专利名称：一种63路e1同时测量的ptn测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于通信测量领域，可同时测试PTN设备63路El的误码、环路时延、倒换时延等。
背景技术：
现有的SDH测试仪只能同时测试一路El的误码、环路时延、倒换时延，这在PTN分组交换网测试中存在极大的缺陷。分组交换中，STM-I的63个El信号通过IP包传送，而IP包可能通过不同的路径传送，也可能出现丢包、失序等现象，这样，在IP包重组为63路El信号时，会出现I路或数路El信号受损伤的情况，而这种现象，用传统的只能同时测试I路El的SDH测试仪，是很难监测到的。传统的SDH测试仪无法同时测试63个E1，不可能确定信号经过PTN网络传送后是否出现上述问题，而本发明恰好弥补了传统的SDH测试仪测试PTN网络所存在的缺陷，同时，极大的提高了测试效率。 因此，针对现有技术的不足，本实用新型提供一种操作简易快捷，能同时测试63路El的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题且提高测试效率的63路El同时测量的PTN测试仪。
实用新型内容针对以上现有技术存在的不足，本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种操作简易快捷，能同时测试63路El的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题且提高测试效率的63路El同时测量的PTN测试仪。为解决以上技术问题，本实用新型的技术方案是一种63路El同时测量的PTN测试仪，由El功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，关键是还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现El测试、SDH测试保护63路El同时测试等功能；其中El模块用于PDH测试，SDH模块用于SDH测试。本实用新型的有益效果新产品与传统产品相比，弥补了传统SDH测试仪测试PTN网络所存在的缺陷，可以实现一机多功能、多用途，能对PTN网络多种信号进行测试，节约了成本、资源和空间。PTN测试仪使用大尺寸触摸液晶屏，非常友好的人机交互界面，操作简易快捷，能轻松解决PTN网络中同时测试63路El的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题，弥补了传统SDH测试仪表的不足且提高了测试效率。
下面结合说明书附图对本实用新型做进一步详细的描述，其中图I为本实用新型的电路原理图。
具体实施方式
如图I所示，一种63路El同时测量的PTN测试仪，由El功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，关键是还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面如液晶显示屏和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面如液晶显示屏下达指令，能轻易实现El测试、SDH测试保护63路El同时测试等功能；其中El模块用于PDH测试，SDH模块用于SDH测试。本产品使用市场上主流的集成IC和软件平台，运行公司自主开发的应用程
权利要求1.一种63路El同时测量的PTN测试仪，由El功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，其特征是还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现El测试、SDH测试保护63路El同时测试等功能；其中El模块用于PDH测试，SDH模块用于SDH测试。
专利摘要本实用新型公开了一种63路E1同时测量的PTN测试仪，由E1功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，关键是还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现E1测试、SDH测试保护63路E1同时测试等功能。本实用新型操作简易快捷，能同时测试63路E1的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题且提高测试效率的63路E1同时测量的PTN测试仪。
文档编号H04L12/26GK202551070SQ20112056961
公开日2012年11月21日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日
发明者白岩 申请人:深圳市夏光通信测量技术有限公司