射频测试头的制作方法

文档序号:26135283发布日期:2021-08-03 13:22阅读:285来源:国知局
射频测试头的制作方法

本实用新型涉及射频技术领域,具体的是射频测试头。



背景技术:

射频简称rf,是具有远距离传输能力的高频电磁波在无线通信领域中被广泛使用。鉴于无线通信系运行于电磁环境中,因此在产品或系统进入市场之前,必须对其进行射频测试。

为了更有效和更准确的进行测试,改善测试射频头的测试运行过程的运动传导部分方式是业界的主要研发方向。现有技术提出过如图1所示的改进方案:将射频测试头中的绝缘体分成三个相互独立的部分,第一绝缘体12’和第二绝缘体13’固定在外壳11’内,针管14’具有安插在第一绝缘体12’内的安插部和安插在第二绝缘体13’的容置部;针轴16’的一端位于容置部内,另一端从容置部内探出;第一弹簧15’安装在针轴16’与容置部之间;接触头19’固定在外壳11的一端,第三绝缘体17’位于接触头19’内,针轴16’从容置部内探出的一端位于第三绝缘体17’内。上述改进方案通过对于绝缘体不同直径的部分采取分段加工的方式降低了生产成本。

申请人研究发现,正是由于上述改进方案中采用三个相互独立的绝缘体,导致配合于针轴、接触头的第三绝缘体不便于装配,而且第三绝缘体在针轴、接触头进行轴向运动时存在脱落风险,稳定性欠佳。



技术实现要素:

为了弥补现有技术的上述不足,本实用新型提供了一种射频测试头,其技术方案如下。

射频测试头,包括主体,主体沿轴向成型为空腔结构,主体沿轴向在前、后两端分别设为开放的连接端和测试端,连接端用于连接同轴电缆,测试端用于配合被测产品;测试端内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的接触头,接触头沿轴向设有贯通的针道,接触头的前端则成型为与针道同轴对齐的环形开口;主体内部具有同轴设置的针管,针管与主体的内壁之间紧配有绝缘体,针管前端沿轴向成型为中空的容置部;容置部内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的针轴,针轴的前端延伸至接触头的环形开口的内端;

主体包括独立成型的连接段和测试段;连接端成型于连接段的后端,连接段的前端则成型有口径阔于连接段的连接套,通过连接套在连接段的前端构成一个环形台阶面;测试段的后端螺接于连接套内,测试端成型于测试段的前端,并且测试段的前端成型有径向收拢的环形挡圈;

绝缘体包括独立成型的第一绝缘段和第二绝缘段;第一绝缘段从连接段的前端填入连接段,并且第一绝缘段的前端成型有被环形台阶面阻挡的凸沿;第二绝缘段从测试段的后端填入,第二绝缘段的前端被环形挡圈阻挡,第二绝缘段的后端则抵接第一绝缘段以使凸沿压接在环形台阶面;第二绝缘段的前端面还成型有沿轴线向前穿过环形挡圈的绝缘套,针轴则同轴配合于绝缘套内。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:

(1)绝缘体分段制作,降低了生产成本;

(2)装配结构简单,绝缘体在针轴、接触头进行轴向运动时存在脱落风险,稳定性好。

下面,结合说明书附图和具体实施方式对本实用新型做进一步的说明。

附图说明

图1是现有技术提出的射频测试头的结构示意图。

图2是本实用新型的结构示意图。

图3是图2中a处局部放大的结构示意图。

具体实施方式

如2到图3所示:射频测试头,包括主体11,主体11沿轴向成型为空腔结构,主体11沿轴向在前、后两端分别设为开放的连接端111和测试端112,连接端111用于连接同轴电缆,测试端112用于配合被测产品;测试端112内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的接触头19,接触头19沿轴向设有贯通的针道191,接触头19的前端则成型为与针道191同轴对齐的环形开口192;主体11内部具有同轴设置的针管14,针管14与主体11的内壁之间紧配有绝缘体,针管14前端沿轴向成型为中空的容置部141;容置部141内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的针轴16,针轴16的前端延伸至接触头19的环形开口192的内端;

主体11包括独立成型的连接段11a和测试段11b;连接端111成型于连接段11a的后端,连接段11a的前端则成型有口径阔于连接段11a的连接套113,通过连接套113在连接段11a的前端构成一个环形台阶面114;测试段11b的后端螺接于连接套113内,测试端112成型于测试段11b的前端,并且测试段11b的前端成型有径向收拢的环形挡圈115;

绝缘体包括独立成型的第一绝缘段12和第二绝缘段13;第一绝缘段12从连接段11a的前端填入连接段11a,并且第一绝缘段12的前端成型有被环形台阶面114阻挡的凸沿121;第二绝缘段13从测试段11b的后端填入,第二绝缘段13的前端被环形挡圈115阻挡,第二绝缘段13的后端则抵接第一绝缘段12以使凸沿121压接在环形台阶面114;第二绝缘段13的前端面还成型有沿轴线向前穿过环形挡圈115的绝缘套131,针轴16则同轴配合于绝缘套131内。

采用上述技术方案,射频测试头的绝缘体分段制作,降低了生产成本;除此之外,射频测试头的装配结构简单,绝缘体在针轴、接触头进行轴向运动时存在脱落风险,稳定性好。

较佳的,针管14的容置部141内装有轴向设置的第一弹簧15,第一弹簧15沿轴向对针轴16的后端进行弹性抵触。

较佳的,测试端112内装有沿轴向围绕绝缘套131的第二弹簧18,环形挡圈115抵接第二弹簧18以沿轴向对接触头19的后端进行弹性抵触。

为了避免绝缘套被磨损,测试端112内装有同轴设置的保护套17,保护套17成筒状结构以间隔在绝缘套131和第二弹簧18之间。保护套17还能起到增强绝缘套机械强度的作用。

对于本领域技术人员而言,本实用新型的保护范围并不限于上述示范性实施例的细节,在没有背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,本领域技术人员基于本实用新型的要件所做出的等同含义和保护范围内的所有变化的实施方式均应囊括在本实用新型之内。



技术特征:

1.射频测试头,包括主体,主体沿轴向成型为空腔结构,主体沿轴向在前、后两端分别设为开放的连接端和测试端,连接端用于连接同轴电缆,测试端用于配合被测产品;测试端内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的接触头,接触头沿轴向设有贯通的针道,接触头的前端则成型为与针道同轴对齐的环形开口;主体内部具有同轴设置的针管,针管与主体的内壁之间紧配有绝缘体,针管前端沿轴向成型为中空的容置部;容置部内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的针轴,针轴的前端延伸至接触头的环形开口的内端;其特征在于:

主体包括独立成型的连接段和测试段;连接端成型于连接段的后端,连接段的前端则成型有口径阔于连接段的连接套,通过连接套在连接段的前端构成一个环形台阶面;测试段的后端螺接于连接套内,测试端成型于测试段的前端,并且测试段的前端成型有径向收拢的环形挡圈;

绝缘体包括独立成型的第一绝缘段和第二绝缘段;第一绝缘段从连接段的前端填入连接段,并且第一绝缘段的前端成型有被环形台阶面阻挡的凸沿;第二绝缘段从测试段的后端填入,第二绝缘段的前端被环形挡圈阻挡,第二绝缘段的后端则抵接第一绝缘段以使凸沿压接在环形台阶面;第二绝缘段的前端面还成型有沿轴线向前穿过环形挡圈的绝缘套,针轴则同轴配合于绝缘套内。

2.如权利要求1所述的射频测试头,其特征在于:针管的容置部内装有轴向设置的第一弹簧,第一弹簧沿轴向对针轴的后端进行弹性抵触。

3.如权利要求1所述的射频测试头,其特征在于:测试端内装有沿轴向围绕绝缘套的第二弹簧,环形挡圈抵接第二弹簧以沿轴向对接触头的后端进行弹性抵触。

4.如权利要求3所述的射频测试头,其特征在于:测试端内装有同轴设置的保护套,保护套成筒状结构以间隔在绝缘套和第二弹簧之间。


技术总结
射频测试头,主体沿轴向在前、后两端分别设为开放的连接端和测试端,测试端内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的接触头;主体包括独立成型的连接段和测试段;连接端成型于连接段的后端,通过连接套在连接段的前端构成一个环形台阶面;测试段的后端螺接于连接套内,测试端成型于测试段的前端,并且测试段的前端成型有径向收拢的环形挡圈;绝缘体包括独立成型的第一绝缘段和第二绝缘段;第一绝缘段的前端成型有被环形台阶面阻挡的挡圈;第二绝缘段的前端被环形挡圈阻挡,第二绝缘段的后端则抵接第一绝缘段以使挡圈压接在环形台阶面;第二绝缘段的前端面还成型有沿轴线向前穿过环形挡圈的绝缘套,针轴则同轴配合于绝缘套内。

技术研发人员:杨双平
受保护的技术使用者:深圳市鑫扬泽电子有限公司
技术研发日:2020.12.01
技术公布日:2021.08.03
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