专利名称：测试电路板的制作方法
技术领域：
本实用新型相关于测试电路板，尤指 一 种用来对集成电路 进4亍测试的测试电游^反。
背景技术：
为了确保集成电路(integrated circuit, IC)出货时的品质， 在完成制造过程之后， 一般都会对每一个IC执行测试，制造商 会依据对IC执行测试的结果，来决定此IC是否合格，并据以判 断是否可将此IC供应给下游的厂商。
请参阅图1，图l所示为已知技术用来执行IC量产测试的测 试架构示意图。在此一测试架构中，利用测试^/L ( tester ) 10 来作为测试待测试元件(Device Under Test, DUT) 22的工具。 其中，待测试元件22可为一待测的集成电路(IC),而为了测试 方便，待测试元件22通常设置于一待测试元件电路板(DUT board) 20上。
请参阅图2,图2所示为已知技术的测试电路板的示意图。 如图1以及图2所示，通常，测试机10在进行测试时，通常都招: 配专属的待测试元件电路板20来进行测试，而且根据不同的待 测试元件22，其相对应的待测试元件电鴻一反20上的电^各也有所 不同，待测试元件电路板20上通常包括一些基本的测试连接端 点24用以对;降测试元件22进^f亍测试，例如电源端(DPS)、继电 器控制端(RELAY CONTROL)、通道端(CHANNEL)、 CBIT端、 万用孔等等。然而，上述的测试连接端点24皆是凌乱的散布于 待测试元件电聘^反20的四周，因此制作待测试元件电路板20是 相当麻烦的，而且在制作的过程中，有可能会因为测试者进行
人工接线而将复杂的连接线28错误连接，此种情况下会导致测 试者必需浪费额外的时间进行除错，不仅耗费时间又耗费人力。 因此，确实有必要提出 一种不需要复杂接线的测试电路板， 可以省去人工接线所带来的不便，更可避免将连接线错误连接 的状况发生，以解决已知技术所面临的问题。
实用新型内容
因此，本实用新型的目的之一，在于提供一种可提升芯片 测试的便利性以及准确性的测试电路板，以解决已知技术所面 临的问题。
本实用新型的实施例揭露一种测试电鴻4反，用来置方文包括 多个脚位的至少一待测试元件，并传递一测试机所产生的多个 测试信号以对该至少 一 待测试元件进行测试。该测试电^各板包 括一电路基板、多个转接槽、多个连接槽以及多条传输线。多 个转接槽设置于该电路基板上，所述多个转接槽分别耦接于该 测试机。多个连接槽设置于该电路基板上，所述多个连接槽分 别耦接于该至少一待测试元件所包括的多个脚位以及该多个转 接槽之间，用以才是供该多个测试信号至该至少一待测试元件， 并接收该至少 一 待测试元件根据该多个测试信号所相对应产生 的多个输出信号。多条传输线耦接于该多个转接槽以及该多个 连接槽之间，用以传输该多个测试信号以及该多个输出信号， 其中该多条传输线利用 一预定方式设置于该电路基板上。
本实用新型所述的测试电路板，该预定方式指将该多条传 输线以印刷电路的方式设置于该电路基板上。
本实用新型所述的测试电路板，该多条传输线的材质为铜。
本实用新型所述的测试电路板，该电路基板为一印刷电路板。
本实用新型所述的测试电^各板，该至少 一待测试元件为集
成电i 各(Integrated Circuit, IC)。
本实用新型所述的测试电路板，该多个连接槽包括一电源 插槽，用以提供该至少一待测试元件所需的电源。
本实用新型所述的测试电路板，该多个转接槽通过多条转 接接口耦接于该测试机，该多条转接接口用以传递该多个测试 信号以及该多个输出信号。
本实用新型所述的测试电路板，该多条转接接口中每一条 转接接口分别为一总线。
本实用新型所述的测试电路板，该测试机为VTT V7100系 列的测试才几其中之一。
本实用新型所述的测试电蹈—反，该测试电鴻^反适用于该 VTT V7100系列的测试才几。
本实用新型所述的测试电路板，能够避免人工连接错误的 状况发生，可以有效的节省测试所需的时间，进一步提升测试 效率。
图l为已知技术用来执行IC量产测试的测试架构示意图。
图2所示为已知技术的测试电路板的示意图。
图3所示为本实用新型所提出的测试电路板的示意图。
具体实施方式
请参阅图3，图3所示为本实用新型所提出的测试电路板的 示意图。如图3所示，本实用新型揭露一种测试电路板30,用来 置放包括多个脚位的至少一待测试元件(图未示)，并用以传递 一测试机(图未示)所产生的多个测试信号以对该至少一待测试
元件(图未示)进行测试。于一实施例中，待测试元件为一集成
电路(Integrated Circuit, IC)。
测试电路板30包括一电路基板32、多个转接槽34、多个连 接槽36以及多条传输线38。多个转接槽34设置于电路基板32上， 所述多个转接槽34分别耦接于测试机(图未示)。多个连接槽36 设置于电路基板32上，所述多个连接槽36分别耦接于至少一待 测试元件(图未示)所包括的多个脚位以及该多个转接槽34之 间，用以提供多个测试信号至该至少一待测试元件(图未示)， 并进一步接收该至少一待测试元件(图未示)根据多个测试信号 所相对应产生的多个输出信号。多条传输线38耦接于多个转接 槽34以及多个连4妄槽36之间，用以传输该多个测试信号以及该 多个输出信号，其中该多条传输线38采用 一预定方式设置于该 电路基板32上。于一实施例中，该预定方式指将该多条传输线 38以印刷电路的方式预先设置于该电路基板32上。借此，可以 省去采用人工将多条传输线38逐一连接所花费的时间。于一 实 施例中，该测试机(图未示)为VTT V7100系列的测试机其中之 一。而该测试电路板30适用于VTT V7100系列的测试机。
于一实施例中，电路基板32为 一印刷电路板。而该多条传 输线38的材质为铜，以铜所构成的多条传输线38釆用预先印刷 于电路基板32的方式，直接设置于电路基板32上的转接槽34以 及多个连接槽36之间。
多个连接槽36中另包括至少一电源插槽40,耦接于一电源 供应装置(图未示)，电源插槽40用以自电源供应装置(图未示) 取得电源后，进一步提供给该至少一待测试元件(图未示)，以 进行测试。此外，该多个转接槽34通过多条转接接口 (图未示) 耦接于测试机(图未示)，该多条转接接口 (图未示)用以传递该多 个测试信号以及该多个输出信号。于一实施例中，该多条转接
接口 (图未示)中每一条转接接口分别为一总线。
在本实用新型的各个实施例中，本实用新型的测试电路板
预先利用印刷电路的方式将所有的连接线设置于测试电路板 上，省去以往需要使用人工将连接线耦接于待测试元件的每个 脚位以及相对应的连接槽之间，才能顺利进行测试所带来的不 便，此外，预先使用印刷电路的方式设置连接线更能够避免人 工连接错误的状况发生，可以有效的节省测试所需的时间，进 一步提升测试效率，这些都是本实用新型优于已知技术的特点。 以上所述仅为本实用新型较佳实施例，然其并非用以限定 本实用新型的范围，任何熟悉本项技术的人员，在不脱离本实 用新型的精神和范围内，可在此基础上做进一步的改进和变化， 因此本实用新型的保护范围当以本申请的权利要求书所界定的 范围为准。
附图中符号的简单说明如下:
10:测试机
20:待测试元件电路板
22:待测试元件
24:测试连"l妻端点
28:连接线
38:传输线
30:测试电^各才反
32:电路基板
34:转接槽
36:连接槽
40:电源插槽。
权利要求1. 一种测试电路板，其特征在于，用来置放包括多个脚位的至少一待测试元件，并传递一测试机所产生的多个测试信号以对该至少一待测试元件进行测试，该测试电路板包括一电路基板；多个转接槽，设置于该电路基板上，所述多个转接槽分别耦接于该测试机；多个连接槽，设置于该电路基板上，所述多个连接槽分别耦接于该至少一待测试元件所包括的多个脚位以及该多个转接槽之间，用以提供该多个测试信号至该至少一待测试元件，并接收该至少一待测试元件根据该多个测试信号所相对应产生的多个输出信号；以及多条传输线，分别耦接于该多个转接槽以及该多个连接槽之间，用以传输该多个测试信号以及该多个输出信号，其中该多条传输线利用一预定方式设置于该电路基板上。
2. 根据权利要求l所述的测试电路板，其特征在于，该预 定方式指将该多条传输线以印刷电路的方式设置于该电路基板 上。
3. 根据权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，该多 条传输线的材质为铜。
4. 根据权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，该电 路基板为 一 印刷电^各板。
5. 根据权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，该至 少一待测试元件为集成电路。
6. 根据权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，该多 个连接槽包括一电源插槽，用以提供该至少一待测试元件所需 的电源。
7. 根据权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，该多 个转接槽通过多条转接接口耦接于该测试机，该多条转接接口 用以传递该多个测试信号以及该多个输出信号。
8. 根据权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，该多 条转接接口中每一条转接接口分别为一总线。
9. 根据权利要求l所述的测试电路寺反，其特征在于，该测 试机为VTT V7100系列的测试机其中之一。
10. 根据权利要求9所述的测试电路板，其特征在于，该测 试电游^反适用于该VTT V7100系列的测试才几。
专利摘要本实用新型揭露一种测试电路板，用来置放至少一待测试元件，并用以传递一测试机所产生的多个测试信号以对待测试元件进行测试。测试电路板包括一电路基板、多个转接槽、多个连接槽以及多条传输线。该多个转接槽、多个连接槽以及多条传输线设置于电路基板上。其中，该些传输线采用一预定方式设置于该电路基板上。本实用新型所述的测试电路板，能够避免人工连接错误的状况发生，可以有效的节省测试所需的时间，进一步提升测试效率。
文档编号H05K1/02GK201212905SQ200820110889
公开日2009年3月25日 申请日期2008年5月7日 优先权日2008年5月7日
发明者宋淳立 申请人:普诚科技股份有限公司