU106)。其中,法兰盘接收光信号,将光信号发送至光滤波器22,光滤波器22根据来自于 MCU的控制指令,对光信号进行滤波操作,滤除某些波段的光信号。经过光滤波器22处理后的光信号输出至光性能检测单元对,光性能检测单元在MCU的控制下进行检测,并将检测结果发送至MCU。光信号经过光性能检测单元M检测后,再经波长偏差检测单元沈检测, 并将检测结果发送至MCU。MCU将来自于光性能检测单元和波长偏差检测单元的检测结果进行处理,并通过通信接口输出。该光谱检测模块还内置有供电电源,分别与光滤波器22、 光性能检测单元对、波长偏差检测单元沈相连接,对这几个模块进行供电。优选地,上述光谱检测系统还可以包括人机交互接口模块,与光谱检测模块相连接,用于将接收到的用户操作指令发送至光谱检测模块,并显示光谱检测模块输出的检测结果。在优选实施过程中,光谱检测模块与人机交互接口模块可以通过USB接口进行连接。在优选实施过程中,上述人机交互接口模块可以为以下至少之一 PC (PersonalComputer)终端、触摸屏。以下结合图3和图4的示例描述上述优选实施方式。图3为根据本实用新型实例一的光谱检测系统的结构框图。如图3所示,该系统包括上述光谱检测模块30和上述人机交互接口模块。其中,上述光谱检测模块30实现对光谱的光谱扫描及中心波长偏差分析;上述人机交互接口模块为PC终端32。具体地,该PC 终端通过USB接口与上述光谱检测模块进行连接,用户可以利用键盘、鼠标及PC机专用应用程序,完成数据测量、计算等人机交互动作。[0041]图4为根据本实用新型实例二的光谱检测系统的结构框图。如图4所示,该系统包括上述光谱检测模块40和上述人机交互接口模块。其中,上述光谱检测模块40实现对光谱的光谱扫描及中心波长偏差分析;上述人机交互接口模块为触摸屏42。具体地,通过 USB接口的线缆连接器将上述光谱检测模块与触摸屏连接,直接在触摸屏上完成功能菜单切换等人机交互动作。根据本实用新型的实施例,还提供了一种光谱仪。该光谱仪内置有上面提到的光谱检测模块。在优选实施过程中,上述光谱检测模块可以单独使用,也可以内置在光谱仪中。图 3与图4中的光谱检测模块也可以内置在光谱仪,并将光谱仪与人机交互接口模块连接,以使光谱仪响应用户操作指令,既可以测量主光通道中各单通道的中心波长、光功率、OSNR等光学性能参数,也可用于系统校准,即检测到中心波长的偏差,然后对该单波进行调整,保证系统正常稳定的运转。综上所述,借助本实用新型提供的上述实施例,光谱检测模块可以测量主光通道中各单通道的中心波长、光功率、OSNR等光学性能参数,也可以精确检测到中心波长的偏差,且集成后的光谱检测模块体积较小,成本较低,使用便捷,操作简易,目标针对性增强。 并且可根据不同的使用环境,灵活配置各功能组件,这都是现有技术所不可比拟的。显然,本领域的技术人员应该明白,上述的本实用新型的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现,它们可以集中在单个的计算装置上,或者分布在多个计算装置所组成的网络上,可选地,它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现,从而,可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行,并且在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤,或者将它们分别制作成各个集成电路模块,或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样,本实用新型不限制于任何特定的硬件和软件结合。以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种光谱检测系统,应用于密集波分复用系统,其特征在于,所述光谱检测系统包括光谱检测模块,所述光谱检测模块包括 输入光接口单元,用于将接收到的光信号进行传送;光性能检测单元,用于对来自于所述输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数; 波长偏差检测单元,与所述光性能检测单元相连接,用于对所述光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测;微控制器单元MCU,分别与所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元相连接,用于根据用户操作指令,控制所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元进行检测,并对来自于所述光性能检测单元和所述波长偏差检测单元的检测结果进行处理。
2.根据权利要求1所述的光谱检测系统,其特征在于,所述光谱检测模块还包括 供电电源,分别与所述光性能检测单元以及所述波长偏差检测单元相连接。
3.根据权利要求2所述的光谱检测系统,其特征在于,所述光谱检测模块还包括光滤波器,其光信号输入端连接至所述输入光接口单元,其光信号输出端连接至所述光性能检测单元,其控制端连接至所述MCU ;则所述供电电源,还与所述光滤波器相连接。
4.根据权利要求3所述的光谱检测系统,其特征在于,所述MCU,还用于根据用户操作指令,控制所述光滤波器对不同波段的光信号进行滤波操作。
5.根据权利要求1所述的光谱检测系统,其特征在于,所述输入光接口单元为法兰盘。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的光谱检测系统,其特征在于,所述波长偏差检测单元对中心波长的偏差检测精度为士5GHz。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的光谱检测系统,其特征在于,还包括人机交互接口模块,与所述光谱检测模块相连接,用于将接收到的所述用户操作指令发送至所述光谱检测模块,并显示所述光谱检测模块输出的检测结果。
8.根据权利要求7所述的光谱检测系统,其特征在于,所述光谱检测模块与所述人机交互接口模块通过USB接口进行连接。
9.根据权利要求7所述的光谱检测系统,其特征在于,所述人机交互接口模块为以下至少之一 PC终端、触摸屏。
10.一种光谱仪,其特征在于,包括如权利要求1至5中任一项所述的光谱检测模块。
专利摘要本实用新型公开了一种光谱检测系统及光谱仪,上述光谱检测系统包括光谱检测模块,该模块包括输入光接口单元,用于将接收到的光信号进行传送;光性能检测单元,用于对来自于输入光接口单元的光信号检测主光路性能参数;波长偏差检测单元,与光性能检测单元相连接,用于对光性能检测单输出的光信号进行波长偏差检测;微控制器单元,分别与光性能检测单元和波长偏差检测单元相连接,用于根据用户操作指令,控制光性能检测单元和波长偏差检测单元进行检测,并对来自于光性能检测单元和波长偏差检测单元的检测结果进行处理。根据本实用新型提供的技术方案,既可以测量主光路性能参数,也可检测中心波长的偏差。
文档编号H04Q11/00GK202143067SQ201120003488
公开日2012年2月8日 申请日期2011年1月7日 优先权日2011年1月7日
发明者贾琰 申请人:中兴通讯股份有限公司
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