对信号核准lte基站进行射频测试的方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及基站射频测试技术领域,尤其涉及一种对信号核准LTE (Long TermEvolut1n，长期演进)基站进行射频测试的方法和装置。
【背景技术】
[0002]基站射频自动测试系统是指采用计算机控制，自动完成建立通话、链路切换、信号测量、数据计算处理并输出测试结果的自动化测试系统，该系统主要应用于GSM (GlobalSystem for Mobile Communicat1ns,全球移动通信系统)、WCDMA (Wideband CodeDivis1n Multiple Access,宽带码分多址)、CDMA (Code Divis1n Multiple Access,石马分多址)、TD-SCDMA
[0003](Time Divis1n-Synchronous Code Divis1n Multiple Access,时分同步码分多址)、LTE (Long Term Evolut1n,长期演进)等无线通信系统中的基站的射频指标测试及集成测试系统搭建。
[0004]目前，在对信号核准LTE基站进行射频测试的过程中，针对不同的射频测试项目及制式，需要采用人工分别搭载相应的射频链路以满足测试要求，有时，在完成一项射频测试过程中需要人工搭载多条测试链路，这种测试方式不但效率低下，而且人工搭载测试链路，会引入测量误差，影响测试结果的准确性。
[0005]并且在人工搭载测试链路过程中，会引入测量误差，影响测试结果的准确性。而且现阶段射频一致性切换单元功能单一，无法完成型号核准所有制式的测试指标。
【发明内容】
[0006]本发明的实施例提供了一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法和装置，以实现提高信号核准LTE基站射频测试的效率。
[0007]本发明提供了如下方案:
[0008]一种对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，包括:功能链路单元和衰减滤波单元，所述的功能链路单元连接所述衰减滤波单元；
[0009]所述的功能链路单元，包括并联连接的多个功能链路，用于根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关选择接通一个功能链路；接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元；
[0010]所述的衰减滤波单元，包括串联连接的衰减器组和滤波器组，用于通过同轴开关选择接通一个衰减器、滤波器，通过接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理，将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。
[0011]所述功能链路单元包括:多个并联连接的实现不同补偿功能的功能链路和第一同轴开关组，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；
[0012]所述衰减器组包括并联连接的多个不同型号的衰减器，所述滤波器组包括并联连接的多个不同型号的滤波器，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。
[0013]所述多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路、基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。
[0014]所述多个不同型号的衰减器包括1dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括:3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880_1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHZ带阻滤波器、2300_2400MHz带阻滤波器和2570_2620MHz带阻滤波器。
[0015]当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHZ带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHZ带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300_2400ΜΗζ带阻滤波器，阻隔band40的主信号。
[0016]一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，包括:
[0017]根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关从功能链路单元中选择接通一个功能链路，通过同轴开关从衰减滤波单元中选择接通一个衰减器、滤波器；所述功能链路单元中包括并联连接的多个功能链路，所述衰减滤波单元中包括串联连接的衰减器组和滤波器组，所述功能链路单元连接所述衰减滤波单元；
[0018]所述功能链路单元接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元，所述衰减滤波单元中接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理；
[0019]所述衰减滤波单元将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。
[0020]将多个实现不同补偿功能的功能链路并联连接，组成功能链路单元，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；
[0021]将多个不同型号的衰减器并联连接，组成衰减器组，将多个不同型号的滤波器并联连接，组成滤波器组，将所述衰减器组、滤波器组串联连接组成衰减滤波单元，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。
[0022]所述多个实现不同补偿功能的功能链路包括:
[0023]多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路和基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。
[0024]所述多个不同型号的衰减器包括1dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括:3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880_1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHZ带阻滤波器、2300_2400MHz带阻滤波器和2570_2620MHz带阻滤波器。
[0025]所述方法具体包括:
[0026]当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GH