一种obu的微波性能测试装置和方法
【技术领域】
[0001]本发明属于OBU生产测试设备领域，具体涉及一种OBU的微波性能测试装置和方法。
【背景技术】
[0002]OBU即电子收费系统ETC的车载单元，OBU产品在出厂时都要进行硬件和微波性能的测试，硬件测试比较的简单，主要是测试各功能模块的功能及电流消耗，需要一台PC+电流表(支持通讯功能)即可。而微波性能测试主要测试以下测试项:1、发射频率；2、发射功率；3、调制系数；4 ;唤醒灵敏度；5、接收灵敏度等，测试需要PC+信号源+频谱仪才能完成测试，而信号源、频谱仪设备又都是高价值设备，为满足一定的生产能力，往往需要购买数台该高价值的设备。
[0003]目前生产测试都是一台PC+信号源+频谱仪对应测试一台0BU，以上测试项基本采用顺序测试，一台设备测试完毕后更换设备进行测试，这样一台设备测试微波性能，测试需要约18秒(发射频率3S+发射功率3S+调制系数3S+唤醒6S+接收3S)的时间，这样一套设备一小时测试200台0BU，如果日产能要达到8K-10K，那么就需要5_7套测试设备，在设备达不到要求数量时，只能通过人员加班来完成任务。
【发明内容】
[0004]针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种OBU的微波性能测试装置和方法，通过该装置和装置能够大大提升OBU微波性能的测试效率，降低生产成本。
[0005]为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下:
[0006]—种OBU的微波性能测试装置，包括信号源、第一频谱仪、以及分别与信号源和第一频谱仪连接的信号控制单元，信号控制单元上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器和第一合路器，功分器的输入端与信号源的信号输出端连接，第一合路器的输出端与第一频谱仪的信号输入端连接，功分器的输出端和第一合路器的输入端分别与第一福射天线相连接，第一辐射天线与待测试OBU通过微波辐射连接。
[0007]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述第一合路器的个数为η个，与一个第一合路器连接的第一辐射天线与两个待测试OBU连接；其中，n ^ 10
[0008]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述信号控制单元上的与待测试OBU连接的端口为串口。
[0009]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述信号控制单元包括信号控制器和用于显示测试结果的显示器。
[0010]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，还包括用于对功分器和第一合路器进行插损校准的插损校准设备。
[0011]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，该测试装置还包括第二频谱仪，第二频谱仪与待测试OBU连接，信号控制单元与第二频谱仪连接。
[0012]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述第二频谱仪与第二辐射天线连接，第二辐射天线与待测试OBU通过微波辐射连接，或者，所述第二频谱仪通过第二合路器与第一福射天线连接。
[0013]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述第二频谱仪与第二辐射天线连接，第二辐射天线与待测试OBU微波辐射连接，或者，所述第二频谱仪通过第二合路器与第一福射天线连接。
[0014]本发明实施例中还提供了一种OBU的微波性能测试方法，该方法包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试；
[0015]所述对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试包括以下步骤:
[0016](I)将信号控制单元与待测试OBU连接，将每个第一合路器通过第一辐射天线与两个待测试OBU对应连接；
[0017](2)信号控制单元控制与同一个第一合路器连接的两个待测试OBU发射不同频率的载波信号；
[0018](3)每个第一合路器接收与其对应的两个待测试OBU的载波信号，并将接收到的两个载波信号发送到第一频谱仪；
[0019](4)第一频谱仪在同一时刻完成一个第一合路器所发送的载波信号的发射频率和发射功率的测试；
[0020]所述对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤:
[0021]I)将信号控制单元与待测试OBU连接，将第一合路器通过第一辐射天线(6)与待测试OBU连接；
[0022]2)信号控制单元控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号；
[0023]3)第一合路器接收待测试OBU的调制信号，并将接收到的调制信号发送到第一频谱仪；
[0024]4)第一频谱仪接收第一合路器发送的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试；
[0025]所述对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试包括以下步骤:
[0026]①将信号控制单元与待测试OBU连接，将功分器通过第一辐射天线与待测试OBU连接；
[0027]②信号控制单元控制信号源发射OBU唤醒信号；
[0028]③功分器接收信号源发射的OBU唤醒信号，并将所述OBU唤醒信号通过第一辐射天辐射给待测试0BU，完成待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。
[0029]本发明实施例中还提供了另一种OBU的微波性能测试方法，该方法包括对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试、对待测试OBU的调制系数的测试、以及对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试；
[0030]所述对待测试OBU的发射频率和发射功率的测试包括以下步骤:
[0031](I)将信号控制单元与待测试OBU连接，将每个第一合路器通过第一辐射天线与两个待测试OBU连接；
[0032](2)信号控制单元控制与同一个第一合路器连接的两个待测试OBU发射不同频率的载波信号；
[0033](3)每个第一合路器接收与其对应的两个待测试OBU的载波信号，并将接收到的两个载波信号发送到第一频谱仪；
[0034](4)第一频谱仪在同一时刻完成一个第一合路器所发送的载波信号的发射频率和发射功率的测试；
[0035]所述对待测试OBU的调制系数的测试包括以下步骤:
[0036]I)将信号控制单元与待测试OBU连接，将第二频谱仪与待测试OBU连接；
[0037]2)信号控制单元控制待测试OBU发射调制信号，同一时刻只有一个待测试OBU发射调制信号；
[0038]3)第二频谱仪接收待测试OBU的调制信号，并逐个完成调制信号的调制系数的测试；
[0039]所述对待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试包括以下步骤:
[0040]①将信号控制单元与待测试OBU连接，将功分器通过第一辐射天线与待测试OBU连接；
[0041]②信号控制单元控制信号源发射OBU唤醒信号；
[0042]③功分器接收信号源发射的OBU唤醒信号，并将所述OBU唤醒信号通过第一辐射天线辐射给待测试0BU，完成待测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。
[0043]进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试方法，步骤I)中，所述第二频谱仪通过第二辐射天线与待测试OBU连接，或者所述第二频谱仪通过第二合路器与第一辐射天线连接。
[0044]本发明的有益效果在于:本发明所提供的OBU的微波性能测试装置和方法，在进行OBU的微波性能测试时，能够对多个OBU同时进行测试，能够大大提升OBU的微波测试效率，降低测试设备的成本。
【附图说明】
[0045]图1为本发明【具体实施方式】中提供的一种OBU的微波性能测试装置的结构示意图；
[0046]图2为本发明【具体实施方式】中提供了另一种OBU的微波性能测试装置的结构示意图；
[0047]图3为本发明【具体实施方式】中待测试OBU的发射频率和发射功率测试的流程图；