专利名称：无损检测用驻波电子直线加速器装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及驻波电子直线加速器装置，具体地说，是涉及无损检测用驻波电子直线加速器装置。
背景技术：
利用X射线投射成像作为工业无损检测的一种重要手段被广泛应用，X射线透过被检工件使其在胶片上成像，根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。目前，常见的无损检测用电子直线加速器装置的结构大多如
图1所示，控制系统1 依次给出系统同步脉冲及出束命令；在得到出束命令后调制器2的高压脉冲输出模块输出高压脉冲；脉冲高压在经过脉冲变压器3后分为两路输出，一路送入磁控管4，一路送入电子枪8 ；磁控管4得到脉冲高压后输出脉冲形式的微波经微波传输系统6馈入加速管9形成驻波加速电场；电子枪8在得到脉冲高压后发射出脉冲电子；电子在加速管9的微波电场中加速后打靶，产生X射线束。在上述的电子直线加速器装置中，通过AFC稳频装置7来保证磁控管4的输出频率与加速管9的特征频率一致，从而保证加速器装置的长时间稳定工作，这种结构的电子直线加速器装置目前已有2、4、6和9MeV系列产品，在工业无损检测用场所广泛应用，但由于其所能检测工件的最大厚度有限(以钢为例，其能检测工件的最大厚度为380mm)，无法满足目前国家对重大装备的无损检测要求。并且，根据能量与均勻性关系表(见下表)，可以明显地看出，随着能量的增大，射线的均勻度逐渐降低，当加速器装置的能量在9MeV以下时，在胶片的有效范围内，射线的均勻性所引起的黑度误差基本满足ASME锅炉及压力容器规范及JB/T 4730承压设备无损检测的要求。但能量在9MeV以上，射线的均勻性所引起的黑度变化较大(见图4中的细曲线)，很难使整个胶片黑度值及黑度偏差满足评片标准要求，正因为如此，目前，若要将现有的2、4、6和9MeV系列产品结构用于重大装备的无损检测，其拍片效率无法满足无损检测的要求。表一能量与均勻性关系表
权利要求1.一种无损检测用驻波电子直线加速器装置，包括控制系统、调制器、脉冲变压器、磁控管、电子枪、加速管和AFC稳频装置，所述控制系统与所述调制器连接，所述脉冲变压器与所述调制器连接，所述脉冲变压器又分别与所述磁控管和所述电子枪连接，所述磁控管输出的微波经一微波传输系统馈入所述加速管形成驻波加速电场，所述电子枪发射的电子经过所述驻波加速电场产生一 X射线束，其特征在于，所述X射线束的能量>12MeV，焦点直径为Φ2 3mm，剂量率彡5500cGy/min. m，所述加速管的出X射线束侧连接一包含有均整块的均整器，其中，所述均整器安装在所述X射线束的主束方向，且所述均整块相对所述主束轴对称设置。
2.根据权利要求1所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述磁控管的工作频率范围为2998-3002MHz，功率为3. IMW以上。
3.根据权利要求2所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述磁控管所用磁铁的磁场强度最大为165毫特斯拉。
4.根据权利要求1、2或3所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述加速管通过一限束器与所述均整器连接。
5.根据权利要求4所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述限束器具有锥孔、所述锥孔的锥角为22°。
6.根据权利要求5所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述均整器设置在所述锥孔的中间。
7.根据权利要求4所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述均整器的远离所述限束器一侧设置有一激光定位指示装置，所述激光定位指示装置的中心与所述X射线束的中心重合。
8.根据权利要求7所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述激光定位指示装置为氦氖激光器或半导体激光器。
9.根据权利要求8所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述激光定位指示装置的激光源为点光源反射式或十字交互垂直双线光源直射式。
10.根据权利要求1所述的无损检测用驻波电子直线加速器装置，其特征在于，所述脉冲变压器、磁控管、微波传输系统、电子枪和加速管设置在一机箱内，所述AFC稳频装置设置在所述机箱外。
专利摘要本实用新型涉及一种无损检测用驻波电子直线加速器装置，包括控制系统、调制器、脉冲变压器、磁控管、电子枪、加速管和AFC稳频装置，控制系统与调制器连接，脉冲变压器与调制器连接，脉冲变压器又分别与磁控管和电子枪连接，磁控管输出的微波经一微波传输系统馈入加速管形成驻波加速电场，电子枪发射的电子经过驻波加速电场产生一X射线束，X射线束的能量≥12MeV，焦点直径为φ2～3mm，剂量率≥5500cGy/min.m，加速管的出X射线束侧连接一包含有均整块的均整器，其中，均整器安装在所述X射线束的主束方向，且均整块相对所述主束轴对称设置。本实用新型能用于大厚度工件的无损检测。
文档编号H05H9/00GK202077262SQ20112001564
公开日2011年12月14日 申请日期2011年1月18日 优先权日2011年1月18日
发明者刘建辉, 孟祥宇, 徐璟, 王非, 范林霞, 郭彦斌 申请人:北京机械工业自动化研究所