专利名称：测试座接口电路板的制作方法
技术领域：
本发明是有关于一种测试座接口电路板，且特别是有关于一种信号成双边左右对称排列的测试座接口电路板。
发明内容
本发明的目的就是在提供一种测试座接口电路板，因为信号连接点与测试点间的走线距离缩短且所有的走线距离均相同，所以可以减少信号时序的延迟时间。
本发明的另一目的为提供电源端与接地端各独立布局成一层的测试座接口电路板，可以避免电源端与信号间的相互干扰问题，以达成提高集成电路测试质量的目的。
为达成上述和其它目的，本发明提供一种测试座接口电路板，其适用于测试集成电路。此测试座接口电路板具有第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点。其中第一区信号线接点具有第一组信号线接点与第二组信号线接点。第一区测试点连接至第一区信号线接点。第二区信号线接点具有第三组信号线接点与第四组信号线接点。而第二区测试点连接至第二区信号线接点。其中第一组信号线接点与第二组信号线接点对称排列于第一区测试点的两侧，第三信号线接点与第四信号线接点对称排列于第二区测试点的两侧。
在本发明的一种实施方式中，第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点位于测试座接口电路板中的信号层。
在本发明的另一种实施方式中，第一区信号线接点经由第一组走线与第一区测试点连接；以及第二区信号线接点经由第二组走线与第二区测试点连接。另外，第一组走线中的每一条走线的走线距离均相同；以及第二组走线中的每一条走线的走线距离均相同。
在本发明的又一种实施方式中，测试座接口电路板包括具有第一参考电位的第一参考层与具有第二参考电位的第二参考层。其中第一参考层为接地层，第一参考电位为接地电位。第二参考层为电源层，第二参考电位为电源电位。
本发明还提供一种测试座接口电路板，其适用于测试集成电路。此测试座接口电路板包括信号层、具有第一参考电位的第一参考层、以及具有第二参考电位的第二参考层。其中信号层包括第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点。其中第一区信号线接点具有第一组信号线接点与第二组信号线接点。第一区测试点连接至第一区信号线接点。第二区信号线接点具有第三组信号线接点与第四组信号线接点。而第二区测试点连接至第二区信号线接点。其中第一组信号线接点与第二组信号线接点对称排列于第一区测试点的两侧，第三信号线接点与第四信号线接点对称排列于第二区测试点的两侧。
本发明所提供的测试座接口电路板，因为具有双边左右对称排列的信号线接点，而使得信号线接点至测试点的走线距离缩短且所有的走线距离均相同，所以会使信号时序的延迟时间减少。另外本发明的测试座接口板，因为电源层与接地层各自独立布局于一层，可以减少对信号的干扰。因此当以本发明的测试座接口板来测试IC时，只要输入较低的输入高电压准位，就可以驱动所要测试的IC。
图4为依照本发明一实施例的一种测试座接口电路板的信号连接图。附图
标记说明10公知的测试座接口电路板100、400第一区信号连接点102、402第二区信号连接点104、412第一区测试点106、414第二区测试点108电源端110接地端202测试头204同轴隔离信号线206测试座接口电路板208测试座210IC30本发明的测试座接口电路300顶端信号层302接地层304电源层306底端信号层40本发明的测试座接口电路404第一组信号连接点406第二组信号连接点408第三组信号连接点410第四组信号连接点图3为依照本发明一实施例的一种测试座接口电路板的布线结构图。在本实施例中，测试座接口电路30的布线结构为具有4层的堆栈结构，包括顶端信号层300、接地层302、电源层304、底端信号层306。其中接地层302具有接地电位，电源层304具有电源电位。在此要说明的是，本发明的测试座接口电路30并不局限于4层，只要接地层302与电源层304各自独立布局于一层都可适用本发明。
请参照图3，其为依照本发明一实施例的一种测试座接口电路板的信号连接图。在此测试座接口电路板40的顶端信号层300上，包括第一区信号线接点400、第一区测试点412、第二区信号线接点402、以及第二区测试点414。其中第一区信号线接点400包括第一组信号线接点404与第二组信号线接点406。第一区测试点412连接至第一区信号线接点400。第二区信号线接点402包括第三组信号线接点408与第四组信号线接点410。而第二区测试点414连接至第二区信号线接点402。由图4可知，第一组信号线接点404与第二组信号线接点406对称排列于第一区测试点412的两侧，而第三信号线接点408与第四信号线接点410对称排列于第二区测试点414的两侧，也就是本发明的信号连接点为双边左右对称排列。在以本发明的测试座接口电路板测试IC时，因为信号连接点为双边左右对称排列，而使得信号连接点至测试点之间所有的走线距离均相同且走线距离相当短，所以会使信号时序的延迟时间减少。
而且因为电源层与接地层各自独立于一层，而使得信号连接点与测试点所连接的信号不会受到电源层的干扰，因此能确保信号的传输质量。所以当IC在工作电压为5.6V时，测试信号的输入高电位(VIH)只要1.8V就可以驱动IC。而公知的测试座接口电路板，当IC在工作电压为5.6V时，测试信号的输入高电位(VIH)却需要2.0V才可以驱动IC。所以本发明的测试座接口电路板可以提供较佳的测试环境，在不放宽测试条件的前提下，可确保合格品IC的规格，更能符合原定规格书的标准。
综上所述，将本发明的优点略述下1.信号线接点与测试点所连接的走线因为距离相同且距离很短，所以可以减少信号时序的延迟时间。
2.电源端与接地端各独立布局成一层，可以避免电源端与信号间的相互干扰问题，所以可以维持信号良好的传输质量，因此可以提高测试质量的目的。
虽然本发明已以实施例说明如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求书为准。
权利要求
1.一种测试座接口电路板，其适用于测试一集成电路，其特征为该测试座接口电路板包括一第一区信号线接点，包括一第一组信号线接点；以及一第二组信号线接点一第一区测试点，连接至该第一区信号线接点；一第二区信号线接点，包括一第三组信号线接点；以及一第四组信号线接点；以及一第二区测试点，连接至该第二区信号线接点；其中该第一组信号线接点与该第二组信号线接点对称排列于该第一区测试点的两侧，该第三信号线接点与该第四信号线接点对称排列于该第二区测试点的两侧。
2.如权利要求1所述的测试座接口电路板，其特征为该第一区信号线接点、该第一区测试点、该第二区信号线接点、以及该第二区测试点位于该测试座接口电路板中的一信号层。
3.如权利要求1所述的测试座接口电路板，其特征为该第一区信号线接点经由一第一组走线与该第一区测试点连接；以及该第二区信号线接点经由一第二组走线与该第二区测试点连接。
4.如权利要求3所述的测试座接口电路板，其特征为该第一组走线中的每一条走线的走线距离均相同；以及该第二组中的每一条走线的走线距离均相同。
5.如权利要求1所述的测试座接口电路板，其特征为该测试座接口电路板包括具有一第一参考电位的一第一参考层与具有一第二参考电位的一第二参考层。
6.如权利要求5所述的测试座接口电路板，其特征为该第一参考层为接地层；以及该第二参考层为电源层。
7.如权利要求5所述的测试座接口电路板，其特征为该第一参考电位为接地电位；以及该第二参考电位为电源电位。
8.如权利要求1所述的测试座接口电路板，其特征为该第一区测试点与该第二区测试点经由一测试座而连接至该集成电路。
9.一种测试座接口电路板，其适用于测试一集成电路，其特征为该测试座接口电路板包括一信号层，包括一第一区信号线接点，包括一第一组信号线接点；以及一第二组信号线接点一第一区测试点，连接至该第一区信号线接点；一第二区信号线接点，包括一第三组信号线接点；以及一第四组信号线接点；以及一第二区测试点，连接至该第二区信号线接点；一第一参考层，具有一第一参考电位；以及一第二参考层，具有一第二参考电位；其中该第一组信号线接点与该第二组信号线接点对称排列于该第一区测试点的两侧，该第三信号线接点与该第四信号线接点对称排列于该第二区测试点的两侧。
10.如权利要求9所述的测试座接口电路板，其特征为该第一区信号线接点经由一第一组走线与该第一区测试点连接；以及该第二区信号线接点经由一第二组走线与该第二区测试点连接。
11.如权利要求10所述的测试座接口电路板，其特征为该第一组走线中的每一条走线的走线距离均相同；以及该第二组中的每一条走线的走线距离均相同。
12.如权利要求9所述的测试座接口电路板，其特征为该第一参考层为接地层；以及该第二参考层为电源层。
13.如权利要求9所述的测试座接口电路板，其特征为该第一参考电位为接地电位；以及该第二参考电位为电源电位。
14.如权利要求9所述的测试座接口电路板，其特征为该第一区测试点与该第二区测试点经由一测试座而连接至该集成电路。
全文摘要
一种测试座接口电路板。其适用于测试集成电路。此测试座接口电路板具有第一区信号线接点、第一区测试点、第二区信号线接点、以及第二区测试点。其中第一区信号线接点具有第一组信号线接点与第二组信号线接点。第一区测试点连接至第一区信号线接点。第二区信号线接点具有第三组信号线接点与第四组信号线接点。而第二区测试点连接至该第二区信号线接点。其中第一组信号线接点与第二组信号线接点左右对称，第三信号线接点与第四信号线接点左右对称。
文档编号H05K1/00GK1427660SQ0114034
公开日2003年7月2日 申请日期2001年12月17日 优先权日2001年12月17日
发明者施光华, 施正吾, 曾文峰 申请人:旺宏电子股份有限公司