一种电子元器件测试系统的制作方法

本实用新型涉及一种电子元器件测试系统。

背景技术：

电子元器件咪头只要用作传声器件，广泛用于电子产品中，咪头呈圆柱形，引脚在一侧的端面上，引脚为两个，性能测试时，探针接触两个引脚即可。现有对于电子元器件咪头的测试时有通过人工测试，人工测试存在效率低。也有通过测试设备对于电子元器件咪头进行测试，但由于不同的咪头其大小不同，要求探针之间的距离也不同。现有的测试设备其探针的距离固定，因此针对不同大小的咪头需要不同探针距离的设备进行测试，从而提高测试成本。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种电子元器件测试系统，其结构简单，使用方便，能够测试不同型号的咪头电子元器件，且测试准确性高。

为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是：

一种电子元器件测试系统，包括底座，所述底座上开设有存储滑槽，所述存储滑槽内安装有电子元器件存储板，所述电子元器件存储板上开设有电子元器件存储凹槽；所述底座上安装有支撑架，所述支撑架上安装有气缸，所述气缸与气缸推杆相连，所述气缸推杆与检测底板相连，所述检测底板上开设有调节滑槽，所述调节滑槽内分别安装有第一滑块、第二滑块、第三滑块，所述第一滑块与第一测针相连，所述第二滑块与第二测针相连，所述第三滑块与第三测针相连，所述第一滑块与第二滑块之间的调节滑槽内安装有第一限位块，所述第二滑块与第三滑块之间的调节滑槽内安装有第二限位块，所述第三滑块与第一滑块之间的调节滑槽内安装有第三限位块。

所述支撑架下端安装有红外线计算器。

所述电子元器件存储凹槽内安装有缓冲垫。

所述支撑架上端安装有LED灯。

本实用新型的有益效果是：一种电子元器件测试系统，其结构简单，使用方便，能够测试不同型号的咪头电子元器件，且测试准确性高。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为检测底板的结构示意图。

具体实施方式

实施例1

如图1、图2所示一种电子元器件测试系统，包括底座1，所述底座1上开设有存储滑槽2，所述存储滑槽2内安装有电子元器件存储板3，所述电子元器件存储板3上开设有电子元器件存储凹槽4；所述底座1上安装有支撑架11，所述支撑架11上安装有气缸12，所述气缸12与气缸推杆13相连，所述气缸推杆13与检测底板14相连，所述检测底板14上开设有调节滑槽15，所述调节滑槽15内分别安装有第一滑块21、第二滑块22、第三滑块23，所述第一滑块21与第一测针24相连，所述第二滑块22与第二测针25相连，所述第三滑块23与第三测针26相连，所述第一滑块21与第二滑块22之间的调节滑槽15内安装有第一限位块27，所述第二滑块22与第三滑块 23之间的调节滑槽15内安装有第二限位块28，所述第三滑块23与第一滑块21之间的调节滑槽15内安装有第三限位块29。

电子元器件存储凹槽4内可存放电子元器件咪头，在检测时可手动推动电子元器件存储板3在存储滑槽2内滑动，使电子元器件存储板3内的每个电子元器件存储凹槽4内存放的电子元器件咪头通过测试。第一测针25、第二测针26和第三测针27均与测试电路相连，第一测针25、第二测针26和第三测针27其中两根测针与引脚接触，通过测试电路即可完成测试，从而有效提高检测准确性。由于第一滑块21、第二滑块22和第三滑块23能够调节滑槽15内滑动，因此能够调节第一测针25、第二测针26和第三测针27之间的距离，从而适合测试不同大小的咪头。

所述支撑架11下端安装有红外线计算器16。红外线计算器16 的设置能够统计测试数量。

所述电子元器件存储凹槽4内安装有缓冲垫5。缓冲垫5的设置避免测针下落时对咪头的检测压力损伤咪头。

所述支撑架11上端安装有LED灯17。

本实施例的一种电子元器件测试系统，其结构简单，使用方便，能够测试不同型号的咪头电子元器件，且测试准确性高。