光缆光纤串接检测装置与方法
【专利摘要】本发明提供了一种光缆光纤串接检测装置与方法，通过光纤连接器将该待测试光纤的一端、跳纤和其他待测试的光纤首尾连接，利用光时域反射仪在待测试的光缆光纤的一端进行测试，获取光路测试曲线，根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，能够同时对多条光纤进行检测，快速定位问题光纤，耗时短效率高；而且不需要对每一条光纤检测时都外接尾纤以消除盲区的影响，进一步加大了检测的时间，提高了检测效率；方便对光缆光纤中间的连接点和两端接头进行双向测试。
【专利说明】光缆光纤串接检测装置与方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及光通信【技术领域】，具体地涉及一种光缆光纤串接检测装置与方法。
【背景技术】
[0002] 光缆网络是现代信息传输的基石，随着我国信息化建设的进行，光缆架设大量进 行，为了保障通信设施工程质量和日后通信业务的顺利开通，需要对完工的光缆进行检测， 对光缆长度、线路损耗、接头损耗等数据进行测试，这些数据可以作为日后运营维护的重要 资料。
[0003] 目前，采用较多的光缆检测方法是绝对功率测量法和后向散射法。绝对功率测量 法主要是通过分别连接在被测光缆光纤两端的红光源和光功率计，根据发光功率和收光功 率差值的绝对功率来测量光缆纤芯的总衰耗，这种方法只能对光缆光纤的总衰耗进行测 试，不能获取光缆的其它参数。向后散射法主要通过光时域反射仪（OTDR，Optical Time Domain Reflectmeter)，将之连接在被测光缆光纤一端，通过获取光纤的传输光的背向散 射来测量光缆的长度、线路损耗、接头损耗等。
[0004] 0TDR是光缆工程施工和光缆线路维护工作中最重要也是使用频率最高的测试仪 表，它能将光纤链路的完好情况和故障状态，以曲线的形式清晰、直观的显示出来，可以方 便地测量得到光纤的长度、线路损耗、熔接损耗、熔接点和故障点位置等信息。现有技术中 在使用0TDR检测光缆时，只能够针对单根光纤进行检测，耗时长效率低。并且，0TDR和光 纤接头部分会导致0TDR检测存在盲区，影响测量精度。虽然，现有技术中通过在0TDR和光 纤之间外接尾纤的方式来消除盲区的影响，但是如果针对每一条光纤在检测时都外接尾 纤进行，又进一步加大了检测所需的时长，降低了效率。
【发明内容】
[0005] 为此，本发明所要解决的技术问题在于现有技术中用于光缆光纤检测的方法检测 效率低，从而提出一种能够提高检测效率的光缆光纤串接检测装置与方法。
[0006] 为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：
[0007] -种光缆光纤串接检测装置，包括：
[0008] 光时域反射仪、至少两根跳纤和光纤连接器；所述光时域反射仪信号端与一条待 测试光纤的一端连接，通过光纤连接器将该待测试光纤的另一端、所述跳纤和其他待测试 的光纤首尾连接。
[0009] 上述光缆光纤串接检测装置，还包括：
[0010] 跳纤夹排，其上设置有若干卡孔，跳纤穿过所述卡孔后被所述跳纤夹排固定。
[0011] 上述光缆光纤串接检测装置，所述跳纤夹排由第一夹排部件和第二夹排部件拼接 组成。
[0012] 上述光缆光纤串接检测装置，所述跳纤在连接两条光纤时保持一定的曲率半径， 所述曲率半径大于所述跳纤的最小弯曲半径。
[0013] 一种光缆光纤串接检测方法，包括如下步骤：
[0014] S1 :利用权利要求1-4任一所述的光缆光纤串接检测装置对待测试的光缆光纤进 行首尾连接；
[0015] S2:利用光时域反射仪在待测试的光缆光纤的一端进行测试，获取光路测试曲 线.
[0016] S3:根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，所述数据参数包括光缆长 度、线路损耗和接头损耗。
[0017] 上述光缆光纤串接检测方法，根据所述光路测试曲线上的峰值区分每条被测光 纤。
[0018] 本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点
[0019] (1)本发明所述的光缆光纤串接检测装置与方法，通过光纤连接器将该待测试光 纤的一端、跳纤和其他待测试的光纤首尾连接，利用光时域反射仪在待测试的光缆光纤的 一端进行测试，获取光路测试曲线，根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，能够 同时对多条光纤进行检测，快速定位问题光纤，耗时短效率高；而且不需要对每一条光纤检 测时都外接尾纤以消除盲区的影响，进一步加大了检测的时间，提高了检测效率；方便对光 缆光纤中间的连接点和两端接头进行双向测试。
[0020] (2)本发明所述的光缆光纤串接检测装置与方法，采用跳纤夹排可实现对跳纤进 行固定，整理作用，防止跳接错误，跳纤夹排上设置的卡孔可根据跳纤的数量进行定制。
[0021] (3)本发明所述的光缆光纤串接检测装置与方法，所述跳纤夹排由第一夹排部件 和第二夹排部件拼接组成，支持拼接处理，在待测试光缆光纤数量较多的情况下也能方便 使用。
[0022] (4)本发明所述的光缆光纤串接检测装置与方法，所述跳纤在连接两条光纤时保 持一定的曲率半径，能够防止跳纤的弯曲损耗。
【专利附图】
【附图说明】
[0023] 为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合 附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
[0024] 图1是本发明一个实施例的一种光缆光纤串接检测装置示意图；
[0025] 图2是本发明一个实施例的一种光缆光纤串接检测装置中的跳纤夹排；
[0026] 图3是本发明一个实施例的一种光缆光纤串接检测方法流程图；
[0027] 图4是本发明一个实施例的一种光缆光纤串接检测实施示意图；
[0028] 图5是本发明一个实施例的一种应用光缆光纤串接检测方法的0TDR测试曲线；
[0029] 图6是本发明一个实施例的一种应用光缆光纤串接检测方法时存在断纤的0TDR 测试曲线。
[0030] 图中附图标记表示为：1_光时域反射仪、2-跳纤、3-光纤连接器、4-跳纤夹排、 5-光配、6-待测试光纤、7-光缆、8-卡孔。
【具体实施方式】
[0031] 实施例1
[0032] 本实施例提供了一种光缆光纤串接检测装置，如图1所示，包括光时域反射仪1、 至少两根跳纤2和光纤连接器3 ;所述光时域反射仪1的信号端与一条待测试光纤6的一 端连接，通过光纤连接器3将该待测试光纤6的另一端、所述跳纤2和其他待测试的光纤首 尾连接。
[0033] 其中所述待测试的光纤可以是整条光缆光纤也可以是一条光缆上的多条光纤，对 所有待测试的光纤首尾连接完成后可以组成一个完整的光路通道，为方便简化说明图示， 图中只画出一条光缆中的6条光纤串接示意图，在光缆7的两端进行两两跳接，且两端进行 对错跳接，光时域反射仪1只需连接被测光缆7的一端就可以进行检测。
[0034] 由于测试原理和光纤结构上的原因，用光时域反射仪1单向测试会出现虚假增益 的现象，相应地也会出现虚假衰耗的现象，对于光缆的一个接头来说，用两个方向衰减值的 数学平均数才能准确反映其真实的衰耗值。使用光缆光纤串接检测装置可方便对光缆中间 接续点和两端接头进行双向测试，并能够准确评估接头的好坏。
[0035] 光缆光纤检测装置还包括：
[0036] 跳纤夹排4,其上设置有若干卡孔8,跳纤2穿过所述卡孔8后被所述跳纤夹排4 固定，如图2所示，采用跳纤夹排4可实现对跳纤2进行固定，整理作用，防止跳接错误，跳 纤夹排4上设置的卡孔8可根据跳纤2的数量进行定制。
[0037] 所述跳纤夹排4由第一夹排部件和第二夹排部件拼接组成，支持拼接处理，在需 要的时候也可以有第三夹排部件、第四夹排部件等，这样在待测试光缆光纤数量较多的情 况下也能方便使用。
[0038] 所述跳纤2在连接两条光纤时保持一定的曲率半径，所述曲率半径大于所述跳纤 2的最小弯曲半径，能够防止跳纤2的弯曲损耗。最小弯曲半径就是指保证光纤在弯曲时没 有损耗或者损耗很小的前提下，光纤所能弯成的最小圆角半径。不同的光纤最小弯曲半径 也不一样，有些光纤的最小弯曲半径是十几毫米，有些光纤的最小弯曲半径是二十几毫米， 有些光纤的最小弯曲半径是30毫米，例如跳纤2可以选取G652光纤，它的最小弯曲半径为 30mm。30mm是所有光纤最小弯曲半径值中的最大值。优选地，跳纤2的曲率半径大于30mm 时就能够防止跳纤2的弯曲损耗。所述跳纤2可根据所述光纤连接器3的不同有多种类型， 一般选取比普通跳纤稍粗，韧性更大的跳纤，可有效的防止跳纤的弯曲损耗。
[0039] 所述光纤连接器3的卡口经过了一定的改进，在双向测试和重点检测的时候可以 方便快速进行拔插，节省时间，提高效率。
[0040] 本实施例提供的光缆光纤串接检测装置，通过光纤连接器3将该待测试光纤6的 一端、跳纤2和其他待测试的光纤首尾连接，利用光时域反射仪1在待测试的光缆光纤的一 端进行测试，能够同时对多条光纤进行检测，快速定位问题光纤，耗时短效率高；而且不需 要对每一条光纤检测时都外接尾纤以消除盲区的影响，进一步加大了检测的时间，提高了 检测效率；方便对光缆光纤中间的连接点和两端接头进行双向测试。
[0041] 实施例2
[0042] 本实施例提供了一种光缆光纤串接检测方法，如图3所示，包括如下步骤：
[0043] S1 :利用实施例1所述的光缆光纤串接检测装置对待测试的光缆光纤进行首尾 连接，如图4所示，在光缆7的一端用光缆光纤串接检测装置从第1条光纤开始依次在光配 5进行两两跳接，可依照此方法对待测试的光缆光纤一次全部跳接完毕，为简化说明图示， 本实施例中只对一条光缆的6条光纤进行串接测试。在光缆7另一端也就是测试端，从光 缆7的第2条光纤开始依次在光配5进行两两跳接，跳接完毕后，全部跳接光缆光纤可形成 一条完整光路通道：A?A'?B'?B?C?C'?D'?D?E?E'?F'?F，其中A、 A'、B'、B、C、C'、D'、D、E、E'、F'、F 为光缆光纤的光配口。
[0044] S2 :利用光时域反射仪1在待测试的光缆光纤的一端进行测试，获取光路测试曲 线，现场测试工作人员可从第1条光纤，即从光配A 口连接光时域反射仪1，设定适当的测试 参数，对串接的光路进行测试。
[0045] 如果串接形成的光路通道完好并且选择的光时域反射仪量程、脉冲宽度等参数合 适，则可得到图5所示0TDR光路测试曲线，其横轴为测试光路长度（单位为km)，纵轴为光 路在测试波长的衰耗（单位为dB)，根据述光路测试曲线上的菲涅尔反射峰值可区分每条 被测光纤，如果被测光缆的D?D'条光纤出现断纤，则其0TDR光路测试曲线如图6所示， 从图中可以看出，其断纤信息直接反应在0TDR光路测试曲线上，所以，光缆光纤串接检测 方法仅需一次0TDR测试，即可定位光缆的问题光纤。
[0046] S3:根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，所述数据参数包括光缆长 度、线路损耗和接头损耗。针对每条光纤分别选取对应的光路测试曲线得到对应的光纤的 数据参数，例如需要测试B'?B条光纤，就在光路测试曲线上选取B'?B段的光路测试 曲线，然后光时域反射仪直接显示出B'?B条光纤的长度、线路损耗和接头损耗。
[0047] 在光配A 口处测试完毕后，可从光配F 口连接光时域反射仪，设定适当的测试参 数，对串接的光路进行反向测试，用以消除盲区以及测试时的虚假增益与虚假衰耗现象。在 光缆光纤检测时可对任一光纤进行重点检测，如需对C?C'?D'?D光路进行重点测 试，可在测试端光配处将光缆串接检测装置在光配C 口的光纤连接器拔下，将光时域反射 仪连接光配C 口，并断开光配D 口处的光纤连接器，减小光时域反射仪测试脉冲宽度，对之 进行细测。同理，如果光缆光纤串接检测的光路长度超过光时域反射仪量程时，可将光纤接 口器在测试端光配的适当位置打开，再连接光时域反射仪进行测试。
[0048] 本实施例提供的光缆光纤串接检测方法，通过光纤连接器将该待测试光纤的一 端、跳纤和其他待测试的光纤首尾连接，利用光时域反射仪在待测试的光缆光纤的一端进 行测试，获取光路测试曲线，根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，能够同时对 多条光纤进行检测，快速定位问题光纤，耗时短效率高；而且不需要对每一条光纤检测时都 外接尾纤以消除盲区的影响，进一步加大了检测的时间，提高了检测效率；方便对光缆光纤 中间的连接点和两端接头进行双向测试。
[〇〇49] 显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对 于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或 变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或 变动仍处于本发明创造的保护范围之中。
【权利要求】
1. 一种光缆光纤串接检测装置，其特征在于，包括： 光时域反射仪、至少两根跳纤和光纤连接器；所述光时域反射仪信号端与一条待测试 光纤的一端连接，通过光纤连接器将该待测试光纤的另一端、所述跳纤和其他待测试的光 纤首尾连接。
2. 根据权利要求1所述的光缆光纤串接检测装置，其特征在于，还包括： 跳纤夹排，其上设置有若干卡孔，跳纤穿过所述卡孔后被所述跳纤夹排固定。
3. 根据权利要求1或2所述的光缆光纤串接检测装置，其特征在于： 所述跳纤夹排由第一夹排部件和第二夹排部件拼接组成。
4. 根据权利要求1-3任一所述的光缆光纤串接检测装置，其特征在于： 所述跳纤在连接两条光纤时保持一定的曲率半径，所述曲率半径大于所述跳纤的最小 弯曲半径。
5. -种光缆光纤串接检测方法，其特征在于，包括如下步骤： 51 :利用权利要求1-4任一所述的光缆光纤串接检测装置对待测试的光缆光纤进行首 尾连接； 52 :利用光时域反射仪在待测试的光缆光纤的一端进行测试，获取光路测试曲线； 53 :根据所述光路测试曲线获取光缆光纤的数据参数，所述数据参数包括光缆长度、线 路损耗和接头损耗。
6. 根据权利要求5所述光缆光纤串接检测方法，其特征在于：根据所述光路测试曲线 上的峰值区分每条被测光纤。
【文档编号】H04B10/071GK104104433SQ201410273102
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年6月18日 优先权日:2014年6月18日
【发明者】孟建, 黄彦, 李凯, 彭碧君 申请人:国网山东省电力公司青岛供电公司, 国家电网公司