一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置的制造方法

文档序号:9263954阅读:553来源:国知局
一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置的制造方法
【专利说明】一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置
技术领域
[0001 ] 本发明涉及TD-LTE基站射频一致性测试应用领域,具体是一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置。
【背景技术】
[0002]随着TD-LTE网络大规模的建设以及TD-LTE-Advanced技术的推进,作为布网前测试、验证关键一环,基站射频一致性测试系统起到非常关键的作用。3GPP TS36.141定义了基站入网测试的全部射频一致性测试用例,要求对基站每一格测试用例进行精确测试,这样就需要有不同功能的测试仪器对其进行测试,对于基站的研发和生产测试的过程中,如何对如此之多的测仪器进行调度、如何避免对于不同测试用例频繁而复杂的连接测试电缆及如何提高测试效率,成为越来越急需解决的问题,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置对基研发、生产测试具有较高的必要性,同时对整个移动通信行业的发展具有非常重要的意义。
[0003]传统的基站射频一致性测试是通过对不同测试用例通过电缆,功分器、衰减器等手动连接相关测试仪器,这样会造成测试过程复杂、测试时间较长、测试效率较低的缺点,同时由于连接过于复杂很难保证整个测量通道的频率响应以及通道增益得到很好的校准及补偿,因此开发出一种TD-LTE/LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置已迫在眉睫。

【发明内容】

[0004]本发明的目的是提供一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,以解决现有技术存在的问题。
[0005]为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案为:
[0006]一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,其特征在于:包括双刀双掷开关K2-1—K2-5、K3-1—K3-6,单刀双掷开关K2-7、K2-8、K3-7,双刀单掷开关K2-6、K2-9,单刀三掷开关Κ3-9 ;其中双刀双掷开关Κ2-1的一个输入端与基站天线I连接,双刀双掷开关Κ3-1的一个输入端与基站天线2连接,双刀双掷开关Κ3-2的一个输入端与基站天线3连接,双刀双掷开关Κ3-3的一个输入端与基站天线4连接,双刀双掷开关Κ3-4的一个输入端与基站天线5连接,双刀双掷开关Κ3-5的一个输入端与基站天线6连接,双刀双掷开关Κ3-6的一个输入端与基站天线7连接,双刀双掷开关Κ2-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器I的一个输入端连接,双刀双掷开关Κ3-1另一个输入端与一个带有隔离度的合路器2的一个输入端连接,双刀双掷开关Κ3-2另一个输入端与一个带有隔离度的合路器3的一个输入端连接,双刀双掷开关Κ3-3另一个输入端与一个带有隔离度的合路器4的一个输入端连接,双刀双掷开关Κ3-4另一个输入端与一个带有隔离度的合路器5的一个输入端连接,双刀双掷开关Κ3-5另一个输入端与一个带有隔离度的合路器6的一个输入端连接,双刀双掷开关K3-6另一个输入端与一个带有隔离度的合路器7的一个输入端连接,合路器7的另一个输入端与基站天线8连接,合路器7的输出端与双刀双掷开关K3-6的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-6的另一个输出端与合路器6的另一个输入端连接,合路器6的输出端与双刀双掷开关K3-5的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-5的另一个输出端与合路器5的另一个输入端连接,合路器5的输出端与双刀双掷开关K3-4的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-4的另一个输出端与合路器4的另一个输入端连接,合路器4的输出端与双刀双掷开关K3-3的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-3的另一个输出端与合路器3的另一个输入端连接,合路器3的输出端与双刀双掷开关K3-2的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-2的另一个输出端与合路器2的另一个输入端连接,合路器2的输出端与双刀双掷开关K3-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K3-1的另一个输出端与合路器I的另一个输入端连接,合路器I的输出端与双刀双掷开关K2-1的一个输出端连接,双刀双掷开关K2-1的另一个输出端与单刀三掷开关K3-9的输入端连接;
[0007]单刀三掷开关K3-9的一个输出端与双刀双掷开关K2-2的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输入端与衰减装置输入连接,双刀双掷开关K2-2的一个输出端与衰减装置输出连接,双刀双掷开关K2-2的另一个输出端与双刀双掷开关K2-3的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输入端与滤波装置输入连接,双刀双掷开关K2-3的一个输出端与滤波装置输出连接,双刀双掷开关K2-3的另一个输出端与单刀双掷开关K3-7的输入端连接,单刀双掷开关K3-7的一个输出端与单刀三掷开关K3-9的第二个输出端连接,单刀双掷开关K3-7的另一个输出端与双刀双掷开关K2-4的一个输入端连接,双刀双掷开关K2-4的另一个输入端与频谱分析仪输入连接,双刀双掷开关K2-4的两个输出端分别与一个环形器I连接,所述双刀双掷开关K2-5的一个输入端与环形器I连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输入端、一个输出端分别与一个放大器I的两端连接,双刀双掷开关K2-5的另一个输出端与双刀单掷开关K2-6的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的另一个输入端与单刀双掷开关K2-7的一个输出端连接,双刀单掷开关K2-6的输出端与矢量信号发生器I连接,单刀双掷开关K2-7的另一个输出端与负载I连接,单刀双掷开关K2-7的输入端与一个单路输入、双路输出的带有隔离度的合路器8其中一个输出端连接,合路器8的输入端与一个环形器2连接,所述单刀三掷开关K3-9的第二个输出端亦与环形器2连接,所述单刀双掷开关K2-8输入端与合路器8的另一个输出端连接,单刀双掷开关K2-8的一个输出端连接负载2,单刀双掷开关K2-8的另一个输出端连接矢量信号发生器2,所述双刀单掷开关K2-9的一个输入端连接环形器2,双刀单掷开关K2-9的另一个输入端连接信道模拟器输入,双刀单掷开关K2-9的输出端连接基站综测仪,所述单刀三掷开关K3-9的第三个输出端连接信道模拟器输出。
[0008]所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线I与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-2相连;控制双刀双掷开关K2-3使双刀双掷开关K2-2与单刀双掷开关K3-7相连;控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站输出功率、输出功率动态范围、传输信号质量、频率误差及下行参考信号功率等基站射频一致性功能的测量。
[0009]所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K2-1使基站天线I与单刀三掷开关K3-9相连;控制单刀三掷开关K3-9,同时控制双刀双掷开关K2-2使衰减器装置输入与单刀三掷开关K3-9相连,衰减器装置输出与双刀双掷开关K2-3相连;控制双刀双掷开关K2-3使滤波装置输入端与双刀双掷开关K2-2,滤波装置输出端与单刀双掷开关K3-7相连;控制双刀双掷开关K2-4使单刀双掷开关K3-7与环形器I相连;控制双刀双掷开关K2-5使环形器I通过放大器I与双刀单掷开关K2-6相连;控制双刀单掷开关开关K2-6使双刀双掷开关K2-5与矢量信号发生器I相连,控制单刀双掷开关K3-7使双刀双掷开关K2-3与环形器2相连;控制双刀单掷开关K2-9使环形器2与基站综测仪相连,来实现对基站发射互调功能的测试。
[0010]所述的一种TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射频一致性测试系统开关切换装置,其特征在于:通过控制双刀双掷开关K3-1、双刀双掷开关K3-2、双刀双掷开关K3-3、双刀双掷开关K3-4、双刀双掷开关K3-5、双刀双掷开关K3-6使基站天线2、3、4、5、6、7、8与合路器1、2、3、4、5、6、7相连;控制双刀双掷开关k2-
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