终端的测试装置的制作方法

本公开涉及终端技术，特别涉及一种终端的测试装置。

背景技术：

随着用户需求的不断提升，以及，移动互联网的兴起，终端成为用户生活中必不可少的日常工具。用户可以使用终端拨打电话、发送短信、上网、拍照、定位等。

目前，终端生产商在将所生产的终端出厂之前，都会投入很多的测试人员对终端的功能进行测试，以确保出厂的终端功能正常。例如：在测试终端的客户识别模块(subscriberidentificationmodule，sim)卡功能时，测试人员需要将sim卡安装在终端的卡托上，然后将sim卡托插入终端的卡槽，以测试终端的sim卡功能是否正常。当终端设置的是采用取卡针取卡的卡托时，测试人员在测试完终端的sim卡功能之后，还需要借助取卡针将sim卡从终端中取出，使得测试效率较低，测试成本较高。

技术实现要素：

为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种终端的测试装置。技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种终端的测试装置，包括：印刷电路板pcb，设置在所述pcb上的第一卡托、用于安装客户识别模块sim卡的至少一个第一卡座；其中，

所述第一卡托与所述至少一个第一卡座电连接，所述第一卡托上设置有至少一个第一电连接端，在所述第一卡托插入终端的卡槽时，所述终端通过所述至少一个第一电连接端，读取安装在每个所述第一卡座上的sim卡。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过测试装置上的第一卡托和第一卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部sim卡卡座上用于读取sim卡的pin针引至终端的外部，以使得测试人员将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中时，可以模拟在终端的卡槽中插入sim卡的场景，从而可以对终端的sim卡功能进行测试。由于测试人员在完成终端的sim功能的测试后，可以直接将测试装置从终端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能够提高测试终端的sim卡功能的测试效率，进而能够提高测试成本提高了测试效率，进而能够减少测试时间，降低测试成本。进一步地，当测试人员在使用上述测试装置，对同一型号的多个终端的sim卡功能进行测试时，测试人员只需要将上述测试装置分别插入每个终端的卡槽即可，不需要对每个终端进行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高测试效率，进一步地降低了测试成本。

可选的，每个所述第一卡座设置有至少一个第一测试点。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：在将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽时，可以通过检测测试装置上的第一卡座上的第一测试点，来确定终端卡槽中sim卡座的pin针是否损坏，提高检测终端卡槽中的sim卡卡座的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

可选的，所述卡槽为sim卡和快闪存储tf卡共用的卡槽，所述测试装置还包括：设置在所述pcb上用于安装tf卡的第二卡座；

所述第一卡托与所述第二卡座电连接，所述第一卡托上设置有第二电连接端，在所述第一卡托插入所述卡槽时，所述终端通过所述第二电连接端，读取安装在所述第二卡座上的tf卡。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过测试装置上的第一卡托和第二卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部集成卡座上用于读取tf卡的pin针引至终端的外部，以使得测试人员将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中时，可以模拟在终端的卡槽中插入tf卡的场景，从而可以对终端的tf功能进行测试。由于测试人员在完成终端的tf功能的测试后，可以直接将测试装置从终端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能够提高测试终端的tf功能的测试效率，进而能够提高测试成本提高了测试效率，进而能够减少测试时间，降低测试成本。进一步地，当测试人员在使用上述测试装置，对同一型号的多个终端的tf功能进行测试时，测试人员只需要将上述测试装置分别插入每个终端的卡槽即可，不需要对每个终端进行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高测试效率，进一步地降低了测试成本。

可选的，所述第二卡座设置有至少一个第二测试点。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：在将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽时，可以通过检测测试装置上的第二卡座上的第二测试点，来确定终端卡槽中卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏，提高检测终端卡槽中的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

可选的，所述装置还包括：设置在所述pcb上的通用串行总线usb接口、otg模块、用于安装快闪存储tf卡的第三卡座；

所述otg模块分别与所述usb接口和所述第三卡座电连接，在所述usb接口插入所述终端的usb接口时，所述otg模块根据所述终端的读写指令，向安装在所述第三卡座上的tf卡执行读写操作。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过测试装置上的usb接口、otg模块和第三卡座，可以使测试人员将测试装置的usb接口插入终端的接口后，即可对终端的otg功能进行测试，不需要再单独准备otg转接线和otg工具，提高了测试效率，减少了测试时间，进而降低了测试成本。

可选的，所述装置还包括：设置在所述pcb上的指示灯，所述指示灯与所述otg模块电连接。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过设置指示灯，可以在终端的otg功能测试不合格时，通过指示灯是否点亮判断otg功能不合格的原因是否由于未能向tf卡供电所导致的，进一步提高了测试效率。

可选的，设置在所述pcb上的usb接口为usb公口。

可选的，所述pcb上的usb接口设置有至少一个第三测试点。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：在将测试装置的usb接口插入终端的usb接口时，可以通过检测测试装置上的usb接口上的第三测试点，来确定终端的usb接口的pin针是否损坏，提高检测终端的usb接口的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

可选的，在所述终端的卡槽为两个sim卡共用的卡槽时，所述pcb上设置有两个第一卡座；

所述第一卡托与所述两个第一卡座电连接，所述第一卡托上设置有两个第一电连接端，在所述第一卡托插入终端的卡槽时，所述终端通过所述两个第一电连接端，读取安装在所述两个第一卡座上的sim卡。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置的结构示意图；

图2是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置第一面的结构示意图；

图3是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置第二面的结构示意图；

图4是根据一示例性实施例示出的一种第一卡座sim1的电路示意图；

图5是根据一示例性实施例示出的一种第一卡座sim2的电路示意图；

图6是根据一示例性实施例示出的一种第一卡托j1的的电路示意图；

图7是根据一示例性实施例示出的一种第二卡座j3的电路示意图；

图8是根据一示例性实施例示出的一种第三卡座j2的电路示意图；

图9是根据一示例性实施例示出的一种usb接口j4的电路示意图；

图10是根据一示例性实施例示出的一种otg模块u1的电路示意图；

图11是根据一示例性实施例示出的一种指示灯d1的电路示意图。

通过上述附图，已示出本公开明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

下面以具体地实施例对本公开的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

图1是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置的结构示意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置第一面的结构示意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种终端的测试装置第一面的结构示意图。当第一面为终端的测试装置的正面时，第二面即为终端的测试装置的背面，当第一面为终端的测试装置的背面时，第二面即为终端的测试装置的正面。

如图1至图3所示，该终端的测试装置(简称：测试装置)包括：印刷电路板(printedcircuitboard，pcb)，设置在pcb上的、且与终端的卡槽适配的第一卡托、用于安装sim卡的至少一个第一卡座。

其中，第一卡托与至少一个第一卡座电连接，第一卡托上设置有至少一个第一电连接端，在第一卡托插入终端的卡槽时，终端通过至少一个第一电连接端，读取安装在每个第一卡座上的sim卡。

在本实施例中，上述测试装置可以用于测试终端的sim卡功能。其中，第一电连接端的结构具体可以根据卡槽中sim卡卡座的pin针的排列方式确定。第一电连接端在第一卡托上的位置具体可以根据卡槽中sim卡卡座的pin针在卡槽中的位置确定。第一电连接端的数量，以及第一卡座的数量，具体可以根据卡槽中sim卡卡座的数量确定。在本实施例中，第一卡座与卡槽中sim卡卡座的结构可以一致。

例如，当终端的卡槽中只有一个sim卡卡座时，上述测试装置的pcb上可以设置有一个第一卡座。该第一卡座可以与第一卡托电连接。相应地，上述第一卡托上可以设置有一个与该sim卡卡座的pin针适配的第一电连接端。在第一卡托插入终端的卡槽时，该sim卡卡座的pin针通过该第一电连接端与第一卡座电连接。因此，终端可以读取安装在该第一卡座上的sim卡。此时，第一卡座上安装的sim卡具体可以根据卡槽中的sim卡卡座支持的sim卡确定。示例性的，在卡槽中的sim卡卡座支持微型(micro)sim卡时，第一卡座上安装的是microsim卡。在卡槽中的sim卡卡座支持纳米技术(nano)sim卡时，第一卡座上安装的是nanosim卡。

当终端的卡槽中具有两个sim卡卡座时，即终端的卡槽为两个sim卡共用的卡槽时，上述测试装置的pcb上可以设置有两个第一卡座。该两个第一卡座均可以与第一卡托电连接。其中，第一卡托上可以设置有两个第一电连接端，每个第一电连接端对应一个第一卡座、且每个第一电连接端与卡槽中一个sim卡卡座的pin针对应。即，终端的卡槽中某一sim卡卡座的pin针通过与其对应的第一电连接端，与其对应的第一卡座电连接。

相应地，每个第一卡座上安装的sim卡可以根据卡槽中该位置的sim卡卡座的所允许安装的sim卡确定。示例性的，以终端的卡槽中具有两个sim卡卡座，分别为sim卡卡座1和sim卡卡座2，其中，sim卡卡座1允许插入sim卡1，sim卡卡座2允许插入sim卡2为例，测试装置的pcb上设置有第一卡座1和第一卡座2，其中，第一卡托上设置有第一电连接端1和第一电连接端2。第一电连接端1与卡槽中sim卡卡座1的pin针对应，用于将sim卡卡座1的pin针与第一卡座1电连通，第一电连接端2与卡槽中sim卡卡座2的pin针对应，用于将sim卡卡座2的pin针与第一卡座2连通。即，终端的卡槽中sim卡卡座1的pin针通过与其对应的第一电连接端1，与第一卡座1电连接，终端的卡槽中sim卡卡座2的pin针通过与其对应的第一电连接端2，与第一卡座2电连接。因此，上述第一卡座1对应sim卡1、第一卡座2对应sim卡2。

在该场景下，当sim卡1和sim卡2均为microsim卡时，第一卡座1和第一卡座2上安装的均是microsim卡。当sim卡1为microsim卡、sim卡2为nanosim时，第一卡座1上安装的是microsim卡、第一卡座2上安装的是nanosim卡。当sim卡1为nanosim卡、sim卡2为microsim时，第一卡座1上安装的是nanosim卡、第一卡座2上安装的是microsim卡。

这样，在第一卡托插入终端的卡槽时，终端可以通过两个第一电连接端，读取安装在两个第一卡座上的sim卡。即，终端通过每个第一电连接端，读取安装在该第一电连接端对应的第一卡座上的sim卡。

也就是说，上述测试装置通过第一卡托和第一卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部sim卡卡座上用于读取sim卡的pin针引至终端的外部。因此，在本实施例中，测试人员在测试终端的sim卡功能时，测试人员可以根据终端的卡槽中每个位置所允许安装的sim卡，确定与该位置对应的第一卡座上适配的sim卡，并在该第一卡座上安装该适配的sim卡。同时，测试人员可以将待测试的终端的原装卡托从卡槽中取出，并将上述测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中，以模拟在终端的卡槽中插入sim卡的场景。

然后，测试人员可以在终端上运行用于测试sim卡功能的测试软件，以测试终端的sim卡功能是否正常。例如：测试人员可以通过终端是否可以读取sim卡，确定终端的sim卡功能是否正常。测试人员还可以通过终端是否可以通过sim卡连入相应的运营商网络，确定终端的sim卡功能是否正常等，具体可以根据测试人员所使用的测试软件确定，本实施例对此不进行限定。

在完成sim卡功能的测试后，测试人员可以不需要借助任何的工具(例如：取卡针等)，将上述测试装置直接从终端的卡槽中拔出，提高了测试效率，减少了测试时间，进而降低了测试成本。进一步地，当测试人员在使用上述测试装置，对同一型号的多个终端的sim卡功能进行测试时，测试人员只需要将上述测试装置分别插入每个终端的卡槽即可，不需要对每个终端进行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高测试效率，进一步地降低了测试成本。

本公开提供的终端的测试装置，通过测试装置上的第一卡托和第一卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部sim卡卡座上用于读取sim卡的pin针引至终端的外部，以使得测试人员将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中时，可以模拟在终端的卡槽中插入sim卡的场景，从而可以对终端的sim卡功能进行测试。由于测试人员在完成终端的sim功能的测试后，可以直接将测试装置从终端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能够提高测试终端的sim卡功能的测试效率，进而能够提高测试成本提高了测试效率，进而能够减少测试时间，降低测试成本。

继续参照图2和图3，当终端的卡槽为两个sim卡共用的卡槽时，即终端的卡槽中具有两个sim卡卡座(以sim卡卡座1和sim卡卡座2为例)时，上述测试装置的pcb上可以设置有两个第一卡座。以第一卡座sim1和第一卡座sim2为例，第一卡座sim1和第一卡座sim2均可以与第一卡托j1电连接。其中，第一卡托j1上设置有两个第一电连接端，分别为第一电连接端1、第一电连接端2。第一电连接端1与第一卡座sim1对应、且第一电连接端1与sim卡卡座1的pin针对应。即，sim卡卡座1的pin针通过与第一电连接端1，与第一卡座1电连接。第一电连接端2与第一卡座sim2对应、且第一电连接端2与sim卡卡座2的pin针对应。即，sim卡卡座2的pin针通过与第一电连接端2，与第一卡座2电连接。通过这种方式，可以将终端的卡槽的内部sim卡卡座上用于读取sim卡的pin针引至终端的外部。

相应地，第一卡座sim1上安装的sim卡可以根据sim卡卡座1的所允许安装的sim卡确定，第一卡座sim2上安装的sim卡可以根据sim卡卡座2的所允许安装的sim卡确定。本示例以sim卡1为microsim卡、sim卡2为nanosim为例，即在该场景下，第一卡座sim1上安装的是microsim卡、第一卡座sim2上安装的是nanosim卡。

图4是根据一示例性实施例示出的一种第一卡座sim1的电路示意图。图5是根据一示例性实施例示出的一种第一卡座sim2的电路示意图。图6是根据一示例性实施例示出的一种第一卡托j1的的电路示意图。如图4至图6所示，当第一卡座sim1用于安装microsim卡时，第一卡座sim1的电路图可以如图4所示。当第一卡座sim2用于安装nanosim卡时，第一卡座sim2的电路图可以如图5所示。在该场景下，第一卡托j1的电路图可以如图6所示。

其中，图4与图6中引脚标签相同的引脚电连接。具体地，sim1的引脚1和2与j1的引脚5电连接，sim1的引脚3和4与j1的引脚6电连接，sim1的引脚5和6与j1的引脚7电连接，sim1的引脚9与j1的引脚1电连接。sim1的引脚10与j1的引脚2电连接，sim1的引脚11与j1的引脚3电连接。

图5与图6中引脚标签相同的引脚具有电连接关系。具体地，sim2的引脚1和2与j1的引脚19电连接，sim2的引脚3和4与j1的引脚18电连接，sim2的引脚5和6与j1的引脚17电连接，sim2的引脚9与j1的引脚24电连接，sim2的引脚10与j1的引脚23电连接，sim2的引脚11与j1的引脚22电连接。

继续参照图1至图3，进一步地，在上述实施例的基础上，上述每个第一卡座上还可以设置有至少一个第一测试点，该至少一个第一测试点与该卡座对应的sim卡卡座的pin针一一对应。也就是说，sim卡卡座有几个pin针，就有几个第一测试点。这样，在第一卡托插入终端的卡槽时，终端的卡槽中的sim卡卡座的pin针通过其对应的第一电连接端，与其对应的第一卡座电连接，并与该第一卡座上的至少一个第一测试点连通。因此，通过该至少一个第一测试点，可以测试卡槽中与该第一卡座电连接的sim卡卡座的pin针是否损坏(例如：塌陷或折损)。

继续以测试装置包括第一卡座sim1和第一卡座sim2为例，当上述第一卡座sim1的电路图如图4所示时，说明第一卡座sim1对应的卡槽中的sim卡卡座1的电路图也如图4所示。因此，上述第一卡座sim1的至少一个第一测试点可以如图2所示。即sim卡卡座的每个引脚(即pin针)对应一个第一测试点。当上述第一卡座sim2的电路图如图5所示时，说明第一卡座sim2对应的卡槽中的sim卡卡座2的电路图也如图5所示。因此，上述第一卡座sim2的至少一个第一测试点可以如图2所示。即sim卡卡座的每个引脚(即pin针)对应一个第一测试点。

其中，本实施例不限定测试人员通过第一测试点测试sim卡卡座的pin针是否损坏的方式。例如，测试人员可以在终端关机时，使用万用表检测每个第一测试点对地电阻值。然后，测试人员可以根据每个第一测试点对地电阻值与该第一测试点的标准取值的差值，来判定每个第一测试点对应的sim卡卡座的pin针是否损坏。当某一第一测试点对应的差值大于第一测试点对应的预设阈值时，或者，无法检测到某一第一测试点对地电阻值时，可以确定该第一测试点对应的sim卡卡座的pin针损坏。上述所说的每个第一测试点的标准取值可以为同型号的终端的sim卡卡座的pin针在未损坏时，测试人员在该第一测试点检测到的有效电阻值。其中，上述预设阈值可以根据终端的型号确定。

与相关技术中，测试人员需要将终端拆卸打开，以从终端的主板上取下终端的sim卡座后，再检测sim卡座的pin针对地电阻值与标准取值的差值，来判定卡槽中sim卡座的pin针是否损坏相比，本实施例的方法，可以提高检测终端卡槽中的sim卡卡座的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。进一步地，通过在终端关机状态下测试终端卡槽中sim卡卡座pin针的方式，能够避免在检测pin针过程中，因pin针损坏导致短路，烧毁终端主板的情况。

本公开提供的终端的测试装置，在将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽时，可以通过检测测试装置上的第一卡座上的第一测试点，来确定终端卡槽中sim卡座的pin针是否损坏，提高检测终端卡槽中的sim卡卡座的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

终端生产商在将所生产的终端出厂之前，还会测试终端的快闪存储(trans-flash，tf)功能是否正常。相关技术中，在终端的sim卡和tf卡共用同一卡槽时，测试人员需要在测试完sim卡功能之后，从卡槽中将sim卡取出。然后，测试人员再在原装卡托上装上tf卡，并将卡托插入终端的卡槽，以测试终端的tf功能是否正常。当终端设置的是采用取卡针取卡的卡托时，测试人员在测试完终端的tf功能之后，还需要借助取卡针将tf卡从终端中取出，使得测试效率较低，测试成本较高。

继续参照图2和图3，当终端的卡槽为sim卡和tf卡共用的卡槽时，即上述终端的卡槽中存在一个集成卡座，该集成卡座可以插sim卡也可以插tf卡时，上述测试装置还可以包括：设置在pcb上用于安装tf卡的第二卡座。其中，第一卡托与第二卡座电连接，第一卡托上设置有第二电连接端，在第一卡托插入卡槽时，终端通过第二电连接端，读取安装在第二卡座上的tf卡。其中，上述集成卡座不能同时插入sim卡和tf卡。在上述集成卡座插入sim卡时，该集成卡座用于读取sim卡的pin针与第一卡座对应，在上述集成卡座插入tf卡时，该集成卡座用于读取tf卡的pin针与第二卡座对应。

在本实施例中，上述测试装置还可以用于测试终端的tf功能。其中，第二电连接端的结构具体可以根据卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针的排列方式确定。第二电连接端在第一卡托上的位置具体可以根据卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针在卡槽中的位置确定。

也就是说，上述测试装置通过第一卡托和第二卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部集成卡座用于读取tf卡的pin针引至终端的外部。因此，在本实施例中，测试人员在测试终端的tf功能时，测试人员可以在第二卡座上安装tf卡。同时，测试人员可以将待测试的终端的原装卡托从卡槽中取出，并将上述测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中，以模拟在终端的卡槽中插入tf卡的场景。

然后，测试人员可以在终端上运行用于测试tf卡功能的测试软件，以测试终端的tf功能是否正常。例如：测试人员可以通过终端是否可以读取tf卡，确定终端的tf功能是否正常等，具体可以根据测试人员所使用的测试软件确定，本实施例对此不进行限定。

在完成tf功能的测试后，测试人员可以不需要借助任何的工具(例如：取卡针等)，将上述测试装置直接从终端的卡槽中拔出，提高了测试效率，减少了测试时间，进而降低了测试成本。进一步地，当测试人员在使用上述测试装置，对同一型号的多个终端的tf功能进行测试时，测试人员只需要将上述测试装置分别插入每个终端的卡槽即可，不需要对每个终端进行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高测试效率，进一步地降低了测试成本。

本公开提供的终端的测试装置，通过测试装置上的第一卡托和第二卡座，可以将待测试终端的卡槽的内部集成卡座上用于读取tf卡的pin针引至终端的外部，以使得测试人员将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽中时，可以模拟在终端的卡槽中插入tf卡的场景，从而可以对终端的tf功能进行测试。由于测试人员在完成终端的tf功能的测试后，可以直接将测试装置从终端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能够提高测试终端的tf功能的测试效率，进而能够提高测试成本提高了测试效率，进而能够减少测试时间，降低测试成本。

继续参照图2和图3，以第二卡座j3和第一卡托j1为例，第一卡托j1与第二卡座j3电连接，第一卡托j1上设置有第二电连接端，在第一卡托j1插入卡槽时，终端通过第二电连接端，读取安装在第二卡座j3上的tf卡。通过这种方式，可以将待测试终端的卡槽的内部集成卡座用于读取tf卡的pin针引至终端的外部。

图7是根据一示例性实施例示出的一种第二卡座j3的电路示意图。如图6至图7所示，上述第二卡座j3的电路图可以如图7所示。其中，图6与图7中引脚标签相同的引脚电连接。具体地，tf的引脚1与j1的引脚16电连接，tf的引脚2与j1的引脚15电连接，tf的引脚3与j1的引脚14电连接，tf的引脚4与j1的引脚13电连接，tf的引脚6与j1的引脚12电连接，tf的引脚7与j1的引脚11电连接，tf的引脚8与j1的引脚10电连接，tf的引脚9与j1的引脚9电连接。

继续参照图2至图3，进一步地，在上述实施例的基础上，上述第二卡座上还可以设置有至少一个第二测试点，该至少一个第二测试点与卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针一一对应。也就是说，集成卡座有几个用于读取tf卡的pin针，就有几个第二测试点。这样，在第一卡托插入终端的卡槽时，终端的卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针通过其对应的第二电连接端，与第二卡座电连接，并与第二卡座上的至少一个第二测试点连通。因此，通过该至少一个第二测试点，可以测试卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏(例如：塌陷或折损)。

继续以测试装置包括第二卡座j3为例，当上述第二卡座j3的电路图如图7所示时，说明第二卡座j3对应的卡槽中的集成卡座用于读取tf卡的电路图也如图7所示。因此，上述第二卡座j3的至少一个第二测试点可以如图2所示。即集成卡座用于读取tf卡的每个引脚(即pin针)对应一个第二测试点。

其中，本实施例不限定测试人员通过第二测试点测试集成卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏的方式。例如，测试人员可以在终端关机时，使用万用表检测每个第二测试点对地电阻值。然后，测试人员可以根据每个第二测试点对地电阻值与该第二测试点的标准取值的差值，来判定每个第二测试点对应的集成卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏。当某一第二测试点对应的差值大于第二测试点对应的预设阈值时，或者，无法检测到某一第二测试点对地电阻值时，可以确定该第二测试点对应的集成卡座用于读取tf卡的pin针损坏。上述所说的每个第二测试点的标准取值可以为同型号的终端的集成卡座用于读取tf卡的pin针在未损坏时，测试人员在该第二测试点检测到的有效电阻值。其中，上述预设阈值可以根据终端的型号确定。

与相关技术中，测试人员需要将终端拆卸打开，以从终端的主板上取下终端的集成卡座后，再检测集成卡座用于读取tf卡的pin针对地电阻值与标准取值的差值，来判定卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏相比，本实施例的方法，可以提高检测终端卡槽中的集成卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。进一步地，通过在终端关机状态下测试终端卡槽中集成卡座用于读取tf卡的pin针的方式，能够避免在检测pin针过程中，因pin针损坏导致短路，烧毁终端主板的情况。

本公开提供的终端的测试装置，在将测试装置的第一卡托插入终端的卡槽时，可以通过检测测试装置上的第二卡座上的第二测试点，来确定终端卡槽中卡座用于读取tf卡的pin针是否损坏，提高检测终端卡槽中的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

终端生产商在将所生产的终端出厂之前，还会测试终端的otg(on-the-go)功能是否正常。相关技术中，在测试终端的otg功能时，测试人员需要使用otg转接线将otg工具(例如：鼠标、键盘等)与终端的通用串行总线(universalserialbus，usb)接口连接，以测试终端的otg功能是否正常。

继续参照图2和图3，上述测试装置还可以包括：设置在pcb上的usb接口、otg模块、用于安装tf卡的第三卡座；其中，otg模块分别与usb接口和第三卡座电连接，在usb接口插入终端的usb接口时，otg模块根据终端的读写指令，向安装在第三卡座上的tf卡执行读写操作。其中，上述测试装置的usb接口为与终端的usb接口适配的接口，例如，当终端的usb接口为microusb接口时，上述测试装置的usb接口也为microusb接口。可选的，当终端的usb接口为公口时，上述测试装置的usb接口可以为母口，当终端的usb接口为母口时，上述测试装置的usb接口可以为公口。

在本实施例中，上述测试装置还可以用于测试终端的otg功能。具体地，测试人员在测试终端的otg功能时，测试人员可以在第三卡座上安装tf卡。同时，测试人员可以将测试装置的usb接口插入终端的usb接口。然后，测试人员可以在终端上运行用于测试otg功能的测试软件，以测试终端的otg功能是否正常。例如：测试人员可以通过终端是否可以读取第三卡座上的tf卡中的数据，或者是否可以向第三卡座上的tf卡写入数据，确定终端的otg功能是否正常等，具体可以根据测试人员所使用的测试软件确定，本实施例对此不进行限定。

通过上述测试装置测试终端的otg功能时，测试人员可以不需要再单独准备otg转接线和otg工具，提高了测试效率，减少了测试时间，进而降低了测试成本。进一步地，当测试人员在使用上述测试装置，对同一型号的多个终端的otg功能进行测试时，测试人员只需要将上述测试装置分别插入每个终端的usb接口即可，可以大幅度的提高测试效率，进一步地降低了测试成本。

可选的，上述终端还可以通过测试装置的otg模块，向第三卡座上的tf卡供电，以使得tf可以正常工作。则在上述实施例的基础上，上述测试装置还可以包括设置在pcb上的指示灯，指示灯与otg模块电连接。在终端通过测试装置的otg模块，向第三卡座上的tf卡正常供电时，指示灯会发光。因此，测试人员可以通过指示灯是否点亮，来判断终端是否向第三卡座上的tf卡正常供电。通过这种方式，可以在终端的otg功能测试不合格时，判断otg功能不合格的原因是否由于未能向tf卡供电所导致的，进一步提高了测试效率。其中，上述指示灯可以为任一能够发光的指示灯，例如：二极管等。

本公开提供的终端的测试装置，通过测试装置上的usb接口、otg模块和第三卡座，可以使测试人员将测试装置的usb接口插入终端的接口后，即可对终端的otg功能进行测试，不需要再单独准备otg转接线和otg工具，提高了测试效率，减少了测试时间，进而降低了测试成本。

继续参照图2，以第三卡座j2、usb接口j4、otg模块u1为例，otg模块u1分别与usb接口j4和第三卡座j2电连接，在usb接口j4插入终端的usb接口时，otg模块u1根据终端的读写指令，向安装在第三卡座j2上的tf卡执行读写操作。

图8是根据一示例性实施例示出的一种第三卡座j2的电路示意图。图9是根据一示例性实施例示出的一种usb接口j4的电路示意图。图10是根据一示例性实施例示出的一种otg模块u1的电路示意图。图11是根据一示例性实施例示出的一种指示灯d1的电路示意图。如图8至图11所示，上述第三卡座j2的电路图可以如图8所示。上述usb接口j4的电路图可以如图9所示。上述otg模块u1的电路图可以如图10所示。当上述指示灯d1为二极管时，上述指示灯d1的电路图可以如图11所示。

其中，图8与图10中引脚标签相同的引脚电连接。具体地，j2的引脚1与u1的引脚19电连接，j2的引脚2与u1的引脚18电连接，j2的引脚3与u1的引脚17电连接，j2的引脚5与u1的引脚13电连接，j2的引脚7与u1的引脚12电连接，j2的引脚8与u1的引脚11电连接，j2的引脚9与u1的引脚9电连接。图9与图10中引脚标签相同的引脚电连接。具体地，j4的引脚3与u1的引脚4电连接，j4的引脚4与u1的引脚3电连接。图11与图10中引脚标签相同的引脚电连接。具体地，d1可以与u1的引脚20电连接。

继续参照图2，进一步地，在上述实施例的基础上，上述pcb上的usb接口设置有至少一个第三测试点，该至少一个第三测试点与终端的usb接口中的pin针一一对应。也就是说，终端的usb接口有几个pin针，就有几个第三测试点。这样，在测试装置的usb接口插入终端的usb接口时，终端的usb接口中的pin针与测试装置的usb接口电连接，并与usb接口的至少一个第三测试点连通。因此，通过该至少一个第三测试点，可以测试终端的usb接口的pin针是否损坏(例如：塌陷或折损)。

继续以测试装置包括usb接口j4为例，当上述usb接口j4的电路图如图9所示时，说明usb接口j4对应的终端的usb接口的电路图也如图9所示。因此，上述usb接口j4的至少一个第三测试点可以如图2所示。即终端的usb接口的每个引脚(即pin针)对应一个第三测试点。

其中，本实施例不限定测试人员通过第三测试点测试终端的usb接口的pin针是否损坏的方式。例如，测试人员可以在终端关机时，使用万用表检测每个第三测试点对地电阻值。然后，测试人员可以根据每个第三测试点对地电阻值与该第三测试点的标准取值的差值，来判定每个第三测试点对应的终端的usb接口的pin针是否损坏。当某一第三测试点对应的差值大于第三测试点对应的预设阈值时，或者，无法检测到某一第三测试点对地电阻值时，可以确定该第三测试点对应的终端的usb接口的pin针损坏。上述所说的每个第三测试点的标准取值可以为同型号的终端的usb接口的pin针在未损坏时，测试人员在该第三测试点检测到的有效电阻值。其中，上述预设阈值可以根据终端的型号确定。

与相关技术中，测试人员需要将终端拆卸打开，以从终端的主板上取下终端的终端的usb接口后，再检测终端的usb接口的pin针对地电阻值与标准取值的差值，来判定终端的usb接口的pin针是否损坏相比，本实施例的方法，可以提高检测终端的usb接口的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。进一步地，通过在终端关机状态下测试终端的usb接口的pin针的方式，能够避免在检测pin针过程中，因pin针损坏导致短路，烧毁终端主板的情况。

本公开提供的终端的测试装置，在将测试装置的usb接口插入终端的usb接口时，可以通过检测测试装置上的usb接口上的第三测试点，来确定终端的usb接口的pin针是否损坏，提高检测终端的usb接口的pin针是否损坏的效率，进一步地减少了测试时间，降低了测试成本。

需要说明的是，本申请图2和图3所提供的的测试装置仅是一种示意，本申请在具体实现时，测试装置的结构以及各个部件在pcb上的布局并以为限。但是，在采用图2和图3所示的结构时，测试装置的结构较小，成本较低。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求书来限制。