辐射杂散辅助测试电路的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种电路，尤其涉及一种辐射杂散辅助测试电路。
【背景技术】
[0002] 手机在生产过程中需要进行一系列侦测合格后才能够推向市场，其中一项重要 的侦测是电磁兼容性（Electro Magnetic Compatibility, EMC)测试，而电磁兼容性侦 测包括传导杂散（Conductive Spurious Emissions, CSE)测试及福射杂散（Radiation Spurious Emissions, RSE)测试。目前在EMC测试中，CSE测试时综测仪连接至射频开关， 通过改变功率放大器输出端负载就能实现阻抗匹配，达到CSE测试合格，而RSE测试时射频 开关连接了天线，改变了阻抗，使得阻抗不匹配，RSE测试不符合标准，故如何改善RSE测试 是一项重要的问题。
【发明内容】
[0003] 针对上述现有技术的不足，有必要提供一种辐射杂散辅助测试电路。
[0004] 一种辐射杂散辅助测试电路，应用于一电子装置中，包括依次电性连接的功率放 大器、第一匹配电路、射频开关、天线、第二匹配电路、切换开关、侦测电路及控制单元，该第 二匹配电路电性连接至该切换开关，该切换开关电连接于功率放大器与第一匹配电路之间 的节点，该侦测电路电连接于射频开关与天线之间，该控制单元电连接于切换开关与侦测 电路之间，该侦测电路用于判断电子装置是否在进行辐射杂散测试并输出相应的侦测结 果，该控制单元根据该侦测结果控制切换开关建立或断开第二匹配电路与该节点之间的电 性连接，以使电子装置在进行辐射杂散测试的时候功率放大器与天线之间达到阻抗匹配。
[0005] 所述的辐射杂散辅助测试电路通过侦测电路判断是否是进行RSE测试，并通过开 关的闭合与导通来达到匹配阻抗，从而改善RSE测试。
【附图说明】
[0006] 图1为本发明第一实施方式的辐射杂散辅助测试电路的功能模块图。
[0007] 图2为图1所示的辐射杂散辅助测试电路的另一实施方式的功能模块图。
[0008] 主要元件符号说明
如下【具体实施方式】将结合上述附图进一步说明本发明。
【具体实施方式】
[0009] 请参阅图1，本发明较佳实施方式提供一种辐射杂散辅助测试电路100,应用于一 电子装置中，该辐射杂散辅助测试电路100包括功率放大器10、第一匹配电路20、第二匹配 电路30、切换开关40、射频开关50、天线60、侦测电路70及控制单元80。
[0010] 该功率放大器10用于放大指定频段的信号，同时还会产生一些指定频段外的频 率分量，其中频率分量为指定频段的整数倍的部分称为谐波，谐波的幅度一般较大，经由天 线60发射出去，会对其它的设备产生干扰。
[0011] 该第一匹配电路20电连接于功率放大器10与射频开关50之间，用于使功率放大 器10与射频开关50之间达到阻抗匹配。阻抗匹配是指在信号传输时，要求负载阻抗和传 输线的阻抗相等，此时的传输不会发生反射，传输功率大。在本实施方式中，功率放大器10 的输出阻抗是50 Ω，故第一匹配电路20的阻抗设置为50 Ω。进行CSE测试时，使用综测仪 电连接至射频开关50,此时射频开关50断开与天线60的连接，此时功率放大器10与射频 开关50之间达到阻抗匹配，符合CSE测试条件。
[0012] 该第二匹配电路30电性连接至该切换开关40,该切换开关40电连接于功率放大 器10与第一匹配电路20之间的节点A。通过控制切换开关40可以选择性的建立或断开第 二匹配电路30与节点A之间的电连接。当第二匹配电路30电性接入于节点A时，功率放 大器10与天线60之间达到阻抗匹配。
[0013] 该天线60电连接至射频开关50,该天线60用于辐射信号。
[0014] 该侦测电路70电连接至射频开关50与天线60之间的节点，用于侦测天线60与射 频开关50之间是否有信号通过，并输出相应的侦测结果。该控制单元80电连接于切换开 关40与侦测电路70之间，该控制单元80根据该侦测结果控制切换开关40建立或断开第 二匹配电路30与该节点A之间的电性连接，以使电子装置在进行RSE测试或CSE测试的时 候，功率放大器10与射频开关50或功率放大器10与天线60之间均能达到阻抗匹配。具 体地，若侦测天线60与射频开关50之间没有信号通过，则为CSE测试，该控制单元80控制 切换开关40断开于第二匹配电路30,此时，功率放大器10与射频开关50之间通过第一匹 配电路20达到阻抗匹配，符合CSE测试条件；若侦测天线60与射频开关50之间有信号通 过，则为RSE测试，该控制单元80控制切换开关40建立第二匹配电路30与节点A之间的 电连接，使功率放大器10与天线60之间达到阻抗匹配，以符合RSE测试条件。
[0015] 下面将详细介绍本发明的辐射杂散辅助测试电路100的工作原理。
[0016] 当进行CSE测试时，将综测仪连接到射频开关50,此时射频开关50与天线60的电 连接断开，功率放大器10将信号放大，再通过第一匹配电路20进行阻抗匹配后信号传输至 射频开关50,即可进行CSE测试。同时，因射频开关50与天线60的电连接断开，侦测电路 70侦测天线60与射频开关50之间没有信号通过，该控制单元80根据侦测电路70的侦测 结果控制切换开关40断开第二匹配电路30与节点A之间的电连接。
[0017] 当进行RSE测试时，天线60需接入整机，即射频开关50与天线60之间电性连接， 侦测电路70侦测天线60与射频开关50之间有信号通过，该控制单元80根据侦测电路70 的侦测结果控制切换开关40建立第二匹配电路30与节点A之间的电连接，功率放大器10 将信号放大，再通过第一匹配电路20及第二匹配电路30进行阻抗匹配后信号传输至射频 开关50,最后再经过天线60将信号辐射出去，在电波暗室中进行RSE测试。
[0018] 请参图2,可以理解，在一较佳实施例中，该第二匹配电路30包括两个接地电容， 如第一电容Cl与第二电容C2。切换开关40可以选择性地通过第一电容Cl或第二电容C2 接地。当进行CSE测试时，切换开关40通过第一电容Cl接地，第一电容Cl为零阻抗，此时 相当于第二匹配电路30断开于节点A ;当进行RSE测试时，切换开关40通过第二电容C2接 地，第二电容C2具有适当阻抗使功率放大器10与天线60阻抗匹配。
[0019] 所述的辐射杂散辅助测试电路100通过侦测电路70判断电子装置是在进行CSE 测试还是RSE测试，并通过切换开关40的状态来达到阻抗匹配，从而改善RSE测试。
【主权项】
1. 一种辐射杂散辅助测试电路，应用于一电子装置中，包括依次电性连接的功率放大 器、第一匹配电路、射频开关及天线，其特征在于：所述辐射杂散辅助测试电路还包括第二 匹配电路、切换开关、侦测电路及控制单元，该第二匹配电路电性连接至该切换开关，该切 换开关电连接于功率放大器与第一匹配电路之间的节点，该侦测电路电连接于射频开关与 天线之间，该控制单元电连接于切换开关与侦测电路之间，该侦测电路用于判断电子装置 是否在进行辐射杂散测试并输出相应的侦测结果，该控制单元根据该侦测结果控制切换开 关建立或断开第二匹配电路与该节点之间的电性连接，以使电子装置在进行辐射杂散测试 时功率放大器与天线之间达到阻抗匹配。2. 如权利要求1所述的辐射杂散辅助测试电路，其特征在于：所述侦测电路的侦测结 果表示天线与射频开关之间没有信号通过时，控制单元控制切换开关断开第二匹配电路与 该节点之间的电性连接。3. 如权利要求2所述的辐射杂散辅助测试电路，其特征在于：所述侦测电路的侦测结 果表示天线与射频开关之间有信号通过时，控制单元控制切换开关建立第二匹配电路与该 节点之间的电性连接。4. 如权利要求1所述的辐射杂散辅助测试电路，其特征在于：该第二匹配电路包括第 一电容及第二电容，该切换开关选择性地通过第一电容或第二电容接地，所述侦测电路的 侦测结果表示天线与射频开关之间有信号通过时，控制单元控制切换开关通过第一电容接 地，第一电容为零阻抗。5. 如权利要求4所述的辐射杂散辅助测试电路，其特征在于：所述侦测电路的侦测结 果表示天线与射频开关之间没有信号通过时，控制单元控制切换开关电通过第二电容接 地，第二电容具有适当阻抗使功率放大器与天线阻抗匹配。
【专利摘要】一种辐射杂散辅助测试电路，应用于一电子装置中，包括依次电性连接的功率放大器、第一匹配电路、射频开关、天线、第二匹配电路、切换开关、侦测电路及控制单元，该第二匹配电路电性连接至该切换开关，该切换开关电连接于功率放大器与第一匹配电路之间的节点，该侦测电路电连接于射频开关与天线之间，该控制单元电连接于切换开关与侦测电路之间，该侦测电路用于判断电子装置是否在进行辐射杂散测试并输出相应的侦测结果，该控制单元根据该侦测结果控制切换开关建立或断开第二匹配电路与该节点之间的电性连接，以使电子装置在进行辐射杂散测试的时候功率放大器与天线之间达到阻抗匹配。
【IPC分类】H04M1/24, G01R31/00
【公开号】CN105472082
【申请号】CN201410424855
【发明人】王晓冬, 沙坚
【申请人】深圳富泰宏精密工业有限公司, 群迈通讯股份有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2014年8月26日