玻璃基板的缺陷检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及液晶显示器玻璃基板检测技术领域，尤其涉及玻璃基板的缺陷检测方法。
【背景技术】
[0002]随着人们对显示器的显示效果的关注程度越来越高，特别是显示器的分辨率的要求不断提升；故而，在显示器的玻璃基板加工过程中，其玻璃基板的质量要求也要求越来越严格。
[0003]现有的玻璃基板缺陷检测方法，采用激光扫描检测的方式，设备成本较高。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种玻璃基板的缺陷检测方法，该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本，提高检测效率。
[0005]为达到上述目的，本发明通过以下技术方案来实现。
[0006]玻璃基板的缺陷检测方法，它包括以下步骤:
A、将玻璃基板固定于夹具，玻璃基板前端为光源，玻璃基板后端为摄像头；
B、打开光源，摄像头对玻璃基板进行图像采集；
C、对摄像头所采集的图像进行图像处理:
O目标提取:对图像进行预处理分割，采用全局阈值技术处理及信号放大，使灰度图像背景与缺陷分割开，完成缺陷灰度图预处理，为图像的特征提取做准备；
2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后，对缺陷进行分类，提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述，得到缺陷的特征数值；
3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值，将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘；
D、打印数据报表和图片，包含缺陷的分类和对应的特征数值，以及标准缺陷数值。
[0007]所述摄像头的数量至少为三个。
[0008]所述光源连接有光源控制器。
[0009]所述光源为LED发光体。
[0010]本发明的有益效果为:本发明所述一种玻璃基板的缺陷检测方法，该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本，提高检测效率。
【具体实施方式】
[0011]下面结合具体的实施方式来对本发明进行说明。
[0012]玻璃基板的缺陷检测方法，它包括以下步骤:
A、将玻璃基板固定于夹具，玻璃基板前端为光源，玻璃基板后端为摄像头； B、打开光源，摄像头对玻璃基板进行图像采集；
C、对摄像头所采集的图像进行图像处理:
O目标提取:对图像进行预处理分割，采用全局阈值技术处理及信号放大，使灰度图像背景与缺陷分割开，完成缺陷灰度图预处理，为图像的特征提取做准备；
2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后，对缺陷进行分类，提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述，得到缺陷的特征数值；
3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值，将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘；
D、打印数据报表和图片，包含缺陷的分类和对应的特征数值，以及标准缺陷数值。
[0013]作为优选的实施方式，所述摄像头的数量至少为三个，并可根据玻璃基板的大小，设置不同数量的摄像头。所述光源连接有光源控制器，可根据不同的玻璃基板设置光源的亮度，所述光源为LED发光体。
[0014]上述一种玻璃基板的缺陷检测方法，通过对摄像头所采集的图像进行图像处理，生产缺陷的分类和缺陷的特征数值，便于检测人员快速判断缺陷，该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本，提高检测效率。
[0015]以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在【具体实施方式】及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
【主权项】
1.玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于，它包括以下步骤: A、将玻璃基板固定于夹具，玻璃基板前端为光源，玻璃基板后端为摄像头； B、打开光源，摄像头对玻璃基板进行图像采集； C、对摄像头所采集的图像进行图像处理: O目标提取:对图像进行预处理分割，采用全局阈值技术处理及信号放大，使灰度图像背景与缺陷分割开，完成缺陷灰度图预处理，为图像的特征提取做准备； 2)特征提取:在缺陷灰度图预处理后，对缺陷进行分类，提取缺陷的几何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用这些特征完成对缺陷的长宽、长宽比、面积、平均灰度、明暗对比度、填充度的数学描述，得到缺陷的特征数值； 3)缺陷的分类:根据缺陷的特征数值，将相应特征所对应的缺陷划分为表面内部包含物、粘附物、气泡、划伤、灰尘； D、打印数据报表和图片，包含缺陷的分类和对应的特征数值，以及标准缺陷数值。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于:所述摄像头的数量至少为三个。
3.根据权利要求1所述的玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于:所述光源连接有光源控制器。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板的缺陷检测方法，其特征在于:所述光源为LED发光体。
【专利摘要】本发明涉及液晶显示器玻璃基板检测技术领域，尤其涉及玻璃基板的缺陷检测方法，通过对摄像头所采集的图像进行图像处理，生产缺陷的分类和缺陷的特征数值，便于检测人员快速判断缺陷，该玻璃基板的缺陷检测方法可降低设备成本，提高检测效率。
【IPC分类】G01N21-958
【公开号】CN104568989
【申请号】CN201410839372
【发明人】肖红星
【申请人】湖北优尼科光电技术股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月30日