一种yvo4配对检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光学领域，尤其涉及一种YV04配对检测装置。
【背景技术】
[0002]酸钇(YVO4)单晶是一种具有优良物理光学性能的双折射晶体材料。该晶体透光范围宽，透过率高、双折射系数大、并易于加工。因此，YVO4晶体被广泛应用于光纤通信领域，是光通信无源器件如光隔离器、旋光器、延迟器、偏振器中的关键材料。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的是针对以上不足之处，提供了一种YV04配对检测装置，用于检测元器件YV04晶体且进行优良区分。
[0004]本实用新型解决技术问题所采用的方案是:一种YV04配对检测装置，其特征在于:包括一 LED光源，所述LED光源经依次经一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋转器、二分之一波片和一检偏器；所述检偏器的偏振方向与所述起偏器的偏振方向成45°，所述检偏器和所述起偏器的偏振片为YV04晶体。
[0005]进一步的，所述法拉第旋转器与一外部电源电连接，所述法拉第旋转器的旋转角为 45。ο
[0006]进一步的，所述LED光源为水平和垂直交错设置。
[0007]与现有技术相比，本实用新型有以下有益效果:用于检测元器件YV04晶体进行优良区分，LED光源输出后经YV04起偏作用后，通过法拉第旋转器磁旋转光输出，再通过二分之一波片输出，通过YV04检偏作用下进行判断，主要可检测光斑重合度，椭圆度，清晰度，以达到检测元器件的配对是否合格。
【附图说明】
[0008]下面结合附图对本实用新型专利进一步说明。
[0009]图1为本实用新型实施例的结构示意图。
[0010]图中:1- LED光源；2_起偏器；3_法拉第旋转器；4_ 二分之一波片；5_检偏器。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。
[0012]如图1所示，本实施例的一种一种YV04配对检测装置，其特征在于:包括一 LED光源1，所述LED光源I经依次经一垂直偏振的起偏器2、一法拉第旋转器3、二分之一波片4和一检偏器5 ;所述检偏器5的偏振方向与所述起偏器2的偏振方向成夹角45°，所述检偏器5和所述起偏器2的偏振片为YV04晶体。
[0013]从上述可知，本实用新型的有益效果在于:用于检测元器件YV04晶体进行优良区分，LED光源I输出后经YV04起偏作用后，通过法拉第旋转器3磁旋转光输出，再通过二分之一波片4输出，通过YV04检偏作用下进行判断，主要可检测光斑重合度，椭圆度，清晰度，以达到检测元器件的配对是否合格。
[0014]在本实施例中，所述法拉第旋转器3与一外部电源电连接，所述法拉第旋转器3的旋转角为45°。
[0015]在本实施例中，所述LED光源I为水平和垂直交错设置。
[0016]下面通过对本实施例的具体工作原理对本实用新型做进一步的解释。
[0017]LED光源I输入后，通过YV04起偏器2输出光垂直偏振光，当偏振光通过法拉第旋转器3时，开启外部电源，法拉第旋转器3内部进行切割磁感线，在磁场作用下，光偏振方向旋转角为Φ =FHL，式中H为磁场强度，L为法拉第材料长度，F为材料的贾尔德系数，使得法拉第旋转器3的旋转角为45°。
[0018]如图1，当LED光源I输入通过垂直偏振起偏器2后，成为垂直偏振光，经过法拉第旋转器3旋转了 45°，法拉第旋转器3旋转的角度存在延迟度，而通过二分之一波片4补足法拉第旋转器3的延迟度。检偏器5偏振方向和起偏器I偏振方向成45°角，使得光线顺利通过，而反射回来的偏振光经过检偏器5、法拉第旋转器3以后，继续沿同一方向旋转45°，即偏振方向刚好与起偏器I偏振方向垂直，则光无法反向通过，从而可以判断YV04晶体作为起偏器和检偏器的偏振片是否配对合格。
[0019]综上所述，本实用新型提供的一种YV04配对检测装置，不仅结构简单，可用于检测光斑重合度，椭圆度，清晰度，以达到检测元器件的配对是否合格。
[0020]上列较佳实施例，对本实用新型的目的、技术方案和优点进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种YV04配对检测装置，其特征在于:包括一 LED光源，所述LED光源经依次经一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋转器、二分之一波片和一检偏器；所述检偏器的偏振方向与所述起偏器的偏振方向成45°，所述检偏器和所述起偏器的偏振片为YV04晶体。2.根据权利要求1所述的一种YV04配对检测装置，其特征在于:所述法拉第旋转器与一外部电源电连接，所述法拉第旋转器的旋转角为45°。3.根据权利要求1所述的一种YV04配对检测装置，其特征在于:所述LED光源为水平和垂直交错设置。
【专利摘要】本实用新型涉及一种YVO4配对检测装置，其特征在于：包括一LED光源，所述LED光源经依次经一垂直偏振的起偏器、一法拉第旋转器、二分之一波片和一检偏器；所述检偏器的偏振方向与所述起偏器的偏振方向成45°，所述检偏器和所述起偏器的偏振片为YVO4晶体。本实用新型的有益效果在于：用于检测元器件YVO4晶体进行优良区分，LED光源输出后经YVO4起偏作用后，通过法拉第旋转器磁旋转光输出，再通过二分之一波片输出，通过YVO4检偏作用下进行判断，主要可检测光斑重合度，椭圆度，清晰度，以达到检测元器件的配对是否合格。
【IPC分类】G01M11/02
【公开号】CN204788902
【申请号】CN201520501926
【发明人】陈从贺
【申请人】福州恒光光电有限公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年7月13日