一种前馈主动降噪耳机的测试方法和测试系统与流程

文档序号:11139518阅读:1363来源:国知局
一种前馈主动降噪耳机的测试方法和测试系统与制造工艺

本发明涉及耳机技术领域,特别涉及一种前馈主动降噪耳机的测试方法和测试系统。



背景技术:

前馈主动降噪耳机越来越多的出现在市场上,前馈主动降噪耳机的降噪性能是影响前馈主动降噪耳机整体性能的一项重要指标,因此对前馈主动降噪耳机的降噪性能的测试至关重要。

传统的噪声控制技术途径包括吸声、隔声、使用消声器等。这些噪声控制方法的机理在于通过噪声声波与声学材料或声学结构的相互作用消耗声能,从而达到降低噪声的目的,称为无源噪声控制。一般说来,无源噪声控制方法对控制中高频噪声较为有效,而对低频噪声控制效果不明显。由此,基于声波相消干涉机理的主动噪声抑制(Active Noise Cancellation,ANC)技术便应运而生了。主动降噪系统具有体积小、重量轻、低频降噪效果好的特点,尤其在周期性或近似周期性的低频噪声控制方面潜力巨大。

ANC耳机按照系统控制方式分为前馈控制、反馈控制和前馈+反馈的混合控制。图1为前馈主动降噪耳机的降噪结构示意图,图2为前馈主动降噪耳机的降噪电路示意图。如图1和图2所示,P为前馈降噪耳机的麦克风110到鼓膜120的声学通道传递函数(简写为FFP),其中G为喇叭130到鼓膜120的声学通道的传递函数(简写为FFG),H为降噪电路响应,c是控制信号,d为渗透到耳罩内的噪声信号,e为d和c经过混合处理器210混合后残余的噪声信号(称为前馈误差信号)。

外界噪声信号通过两个传播路径到达人耳处,传播路径1为纯声学层面上的传播,即FFP;传播路径2为电子层面上的传播,即H+FFG。理想状态是噪声经过两个路径后到达人耳处的信号d、c刚好是幅度相同相位相反,相互抵消,即混合后没有残余的噪声信号e,从而达到降噪目的。定义误差信号e除外界噪声d之间的传递函数为前馈降噪系统灵敏度函数S:灵敏度函数S反映了耳机的降噪量。在S小于1的频带噪声得到降低,S大于1的频带噪声将增强。当GH和P完全等幅反向时残余噪声为零,噪声被完全抵消。

由上文所述可知,前馈降噪是通过GH路径和P路径的干涉相消来实现,即通过前馈降噪麦克风采集到噪声,经过降噪电路响应H送至耳机喇叭端,再经过喇叭频率响应G到达人耳,与外界渗透至人耳鼓膜处噪声干涉相消。

在前馈主动降噪耳机的降噪性能测试中存在这样一个问题,不同前馈主动降噪耳机的G和P的值并不是完全一样的,会在较小的范围内波动。于是不同耳机的H需要不同的调整电路增益值,以使耳机的降噪性能满足要求。如果对所有耳机设置固定不变的调整电路增益值,无法保证所有耳机的降噪性能满足要求。

现有技术中,前馈降噪耳机的测试方法是设定一个固定的默认降噪电路增益值,经过降噪测试后,降噪性能通过则判定为合格,降噪性能不通过则经过人工手动修改增益值。尽管此默认增益值预先经过调试,通常可使多数耳机满足降噪性能测试的最低要求,但是单一固定的默认增益值无法保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时无法保证所有耳机的降噪水平一致,存在部分耳机性能较低,部分耳机性能较高的情况。对于在设定默认增益值下判定为不合格的产品,人工手动修改增益值,存在人为主观因素,且对作业人员能力要求较高,花费时间长,无法保证修改后耳机性能优劣。



技术实现要素:

鉴于现有技术中前馈主动降噪耳机的测试是通过设定单一的默认降噪电路增益值的方法,无法保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时无法保证所有耳机的降噪水平一致;且对于在设定默认增益值下判定为不合格的产品,需人工干预进行手动修改增益值的问题,提出了本发明的一种前馈主动降噪耳机的测试方法和测试系统,以便解决或至少部分地解决上述问题。

根据本发明的一个方面,提供了一种前馈主动降噪耳机的测试方法,所述测试方法包括:

预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,所述第二初始增益值与所述第一初始增益值相差一个增益调节步长;

对待测耳机的左耳机分别测试在所述第一初始增益值和所述第二初始增益值下的降噪性能,寻找所述左耳机降噪性能提高的方向;向所述降噪性能提高的方向,依次改变一个所述增益调节步长得到当前增益值,测试所述左耳机在当前增益值下的降噪性能,并将满足预设降噪性能要求的降噪量均值以及对应的增益值存储至预设存储器中;当所述左耳机的降噪性能开始出现降低或当前增益值至预设的所述增益值调节范围的边界时,停止测试;

对待测耳机的右耳机同步或依次进行与左耳机同样的测试直至停止测试;

判断所述预设存储器内是否存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据;若判断为无数据或者判断为仅存储有左耳机降噪性能数据或右耳机降噪性能数据,则判决所述待测耳机不合格;

若判断为同时存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据,则将所述左耳机降噪性能数据和所述右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序,进一步判断是否存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量;

若判断为否,则判决所述待测耳机不合格;若判断为是,则将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入所述待测耳机的左耳机和右耳机,并判决所述待测耳机合格。

根据本发明的另一个方面,提供了一种前馈主动降噪耳机的测试系统,所述系统包括:

预设单元,用于预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,所述第二初始增益值与所述第一初始增益值相差一个增益调节步长;

测试单元,用于对待测耳机的左耳机分别测试在所述第一初始增益值和所述第二初始增益值下的降噪性能,寻找所述左耳机降噪性能提高的梯度增加方向;向所述降噪性能提高的方向,依次增加或减少一个所述增益值调节步长得到当前增益值,测试所述左耳机在当前增益值下的降噪性能,并将满足预设降噪性能要求的降噪量均值以及对应的增益值存储至预设存储器中;当所述左耳机的降噪性能开始出现下降或当前增益值至预设的所述增益值调节范围的边界时,停止测试;以及用于对待测耳机的右耳机同步或依次进行与左耳机同样的测试直至停止测试;

判断单元,用于判断所述预设存储器内是否存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据;若判断为无数据或者判断为仅存储有左耳机降噪性能数据或右耳机降噪性能数据,则判决所述待测耳机不合格;若判断为同时存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据,则将所述左耳机降噪性能数据和所述右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序,进一步判断是否存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量;若判断为否,则判决所述待测耳机不合格;若判断为是,判决所述待测耳机合格。

烧录单元,用于判断存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量时,将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入所述待测耳机的左耳机和右耳机。

综上所述,本发明通过预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,对待测耳机的左、右耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,并向降噪性能提高的方向,依次进行测试,寻找满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量,并将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机。可见,本发明依次修改增益值对耳机进行循环测试,寻找待测耳机降噪性能最优增益值,可自动高效地找到满足主动降噪耳机的降噪性能最优时的增益值,实现整个测试过程的自动化,保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时保证所有耳机的降噪水平一致,避免测试过程中人工干预,保证耳机的品质。

附图说明

图1为前馈主动降噪耳机的降噪结构示意图;

图2为前馈主动降噪耳机的降噪电路示意图;

图3为本发明一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试方法流程图;

图4为本发明另一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试方法流程图;

图5为本发明一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试系统示意图;

图6为本发明另一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试系统示意图。

具体实施方式

本发明的设计思路是:鉴于现有技术中前馈主动降噪耳机的测试是通过设定单一的默认降噪电路增益值的方法,无法保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时无法保证所有耳机的降噪水平的一致;对于在设定默认增益值下判定为不合格的产品,需人工干预进行手动修改增益值,存在人为主观因素的问题。本发明通过预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,对待测耳机的左、右耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,并向降噪性能提高的方向,依次进行测试,寻找满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量,并将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机,保证每个合格的耳机降噪性能均达到其本身最好的降噪性能,同时保证所有耳机的降噪水平的一致。为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

图3为本发明一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试方法流程图。如图3所示,该方法包括:

步骤S310,预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,第二初始增益值与第一初始增益值相差一个增益调节步长。

第二初始增益值可以大于第一初始增益值一个增益调节步长,例如,增益调节步长为m,第一初始增益值为n,第二初始增益值为n+m。第二初始增益值也可以小于第一初始增益值一个增益调节步长,例如,,增益调节步长为m,第一初始增益值为n,第二初始增益值为n-m。其中,m可以为任何需要的值,n和m单位均为dB。

步骤S320,对待测耳机的左耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,寻找左耳机降噪性能提高的方向;向降噪性能提高的方向,依次增加或减少一个增益调节步长得到当前增益值,测试左耳机在当前增益值下的降噪性能,并将满足预设降噪性能要求的降噪量均值以及对应的增益值存储至预设存储器中;当左耳机的降噪性能开始出现降低或当前增益值至预设的增益值调节范围的边界时,停止测试。

在本步骤中,通过比较左耳机在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能寻找左耳机降噪性能提高的方向,如果左耳机在第一初始增益值的降噪性能低于第二初始增益值下的降噪性能,那么降噪性能提高的方向是增益值增加的方向,依次增加一个增益调节步长得到当前增益值;如果左耳机在第一初始增益值的降噪性能优于第二初始增益值下的降噪性能,那么降噪性能提高的方向是增益值减小的方向,依次减少一个增益调节步长得到当前增益值。因为在测试前会预设降噪耳机的降噪性能的最低要求,在测试过程中,只要是满足降噪性能最低要求的降噪量均被保存下来。特别说明的是,在实际测试过程中,针对同一当前增益值的降噪数据不是单一的,而是测试耳机在当前增益值下的一段音频中不同频率下的降噪性能,即当前增益值下的降噪量是一组值,所以,在保存降噪性能数据的时候,需首先对当前增益值下的降噪量的一组值进行求平均,预设存储器保存的是满足预设降噪性能要求的降噪量的平均值以及对应的增益值。

测试也不是无限制的持续下去,为了保证测试效率,最短化测试时间,在遇到降噪性能开始出现降低或当前增益值至预设的增益值调节范围的边界时,停止测试。这里的降噪性能开始出现降低是指当前增益值下的降噪性能相比较前一增益值下的降噪性能变差,那么就停止测试;或者,调节增益值到增益值调节范围的边界了,降噪性能还没有出现降低,那么也停止测试。例如,预设增益值调节范围是[n-6m,n+6m],当增益值达到n+5m时,降噪性能比在增益值n+4m时的降噪性能低,则停止测试;或者在增益值n+6m下的降噪性能仍优于在增益值n+5m时的降噪性能,但是已经达到预设的增益值调节范围的边界n+6m,也要停止测试。

步骤S330,对待测耳机的右耳机进行与左耳机同样的测试直至停止测试。

步骤S340,判断预设存储器内是否存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据;若判断为无数据或者判断为仅存储有左耳机降噪性能数据或右耳机降噪性能数据,说明耳机不存在满足降噪性能最低要求的增益值,则判决待测耳机不合格。

这里有三种情况,预设存储器内同时存在左、右耳机降噪性能数据;只存在左耳机降噪性能数据或只存在右耳机降噪性能数据;左右耳机降噪性能数据均不存在。若为第一种情况,则判断为存在;若为后两种情况,则判断为不存在,判决待测耳机不合格。

步骤S350,若判断为同时存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据,则将左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序,进一步判断是否存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量。

合格的耳机,不仅仅要保证左、右耳机分别达到降噪性能要求,还要保证左右耳机的降噪性能一致,即降噪量达到一致,这样在耳机使用时才不会因为左右耳机的降噪性能不一致,影响音频的播放效果。所以要在左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据中,找出满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量的对应增益值,为了容易判断,以及容易找出满足降噪量一致性的最大降噪量,在进行判断前将左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序。

步骤S360,若判断为否,说明左右耳机即使分别达到了降噪性能要求,但是不存在降噪性能一致性的情况,则判决待测耳机不合格。

步骤S370,若判断为是,则将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机,并判决待测耳机合格。

这里满足左右耳机降噪性能一致性的最大降噪量对应的左右耳机的增益值可能是一样的,也可能是不一样的。

可见,本发明依次修改增益值对耳机进行循环测试,寻找待测耳机降噪性能最优增益值,可自动高效地找到满足主动降噪耳机的降噪性能最优时的增益值,实现整个测试过程的自动化,保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时保证所有耳机的降噪水平一致,避免测试过程中人工干预,保证耳机的品质。

在本发明的一个实施例中,若第二初始增益值大于第一初始增益值一个增益调节步长,步骤S320中的对待测耳机的左耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,寻找左耳机降噪性能提高的方向包括:比较左耳机在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,若在第一初始增益值下的降噪性能优于在第二初始增益值下的降噪性能,则降噪性能提高的方向为增益值递减的方向,反之降噪性能提高的方向为增益值递增的方向。

例如,预设的第一初始增益值为n,第二初始增益值为n+m,分别比较左耳机在增益值n和n+m下的降噪性能,若在增益值n下的降噪性能优于在增益值n+m下的降噪性能,则降噪性能提高的梯度增加方向为增益值递减的方向,反之降噪性能提高的梯度增加方向为增益值递增的方向。

本发明的方法中的预设增益值调节范围是为了最少化测试次数,最大化生产效率和最短化测试时间,同时可以合理化产品的增益值范围,可以筛除一部分的不合格耳机;预设第一初始增益值是选择若干合格耳机的增益值的平均值,这样,针对一个耳机,能很快的测试到耳机的最佳降噪性能,也可以保证测试效率,缩短测试时间。增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,可以根据若干合格耳机的增益值进行设定,具体地,在本发明的一个实施例中,步骤S110中的预设增益值调节范围、第一初始增益值包括:随机抽取若干数量(例如20个)的标准耳机样本,通过人工方法调节标准耳机样本的增益值,获取每个标准耳机样本的降噪性能最优的增益值;计算这些若干数量的标准耳机样本的降噪性能最优的增益值的平均值,将平均值作为预设的第一初始增益值,第二初始增益值就是第一初始增益值的基础上增加一个增益调节步长;以及,根据每个标准耳机样本的降噪性能最优的增益值,获取增益值分布范围作为预设的增益值调节范围。

计算若干数量的标准耳机样本的降噪性能最优的增益值的平均值,将平均值作为测试中预设的第一初始增益值,这样在测试过程中可以有效减少测试次数,快速寻找到待测耳机的最优的增益值。

本发明中预设的增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值并不是一成不变的,随着合格的耳机的数量越来越多,合格耳机的最优增益值也越来越多,那么最初预设的增益值调节范围,第一初始增益值和第二初始增益值就可以根据越来越多的合格耳机的增益值进行进一步的更新,使得整个测试过程更加标准化,且可以更加最短化测试时间。在本发明的一个实施例中,图1所示的方法还包括:获取预定数量(例如1000个)的判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值;计算这些预定数量的判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值的平均值,使用平均值更新预设的第一初始增益值;以及,根据每个判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值,获取增益值分布范围,并使用增益值分布范围更新预设的增益值调节范围。

当然可以不断的更改预设数量,对增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值不断的进行更新优化,例如第一次设定为1000个。更新后,再设定为2000个,以此类推。当判定合格的耳机的数量达到预定数量的时候,根据合格耳机的降噪性能最优增益值对增益值调节范围,第一初始增益值和第二初始增益值自动进行更新。

因为耳机的测试不仅仅是降噪性能的测试,还可能进行其它性能的测试。针对判定为不合格的耳机,为了便于后期对不合格耳机进行进一步的处理,或者进行人工调试,或者进行重组装。在本发明的一个实施例中,图1所示的方法进一步包括:当判决待测耳机不合格后,记录待测耳机的测试不良项目,以及记录待测耳机的降噪性能最好时对应的降噪量和增益值,方便为接下来的人工调试提供参考依据。

图4为本发明另一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试方法流程图。如图4所示,在一个具体的例子中,该方法步骤如下:

步骤S410,预设增益值调节范围[n-3,n+3];第一初始增益值为n;第二初始增益增为n+0.5,增益调节步长为0.5。

步骤S420,对待测耳机的左、右耳机分别测试在n和n+0.5下的降噪性能,寻找左、右耳机降噪性能提高的方向。本实施例中,若左、右耳机在n下的降噪性能低于在n+0.5下的降噪性能,则降噪性能提高的方向是增益值增加的方向。

步骤S430,向降噪性能提高的方向,即增益值增加的方向,增加一个增益调节步长0.5得到当前增益值n+0.5+0.5,测试左、右耳机在n+0.5+0.5下的降噪性能,以此类推进行测试,并将满足预设降噪性能要求的降噪量均值以及对应的增益值存储至预设存储器中;当左、右耳机的降噪性能开始出现降低或当前增益值至预设的增益值调节范围的边界时,停止测试。

例如,当增益值达到n+2.5时,降噪性能比在增益值n+2时的降噪性能低,则停止测试;或者n+3下的降噪性能优于n+2.5时的降噪性能,但是已经达到预设的增益值调节范围的边界,也要停止测试。

步骤S440,判断预设存储器内是否存储有左、右耳机降噪性能数据。这里有三种情况,预设存储器内同时存在左、右耳机降噪性能数据;只存在左耳机降噪性能数据或只存在右耳机降噪性能数据;左右耳机降噪性能数据均不存在。若为第一种情况,则判断为是;若为后两种情况,则判断为否。

步骤S450,若判断为是,则将左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序,以容易进行下一步的判断,并且容易找出满足降噪量一致性的最大降噪量。

步骤S460,排序后,进一步判断是否存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量。

步骤S470,若判断为是,将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机,并进行步骤S480,判决耳机合格。

在步骤S440的判断中以及步骤S460的判断中,若判断为否,则进行步骤S490记录耳机的测试不良项目以及降噪性能最好时对应的降噪量和增益值,并进行S411判决耳机不合格。

图5为本发明一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试系统示意图。该前馈主动降噪耳机的测试系统500包括:

预设单元510,用于预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,第二初始增益值与第一初始增益值相差一个增益调节步长;

测试单元520,用于对待测耳机的左耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,寻找左耳机降噪性能提高的梯度增加方向;向降噪性能提高的方向,依次增加或减少一个增益值调节步长得到当前增益值,测试左耳机在当前增益值下的降噪性能,并将满足预设降噪性能要求的降噪量均值以及对应的增益值存储至预设存储器中;当左耳机的降噪性能开始出现下降或当前增益值至预设的增益值调节范围的边界时,停止测试;以及用于对待测耳机的右耳机同步或依次进行与左耳机同样的测试直至停止测试;

判断单元530,用于判断预设存储器内是否存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据;若判断为无数据或者判断为仅存储有左耳机降噪性能数据或右耳机降噪性能数据,则判决待测耳机不合格;若判断为同时存储有左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据,则将左耳机降噪性能数据和右耳机降噪性能数据分别按降噪量均值大小排序,进一步判断是否存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量;若判断为否,则判决待测耳机不合格;若判断为是,判决待测耳机合格。

烧录单元540,用于判断存在满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量时,将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机。

在本发明的一个实施例中,若第二初始增益值大于第一初始增益值一个增益调节步长,测试单元520具体用于:

比较左耳机在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,若在第一初始增益值下的降噪性能优于在第二初始增益值下的降噪性能,则降噪性能提高的方向为增益值递减的方向,反之降噪性能提高的方向为增益值递增的方向。

在本发明的一个实施例中,测预设单元510具体用于:

随机抽取若干数量的标准耳机样本,通过人工方法调节标准耳机样本的增益值,获取每个标准耳机样本的降噪性能最优的增益值;

计算这些若干数量的标准耳机样本的降噪性能最优的增益值的平均值,将平均值作为预设的第一初始增益值;

以及,根据每个标准耳机样本的降噪性能最优的增益值,获取增益值分布范围作为预设的增益值调节范围。

图6为本发明另一个实施例提供的一种前馈主动降噪耳机的测试系统示意图。如图6所示,该前馈主动降噪耳机的测试系统600包括:预设单元610、测试单元620、判断单元630、烧录单元640、更新单元650和纪录单元660。其中,预设单元610、测试单元620、判断单元630、烧录单元640和图5所示的预设单元510、测试单元520、判断单元530、烧录单元540具有对应相同的功能,相同的部分在此不再赘述。

更新单元650,用于获取预定数量的判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值;计算这些预定数量的判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值的平均值,使用平均值更新预设的第一初始增益值;以及,根据每个判定为合格的待测耳机的降噪性能最优的增益值,获取增益值分布范围,并使用增益值分布范围更新预设的增益值调节范围。

记录单元660,用于当判决待测耳机不合格后,记录待测耳机的测试不良项目以及待测耳机的降噪性能最好时对应的降噪量和增益值。

需要说明的是,图5-图6所示系统的各实施例与图1所示方法的各实施例对应相同,上文已有详细说明,在此不再赘述。

综上所述,本发明通过预设增益值调节范围、第一初始增益值和第二初始增益值,对待测耳机的左、右耳机分别测试在第一初始增益值和第二初始增益值下的降噪性能,并向降噪性能提高的方向,依次进行测试,寻找满足左右耳机降噪性能一致性的降噪量,并将满足左右耳降噪性能一致性的最大降噪量对应的左耳机增益值和右耳机增益值分别对应烧录入待测耳机的左耳机和右耳机。可见,本发明依次修改增益值对耳机进行循环测试,寻找待测耳机降噪性能最优增益值,可自动高效地找到满足主动降噪耳机的降噪性能最优时的增益值,实现整个测试过程的自动化,保证每个合格的耳机均达到其本身最好的降噪性能,同时保证所有耳机的降噪水平一致,避免测试过程中人工干预,保证耳机的品质。

以上所述,仅为本发明的具体实施方式,在本发明的上述教导下,本领域技术人员可以在上述实施例的基础上进行其他的改进或变形。本领域技术人员应该明白,上述的具体描述只是更好的解释本发明的目的,本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

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