电子器件检测中的信号抗干扰装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子器件信号的检测和信号处理装置。
【背景技术】
[0002]电子二极管、微电子芯片等电子器件的性能参数需要专业的仪器或电路来测试，并与标准的数据比较，以此判断电子器件的好坏。
[0003]专利申请号为2013101898949的发明公开了一种多通道干扰信号产生装置及干扰信号产生方法，它包括进行干扰信号参数设置的干扰参数设置设备、用于产生各类阵列模拟信号的干扰信号产生器和用于多路干扰信号的输出的信号输出设备，干扰参数设置设备依次连接干扰信号产生器和信号输出设备；所述的干扰参数设置设备用于设置干扰信号参数，干扰信号参数包括干扰强度、阵列形式、阵元间距和阵列幅相误差；干扰信号产生器包括依次连接的参数设置电路、多通道基带信号产生电路和功率调整电路；信号输出设备包括数模转换器和上变频信道。该发明的设备过于复杂，成本较贵。
[0004]专利申请号为2013100181407的明公开了多通道抗干扰数字采样装置，包括:一若干个多路并行的ADC构成的模数转换器组，以及与模数转换器组连通的FPGA，所述模数转换器组将多通道并行射频前端接收的多通道并行的模拟信号，转换为可供FPGA处理的数字信号，所述模数转换器组还连通一为ADC提供可调延迟的采样时钟信号的时钟芯片，所述时钟芯片的采样时钟信号分为多路并行输出给ADC芯片。该装置的电路元件为充分公开，难以在实际测试中参照使用。
【发明内容】
[0005]发明目的:
提供一种抗信号干扰能力强、判别好坏准确性高的电子器件检测中的信号抗干扰装置。
[0006]技术方案:
本发明提供一种电子器件检测中的信号抗干扰装置，将电子器件发生的通信信号依次通过串接的滤波隔直电路、包络解调比较电路、FPGA解码判断器，最后判断电子器件的好坏。
[0007]所述的滤波隔直电路由一只旁路电阻Ra与一只旁路电容Ca并联后串联一只主路电阻Rb构成，包络解调比较电路由一只旁路电容Cb和主路电容Cd构成，旁路电阻Rb、旁路电容Ca、旁路电容Cb具有共同的公共端(或接地端)。
[0008]Ca，Ra，Rb的取值分别为10pf、1000欧姆、1000欧姆；
Cb, Cd的取值分别为1pf和0.1 μ fo
[0009]本发明的抗干扰系统主要用于正确处理芯片返回数据，由于常用的射频识别芯片的通信为无线通信方式，通信协议为IS0/IEC14443协议。
[0010]本发明中，通信信号的通信数据格式优选为曼彻斯特编码方式。对于芯片返回信号首先我们会经过简单的滤波隔直电路，再经过包络解调比较电路，返回信号的包络线，有数据的包络表现为高低高低的波形，无数据的包络则表现为高电平的波形。
[0011]本系统中，重点在于FPGA处理干扰部分。曼彻斯特编码的数据I表示为数据线前50%位周期期间为高电平，后50%位周期期间为低电平。数据O表示为前50%位周期期间为低电平，后50%位周期期间为低电平。
【附图说明】
[0012]图1是本发明的一个电路连接示意图；
图中，1- 二极管(电子器件)；2_输入信号；3_旁路电容Ca ;4_旁路电阻Ra ;5_旁路电容Cb ;6_主路电容Cd -J- FPGA解码判断器；8_输出信号；9_包络解调比较电路；10_主路电阻Rb ;11_滤波隔直电路；12_公共端。
[0013]
【具体实施方式】
[0014]如图1所示的本系统中，将肖特基二极管I发生的输入信号2依次通过串接的滤波隔直电路11、包络解调比较电路9、FPGA解码判断器7，以此判断其好坏；所述的滤波隔直电路11由一只旁路电阻Ra4与一只旁路电容Ca3并联后串联一只主路电阻RblO构成，包络解调比较电路9由一只旁路电容Cb5和主路电容Cd6构成，旁路电阻Rb 10、旁路电容Ca3、旁路电容Cb5具有共同的公共端12。
[0015]Ca3，Ra4，RblO的取值分别为10pf、1000欧姆和1000欧姆，Cb5，Cd6的取值分别为 1pf 和 0.1 Uf0
[0016]我们会根据通信协议，在一个bit位期间，FPGA采样8个数据点，此8个点平均分布，若是前4个点为高电平，后四个点为低点平，则我们判断此数据为1，若是前4个点为低电平，后四个点为高点平，则判断为数据O。因为我们根据通信协议，则已经知道了所有应该正确返回的数据。如果在应为数据I的周期内，若前4个点为高，则判断为I。在应为数据O的周期内，若后四个点为高，则判断为O。如此便可正确识别全部返回数据，之后与实际数据比较，判断芯片的返回是否正确。FPGA收到信号，根据通信协议对信号进行采样分析，与正确数据比较，得到比较结果，并以此判断芯片好坏。
【主权项】
1.一种电子器件检测中的信号抗干扰装置，其特征在于:将电子器件(I)发生的输入信号(2)依次通过串接的滤波隔直电路(11)、包络解调比较电路(9)、FPGA解码判断器(7)，以此判断电子器件(I)的好坏；所述的滤波隔直电路(11)由一只旁路电阻Ra (4)与一只旁路电容Ca (3)并联后串联一只主路电阻Rb (10)构成，包络解调比较电路(9)由一只旁路电容Cb (5)和主路电容Cd (6)构成。2.如权利要求1所述的电子器件检测中的信号抗干扰装置，其特征在于:旁路电阻Rb(10)、旁路电容Ca (3)、旁路电容Cb (5)具有共同的公共端。3.如权利要求1所述的电子器件检测中的信号抗干扰装置，其特征在于:所述的Ca，Ra，Rb的取值分别为10pf、1000欧姆和1000欧姆。4.如权利要求1所述的电子器件检测中的信号抗干扰装置，其特征在于:所述的Cb，Cd的取值分别为1pf和0.1yfo5.如权利要求1所述的电子器件检测中的信号抗干扰装置，其特征在于:通信信号的通信数据格式为曼彻斯特编码方式。
【专利摘要】本发明公开了一种电子器件检测中的信号抗干扰装置，将电子器件发生的信号依次通过串接的滤波隔直电路、包络解调比较电路、FPGA解码判断器，以此判断电子器件的好坏；所述的滤波隔直电路由一只旁路电阻Ra与一只旁路电容Ca并联后串联一只主路电阻Rb构成，包络解调比较电路由一只旁路电容Cb和主路电容Cd构成；旁路电阻Rb、旁路电容Ca、旁路电容Cb具有共同的公共端。本发明抗干扰效果好，判断电子器件好坏的可靠性高。
【IPC分类】G01R31/28, H04B1/10
【公开号】CN104901707
【申请号】CN201510183799
【发明人】吴华, 刘建峰, 张小丹, 李承峰
【申请人】南通金泰科技有限公司
【公开日】2015年9月9日
【申请日】2015年4月18日