用于检查两串相交孔交点误差的检具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于误差检具领域，具体涉及一种用于检查两串相交孔交点误差的检具。
【背景技术】
[0002]对于两串重要相交孔，传统的检测手法是采用三坐标检查仪进行测量，虽然检测精度高，但检测周期长、效率低下，检测成本较高。
【发明内容】
[0003]有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种可缩短检测周期，提高检测效率的用于检查两串相交孔交点误差的检具。
[0004]为达到上述目的，本实用新型提供如下技术方案:一种用于检查两串相交孔交点误差的检具，包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块，各检查轴一端套有轴套，其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽。
[0005]进一步，所述轴套为阶梯式的变径轴套。
[0006]进一步，所述轴套有若干个，各轴套外径与待检孔内径尺寸一致。
[0007]本实用新型的有益效果在于:该检具结构、组成简单，可根据实际生产情况进行加工，造价低廉，能实现快速检验，极大的节约了检验周期，提高了检验效率，节约了检验成本，适于批量零件的快速检验。
【附图说明】
[0008]为了使本实用新型的目的、技术方案和有益效果更加清楚，本实用新型提供如下附图进行说明:
[0009]图1为本实用新型的不意图；
[0010]图2为图1的A-A剖视图。
【具体实施方式】
[0011]下面将结合附图，对本实用新型的优选实施例进行详细的描述。
[0012]如图所示，本实施例中的用于检查两串相交孔交点误差的检具，包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套I及若干个标准块，各检查轴一端套有轴套I，其中一个检查轴2的另一端上设有用于穿过另一个检查轴3的让位槽21。所述轴套I有若干个，各轴套I外径与待检孔内径尺寸一致。
[0013]具体的，两根检查轴对应穿过两个相交的待检孔，各检查轴上的轴套I尺寸与待检孔的内径尺寸一致，轴套I与待检孔紧密配合，安装在两个轴套I上的两个检查轴相交，选取合适的标准块，测量两个相交检查轴间的间隙，此间隙即是两相交孔交点误差。当然，也可直接将多个不同直径大小的轴套I集成在一起，即轴套为阶梯式的变径轴套，此时，只需在两根检查轴端部各安装一个变径轴套即可。
[0014]最后说明的是，以上优选实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管通过上述优选实施例已经对本实用新型进行了详细的描述，但本领域技术人员应当理解，可以在形式上和细节上对其作出各种各样的改变，而不偏离本实用新型权利要求书所限定的范围。
【主权项】
1.一种用于检查两串相交孔交点误差的检具，其特征在于:包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块，各检查轴一端套有轴套，其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽。2.根据权利要求1所述的用于检查两串相交孔交点误差的检具，其特征在于:所述轴套为阶梯式的变径轴套。3.根据权利要求1所述的用于检查两串相交孔交点误差的检具，其特征在于:所述轴套有若干个，各轴套外径与待检孔内径尺寸一致。
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于检查两串相交孔交点误差的检具，包括两个可相互配合的检查轴、对应套装在两检查轴上的轴套及若干个标准块，各检查轴一端套有轴套，其中一个检查轴的另一端上设有用于穿过另一个检查轴的让位槽；该检具结构、组成简单，极大的节约了检验周期，提高了检验效率，节约了检验成本，适于批量零件的快速检验。
【IPC分类】G01B5/14
【公开号】CN205300468
【申请号】
【发明人】高小红, 龙凤
【申请人】重庆机床(集团)有限责任公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2016年1月15日