有载分接开关测试仪校验装置的制造方法

文档序号:8666133阅读:277来源:国知局
有载分接开关测试仪校验装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及高压电气校验及电力测试领域,具体为一种有载分接开关测试仪校验装置。
【背景技术】
[0002]有载分接开关是一种为变压器在负载变化时提供恒定电压的开关装置。其基本原理就是在保证不中断负载电流的情况下,实现变压器绕组中分接头之间的切换,从而改变绕组的匝数,即变压器的电压比,最终实现调压的目的。在目前的输变电行业中,大型变压器都广泛地安装了有载调压开关以保证系统和用户的电压质量。而有载分接开关是有载调压开关中的关键部件,但目前对有载分接开关测试仪的质量检测还缺乏有效、完善、准确的设备和方法。
【实用新型内容】
[0003]为了克服现有技术的缺陷,提供一种质量好、校验准确、功能完善的检测设备,本实用新型公开了一种有载分接开关测试仪校验装置。
[0004]本实用新型通过如下技术方案达到发明目的:
[0005]一种有载分接开关测试仪校验装置,包括触摸屏、控制ARM模块、时间基准模块、切换模块、电阻网络和模拟开关,其特征是:
[0006]控制ARM模块为本实用新型的主控,控制ARM模块通过信号线分别连接触摸屏、时间基准模块、切换模块和模拟开关,切换模块通过信号线连接电阻网络,
[0007]控制ARM模块接收时间基准模块发出的时间基准信号并作为工作的时间源,控制ARM模块通过TTL电平的串口连接触摸屏,控制ARM模块通过并口连接并控制切换模块进行电阻网络的变换从而达到模拟过渡电阻的要求;控制ARM模块接收时间基准模块发出的时间基准信号和触摸屏传来的指令后通过并口控制模拟开关按照时序进行动作从而达到模拟过流时间的要求。
[0008]所述的有载分接开关测试仪校验装置,其特征是:
[0009]触摸屏选用高色位、高像素、高亮度的彩色触摸屏;
[0010]控制ARM模块的时钟主频不低于72MHz ;
[0011 ] 时间基准模块选用高精度的恒温晶振;
[0012]切换模块选用低导通电阻的高精密继电器开关从而保证电阻的准确度;
[0013]电阻网络选用精度为0.1级的精密电阻按照十进制方式通过精密镀银触点继电器制成;
[0014]模拟开关选用转换周期不长于μ s的电子开关从而保证时间的准确度。
[0015]本实用新型使用时,触摸屏接收到指令后发送到控制ARM模块,控制ARM模块根据指令驱动切换模块进行电阻的切换从而达到模拟过渡电阻的过程,过渡时间的转换采用模拟开关,控制ARM模块根据指令计算出模拟开关动作的时间,然后驱动模拟开关进行转换。
[0016]本实用新型可用于测试变压器有载分接开关的过渡电阻和过渡时间,以检查有载分接开关的性能与质量。本实用新型含有电阻网络和时间基准模块,可以产生模拟的有载分接开关测试仪所需的电阻和时间,能在无需外部仪器配合下进行有载开关测试仪的校验。本实用新型的有益效果是:操作简便,便于携带,质量好,校验准确,功能完善。
【附图说明】
[0017]图1是本实用新型的外观示意图;
[0018]图2是本实用新型的系统结构图。
【具体实施方式】
[0019]以下通过具体实施例进一步说明本实用新型。
[0020]实施例1
[0021]一种有载分接开关测试仪校验装置,包括触摸屏1、控制ARM模块2、时间基准模块3、切换模块4、电阻网络5和模拟开关6,如图1和图2所示,具体结构是:
[0022]控制ARM模块2为本实施例的主控,控制ARM模块2通过信号线分别连接触摸屏1、时间基准模块3、切换模块4和模拟开关6,切换模块4通过信号线连接电阻网络5,
[0023]控制ARM模块2接收时间基准模块3发出的时间基准信号并作为工作的时间源,控制ARM模块2通过TTL电平的串口连接触摸屏I,控制ARM模块2通过并口连接并控制切换模块4进行电阻网络5的变换从而达到模拟过渡电阻的要求;控制ARM模块2接收时间基准模块3发出的时间基准信号和触摸屏I传来的指令后通过并口控制模拟开关6按照时序进行动作从而达到模拟过流时间的要求。
[0024]本实施例中:
[0025]触摸屏I选用高色位、高像素、高亮度的彩色迪文D⑶S触摸屏,D⑶S是DWINGraphical Utilized Software的简称,即迪文图形应用服务软件,是基于迪文K600+内核所设计的完全自主创新的智慧型GUI系统软件;
[0026]控制ARM模块2选用意法半导体公司即(ST)出品的STM32F103F系列,STM32F1系列属于中低端的32位ARM微控制器,其内核是Cortex-M3,最高72MHz工作频率,在存储器的零等待周期访问时可达1.25DMips/MHZ(Dhryst0Ne2.1),内置单周期乘法和硬件除法,芯片集成定时器,CAN, ADC, SPI,I2C,USB, UART等多种功能;
[0027]时间基准模块3选用高精度的恒温晶振,恒温晶体振荡器是一种能够控制石英晶体元件基本保持恒定的石英晶体振荡器,它是利用热力学原理,把石英晶体或全部振荡电路放置于恒温器内来改善频率温度特性的晶体振荡器,具有高精度、高稳定度、低噪声、高频化等特点;
[0028]切换模块4选用ST公司出品的2003驱动芯片推动日本松下公司出品的低导通电阻的高精密继电器开关从而保证电阻的准确度;
[0029]电阻网络5选用精度为0.1级的精密电阻按照十进制方式通过精密镀银触点继电器制成;
[0030]模拟开关6选用转换周期不长于10 μ s的电子开关从而保证时间的准确度。
[0031]本实施例使用时,由电源10向触摸屏1、控制ARM模块2、切换模块4和模拟开关6供电,触摸屏I接收到指令后发送到控制ARM模块2,控制ARM模块2根据指令驱动切换模块4进行电阻的切换从而达到模拟过渡电阻的过程,过渡时间的转换采用模拟开关6,控制ARM模块2根据指令计算出模拟开关6动作的时间,然后驱动模拟开关6进行转换。
【主权项】
1.一种有载分接开关测试仪校验装置,包括触摸屏(I)、控制ARM模块(2)、时间基准模块(3)、切换模块(4)、电阻网络(5)和模拟开关(6),其特征是: 控制ARM模块⑵通过信号线分别连接触摸屏(I)、时间基准模块(3)、切换模块(4)和模拟开关(6),切换模块(4)通过信号线连接电阻网络(5), 控制ARM模块(2)接收时间基准模块(3)发出的时间基准信号并作为工作的时间源,控制ARM模块(2)通过TTL电平的串口连接触摸屏(I),控制ARM模块(2)通过并口连接并控制切换模块⑷进行电阻网络(5)的变换;控制ARM模块⑵接收时间基准模块(3)发出的时间基准信号和触摸屏(I)传来的指令后通过并口控制模拟开关(6)按照时序进行动作。
2.如权利要求1所述的有载分接开关测试仪校验装置,其特征是: 触摸屏(I)选用高色位、高像素、高亮度的彩色触摸屏; 控制ARM模块(2)的时钟主频不低于72MHz ; 时间基准模块⑶选用高精度的恒温晶振; 切换模块(4)选用低导通电阻的高精密继电器开关; 电阻网络(5)选用精度为0.1级的精密电阻按照十进制方式通过精密镀银触点继电器制成; 模拟开关(6)选用转换周期不长于10 μ s的电子开关。
【专利摘要】本实用新型涉及高压电气校验及电力测试领域,具体为一种有载分接开关测试仪校验装置。一种有载分接开关测试仪校验装置,包括触摸屏(1)、控制ARM模块(2)、时间基准模块(3)、切换模块(4)、电阻网络(5)和模拟开关(6),控制ARM模块(2)通过信号线分别连接触摸屏(1)、时间基准模块(3)、切换模块(4)和模拟开关(6),切换模块(4)通过信号线连接电阻网络(5),本实用新型操作简便,便于携带,质量好,校验准确,功能完善。
【IPC分类】G01R35-00
【公开号】CN204374399
【申请号】CN201420606359
【发明人】李雪华, 杜鸿江
【申请人】上海源佳通电气有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2014年10月20日
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