支持SISO和MIMO‑OTA的配置水平环的暗室的制作方法

本实用新型涉及电磁测试领域，具体而言，涉及一种支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室。

背景技术：

多输入多输出(即Multiple-Input Multiple-Output，缩写为MIMO)技术已经成为无线通信领域的关键技术，经过近几年的持续发展，MIMO技术被越来越多的应用于无线通讯系统，MIMO OTA(Over-The-Air，空口测试)测试采用多通道输入多通道输出的系统架构，利用了发送和接收天线之间的空间分集技术，由信号衰落和多径环境引起的多信号路径来增加数据吞吐量而无需额外的增加带宽，相比传统的单通道架构SISO(即single input single output)，其系统复杂度增加了许多。

SISO OTA测试与MIMO OTA测试的主要不同在于，在测试时，待测物发射或接收信号的工作模式不同，SISO OTA测试是单路轮询的方式发射或接收信号，而MIMO OTA测试是多天线以多个流的方式发射或接收信号。

通信行业的OTA测试，需要使用到微波暗室，用于屏蔽外界信号的干扰。标准测试要求暗室至少为4米以上的立方体或长方体结构，常规的办公楼很难满足条件，很多时候需要专门建造一座建筑物。建造一座暗室的费用在30万—100万之间。高昂的土地成本、暗室建造成本是制约新建实验室的一个因素。若分别建造SISO OTA测试与MIMO OTA测试用的微波暗室，那么成本将非常高。

针对相关技术中进行MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本较高的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本实用新型实施例提供了一种支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室，以至少解决相关技术中进行MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本较高的技术问题。

根据本实用新型实施例，提供了一种支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室，该暗室包括：暗室本体；设置在暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头和用于进行SISO OTA测试的第二探头；设置在暗室本体外的测试设备，测试设备通过通信线缆与第一探头和第二探头电连接；安装在暗室本体内的测试转台，测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象。

进一步地，暗室本体的内壁上形成有环形带，多个第一探头和第二探头安装在环形带上。

进一步地，环形带为水平设置在暗室本体的内壁上的环形带。

进一步地，环形带到暗室本体的顶部的垂直距离与环形带到暗室本体的底部的垂直距离相同。

进一步地，在环形带上，任意相邻的两个第一探头之间的距离为预设值，其中，第二探头安装在相邻的两个第一探头之间。

进一步地，测试转台包括：支撑件，支撑件用于固定待测对象；转动装置，与支撑件连接，用于驱动待测对象转动。

进一步地，转动装置包括：第一转动组件，与支撑件连接，第一转动组件用于在进行MIMO OTA测试的情况下，驱动待测对象在水平方向上转动；第二转动组件，与支撑件连接，第二转动组件用于在进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的情况下，驱动待测对象在竖直方向上转动。

进一步地，在支撑件上固定有待测对象的情况下，待测对象位于暗室的几何中心。

进一步地，测试设备包括：转台控制装置，与测试转台的转动装置连接，用于控制测试转台的转动模式；开关箱，与多个第一探头和第二探头连接，用于启动MIMO OTA测试或SISO OTA测试。

进一步地，测试设备还包括：射频箱，用于路径校准和测试链路的切换。

在本实用新型实施例中，暗室包括暗室本体；设置在暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头和用于进行SISO OTA测试的第二探头；设置在暗室本体外的测试设备，测试设备通过通信线缆与第一探头和第二探头电连接；安装在暗室本体内的测试转台，测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象，可通过同一暗室提供MIMO OTA测试和SISO OTA测试，MIMO OTA测试和SISO OTA测试可共用转台、测试设备等设备，从而解决了相关技术中进行MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本较高的技术问题,实现了降低MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本的技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1是根据本实用新型实施例的支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室的示意图；

图2是根据本实用新型实施例的可选的暗室的示意图；

图3是根据本实用新型实施例的可选的转台的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列电子元件或电气元件的系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些电子元件或电气元件，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些系统、产品或设备固有的其它电子元件或电气元件。

根据本实用新型实施例，提供了一种用于空口测试的微波暗室的实施例，图1是根据本实用新型实施例的支持SISO和MIMO-OTA的配置水平环的暗室的示意图，如图1所示，该暗室包括：暗室本体11；设置在暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头12和用于进行SISO OTA测试的第二探头13；设置在暗室本体外的测试设备14，测试设备通过通信线缆与第一探头和第二探头电连接；安装在暗室本体内的测试转台15，测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象。

需要说明的是，上述的MIMO-OTA也即MIMO OTA。

通过上述实施例，暗室包括暗室本体；设置在暗室本体内的多个用于进行MIMO OTA测试的第一探头和用于进行SISO OTA测试的第二探头；设置在暗室本体外的测试设备，测试设备通过通信线缆与第一探头和第二探头电连接；安装在暗室本体内的测试转台，测试转台用于固定进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的待测对象，可通过同一微波暗室提供MIMO OTA测试和SISO OTA测试，MIMO OTA测试和SISO OTA测试可共用转台、测试设备等设备，从而解决了相关技术中进行MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本较高的技术问题,实现了降低MIMO OTA测试和SISO OTA测试的成本的技术效果。

MIMO OTA测试是以多探头法为基础，通过将信道模拟器连接到一个多天线阵列,从而在被测物周围可重复地模拟产生出真实复杂的无线信道环境，并测量无线终端设备相关能力的测试。

SISO OTA测试目前主流方案包含多探头方案和单探头方案。多探头方案选择垂直环配置多个探头，进行测试。单探头方案则使用单一探头，配合3D转台旋转完成测试步骤，进行测试。

目前市场上常规的SISO和MIMO测试方案是在同一套暗室环境下采用水平环加垂直环的双环方案，水平环配置多探头完成MIMO多探头测试，垂直环采用多个探头完成SISO多探头测试，一方面可以通过基站与终端建立通信，实现无线终端设备的有源测试，测量总全向辐射功率、总全向辐射灵敏度等有源天线的性能测试能力；另一方面，通过探头，实现天线的无源测试，测量天线的方向图、增益、效率等性能测试指标。

在本申请的技术方案中，采用一个暗室即可实现SISO OTA和MIMO OTA测试，且无需同时设置垂直环加水平环，仅通过水平环上的探头即可实现SISO OTA和MIMO OTA测试。

在上述实施例中，暗室本体的内壁上形成有环形带，多个第一探头和第二探头安装在环形带上。

可选地，环形带为水平设置在暗室本体的内壁上的环形带。环形带到暗室本体的顶部的垂直距离与环形带到暗室本体的底部的垂直距离相同。

可选地，在环形带上，任意相邻的两个第一探头之间的距离为预设值，其中，第二探头安装在相邻的两个第一探头之间。

可选地，测试转台包括：支撑件，支撑件用于固定待测对象，在支撑件上固定有待测对象的情况下，待测对象位于微波暗室的几何中心；转动装置，与支撑件连接，用于驱动待测对象转动。

上述转动装置包括：第一转动组件，与支撑件连接，第一转动组件用于在进行MIMO OTA测试的情况下，驱动待测对象在水平方向上转动；第二转动组件，与支撑件连接，第二转动组件用于在进行MIMO OTA测试或SISO OTA测试的情况下，驱动待测对象在竖直方向上转动。

可选地，测试设备包括：转台控制装置，与测试转台的转动装置连接，用于控制测试转台的转动模式；开关箱，与多个第一探头和第二探头连接，用于启动MIMO OTA测试或SISO OTA测试。

下面结合附图2和图3详述本申请的实施例：

如图2所示，在一个OTA测试暗室环境下，布置水平环N+1探头的方案，测试天线环水平布置，处于暗室中间高度的位置，均匀分布的N个探头(即第一探头12)进行MIMO测试，指定的探头(即第二探头13)进行SISO单探头测试。

转台位于暗室底部中心，通过支撑件将被测物(即待测对象)置于暗室几何中心位置；如图3所示，为了实现完成SISO和MIMO共测试能力，转台需具备水平方向和垂直方向的双轴旋转能力。MIMO测试方案使用其中的水平轴301转动测试。

SISO OTA可采用上述环上的指定探头作为SISO测试的测量探头，该方案为单探头测试方案，转台与MIMO共用；SISO测试方案使用转台的水平轴301和垂直轴302转动进行测试。

在测试时，SISO OTA测试用的网络分析仪、无线通信综测仪与MIMO OTA测试共用；只需增加一个SISO OTA测试射频箱和一个开关箱即可。在软件方面，提供具备SISO OTA测试能力和MIMO OTA测试能力的软件。

如图2所示，MIMO天线环上有N+1个探头，其中N个天线(如8个或16个)均匀分布。采用额外单独的SISO测量探头，实现SISO的单探头法测量方案，这样MIMO与SISO就可共用一个环，但SISO OTA、MIMO OTA采用的探头并不交叉，可减少复用难度，降低系统耦合度。

SISO OTA测试和MIMO OTA测试的共用设备包括：

(1)无线通信综合测试仪：基站模拟单元，与终端通信，用于实现与信令交互，数据传输等功能；

(2)网络分析仪：用于路径校准和无源测试；

(3)转台：3D转台，可程控，用于调整终端的旋转角度，从分步轴过渡到组合轴系统。

(4)测量天线：选取天线环上任意一个探头作为测量天线，用于SISO OTA测试；

(5)通信天线：与无线通信综合测试仪连接，用于基站信号的发射与接收。

另外，在上述提供的设备的基础上，还需增加如下设备和软件：

(1)射频箱：用于路径校准和测试链路的切换；

(2)软件：具备SISO OTA的性能测试能力和MIMO OTA的性能测试能力；

(3)夹具：校准夹具，用于校准天线的摆放和安装，测试夹具，用于无线终端或待测天线的位置固定。

在上述实施例中，提供了一种用于MIMO OTA多探头测试方案与SISO OTA单探头测试方案共暗室测试的暗室，在暗室内MIMO水平环的基础上，利用环上指定探头(单探头法)来实现SISO OTA测试。相对于现有技术，该本申请在一个暗室内可以进行两种测试，在MIMO OTA测试系统基础上，搭建SISO OTA的单探头法测试系统，满足SISO测试对场地和测试方法的要求。利用该方案既解决了场地问题，又充分利用现有资源，降低了一个垂直环以及配套多探头、线缆等附件的配置，节省成本。证明此方案可行。

上述本实用新型实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本实用新型的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

本实用新型所要保护的暗室以及构成该暗室的各个组件都是一种具有确定形状、构造且占据一定空间的实体产品。例如，暗室本体、测试转台、测量天线等都是可以独立运行的、具有具体硬件结构的设备、终端或服务器。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。