同步信息检测方法、系统及通用相关器的制造方法

文档序号:8265173阅读:298来源:国知局
同步信息检测方法、系统及通用相关器的制造方法
【专利说明】同步信息检测方法、系统及通用相关器 【技术领域】
[0001] 本发明涉及通信技术领域,特别是涉及一种同步信息检测方法、系统及通用相关 器。 【【背景技术】】
[0002] 实现帧同步的方法主要是在数据信息流中插入一些特殊码组作为每帧的头尾标 志,接收端找出这些特殊码组的位置就可实现帧同步。帧同步器是利用帧同步码组的自相 关特性和经过相关运算器从接收到的空口数据流中识别出来。
[0003] 帧同步器首先对接收数据进行串并转换,与本地同步码组进行同或运算或者异或 运算,屏蔽掉无用的相关位,再经过全加网络,实现对相关值相加运算,与判决门限值进行 比较,得到同步帧标志。
[0004] 但是,以上所述帧同步器不能适应多段同步码的检测。 【
【发明内容】

[0005] 基于此,有必要针对上述帧同步器不能适应多段同步码的检测问题,提供一种同 步信息检测方法、系统及通用相关器。
[0006] 一种同步信息检测方法,包括以下步骤:
[0007] 根据采样时钟对待测数据进行采样生成第一采样数据,并存储所述第一采样数 据;
[0008] 依次以预存的同步码的各码间距离为位置间隔,每隔一个位置间隔从相应存储位 置读取存储的第二采样数据,所述码间距离为所述预存的同步码相邻两段相关码间的距 离;
[0009] 将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行异或运算生成分别与各 相应存储位置对应的异或结果;
[0010] 分别获取各异或结果中用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步码间不同 比特的标识信息的数目总和,生成分别与各相应存储位置对应的不同比特数;
[0011] 分别判断与各相应存储位置对应的不同比特数与预设错误比特容限是否匹配,若 匹配,则分别对应各相应存储位置生成相应的同步相关指示。
[0012] 一种同步信息检测系统,包括:
[0013] 采样模块,用于根据采样时钟对待测数据进行采样生成第一采样数据,并存储所 述第一采样数据;
[0014] 读取模块,用于依次以预存的同步码的各码间距离为位置间隔,每隔一个位置间 隔从相应存储位置读取存储的第二采样数据,所述码间距离为所述预存的同步码相邻两段 相关码间的距离;
[0015] 异或模块,用于将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行异或运算 生成分别与各相应存储位置对应的异或结果;
[0016] 统计模块,用于分别获取各异或结果中用于标识所述第二采样数据与所述预存的 同步码间不同比特的标识信息的数目总和,生成分别与各相应存储位置对应的不同比特 数;
[0017] 指示模块,用于分别判断与各相应存储位置对应的不同比特数与预设错误比特容 限是否匹配,若匹配,则分别对应各相应存储位置生成相应的同步相关指示。
[0018] 一种通用相关器,包括预存采样时钟、采样时钟速率、同步码、同步码的各码间距 离和预设错误比特容限的控制设备以及分别与所述控制设备连接的系统时钟生成设备、采 样设备、存储设备和至少两个相关检测设备,所述码间距离为所述预存的同步码相邻两段 相关码间的距离,其中:
[0019] 所述系统时钟生成设备用于生成通用相关器的系统时钟;
[0020] 所述采样设备用于根据采样时钟对待测数据进行采样生成第一采样数据并向所 述控制设备发送;
[0021] 所述控制设备用于将所述第一采样数据存储到所述存储设备的各存储位置,并以 预存的同步码的各码间距离为位置间隔,每隔一个位置间隔从相应存储位置读取存储的第 二采样数据;
[0022] 所述控制设备还用于将控制信号和各个所述第二采样数据分别输送到各相关检 测设备,其中,向一个相关检测设备输送从一个相应存储位置读取的第二采样数据;
[0023] 各相关检测设备用于响应所述控制信号分别将各个所述第二采样数据与所述预 存的同步码进行异或运算生成分别与各相应存储位置对应的异或结果;分别获取各异或结 果中用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步码间不同比特的标识信息的数目总和, 生成分别与各相应存储位置对应的不同比特数;分别判断与各相应存储位置对应的不同比 特数与预设错误比特容限是否匹配,若匹配,则分别对应各相应存储位置生成相应的同步 相关指示。
[0024] 以上所述的同步信息检测方法、系统及通用相关器,以预存的同步码的各相邻两 段相关码间的距离为位置间隔从相应存储位置读取存储的第二采样数据;将各个所述第二 采样数据分别与所述预存的同步码进行异或运算生成分别与各相应存储位置对应的异或 结果;分别获取各异或结果中用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步码间不同比特 的标识信息的数目总和,生成分别与各相应存储位置对应的不同比特数;在不同比特数与 预设错误比特容限匹配时生成相应的同步相关指示。通过预存的同步码的各相邻两段相关 码间的距离可快速精确地检测出待测数据与分布在时域中任意位置的多段同步码的同步 相关性。 【【附图说明】】
[0025] 图1是本发明同步信息检测方法第一实施方式的流程示意图;
[0026] 图2是本发明同步信息检测方法中移位寄存器的移位寄存矩阵示意图;
[0027] 图3是本发明同步信息检测方法中不同比特数的统计原理示意图;
[0028] 图4是本发明同步信息检测方法第二实施方式的流程示意图;
[0029] 图5是本发明同步信息检测方法第三实施方式的流程示意图;
[0030] 图6是本发明同步信息检测系统第一实施方式的结构示意图;
[0031] 图7是本发明同步信息检测系统第三实施方式的结构示意图;
[0032] 图8是本发明通用相关器第一实施方式的结构示意图;
[0033] 图9是本发明通用相关器中移位寄存器存取数据的时序图;
[0034] 图10是本发明通用相关器中使能设备的结构示意图;
[0035] 图11是本发明通用相关器第三实施方式的结构示意图。 【【具体实施方式】】
[0036] 为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进 一步地详细描述。
[0037] 请参阅图1,图1是本发明的同步信息检测方法第一实施方式的流程示意图。
[0038] 本实施方式的所述同步信息检测方法,可包括以下步骤:
[0039] 步骤S101,根据采样时钟对待测数据进行采样生成第一采样数据,并存储所述第 一采样数据。
[0040] 步骤S102,依次以预存的同步码的各码间距离为位置间隔,每隔一个位置间隔从 相应存储位置读取存储的第二采样数据,所述码间距离为所述预存的同步码相邻两段相关 码间的距离。
[0041] 步骤S103,将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行异或运算生成 分别与各相应存储位置对应的异或结果。
[0042] 步骤S104,分别获取各异或结果中用于标识所述第二采样数据与所述预存的同步 码间不同比特的标识信息的数目总和,生成分别与各相应存储位置对应的不同比特数。
[0043] 步骤S105,分别判断与各相应存储位置对应的不同比特数与预设错误比特容限是 否匹配,若匹配,则分别对应各相应存储位置生成相应的同步相关指示。
[0044] 本实施方式,以预存的同步码的各相邻两段相关码间的距离为位置间隔从相应存 储位置读取存储的第二采样数据;将各个所述第二采样数据分别与所述预存的同步码进行 异或运算生成分别与各相应存储位置对应的异或结果;分别获取各异或结果中用于标识所 述第二采样数据与所述预存的同步码间不同比特的标识信息的数目总和,生成分别与各相 应存储位置对应的不同比特数;在不同比特数与预设错误比特容限匹配时生成相应的同步 相关指示。通过预存的同步码的各相邻两段相关码间的距离可快速精确地检测出待测数据 与分布在时域中任意位置的多段同步码的同步相关性。
[0045] 其中,对于步骤S101,所述采样时钟优选地可根据待测数据的信号长度或信号周 期进行预设。可在所述采样时钟的上升沿对所述待测数据进行采样。每个采样周期读取次 数为预存的同步码(相关码)的段数。读取的采样数据依次存储到一
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