Ssd固态硬盘稳定性测试设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及固态硬盘存储的技术领域，尤其是涉及一种SSD固态硬盘稳定性测试设备。
【背景技术】
[0002]SSD固态硬盘稳定性测试设备是用于数据资料存储设备，SSD固态硬盘的稳定性决定了写入和读取数据资料的安全性。现有的SSD固态硬盘测试设备包括高低温测试设备，疲劳测试设备，异常断电设备等等，但上述设备都是独立分开的，需要单独购买，而且在测试每个项目时，需要单独的测试设定和需要多个人员去操作，其测试成本较高，操作繁琐，工作效率较低。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的在于提供一种SSD固态硬盘稳定性测试设备，其能节约生产成本，提高测试效率，保证SSD固态硬盘的工作稳定性。
[0004]为实现上述实用新型目的，本实用新型采用如下技术方案:
[0005]—种SSD固态硬盘稳定性测试设备，包括:用于放置待测试的SSD固态硬盘的测试仓、连接于所述SSD固态硬盘的电路板及显示器，所述显示器连接于所述电路板，所述电路板上设有主控芯片、连接于所述主控芯片的调温单元及疲劳测试单元、异常断电测试单元。
[0006]进一步，在上述SSD固态硬盘稳定性测试设备中，所述调温单元包括设于所述测试仓I中的加热元件或冷凝元件以及温控电路。
[0007]进一步，在上述SSD固态硬盘稳定性测试设备中，所述加热元件为发热盘或发热丝，所述冷凝元件为冷凝剂。
[0008]进一步，在上述SSD固态硬盘稳定性测试设备中，所述疲劳测试单元包括:第一设定子单元、读写子单元及校验子单元，所述第一设定子单元用于设定所述SSD固态硬盘进行疲劳测试的时间；所述读写子单元用于对所述SSD固态硬盘进行连续大文件的读写及随机小文件的读写;所述校验子单元用于对疲劳测试时SSD固态硬盘的传输数据进行校验。
[0009]进一步，在上述SSD固态硬盘稳定性测试设备中，所述异常断电测试单元包括:第二设定子单元、电源开断子单元及检测子单元，所述第二设定子单元用于设定所述SSD固态硬盘进行异常断电的次数;所述电源开断子单元用于对所述SSD固态硬盘的电源进行连续开启及关断;所述检测子单元用于检测异常断电测试时SSD固态硬盘是否损坏或存储数据是否丢失。
[0010]本实用新型SSD固态硬盘稳定性测试设备节约了生产成本，提高了测试效率，保证了 SSD固态硬盘的工作稳定性。
【附图说明】
[0011]图1为本实用新型SSD固态硬盘稳定性测试设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0012]为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
[0013]请参阅图1，本实用新型一种SSD固态硬盘稳定性测试设备包括:用于放置待测试的SSD固态硬盘(图未示)的测试仓1、连接于所述SSD固态硬盘的电路板2及显示器3，所述显示器3连接于所述电路板2，所述电路板2上设有主控芯片4、连接于所述主控芯片4的调温单元5及疲劳测试单元6、异常断电测试单元7。
[0014]其中，所述调温单元5包括设于所述测试仓I中的加热元件或冷凝元件以及温控电路，所述主控芯片4通过温控电路驱动加热元件或冷凝元件工作，从而可设定调节测试仓I内的温度。本实施例中，所述加热元件为发热盘或发热丝，所述冷凝元件为冷凝剂。本实用新型可以把SSD固态硬盘环境温度设定在高温或低温的环境下(-40摄氏度到85摄氏度区域)。
[0015]所述疲劳测试单元6由一组芯片电路组成，此芯片电路有三个功能部分组成，第一个功能部分是写入，第二个功能部分是读取，第三个功能部分是将写入和读取的数据做比较。所述疲劳测试单元6包括:第一设定子单元61、读写子单元62及校验子单元63，所述第一设定子单元61用于设定所述SSD固态硬盘进行疲劳测试的时间；所述读写子单元62用于对所述SSD固态硬盘进行连续大文件的读写及随机小文件的读写;所述校验子单元63用于对疲劳测试时SSD固态硬盘的传输数据进行校验。
[0016]需要说明的是，所述疲劳测试单元6在对所述SSD固态硬盘进行疲劳测试时，还可以以SSD固态硬盘时行一次大文件的读写和随机小文件的读写为一圈，通过设定第一设定子单元61来设定测试圈数。
[0017]所述异常断电测试单元7由一组计时器和继电器组成，可以通过计时器设定继电器开和关的时间。
[0018]所述异常断电测试单元7包括:第二设定子单元71、电源开断子单元72及检测子单元73，所述第二设定子单元71用于设定所述SSD固态硬盘进行异常断电的次数;所述电源开断子单元72用于对所述SSD固态硬盘的电源进行连续开启及关断；所述检测子单元73用于检测异常断电测试时SSD固态硬盘是否损坏或存储数据是否丢失。
[0019]本实用新型一种SSD固态硬盘稳定性测试设备的具体工作过程如下:
[0020]首先，打开测试仓I的门，将待测试的SSD固态硬盘放置于测试仓I中并且将SSD固态硬盘连接于电路板2，关上测试仓I的门，启动本测试设备，所述显示器3上设有连接于第一设定子单元61及第二设定子单元71的实体或虚拟按键，即通过显示器3设定需要测试的参数，如需要工作在85摄氏度，疲劳测试时间为12小时，异常断电为200次，则在显示器3通过相对应的参数选项中，选择温度85摄氏度，疲劳测试为12小时，异常断电的次数为200次。[0021 ]接着，设定完毕后，点击开始测试，本测试设备开始运行;测试仓I内的温度开始上升，当达到85摄氏度的时候停止，开始对SSD固态硬盘进行疲劳测试，通过读写子单元62不停的对SSD固态硬盘对行连续大文件的读写和随机小文件的读写，通过校验子单元63在测试时校验在SSD固态硬盘的数据是否错误，若有，则判定SSD固态硬盘有问题；
[0022]接着，当疲劳测试完成后，本测试设备会自动进入到异常断电测试项目，通过电源开断子单元71对所述SSD固态硬盘的电源进行连续开启及关断，通过所述检测子单元72用于检测异常断电测试时SSD固态硬盘是否损坏或存储数据是否丢失。当发现SSD固态硬盘损坏或数据丢失的情况下，则判定此SSD固态硬盘不合格。这样，就实现了测试SSD固态硬盘在不同的温度环境下，电脑主机由于停电或不小心断电，是否会引起SSD固态硬盘造成损坏，以及已存储进去的资料是否会丢失。
[0023]最后，当测试完成后，会将测试完的结果通过数据表格的方式呈现于显示器3中，以直观形象的告知测试人员，待测试的SSD固态硬盘在哪个测试环节出现了异常。
[0024]相比于现有技术，本实用新型SSD固态硬盘稳定性测试设备采用测试项目测试集成化的方式，通过一组测试参数设定，就可以将所有的测试项目完成，并将每个测试项目的测试结果以图表的方式显示出来。
[0025]相对于现在的测试方法，本实用新型SSD固态硬盘稳定性测试设备避免了用户购买多种测试设备，不需要更多的人员去操作和设定测试项目的参数，节约了生产成本，提高了测试效率，保证了 SSD固态硬盘的工作稳定性。
[0026]综上，本实用新型SSD固态硬盘稳定性测试设备节约了生产成本，提高了测试效率，保证了 SSD固态硬盘的工作稳定性。
[0027]这里本实用新型的描述和应用是说明性的，并非想将本实用新型的范围限制在上述实施例中。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本实用新型的精神或本质特征的情况下，本实用新型可以以其它形式、结构、布置、比例，以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本实用新型范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。
【主权项】
1.一种SSD固态硬盘稳定性测试设备，其特征在于，包括:用于放置待测试的SSD固态硬盘的测试仓、连接于所述SSD固态硬盘的电路板及显示器，所述显示器连接于所述电路板，所述电路板上设有主控芯片、连接于所述主控芯片的调温单元及疲劳测试单元、异常断电测试单元。2.根据权利要求1所述的SSD固态硬盘稳定性测试设备，其特征在于，所述调温单元包括设于所述测试仓I中的加热元件或冷凝元件以及温控电路。3.根据权利要求2所述的SSD固态硬盘稳定性测试设备，其特征在于，所述加热元件为发热盘或发热丝，所述冷凝元件为冷凝剂。4.根据权利要求1所述的SSD固态硬盘稳定性测试设备，其特征在于，所述疲劳测试单元包括:第一设定子单元、读写子单元及校验子单元，所述第一设定子单元用于设定所述SSD固态硬盘进行疲劳测试的时间；所述读写子单元用于对所述SSD固态硬盘进行连续大文件的读写及随机小文件的读写;所述校验子单元用于对疲劳测试时SSD固态硬盘的传输数据进行校验。5.根据权利要求1所述的SSD固态硬盘稳定性测试设备，其特征在于，所述异常断电测试单元包括:第二设定子单元、电源开断子单元及检测子单元，所述第二设定子单元用于设定所述SSD固态硬盘进行异常断电的次数;所述电源开断子单元用于对所述SSD固态硬盘的电源进行连续开启及关断;所述检测子单元用于检测异常断电测试时SSD固态硬盘是否损坏或存储数据是否丢失。
【专利摘要】本实用新型提供一种SSD固态硬盘稳定性测试设备，包括：用于放置待测试的SSD固态硬盘的测试仓、连接于所述SSD固态硬盘的电路板及显示器，所述显示器连接于所述电路板，所述电路板上设有主控芯片、连接于所述主控芯片的调温单元及疲劳测试单元、异常断电测试单元。本实用新型节约了生产成本，提高了测试效率，保证了SSD固态硬盘的工作稳定性。
【IPC分类】G06F11/22
【公开号】CN205302267
【申请号】
【发明人】沈金良
【申请人】深圳市金胜电子科技有限公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2015年12月31日