石墨单晶片的割炬式制备装置和制备方法

文档序号:8201709阅读:291来源:国知局
专利名称:石墨单晶片的割炬式制备装置和制备方法
技术领域
本发明是关于一种石墨单晶片的制备装置和制备方法,属于微/纳米材料制备领域。
背景技术
近年来,微/纳米材料的用途十分广泛,其中石墨单晶片的制备具有十分重要的 意义。目前已有人用粘胶带去粘块状石墨的方法,从块状石墨上粘下石墨单晶片。但工效 相当低,难以形成产业化生产。其次,石墨单晶片上会粘有一些粘胶带的物质,影响了石墨 单晶片的纯度。

发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的是提供一种石墨单晶片的高效制备装置 和制备方法。 本发明制备装置是这样实现的它由制备炉、风扇和割炬组成;风扇置于制备炉 口,割炬喷火端置于制备炉内,割矩控制端置于制备炉外;制备炉下部设有多个进风口 ;制 备炉壁上设置观察窗。
本发明制备方法是这样实现的用割炬的火焰将石墨加热到100(TC以上,待石墨
分子间的范德华力完全消失后,用高压氧气喷击石墨,从而产生一些石墨单晶片;飘扬起来
的石墨单晶片和尚未成为单晶片的石墨晶片,随热空气上升,流过制备炉的导流道,逸出制
备炉口后,被设置在制备炉口的风扇吹向远处由于物质的自重因素,石墨单晶片将被吹得
最远,在石墨晶片下落的最远处,可以收集到石墨单晶片。
本发明的有益效果是生产石墨单晶片的工效高,产品质地纯净。


下面结合图对本发明进一步说明。
附图是本发明的示意图。 图中1为制备炉,2为割炬,3为进风口 , 4为割具火焰,5为石墨,6为导流道,7为 风扇,8为制备炉炉口 , 21为氧气开关,22为乙炔开关,23为高压氧气开关,24为观察窗,25 为割矩喷火端,26为割矩控制端。
具体实施例方式
石墨晶体中层与层之间相隔340pm,距离较大,是以范德华力结合起来的,即层与 层之间属于分子晶体。当石墨被加温到IOO(TC以上,晶体中层与层之间的范德华力会逐渐 消失,在外力的作用下, 一些单晶片会被剥离出来,从而可采用以下方法获得石墨单晶片
按图所示,将石墨5放入制备炉1中,图中的割矩2是机械工业中可用来切割钢板 的器具,割炬的火焰4温度可达2Q0(TC以上(调节割炬的乙炔开关22和氧气开关21,以及火焰与石墨的距离,就可得到合适的温度)。对石墨5用割炬2的火焰喷射,当石墨5的外 层温度达到100(TC以上,该高温的石墨晶体中层与层之间的范德华力就会逐渐消失。割炬 火焰中心可喷射高压氧气,这时打开高压氧气开关23,用高压氧气作为外力冲击石墨(水 平摆动割矩,可更有效地冲击石墨),使得已失去分子间范德华力的石墨单晶片和尚未成为 单晶片的石墨晶片飘扬起来(从观察窗24可看到是否有石墨粉状物飘扬上来,如果未出现 粉状物,可继续对石墨5加热)。由于热空气上升(新鲜空气从进风口 3补充进来),已失 去范德华力的石墨晶片,随着热空气的上升,经过制备炉的导流道6,逸出制备炉口 8。这时 被位于制备炉口的风扇7吹向剪头所示方向。由于物质的自重因素,石墨单晶片将被吹得 最远,从而在石墨晶片下落的最远处,可以收集到石墨单晶片。
权利要求
一种石墨单晶片的割炬式制备装置,其特征在于它由制备炉、风扇和割炬组成;风扇置于制备炉口,割炬喷火端置于制备炉内,割矩控制端置于制备炉外;制备炉下部设有多个进风口;制备炉壁上设置观察窗。
2. —种石墨单晶片的割炬式制备方法,其特征在于用割炬的火焰将石墨加热到 IOO(TC以上,待石墨分子间的范德华力完全消失后,用高压氧气喷击石墨,从而产生一些石 墨单晶片;飘扬起来的石墨单晶片和尚未成为单晶片的石墨晶片,随热空气上升,流过制备 炉的导流道,逸出制备炉口后,被设置在制备炉口的风扇吹向远处;由于物质的自重因素, 石墨单晶片将被吹得最远,在石墨晶片下落的最远处,可以收集到石墨单晶片。
全文摘要
本发明是关于一种石墨单晶片的割炬式制备装置和制备方法,其特别之处在于它由制备炉、风扇和割炬组成;风扇置于制备炉口,割炬喷火端置于制备炉内,割矩控制端置于制备炉外;制备炉下部设有多个进风口;制备炉壁上设置观察窗。用割炬的火焰将石墨加热到1000℃以上,待石墨分子间的范德华力完全消失后,用高压氧气喷击石墨,从而产生一些石墨单晶片;飘扬起来的石墨单晶片和尚未成为单晶片的石墨晶片,随热空气上升,流过制备炉的导流道,逸出制备炉口后,被设置在制备炉口的风扇吹向远处;由于物质的自重因素,石墨单晶片将被吹得最远,在石墨晶片下落的最远处,可以收集到石墨单晶片。本发明生产石墨单晶片的工效较高,产品质地纯净。
文档编号C30B29/02GK101724897SQ20091015378
公开日2010年6月9日 申请日期2009年11月9日 优先权日2009年11月9日
发明者冯静 申请人:冯静
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