自动检测装置的制造方法
【专利摘要】一种自动检测装置，包含电光转换模块、光纤连接器、测试座、误码测试器、二移载机构与控制模块。控制模块控制第一移载机构将光传接模块移至测试座、控制第二移载机构将光纤连接器插入光传接模块，且致动误码测试器产生脉冲信号。电光转换模块依据脉冲信号产生测试光信号。光传接模块依据光纤连接器所传输的测试光信号产生输出电信号。测试座依据输出电信号产生检测信号。误码测试器依据检测信号产生误码率。于预定时间后，控制模块控制第二移载机构将光纤连接器拔出，且依据误码率控制第一移载机构将光传接模块移至合格品区或不合格品区。
【专利说明】
自动检测装置
技术领域
[0001 ]本实用新型涉及一种自动检测装置，特别是一种适用于检测光传接模块的自动检测装置。
【背景技术】
[0002]在目前通信科技的传输方面上，将电信号或光信号通过缆线作为信号传输媒介的有线传输仍较无线传输更为稳定。于其中，又以光信号传输方式最为快速。因此，随着时光推演，通信科技所采用的传输媒介已从用以传输电信号一般电缆线演进至用以传输光信号的光纤(Fiber Optics)。此外，由于光纤具有高频宽、保密性佳以及不受电磁干扰等优点，故自问世以来已被广泛铺设且应用于网络布线的主干上，以期能达到光纤到户(Fiber ToThe Home，FTTH)的目标。
[0003]在光纤通信的网络中，光传接模块通常扮演着不可或缺的重要角色。光传接模块一般又可称为光纤界面收发器，用以通过内部的光电转换模块进行电信号与光信号间的相互转换，来使得各款电子装置可通过光纤通信的网络相互通信。因此，光传接模块本身的转换品质良否将影响其是否可正确地进行电信号与光信号间的相互转换，且进而影响整个光纤通信系统的稳定性。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种自动检测装置，用以检测光传接模块。其中，光传接模块包含光传输口，且用以依据光传输口所接收的测试光信号产生对应的输出电信号。
[0005]为了实现上述目的，本实用新型提供了一种自动检测装置，适用于检测一光传接模块，该光传接模块包含一光传输口，且用以依据该光传输口所接收的一测试光信号产生对应的一输出电信号，其中，该自动检测装置包含:
[0006]—电光转换模块，依据一脉冲信号产生对应的该测试光信号；
[0007]—光纤连接器，传输该测试光信号，该光纤连接器包含一光纤接头；
[0008]—测试座，依据该输出电信号产生一检测信号；
[0009]—误码测试器，产生该脉冲信号，且根据该检测信号产生一误码率；
[0010]一进料区，放置未检测的该光传接模块；
[0011]—出料区，放置已检测的该光传接模块，包含一合格品区与一不合格品区；
[0012]—第一移载机构，搬运该光传接模块；
[0013]—第二移载机构，携载该光纤连接器;及
[0014]一控制模块，控制该第一移载机构将位于该进料区的该光传接模块移至该测试座，且控制该第二移载机构将该光纤连接器的该光纤接头插入该光传接模块的该光传输口中，并致动该误码测试器;该控制模块在一预定时间后控制该第二移载机构将该光纤连接器的该光纤接头自该光传接模块的该光传输口中拔出，并依据该误码率控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座搬运至该合格品区或该不合格品区。
[0015]上述的自动检测装置，其中，还包含:
[0016]—光纤清洁组，清洁该光纤连接器的该光纤接头；
[0017]—摄像组，撷取该光纤接头的影像;及
[0018]一第一计数器，计数该光纤清洁组的一清洁次数；
[0019]其中该控制模块还控制该第二移载机构将该光纤连接器移至该光纤清洁组，且将清洁后的该光纤连接器移至该摄像组，并根据该摄像组所撷取的该影像确认该光纤接头是否符合一干净标准；
[0020]其中该控制模块还确认该清洁次数是否已达一第一阈值，且于判断该清洁次数已达该第一阈值时，输出一第一更换警示。
[0021]上述的自动检测装置，其中，还包含:
[0022]—预热载台，加热该光传接模块至一预热温度；
[0023]其中该控制模块控制该第一移载机构将位于该进料区的该光传接模块移至该预热载台后，再控制该第一移载机构将该光传接模移至该测试座，且该控制模块还控制该第一移载机构将位于该进料区的另一光传接模块移至该预热载台。
[0024]上述的自动检测装置，其中，还包含:
[0025]—第二计数器，计数该光纤连接器的该光纤接头插入至该光传接模块的该光传输口中的一使用次数；
[0026]其中该控制模块还确认该使用次数是否已达一第二阈值，且于判断该使用次数已达该第二阈值时，输出一第二更换警示。
[0027]上述的自动检测装置，其中，还包含:
[0028]一第三计数器，计数测试座的一测试次数；
[0029]其中该控制模块还确认该测试次数是否已达一第三阈值，且于判断该测试次数已达该第三阈值时，输出一第三更换警示。
[0030]上述的自动检测装置，其中，该光传接模块具有一识别码，该自动检测装置还包含一读码器，读取并记录该光传接模块的该识别码。
[0031]上述的自动检测装置，其中，该进料区包含一供料区、一待取区与一空盘堆放区，该供料区放置承载有未检测的该光传接模块的一进料盘，该待取区放置来自该供料区的该进料盘，该空盘堆放区放置未承载该未检测的该光传接模块的该进料盘，该合格品区包含一合格品空盘区、一合格品待置区与一合格品满盘区，该合格品空盘区放置未承载该光传接模块的一合格品出料盘，该合格品待置区放置来自该合格品空盘区的该合格品出料盘，该合格品满盘区放置已满盘的该合格品出料盘，该不合格品区包含一不合格品空盘区、一不合格品待置区与一不合格品满盘区，该不合格品空盘区放置未承载该光传接模块的一不合格品出料盘，该不合格品待置区放置来自该不合格品空盘区的该不合格品出料盘，该不合格品满盘区放置已满盘的该不合格品出料盘，该自动检测装置还包含:
[0032]一第三移载机构，搬运该进料盘；
[0033]—第四移载机构，搬运该合格品出料盘;及
[0034]—第五移载机构，搬运该不合格品出料盘；
[0035]其中该控制模块还控制该第三移载机构将该进料盘自该供料区移至该待取区，并当位于该待取区的该进料盘已无承载该光传接模块时，控制该第三移载机构将该进料盘移至该空盘堆放区，且控制该第三移载机构将另一该进料盘自该供料区移至该待取区；
[0036]其中该控制模块还控制该第四移载机构将该合格品出料盘自该合格品空盘区移至该合格品待置区，并当位于该合格品待置区的该合格品出料盘已载满该光传接模块时，控制该第四移载机构将该合格品出料盘移至该合格品满盘区，且控制该第四移载机构将另一该合格品出料盘自该合格品空盘区移至该合格品待置区；
[0037]其中该控制模块还控制该第五移载机构将该不合格品出料盘自该不合格品空盘区移至该不合格品待置区，并当位于该不合格品待置区的该不合格品出料盘已载满该光传接模块时，控制该第五移载机构将该不合格品出料盘移至该不合格品满盘区，且控制该第五移载机构将另一该不合格品出料盘自该不合格品空盘区移至该不合格品待置区。
[0038]上述的自动检测装置，其中，还包含:
[0039]—第一检测模块，检测是否有该进料盘位于该供料区，且当未检测到该进料盘位于该供料区时，产生一第一补充警示；
[0040]—第二检测模块，检测是否有该合格品出料盘位于该合格品空盘区，且当未检测该合格品出料盘位于该合格品空盘区时，产生一第二补充警示;及
[0041]—第三检测模块，检测是否有该不合格品出料盘位于该不合格品空盘区，且当未检测到该不合格品出料盘位于该不合格品空盘区时，产生一第三补充警示。
[0042]上述的自动检测装置，其中，该测试座包含:
[0043]—温控模块，调控位于该测试座的该光传接模块至一测试温度。
[0044]上述的自动检测装置，其中，该光传接模块还包含一电传输口，且该光传接模块还依据该电传输口所接收的该脉冲信号产生对应的一输出光信号，该自动检测装置还包含:
[0045]—通信分析仪，依据该输出光信号产生一分析信号；
[0046]其中，该控制模块依据该误码率与该分析信号控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座搬运至该合格品区或该不合格品区。
[0047]上述的自动检测装置，其中，该光纤连接器还包含一弹臂，该弹臂的一端耦接于该光纤连接器，当该光纤连接器的该光纤接头插入该光传接模块的该光传输口中时，该弹臂的另一端扣合于该光传接模块，以固定该光纤接头于该光传输口中，该第二移载机构包含一推压件与一纵向滑轨组件，该预定时间后该控制模块控制该推压件推压该弹臂，以使该弹臂的该另一端松开该光传接模块，且该控制模块控制该纵向滑轨组件朝远离该光传输口的方向移动，以使该光纤接头自该光传输口中拔出。
[0048]上述的自动检测装置，其中，还包含一出料载台，该出料载台包含一承载基座与一出料槽，该出料槽位于该承载基座上，其中于该光纤接头自该光传输口中拔出后，该控制模块控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座移到该出料槽，再根据该误码率控制该第一移载机构将位于该出料槽的该光传接模块搬运至该合格品区或该不合格品区。
[0049]上述的自动检测装置，其中，该第一移载机构包含一伸缩件，该光传接模块还包含一拉环，该拉环位于该光传输口，且该拉环可旋转于一扣合位置与一拉动位置之间，其中当该光传接模块位于该测试座时，该拉环位于该扣合位置，且该拉环与该光传输口之间形成一穿孔，其中该控制模块于该预定时间后控制该伸缩件伸展至该穿孔中后，再控制该伸缩件朝远离于该测试座的方向移动，以拉动该拉环至该拉动位置并借以将该光传接模块自该测试座拉至该出料槽中。
[0050]本实用新型的有益功效在于:
[0051]本实用新型的自动检测装置，利用移载机构来搬运光传接模块以及插拔光纤连接器，而无需仰赖人工进行作业，借以自动化光传接模块的检测作业，并提高整体检测的精准度与效率。
[0052]以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述，但不作为对本实用新型的限定。
【附图说明】
[0053]图1为本实用新型一实施例的自动检测装置的结构框图；
[0054]图2为本实用新型一实施例的自动检测装置的立体结构示意图；
[0055]图3为图2的俯视图；
[0056]图4为第一移载机构自进料区取起光传接模块的一实施例的结构示意图；
[0057]图5为第一移载机构将光传接模块移至预热载台的一实施例的结构示意图(一)；
[0058]图6为第一移载机构将光传接模块移至预热载台的一实施例的结构示意图(二)；
[0059]图7为将光传接模块自预热载台移至测试座的一实施例的结构示意图；
[0060]图8A为光纤连接器位于擦拭位置的一实施例的结构示意图(一)；
[0061 ]图8B为图8A的局部放大图；
[0062]图9为光纤连接器位于擦拭位置的一实施例的结构示意图(二)；
[0063]图10为光纤连接器位于摄像位置的一实施例的结构示意图；
[0064]图11为光纤连接器位于第二插入位置的一实施例的结构示意图；
[0065]图12为光纤接头插入至光传输口光纤接头；
[0066]图13为图12的局部放大结构示意图；
[0067]图14为第二移载机构将光纤接头自光传输口中拔出的一实施例的结构示意图(一);
[0068]图15为第二移载机构将光纤接头自光传输口中拔出的一实施例的结构示意图(二 )；
[0069]图16为第一移载机构将光传接模块自测试座移至出料载台的一实施例的结构示意图(一);
[0070]图17A为第一移载机构将光传接模块自测试座移至出料载台的一实施例的结构示意图(^.);
[0071]图17B为图17A的局部放大图；
[0072]图18为第一移载机构将光传接模块自测试座移至出料载台的一实施例的结构示意图(三)；
[0073]图19为第一移载机构将光传接模块自测试座移至出料载台的一实施例的结构示意图(四)；
[0074]图20为第一移载机构将光传接模块自出料载台取起的一实施例的结构示意图。
[0075]其中，附图标记
[0076]100自动检测装置110电光转换模块
[0077]120光纤连接器121光纤接头
[0078]1211支撑管1212光纤
[0079]122弹臂130测试座
[0080]131承载基台132测试电路板[0081 ]1321测试槽140误码测试器
[0082]141脉冲产生单元142误码检测单元
[0083]150第一移载机构151第一移载组件
[0084]1511水平滑轨组件1512升降组件
[0085]1513取置部152第二移载组件
[0086]1521横向滑轨组件1522纵向滑轨组件
[0087]153第三移载组件1531纵向滑轨组件
[0088]1532垂直伸缩组件160第二移载机构
[0089]161水平滑轨组件162纵向滑轨组件
[0090]163携载部164升降组件
[0091]165推压件170第三移载机构
[0092]171横向滑轨组件172承载板
[0093]173升降组件174抵持组件
[0094]180第四移载机构190第五移载机构
[0095]200光传接模块210光传输口
[0096]220电传输口230光电转换单元
[0097]240拉环300控制模块
[0098]410进料盘410c置料槽
[0099]420合格品出料盘430不合格品出料盘
[0100]510支撑架511支撑柱
[0101]512支撑件520支撑架
[0102]530支撑架600通信分析仪
[0103]710光纤清洁组711壳体
[0104]711c清洁口712操作组件
[0105]712a按压部712b推压件
[0106]720摄像组800出料载台
[0107]810承载基座820出料槽
[0108]830滑轨组件900预热载台
[0109]910承载基座920加热槽
[0110]Al进料区A2出料区
[0111]All供料区A12待取区
[0112]A13空盘堆放区A21合格品区
[0113]A211合格品空盘区A212合格品待置区
[0114]A213合格品满盘区A22不合格品区
[0115]A221不合格品空盘区A222不合格品待置区
[0116]A223不合格品满盘区Rl误码率
[0117]SI脉冲信号S2测试光信号
[0118]S3输出电信号S4检测信号
[0119]S5输出光信号S6分析信号
【具体实施方式】
[0120]下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述:
[0121]请参阅图1至图3，本实用新型一实施例提供一种适用于检测光传接模块200的自动检测装置100。一般而言，光传接模块200是整合光发送器(Transmitter)与光接收器(Receiver)两大功能所形成的单一光信号收发模块，且可用以进行电信号与光信号之间的相互转换，以使各款式的电子装置可通过光纤通信网络相互连线。
[0122]在本实施例中，光传接模块200可包含光传输口210、电传输口 220与光电转换单元230。其中，光传输口210可用以与后述的光纤连接器120的光纤接头121相接，以传输光信号。电传输口 220可用以与电子装置的信号发射端或接收端相接，以传输电信号。光电转换单元230耦接至光传输口 210与电传输口 220，且可用以将光传输口 210所接收的光信号转换成对应的电信号后，再将电信号从电传输口 220输出，或将电传输口 220所接收的电信号转换成对应的光信号后，再将光信号从光传输口 210输出。
[0123]在一些实施例中，光传接模块200可为小封装热插拔收发器(SmalI Form-FactorPluggable，SFP)。但本实用新型并非以此为限，光传接模块200亦可为增强型小封装热插拔收发器(Enhanced Small Form-FactorPluggable，SFP+)、四通道小封装热插拔收发器(Quad Small Form-FactorPluggable，QSFP)或万兆小封装热插拔收发器(1GigabitSmall Form-FactorPluggable，XFP)等或其他定制化规格的光学界面收发器。此外，光传接模块200的光传输口 210的规格可对应于光纤连接器120的光纤接头121的规格，例如:FC、SC、ST 或 LC 等。
[0124]本实用新型一实施例的自动检测装置100可包含进料区Al、出料区A2、电光转换模块110、光纤连接器120、测试座130、误码测试器140、至少二移载机构(以下，分别称之为第一移载机构150与第二移载机构160)以及控制模块300。其中，电光转换模块110耦接至光纤连接器120，误码测试器140耦接至电光转换模块110与测试座130，且控制模块300耦接至测试座130、误码测试器140、第一移载机构150以及第二移载机构160。于此，第一移载机构150用以搬运光传接模块200，且第二移载机构160用以携载光纤连接器120。
[0125]进料区Al用以放置尚未检测过的光传接模块200，且出料区A2用以放置已完成检测的光传接模块200。其中，出料区A2包含合格品区A21与不合格品区A22。于此，合格品区A21用以放置其检测结果为正常的光传接模块200，而不合格品区A22则用以放置其检测结果为异常的光传接模块200。
[0126]在本实施例中，误码测试器(Bit Error Rate Tester，BERT) 140可用以产生脉冲信号SI;电光转换模块110可用以将脉冲信号SI转换成对应的测试光信号S2;光纤连接器120可用以传输测试光信号S2;光传接模块200可用以依据光传输口 210所接收的测试光信号S2经由电传输口 220产生对应的输出电信号S3;测试座130可用以依据输出电信号S3产生检测信号S4;且误码测试器140还可用以根据检测信号S4产生误码率(Bit Error Rate,BER)Rl，借以完成对光传接模块200中的光接收部分的检测。
[0127]换言之，于进行光传接模块200的光接收部分的检测程序中，自动检测装置100的控制模块300可先控制第一移载机构150将位于进料区Al的光传接模块200移至测试座130，然后控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121插入至位于测试座130的光传接模块200的光传输口 210中后，再致动误码测试器140以开始检测。之后，待一预定时间过后，控制模块300再控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121从光传接模块200的光传输口210中拔出，然后再根据误码测试器140所得的误码率Rl来控制第一移载机构150将此完成检测的光传接模块200自测试座130搬运至合格品区A21或不合格品区A22。
[0128]在一些实施例中，控制模块300系根据所得的误码率Rl计算出光传接模块200的灵敏度(Sensitivity)，然后再根据此灵敏度来评估光传接模块200的效能，并根据评估的结果来搬运光传接模块200至合格品区A21或不合格品区A22。
[0129]此外，本实用新型一实施例的自动检测装置100还可包含通信分析仪600，耦接至控制模块300与光纤连接器120，用以检测光传接模块200的光发送部分。于此，误码测试器140可用以产生脉冲信号SI;光传接模块200还可用以依据电传输口 220所接收的脉冲信号SI产生对应的输出光信号S5 ;光纤连接器120还可用以传输输出光信号S5 ;且通信分析仪600可用以根据输出光信号S5产生分析信号S6。
[0130]换言之，于进行光传接模块200的光发送部分的检测程序中，自动检测装置100的控制模块300可先控制第一移载机构150将位于进料区Al的光传接模块200移至测试座130，然后控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121插入至位于测试座140的光传接模块200的光传输口 210中后，再致动误码测试器140与通信分析仪600以开始检测。之后，待一预定时间过后，控制模块300再控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121从光传接模块200的光传输口210中拔出，然后再根据通信分析仪600所得的分析信号S6来控制第一移载机构150将此完成检测的光传接模块200自测试座130搬运至合格品区A21或不合格品区A22。
[0131 ] 在一些实施例中，通信分析仪600所产生的分析信号S6可包含平均功率(AveragePower)、消光率(Extinct1n Rat1)、抖动(Jitter)、上升时间(Rising Time)、下降时间(Falling Time)、眼图遮罩测试(Eye Mask Test)及/或眼图宽度(Eye Width)等数据。
[0132]在本实施例中，自动检测装置100可先完成光传接模块200的光接收部分的检测程序后，再接续执行光传接模块200的光发送部分的检测程序。
[0133]因此，自动检测装置100的控制模块300是先控制第一移载机构150将位于进料区Al的光传接模块200移至测试座130，然后控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121插入至位于测试座130的光传接模块200的光传输口 210中后，再致动误码测试器140以开始光接收部分的检测。待一预定时间过后，控制模块300再致动通信分析仪600以开始光发送部分的检测。之后，待经过另一预定时间后，控制模块300再控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121从光传接模块200的光传输口 210中拔出，然后再根据误码测试器140所得的误码率Rl以及根据通信分析仪600所得的分析信号S6来控制第一移载机构150将此完成所有检测的光传接模块200自测试座130搬运至合格品区A21或不合格品区A22。然而，本实用新型并非以此为限，自动检测装置100亦可先完成光传接模块200的光发送部分的检测程序后，再接续执行光传接模块200的光接收部分的检测程序。
[0134]本实用新型一实施例的自动检测装置100的详细架构与详细作动，兹分述如下。
[0135]自动检测装置100的进料区Al可包含供料区AU、待取区A12与空盘堆放区A13。其中，供料区All可供一个以上的进料盘410以垂直间格排列的方式堆放于此区。于此，在供料区All的每一进料盘410上可承载至少一个尚未检测过的光传接模块200。
[0136]待取区A12可用以放置至少一个从供料区All移送至此区的进料盘410，且位于此待取区A12的进料盘410上的光传接模块200将依序被第一移载机构150搬运至测试座130进行检测。而空盘堆放区A13则可供一个以上已无承载任何光传接模块200的进料盘410以垂直间格排列的方式堆放于此区。
[0137]自动检测装置100还可包含第三移载机构170用以搬运位于进料区Al的进料盘410。于此，控制模块300耦接至第三移载机构170，以控制第三移载机构170从供料区All将承载有尚未检测过的光传接模块200的进料盘410移送至待取区A12来等待进入检测程序。之后，待位于此待取区A12的进料盘410上已无承载任何光传接模块200(空载)时，控制模块300再控制第三移载机构170将此空载的进料盘410移送至空盘堆放区A13堆放，并且控制第三移载机构170重新至供料区All搬运另一个进料盘410至待取区A12，以接续进行检测程序。
[0138]在一实施例中，进料区Al可设有第一检测模块(图未示)，用以检测供料区All中是否还有进料盘410，且于未检测到有进料盘410位于供料区Al I时，可产生第一补充警示，以提示进行补充进料盘410的动作。此外，第一检测模块还可用以检测空盘堆放区A13中所堆放的进料盘410的数量是否已达一阈值，并于检测到进料盘410的数量达到阈值时，产生警示信号，以提示操作员。
[0139]自动检测装置100的合格品区A21可包含合格品空盘区A211、合格品待置区A212与合格品满盘区A213。其中，合格品空盘区A211可供一个以上的合格品出料盘420以垂直间格排列的方式堆放于此区，且合格品出料盘420可用以容置被检测为合格品的光传接模块200。于此，在合格品空盘区A211的每一合格品出料盘420上并未承载任何光传接模块200，而呈空载状态。
[0140]合格品待置区A212可用以放置至少一个从合格品空盘区A211移送至此区的合格品出料盘420，以使被检测为合格品的光传接模块200可依序放置在位于此区的合格品出料盘420的置料槽中。而合格品满盘区A213则可供一个以上载满光传接模块200的合格品出料盘420自合格品待置区A212移送至此区堆放。于此，满载的合格品出料盘420以垂直间格排列的方式堆放于此。
[0141]自动检测装置100还可包含第四移载机构180用以搬运位于合格品区A21的合格品出料盘420。于此，控制模块300耦接至第四移载机构180，以控制第四移载机构180将空载的合格品出料盘420自合格品空盘区A211移送至合格品待置区A212来容置被检测为合格品的光传接模块200。之后，待位于此合格品待置区A212的合格品出料盘420已载满被检测为合格品的光传接模块200而呈现满载状态时，控制模块300再控制第四移载机构180将此满载的合格品出料盘420移送至合格品满盘区A213堆放，并且控制第四移载机构180重新至合格品空盘区A211搬运另一个合格品出料盘420至合格品待置区A212，以接续进行检测程序。
[0142]在一实施例中，合格品区A21可设有第二检测模块(图未示)，用以检测合格品空盘区A211中是否还有合格品出料盘420，且于未检测到有合格品出料盘420位于合格品空盘区A211时，可产生第二补充警示，以提示进行补充合格品出料盘420的动作。此外，第二检测模块还可用以检测合格品满盘区A213中所堆放的合格品出料盘420的数量是否已达一阈值，并于检测到合格品出料盘420的数量达到阈值时，产生警示信号以提示操作员。
[0143]自动检测装置100的不合格品区A22可包含不合格品空盘区A221、不合格品待置区A222与不合格品满盘区A223。其中，不合格品空盘区A221可供一个以上的不合格品出料盘430以垂直间格排列的方式堆放于此区且不合格品出料盘430可用以容置被检测为不合格品的光传接模块200。于此，在不合格品空盘区A221的每一不合格品出料盘430上并未承载任何光传接模块200，而呈空载状态。
[0144]不合格品待置区A222可用以放置至少一个从不合格品空盘区A221移送至此区的不合格品出料盘430，以使被检测为不合格品的光传接模块200可依序放置在位于此区的不合格品出料盘430的置料槽中。而不合格品满盘区A223则可供一个以上载满光传接模块200的不合格品出料盘430自不合格品待置区A222移送至此区堆放。于此，满载的不合格品出料盘430系以垂直间格排列的方式堆放于此。
[0145]自动检测装置100还可包含第五移载机构190用以搬运位于不合格品区A22的不合格品出料盘430。于此，控制模块300耦接至第五移载机构190，以控制第五移载机构190将空载的不合格品出料盘430自不合格品空盘区A221移送至不合格品待置区A222来容置被检测为不合格品的光传接模块200。之后，待位于此不合格品待置区A222的不合格品出料盘430已载满被检测为不合格品的光传接模块200而呈现满载状态时，控制模块300再控制第五移载机构190将此满载的不合格品出料盘430移送至不合格品满盘区A223堆放，并且控制第五移载机构190重新至不合格品空盘区A221搬运另一个不合格品出料盘430至不合格品待置区A222，以接续进行检测程序。
[0146]在本实施例中，第五移载机构190的架构与第四移载机构180、第三移载机构170的架构大致上相同。
[0147]在一实施例中，不合格品区A22可设有第三检测模块(图未示)，用以检测不合格品空盘区A221中是否还有不合格品出料盘430，且于未检测到有不合格品出料盘430位于不合格品空盘区A221时，可产生第三补充警示，以提示进行补充不合格品出料盘430的动作。此夕卜，第三检测模块还可用以检测不合格品满盘区A223中所堆放的不合格品出料盘430的数量是否已达一阈值，并于检测到不合格品出料盘430的数量达到阈值时，产生警示信号以提示操作员。
[0148]因此，在自动检测装置100的检测程序的初始步骤中，控制模块300可控制第三移载机构170将进料盘410自供料区All移至待取区A12，且控制第四移载机构180将合格品出料盘420自合格品空盘区A211移至合格品待置区A212，并控制第五移载机构190将不合格品出料盘430自不合格品空盘区A221移至不合格品待置区A222。于此，第三移载机构170、第四移载机构180与第五移载机构190可同步作动，但本实用新型并非以此为限，第三移载机构170、第四移载机构180与第五移载机构190亦可依序分别作动。
[0149]请参阅图2、图4与图5。在本实用新型一实施例中，自动检测装置100还可包含预热载台900，耦接至控制模块300。预热载台900可用以预先加热光传接模块200至一预热温度，例如70°C，以加速检测的流程。于此，预热载台900的预热温度可由控制模块300设定。
[0150]在本实施例中，预热载台900包含一承载基座910与加热槽920。其中，加热槽920位于承载基座910上，且加热槽920具有一出料端。于此，加热槽920可凹设于承载基座910，且加热槽920的一出料端邻接于承载基座910的一侧边。
[0151]因此，第一移载机构150可先将尚未检测的光传接模块200自待取区A12移送至预热载台900加热至预热温度后，再移送至测试座130。其中，当光传接模块200位于预热载台900的加热槽920时，其电传输口 220系邻近于加热槽920的出料端，如图5所示。
[0152]在本实施例中，第一移载机构150可包含第一移载组件151与第二移载组件152。其中，第一移载组件151用以将位于待取区A12的光传接模块200移送至预热载台900的加热槽920中，而第二移载组件则可用以将光传接模块200自加热槽920中移送至测试座130。
[0153]第一移载组件151跨设于进料区Al与出料区A2之上。第一移载组件151可包含水平滑轨组件1511、升降组件1512、取置部1513以及驱动电路(图未示)。其中，升降组件1512耦接取置部1513，以带动取置部1513于垂直方向上移动；水平滑轨组件1511耦接升降组件1512，以带动升降组件1512与取置部1513于水平方向上移动；且驱动电路耦接至水平滑轨组件1511、升降组件1512、取置部1513以及控制模块300，以根据控制模块300的控制信号驱动水平滑轨组件1511、升降组件1512及/或取置部1513进行相应的作动。
[0154]于此，第一移载组件151的取置部1513可用以取放光传接模块200。在一实施例中，第一移载组件151的取置部1513可为真空吸嘴，以通过真空吸力来取放光传接模块200。
[0155]因此，在检测程序中，控制模块300可控制驱动电路驱动水平滑轨组件1511带动取置部1513移动至待取的光传接模块200的上方，然后控制驱动电路驱动升降组件1512带动取置部1513向下移动直至取置部1513可取起光传接模块200后再带动取置部1513向上移动，如图4所示。接续，控制模块300可控制驱动电路驱动水平滑轨组件1511带动取置部1513移动至预热载台900的加热槽920的上方后，再控制驱动电路驱动升降组件1512带动取置部1513向下移动以将光传接模块200置入加热槽920中，如图5所示。
[0156]请参阅图6与图7。第二移载组件152耦接于预热载台900。第二移载组件152可包含一横向滑轨组件1521、纵向推移组件1522以及驱动电路(图未示)。其中，横向滑轨组件1521耦接于承载基座910，以带动承载基座910横向移动;纵向推移组件1522设置于承载基座910上且邻近于加热槽920，以将光传接模块200自加热槽920中推出；驱动电路耦接至横向滑轨组件1521、纵向推移组件1522以及控制模块300，以根据控制模块300的控制信号驱动横向滑轨组件1521及/或纵向推移组件1522进行相应的作动。
[0157]因此，在检测程序中，待预热载台900将位于加热槽920中的光传接模块200加热至预热温度时，如图6所示，控制模块300可先控制驱动电路驱动横向滑轨组件1521带动预热载台900移动至一第一插入位置后，再控制驱动电路驱动纵向推移组件1522，以将光传接模块200自加热槽920中推移至测试座130，如图7所示。此外，待光传接模块200被移至测试座130后，控制模块300可再控制驱动电路驱动横向滑轨组件1521带动预热载台900回复至预设位置。
[0158]在一实施例中，测试座130可包含承载基台131与测试电路板132。其中，测试电路板132可设置于承载基台131上。测试电路板132上可布有多个电子零件与一测试槽1321。于此，测试槽1321具有一进出端，以供光传接模块200可自此进出端进入或离开测试槽1321。此外，测试槽1321中可设有与光传接模块200的电传输口 220相匹配的接头，借以与光传接模块200电性连接。
[0159]此外，在一实施例中，测试座130还可包含温控模块(图未示)，耦接至测试槽1321。于此，温控模块可用以调控位于测试槽1321中的光传接模块200至测试温度，例如70°C。
[0160]在一实施例中，自动检测装置100可包含一个以上的测试座130，例如二个，且各个测试座130的温控模块可将位于其测试槽1321中的光传接模块200调控至不同的或相同的测试温度。
[0161]于此，当横向滑轨组件1521带动预热载台900移动至第一插入位置时，加热载台900可邻靠于测试座130，且其加热槽920的出料端可对准于测试槽1321的进出端，以使纵向推移组件1522可将光传接模块200自加热槽920推移进测试槽1321中。在一实施例中，位于测试槽1321中的光传接模块200，其光传输口 210可裸露于测试槽1321外。
[0162]请参阅图8A至图12。接续，第二移载机构160可携载光纤连接器120至第二插入位置，且将光纤连接器120与位于测试槽1321中的光传接模块200相接合以进行检测。
[0163]—般而言，光纤连接器120可用以于二光纤的间进行可拆卸连接的器件，以使其中一光纤所输出的光信号能最大限度地耦合到另一光纤。在本实施例中，光纤连接器120具有光纤接头121，且可通过其光纤接头121与光传接模块200的光传输口 210的接合来将电光转换模块110所产生的测试光信号S2传输至光传接模块200。
[0164]在本实施例中，光纤连接器120的光纤接头121包含支撑套管1211与光纤1212。其中，光纤1212为可替换的，且可固定于支撑套管1211中。于此，光纤1212可穿出此支撑套管1211而裸露出一小段的端部。此外，光纤连接器120的光纤接头121的规格可对应于光传接模块200的光传输口 210的规格，例如:FC、SC、ST或LC等。
[0165]由于光纤连接器120的光纤接头121上(S卩，光纤1212的端部面)可能残存有细微脏污，例如灰尘，而可能影像到光传接模块200的检测结果的正确性。因此，在本实施例中，自动检测装置100还可包含光纤清洁组710与摄像组720分别耦接至控制模块300。其中，光纤清洁组710可用以清洁光纤连接器120的光纤接头121，且摄像组720可用以撷取光纤接头121的影像，以使控制模块300可根据摄像组720所撷取的影像确认光纤接头121是否已清洁干净。
[0166]在一实施例中，光纤清洁组710可包含壳体711、光纤清洁带卷(图未示)、输出轮组(图未示)与单向输送轮组(图未示)。其中，壳体711包含容置室(图未示)、收纳室(图未示)与清洁口 711c，且清洁口 711c开设于壳体711的一侧;光纤清洁带卷为长条状的光纤清洁带卷绕而成，且可绕设于输出轮组上，而与输出轮组可旋转地装设于壳体711的收纳室中；单向输送轮组装设于收纳室中，且可用以夹持光纤清洁带以将未使用的光纤清洁带移送置清洁口 711c，并将使用后的光纤清洁带输送至收纳室中收纳。
[0167]在一实施例中，光纤清洁组710还可包含一缓冲垫(图未示)相对于清洁口71 Ic而设置于壳体711中，且光纤清洁带可由清洁口与缓冲垫之间通过，以使光纤连接器120的光纤接头121于光纤清洁带上擦拭时可有弹性缓冲的空间。
[0168]此外，光纤清洁组710还包含遮板与操作组件712。其中，遮板上开设有一通孔，且通孔的大小大致上可相等于清洁口 711c的大小。于此，遮板可活动地位于光纤清洁带与清洁口711c之间，且可随操作组件712的作动来启闭清洁口711c。在一实施例中，操作组件712包含按压部712a与推压件712b。其中，按压部712a设于壳体711的一侧，且耦接至遮板;而推压件712b设置于壳体711外，且耦接至控制模块300，以根据控制模块300的控制信号作动。
[0169]于此，推压件712b可根据控制模块300的控制信号活动至一开启位置与一关闭位置。当推压件712b活动至开启位置时，推压件712b可推抵按压部712a以带动遮板移动，使得遮板的通孔可相对于清洁口 711c而露出未使用的光纤清洁带。而当推压件712b活动至关闭位置时，推压件712b可以一间距与按压部712a相隔，且此时遮板的通孔与清洁口 711c因错位而关闭，借以避免异物侵入壳体711内。
[0170]在一些实施态中，摄像组720可为照相机、摄影机、或CCD(charge_coupleddevice)相机等。
[0171]在一实施例中，第二移载机构160可包含水平滑轨组件161、纵向滑轨组件162、携载部163以及驱动电路(图未示)。其中，携载部163可用以携载光纤连接器120;水平滑轨组件161与纵向滑轨组件162耦接至携载部163，且水平滑轨组件161与纵向滑轨组件162可偕同运作以带动光纤连接器120进行移位;且驱动电路耦接至水平滑轨组件161、纵向滑轨组件162与控制模块300，以根据控制模块300的控制信号驱动水平滑轨组件161及/或纵向滑轨组件162进行相应的作动。
[0172]因此，在检测程序中，控制模块300可先控制驱动电路驱动水平滑轨组件161及/或纵向滑轨组件162携载光纤连接器120移动至一擦拭位置以清洁光纤接头121，如图8A、8B与图9所示。其中，当光纤连接器120移动至擦拭位置时，光纤连接器120的光纤接头121可对准于光纤清洁组710的清洁口 610c。之后，控制模块300可控制驱动电路驱动水平滑轨组件161携载光纤连接器120移动至一摄像位置以使控制模块300可根据摄像组720所撷取的影像确认光纤接头121是否已符合一干净标准，如图10所示。当控制模块300判断光纤接头121已符合干净标准时，如图9所示，控制模块300便可控制驱动电路驱动水平滑轨组件161及/或纵向滑轨组件162携载光纤连接器120移动至第二插入位置，以将光纤接头121插入位于测试座130的光传接模块200的光传输口 210中。于此，当光纤连接器120移动至第二插入位置时，光纤连接器120的光纤接头121可对准于光传接模块200的光传输口 210。反之，当确认光纤接头121仍不符合干净标准时，控制模块300则重新控制驱动电路驱动水平滑轨组件161及/或纵向滑轨组件162携载光纤连接器120移动至擦拭位置重新进行清洁程序，直至判断光纤接头121已符合干净标准时，才控制驱动电路驱动水平滑轨组件161及/或纵向滑轨组件162携载光纤连接器120移动至第二插入位置。
[0173]在一实施例中，自动检测装置100还包含第一计数器(图未示)，耦接至控制模块300，且可用以计数光纤清洁组710对光纤接头121进行清洁的清洁次数。因此，控制模块300可根据第一计数器所计数的清洁次数确认光纤清洁组710的使用次数(与清洁次数的值相同)是否已达第一阈值，且于判断清洁次数达到第一阈值时，产生第一更换警示以提示进行更换光纤清洁组710中的光纤清洁带卷。
[0174]于光纤连接器120的光纤接头121插入至光传接模块200的光传输口 210中后，控制模块300便可发送致能信号给误码测试器140，以致动误码测试器140产生脉冲信号SI。于此，脉冲信号SI为一种电信号，故须先将脉冲信号SI经由电光转换模块110转换成对应的测试光信号S2后，再将测试光信号S2经由光纤连接器120传输至位于测试座130的光传接模块200以进行检测。
[0175]因此，光传接模块200便可根据光传输口210所接收到的测试光信号S2转换出对应的输出电信号S3，且测试座130可根据光传接模块200所转换出的输出电信号S3产生对应的检测信号S4输出，以使误码测试器140可根据检测信号S4产生误码率Rl。
[0176]在一实施例中，误码测试器140可包含脉冲产生单元(Pulse Pattern Generator,PPG) 141与误码检测单元(Error Detector，ED) 142。其中，脉冲产生单元141親接至电光转换模块110，且误码检测器142耦接电光转换模块110、测试座130以及控制模块300。
[0177]在一实施例中，脉冲产生单元141可为伪随机位元序列(PRBS)产生器，用以产生并输出具有2N-1种的排列组合的脉冲信号SI，其中N为位元数。而误码检测单元142则可用以根据检测信号S4以及脉冲产生单元141所产生的脉冲信号SI来得到误码率R1。于此，误码率Rl是指每一个从发送端(如脉冲产生单元141)送出的位元在接收端(如光传接模块200)发生错误的机率，而可用以衡量数据在规定时间内的传输精确性。
[0178]此外，于光纤连接器120的光纤接头121插入至光传接模块200的光传输口 210中后，误码测试器140所产生的脉冲信号SI亦可经由测试座130的测试槽1321以及与测试槽1321中的接头相接的电传输口 220传输至光传接模块200，且光传接模块200可根据电传输口 220所接收的脉冲信号SI转换出对应的输出光信号S5至通信分析仪600，以使通信分析仪600可根据输出光信号S5来产生对应的分析信号S6，借以完成对光传接模块200的光发送功能的检测。
[0179]在一实施例中，通信分析仪600可为数位通信分析示波器(DCA)。
[0180]于此，自动检测装置100可先完成对光传接模块200的光接收功能的检测后，再完成对光传接模块200的光发送功能的检测。然而，本实用新型并非以此为限，自动检测装置100亦可先完成对光传接模块200的光发送功能的检测后，再完成对光传接模块200的光接收功能的检测。
[0181]因此，于经过预计可完成所有检测的一预定时间后，例如20分钟，控制模块300便可控制第二移载机构160将光纤连接器120的光纤接头121自光传接模块200的光传输口 210
中拔出。
[0182]请参阅图13至图15。在一实施例中，光纤连接器120还包含一弹臂122，设置于支撑套管1211上，用以于光纤接头121插入至光传接模块200的光传输口 210时可扣合于光传接模块200的外壳。此外，第二移载机构160还包含升降组件164与推压件165。其中，推压件165耦接升降组件，且升降组件164耦接至纵向滑轨组件162与驱动电路，以根驱动电路的驱动信号进行相应的作动。于此，推压件165可相对于携载部163设置于其上方，并可随纵向滑轨组件162—同移动。
[0183]因此，当欲将光纤接头121自光传输口210中拔出时，控制模块300可先控制驱动电路驱动升降组件164带动推压件165朝携载部163的方向下降，以推压位于携载部163的光纤连接器120的弹臂122，如图14所示。之后，控制模块300再控制驱动电路驱动纵向滑轨组件162朝向远离光传接模块200的光传输口 210的方向移动，以使光纤连接器120的光纤接头121可与光传输口 210分离，如图15所示。此外，控制模块300还可控制驱动电路驱动水平滑轨组件161带动携载部163回复至擦拭位置进行清洁，以待测试下一个光传接模块200。
[0184]接续，于光纤接头121自光传输口210中拔出后，控制模块300便可根据误码测试器140所产生的误码率Rl与通信分析仪600所产生的分析信号S6控制第一移载机构150将光传接模块200自测试座130搬运至对应的合格品区A21或不合格品区A22。
[0185]请参阅图16至图20。在一实施例中，自动检测装置100还包含一出料载台800，以使第一移载机构150可先将检测完的光传接模块200先移送至此处后，再搬运至对应的合格品区A21或不合格品区A22。在本实施例中，出料载台800可包含承载基座810、出料槽820以及滑轨组件830。其中，出料槽820位于承载基座810上，且出料槽820具有一进料端。于此，出料槽820可凹设于承载基座810，且进料端系邻接于承载基座810的一侧边。滑轨组件830耦接承载基座810以及控制模块300，以根据控制模块300的控制信号带动承载基座810进行相应的作动。
[0186]此外，第一移载机构150还可包含第三移载组件153，设置于出料载台800的承载基座810上，用以将已完成检测的光传接模块200自测试座130的测试槽1321中移出至出料载台800的出料槽820中。
[0187]在本实施例中，光传接模块200还包含拉环240，邻设于光传输口210。于此，拉环240可旋转于一扣合位置与一拉动位置之间，以将光传接模块200固定于或拔出于与的相接的电子装置。因此，当光传接模块200被插入至测试座130的测试槽1321中时，拉环240可被旋转至扣合位置以将光传接模块200固定于测试槽1321中；而当欲将光传接模块200自测试槽1321中拔出时，拉环240则可被旋转至拉动位置，以使光传接模块200可被轻松拉出。
[0188]第一移载机构150的第三移载组件153可包含纵向滑轨组件1531、垂直伸缩组件1532与驱动电路(图未示)。其中，垂直伸缩组件1532耦接纵向滑轨组件1531，以跟随纵向滑轨组件1531 —同移动;且驱动电路耦接纵向滑轨组件1531、垂直伸缩组件1532与控制模块300，以根据控制模块300的控制信号驱动纵向滑轨组件1531及/或垂直伸缩组件1532进行相应的作动。
[0189]因此，当控制模块300欲根据误码率Rl与分析信号S6控制第一移载机构150将光传接模块200自测试座130移至对应的合格品区A21或不合格品区A22时，控制模块300可先控制出料载台800的滑轨组件830带动承载基座810移动至一进料位置，以使得出料槽820的进料端可相对于测试槽1321的进出端。于此，当承载基座810移动至进料位置时，裸露于测试槽1321外的光传接模块200的光传输口 210可位于出料槽820中。
[0190]然后，控制模块300可控制第三移载组件153的驱动电路驱动纵向滑轨组件1531带动垂直伸缩组件1532朝测试座130的方向移动，以使垂直伸缩组件1532可位于光传接模块200的光传输口 210的上方，如图16所示。于此，垂直伸缩组件1532具有一伸缩件，且当垂直伸缩组件1532位于光传输口 210的上方时，伸缩件可对准于由光传接模块200的拉环240与光传输口 210所形成的穿孔(此时的拉环240是位于扣合位置)。
[0191]接续，如图17A、17B所示，控制模块300可控制第三移载组件153的驱动电路驱动垂直伸缩组件1532的伸缩件向下伸展，以使伸缩件可位于由拉环240与光传输口 210所形成的穿孔中后，再驱动纵向滑轨组件1531朝远离于测试座130的方向移动，以将光传接模块200的拉环240自扣合位置拉动至拉动位置并借以将整个光传接模块200自测试槽1321中拉至出料槽820中，如图18所示。之后，如图19所示，控制模块300便可控制出料载台800的滑轨组件830带动承载基座810移动至出料位置。接续，如图18所示，控制模块300控制第一移载组件151的驱动电路驱动水平滑轨组件1511带动取置部1513移动至位于出料槽820的光传接模块200的上方后，再控制第一移载组件151的驱动电路驱动升降组件1512带动取置部1513向下移动直至取置部1513可取起已检测完的光传接模块200后，再带动取置部1513向上移动。然后，控制模块300便可根据误码测试器140所产生的误码率Rl与通信分析仪600所产生的分析信号S6控制第一移载组件151的驱动电路驱动水平滑轨组件1511、升降组件1512与取置部1513，以将光传接模块200置放到对应的合格品待置区A212的合格品出料盘420上或不合格品待置区A222的不合格品出料盘430上。
[0192]在一实施例中，自动检测装置100还包含第二计数器(图未示)，耦接至控制模块300，且可用以计数光纤连接器120的光纤接头121插入至光传接模块200的光传输口 210的使用次数。因此，控制模块300可根据第二计数器所计数的使用次数确认光纤连接器120的使用次数是否已达第二阈值，且于判断使用次数达到第二阈值时，产生第二更换警示以提示进行更换光纤连接器120中的光纤1212。
[0193]此外，自动检测装置100还包含第三计数器(图未示)，耦接至控制模块300，且可用以计数测试座130的测试槽1321的测试次数。因此，控制模块300可根据第三计数器所计数的测试次数确认测试座130的测试槽1321的使用次数(S卩，所述的测试次数)是否已达第三阈值，且于判断测试次数达到第三阈值时，产生第三更换警示以提示进行更换测试座130的测试槽1321。
[0194]在一实施例中，每一光传接模块200上可具有其对应的识别码，且自动检测装置100可包含读码器(图未示)，耦接至控制模块300，且可于光传接模块200插入至测试座130的测试槽1321中时，用以读取并记录光传接模块200上的识别码，以使控制模块300可根据此识别码与其检测的结果(即，误码率Rl与分析信号S6)得知各个光传接模块200的品质。
[0195]综上所述，根据本实用新型一实施例的自动检测装置，利用移载机构来搬运光传接模块以及插拔光纤连接器，而无需仰赖人工进行作业，借以自动化光传接模块的检测作业，并提高整体检测的精准度与效率。
[0196]当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
【主权项】
1.一种自动检测装置，适用于检测一光传接模块，该光传接模块包含一光传输口，且用以依据该光传输口所接收的一测试光信号产生对应的一输出电信号，其特征在于，该自动检测装置包含: 一电光转换模块，依据一脉冲信号产生对应的该测试光信号； 一光纤连接器，传输该测试光信号，该光纤连接器包含一光纤接头； 一测试座，依据该输出电信号产生一检测信号； 一误码测试器，产生该脉冲信号，且根据该检测信号产生一误码率； 一进料区，放置未检测的该光传接模块； 一出料区，放置已检测的该光传接模块，包含一合格品区与一不合格品区； 一第一移载机构，搬运该光传接模块； 一第二移载机构，携载该光纤连接器;及 一控制模块，控制该第一移载机构将位于该进料区的该光传接模块移至该测试座，且控制该第二移载机构将该光纤连接器的该光纤接头插入该光传接模块的该光传输口中，并致动该误码测试器;该控制模块在一预定时间后控制该第二移载机构将该光纤连接器的该光纤接头自该光传接模块的该光传输口中拔出，并依据该误码率控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座搬运至该合格品区或该不合格品区。2.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，还包含: 一光纤清洁组，清洁该光纤连接器的该光纤接头； 一摄像组，撷取该光纤接头的影像;及 一第一计数器，计数该光纤清洁组的一清洁次数； 其中该控制模块还控制该第二移载机构将该光纤连接器移至该光纤清洁组，且将清洁后的该光纤连接器移至该摄像组，并根据该摄像组所撷取的该影像确认该光纤接头是否符合一干净标准； 其中该控制模块还确认该清洁次数是否已达一第一阈值，且于判断该清洁次数已达该第一阈值时，输出一第一更换警示。3.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，还包含: 一预热载台，加热该光传接模块至一预热温度； 其中该控制模块控制该第一移载机构将位于该进料区的该光传接模块移至该预热载台后，再控制该第一移载机构将该光传接模移至该测试座，且该控制模块还控制该第一移载机构将位于该进料区的另一光传接模块移至该预热载台。4.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，还包含: 一第二计数器，计数该光纤连接器的该光纤接头插入至该光传接模块的该光传输口中的一使用次数； 其中该控制模块还确认该使用次数是否已达一第二阈值，且于判断该使用次数已达该第二阈值时，输出一第二更换警示。5.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，还包含: 一第三计数器，计数测试座的一测试次数； 其中该控制模块还确认该测试次数是否已达一第三阈值，且于判断该测试次数已达该第三阈值时，输出一第三更换警示。6.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，该光传接模块具有一识别码，该自动检测装置还包含一读码器，读取并记录该光传接模块的该识别码。7.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，该进料区包含一供料区、一待取区与一空盘堆放区，该供料区放置承载有未检测的该光传接模块的一进料盘，该待取区放置来自该供料区的该进料盘，该空盘堆放区放置未承载该未检测的该光传接模块的该进料盘，该合格品区包含一合格品空盘区、一合格品待置区与一合格品满盘区，该合格品空盘区放置未承载该光传接模块的一合格品出料盘，该合格品待置区放置来自该合格品空盘区的该合格品出料盘，该合格品满盘区放置已满盘的该合格品出料盘，该不合格品区包含一不合格品空盘区、一不合格品待置区与一不合格品满盘区，该不合格品空盘区放置未承载该光传接模块的一不合格品出料盘，该不合格品待置区放置来自该不合格品空盘区的该不合格品出料盘，该不合格品满盘区放置已满盘的该不合格品出料盘，该自动检测装置还包含: 一第三移载机构，搬运该进料盘； 一第四移载机构，搬运该合格品出料盘;及 一第五移载机构，搬运该不合格品出料盘； 其中该控制模块还控制该第三移载机构将该进料盘自该供料区移至该待取区，并当位于该待取区的该进料盘已无承载该光传接模块时，控制该第三移载机构将该进料盘移至该空盘堆放区，且控制该第三移载机构将另一该进料盘自该供料区移至该待取区； 其中该控制模块还控制该第四移载机构将该合格品出料盘自该合格品空盘区移至该合格品待置区，并当位于该合格品待置区的该合格品出料盘已载满该光传接模块时，控制该第四移载机构将该合格品出料盘移至该合格品满盘区，且控制该第四移载机构将另一该合格品出料盘自该合格品空盘区移至该合格品待置区； 其中该控制模块还控制该第五移载机构将该不合格品出料盘自该不合格品空盘区移至该不合格品待置区，并当位于该不合格品待置区的该不合格品出料盘已载满该光传接模块时，控制该第五移载机构将该不合格品出料盘移至该不合格品满盘区，且控制该第五移载机构将另一该不合格品出料盘自该不合格品空盘区移至该不合格品待置区。8.如权利要求7所述的自动检测装置，其特征在于，还包含: 一第一检测模块，检测是否有该进料盘位于该供料区，且当未检测到该进料盘位于该供料区时，产生一第一补充警示； 一第二检测模块，检测是否有该合格品出料盘位于该合格品空盘区，且当未检测该合格品出料盘位于该合格品空盘区时，产生一第二补充警示;及 一第三检测模块，检测是否有该不合格品出料盘位于该不合格品空盘区，且当未检测到该不合格品出料盘位于该不合格品空盘区时，产生一第三补充警示。9.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，该测试座包含: 一温控模块，调控位于该测试座的该光传接模块至一测试温度。10.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，该光传接模块还包含一电传输口，且该光传接模块还依据该电传输口所接收的该脉冲信号产生对应的一输出光信号，该自动检测装置还包含: 一通信分析仪，依据该输出光信号产生一分析信号； 其中，该控制模块依据该误码率与该分析信号控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座搬运至该合格品区或该不合格品区。11.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，该光纤连接器还包含一弹臂，该弹臂的一端耦接于该光纤连接器，当该光纤连接器的该光纤接头插入该光传接模块的该光传输口中时，该弹臂的另一端扣合于该光传接模块，以固定该光纤接头于该光传输口中，该第二移载机构包含一推压件与一纵向滑轨组件，该预定时间后该控制模块控制该推压件推压该弹臂，以使该弹臂的该另一端松开该光传接模块，且该控制模块控制该纵向滑轨组件朝远离该光传输口的方向移动，以使该光纤接头自该光传输口中拔出。12.如权利要求1所述的自动检测装置，其特征在于，还包含一出料载台，该出料载台包含一承载基座与一出料槽，该出料槽位于该承载基座上，其中于该光纤接头自该光传输口中拔出后，该控制模块控制该第一移载机构将完成检测的该光传接模块自该测试座移到该出料槽，再根据该误码率控制该第一移载机构将位于该出料槽的该光传接模块搬运至该合格品区或该不合格品区。13.如权利要求12所述的自动检测装置，其特征在于，该第一移载机构包含一伸缩件，该光传接模块还包含一拉环，该拉环位于该光传输口，且该拉环可旋转于一扣合位置与一拉动位置之间，其中当该光传接模块位于该测试座时，该拉环位于该扣合位置，且该拉环与该光传输口之间形成一穿孔，其中该控制模块于该预定时间后控制该伸缩件伸展至该穿孔中后，再控制该伸缩件朝远离于该测试座的方向移动，以拉动该拉环至该拉动位置并借以将该光传接模块自该测试座拉至该出料槽中。
【文档编号】H04B10/073GK205610642SQ201620285915
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2016年4月7日
【发明人】王中庸
【申请人】王中庸