专利名称：一种窄带isdn芯片测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片测试装置，尤其涉及一种用于窄带ISDN芯片的测试装置，属于数字通信技术领域。
背景技术：
窄带ISDN (综合业务数字网)，俗称“一线通”。它除了可以用来打电话之外，还可以为用户提供诸如可视电话、数据通信、会议电视等多种业务，从而将电话、传真、数据、图像等多种业务综合在一个统一的数字网络中进行传输和处理。入网用户可通过一对电话线连接不同的终端，进行不同类型的业务通信。窄带ISDN为用户提供的是基本速率(2B+D，144kbps)，相应的基本速率接口包括两个能独立工作的B信道(64kbps)和一个D信道(16kbps)，其中B信道一般用来传输话音、数据和图像，D信道用来传输信令等信息。图1显示了窄带ISDN的传输信号码型。由于窄带ISDN线路属于数字线路，所以用它打电话(包括网络电话)的效果比模拟电话更清晰、可靠。随着宽带通信和光纤通信技术的迅猛发展，窄带ISDN已经逐渐淡出了人们的视野。但是在一些专用通信设备领域，窄带ISDN以其单对双绞线传输5公里的性能，依然有一席用武之地。例如铁路、军队等调度通信系统中仍然使用2B+D模式传输调度通信信息。目前，传输2B+D信号的集成电路芯片大部分为TP3410、MC145572，而这两种芯片均已停产多年。因此市场流通的这两种芯片的质量均良莠不齐，其工作性能无法得到保证。为了方便快捷地检测这两种芯片，保证产品质量及可靠性，开发一种测试这两种芯片的装置是很有必要的。
发明内容本实用新型所解决的问题在于提供一种窄带ISDN芯片测试装置(简称测试装置)。应用该测试装置，可以快速测试窄带ISDN芯片的工作性能。为实现上述的目的，本实用新型所采取的技术方案如下:一种窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于:所述窄带ISDN芯片测试装置包括中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元以及反馈单元；其中，所述逻辑控制单元分别与所述中央处理单元、所述自测单元、所述待测单元相连接;所述反馈单元分别与所述中央处理单元、所述逻辑控制单元、所述自测单元、所述待测单元连接；所述自测单元与所述中央处理单元连接；所述中央处理单元控制所述自测单元和所述待测单元向所述逻辑控制单元传输测试信号，所述逻辑控制单元接收所述测试信号并进行比较，将比较结果反馈至所述反馈单元。[0013]其中较优地，所述自测单元包括TP3410芯片和MC145572芯片；所述TP3410芯片分别与所述中央处理单元、所述逻辑控制单元连接；所述MC145572芯片分别与所述逻辑控制单元、所述反馈单元连接。其中较优地，所述反馈单元是LED显示装置。其中较优地，所述窄带ISDN芯片测试装置还包括重启单元，用于实现卡死状态下的系统重启。其中较优地，所述窄带ISDN芯片测试装置还包括继电器组合，所述继电器组合分别与所述自测单元及所述待测单元相连接，用于自测芯片和待测芯片的开关控制。本实用新型适用于窄带ISDN芯片的入库检测、筛选及故障检测等，具有以下技术特点:1.既可以测试TP3410芯片，也可以测试MC145572芯片，测试时芯片不用焊接，不损伤芯片引脚；2.测试方便、快捷；3.测试结果通过LED直观显示，一目了然；4.通过CPU、逻辑控制单元，可以灵活控制继电器组合实现自测、待测单元的性能测试。
图1为窄带ISDN中，2B+D传输信号的码型示意图；图2为本实用新型所提供的窄带ISDN芯片测试装置的原理图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型做进一步的详细说明。图2为本实用新型所提供的窄带ISDN芯片测试装置的原理图。该测试装置包括中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元以及反馈单元。其中，逻辑控制单元分别与中央处理单元、自测单元、待测单元连接；反馈单元与中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元通过CPU总线连接；自测单元与中央处理单元连接。中央处理单元控制自测单元和待测单元向逻辑控制单元传输测试信号，逻辑控制单元接收自测单元和待测单元传输的测试信号并进行比较，将比较结果反馈至反馈单元。在图2中，逻辑控制单元通过信号线2、3、4、5分别与自测单元和待测单元相连接。其中，信号线2、3、4、5不仅用于传输控制总线的控制信号、PCM总线的PCM信号，还用于传输时钟信号。重启单元(RESET)分别控制逻辑控制单元、中央处理单元，用于实现本测试装置卡死状态下的系统重启。另外，该测试装置还包括继电器组合。继电器组合与自测单元和待测单元直接相连，中央处理单元和逻辑控制单元可以灵活设定继电器组合的状态，从而实现对自测芯片和待测芯片的开关控制。中央处理单元(即CPU)用于控制逻辑控制单元、自测单元、待测单元、反馈单元之间的消息传送，负责完成本测试装置所有单元之间的协同以及管理工作，实现芯片测试功能。逻辑控制单元是由FPGA实现的，该单元通过CPU的控制信号，完成与自测单元的两个芯片以及待测单元的两个芯片之间PCM信号的处理及检测，实现本测试装置的逻辑功能。自测单元包括TP3410芯片和MC145572芯片；其中TP3410芯片分别与中央处理单元、逻辑控制单元连接，MC145572芯片分别与逻辑控制单元、反馈单元连接，该单元可以实现自带芯片的功能及性能测试。待测单元由两个待测芯片的接口组成，用于放置待测芯片并对待测芯片进行功能及性能测试。其中，待测芯片可以是两个TP3410芯片，也可以是两个MC145572芯片(图2所示)，或是一个TP3410芯片、一个MC145572芯片。反馈单元为LED显示装置，用于显示窄带ISDN芯片的测试状态、测试结果等信息。在进行芯片功能及性能测试时，本测试装置自带的TP3410芯片及MC145572芯片组成一对，任意一种芯片都可以设置成LT (线路终端)或NT (网络终端)模式。通常情况下，其中一个芯片配置为LT模式，另一个芯片配置为NT模式。两种窄带ISDN芯片都有模拟接口、PCM接口和控制接口。在本实用新型的一个实施例中，各个接口的连接方式如下:每对芯片的模拟接口通过双绞线互联，PCM接口连接到逻辑控制单元，控制接口分别连接到逻辑控制单元和中央处理单元。一对分别设置为LT、NT模式的窄带ISDN芯片握手成功后，任意一侧的PCM信号转换为模拟信号，经双绞线传输到对端的模拟接口，通过窄带ISDN芯片将模拟信号转换为PCM信号，完成语音或数据、信令的传输。通过信号传输结果，可以判断某个窄带ISDN芯片的好坏。上面对本实用新型所提供的窄带ISDN芯片测试装置进行了详细的说明。对本领域的一般技术人员而言，在不背离本实用新型实质精神的前提下对它所做的任何显而易见的改动，都将构成对本实用新型专利权的侵犯，将承担相应的法律责任。
权利要求1.一种窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于: 所述窄带ISDN芯片测试装置包括中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元以及反馈单元；其中， 所述逻辑控制单元分别与所述中央处理单元、所述自测单元、所述待测单元相连接；所述反馈单元分别与所述中央处理单元、所述逻辑控制单元、所述自测单元、所述待测单元连接； 所述自测单元与所述中央处理单元连接； 所述中央处理单元控制所述自测单元和所述待测单元向所述逻辑控制单元传输测试信号，所述逻辑控制单元接收所述测试信号并进行比较，将比较结果反馈至所述反馈单元。
2.如权利要求1所述的窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于: 所述自测单元包括TP3410芯片和MC145572芯片； 所述TP3410芯片分别与所述中央处理单元、所述逻辑控制单元连接； 所述MC145572芯片分别与所述逻辑控制单元、所述反馈单元连接。
3.如权利要求1所述的窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于: 所述反馈单元是LED显示装置。
4.如权利要求1所述的窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于: 所述窄带ISDN芯片测试装置还包括重启单元，用于实现卡死状态下的系统重启。
5.如权利要求1所述的窄带ISDN芯片测试装置，其特征在于: 所述窄带ISDN芯片测试装置还包括继电器组合，所述继电器组合分别与所述自测单元及所述待测单元相连接，用于自测芯片和待测芯片的开关控制。
专利摘要本实用新型公开了一种窄带ISDN芯片测试装置。该测试装置中，逻辑控制单元分别与中央处理单元、自测单元、待测单元相连接；反馈单元分别与中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元连接；自测单元与中央处理单元连接；中央处理单元控制自测单元和待测单元向逻辑控制单元传输测试信号，逻辑控制单元接收测试信号并进行比较，将比较结果反馈至反馈单元。本测试装置适用于窄带ISDN芯片的入库检测、筛选及故障检测等，使用方式便捷、检测方式灵活，可靠性高。
文档编号H04L12/26GK203057283SQ20122073678
公开日2013年7月10日 申请日期2012年12月27日 优先权日2012年12月27日
发明者刘文红 申请人:北京佳讯飞鸿电气股份有限公司