一种预留测试点手机转接线的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种预留测试点手机转接线，包括线材基体、连接线、插拔手指、连接器，连接器设置在线材基体反面，连接器前后两侧设有脱锡层，连接器左右两侧设有与连接器电连接的测试线，测试线末端设有裸露的测试点，相邻测试点之间距离为0.6-0.8mm，便于测试，防止相互干扰，测试线自连接器向外扩散，测试线上设有过孔，线材基体反面设有覆铜层，覆铜层中心设有镂空区，连接器、脱锡层、测试线以及测试点均位于镂空区，信号干扰屏蔽效果好，提高测试点处的硬度，便于测试。本实用新型在连接器左右两侧设有裸露的测试点不破坏整机情况下能够直接量测其相关屏参数，同时又可以直接利用整机中的主板更加方便地测试显示模组。
【专利说明】
一种预留测试点手机转接线
技术领域
[0001]本实用新型涉及转接线技术领域，特别涉及一种预留测试点手机转接线。
【背景技术】
[0002]随着消费类手机、平板及笔记本大量地应用，一些客诉不良在所难免，所以为快速应对及尽快解决问题已显得很重要了，在不用完全拆解整机的情况下又能够尽快分析显示屏的显示不良就至关重要了。
【实用新型内容】
[0003]针对现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种预留测试点手机转接线。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种预留测试点手机转接线，包括线材基体、覆盖在线材基体正面的连接线、设置在所述线材基体头部正面的插拔手指、设置在线材基体尾部的连接器，所述连接器设置在所述线材基体反面，所述连接器前后两侧设有脱锡层，所述连接器左右两侧设有与所述连接器电连接的测试线，所述测试线末端设有裸露的测试点，相邻测试点之间距离为0.6-0.8mm，所述测试线自连接器向外扩散，所述测试线上设有与所述连接线对应电连接的过孔，所述线材基体反面设有覆铜层，所述覆铜层中心设有镂空区，所述连接器、脱锡层、测试线以及测试点均位于所述镂空区，所述覆铜层前后两侧各设有一排接地的过孔。
[0005]上述设计中在连接器左右两侧设有裸露的测试点不破坏整机情况下能够直接量测其相关屏参数，同时又可以直接利用整机中的主板更加方便地测试显示模组；相邻测试点之间距离为0.6-0.8mm，便于测试，防止相互干扰;所述连接器、脱锡层、测试线以及测试点均位于所述覆铜层的镂空区，信号干扰屏蔽效果好，提高测试点处的硬度，便于测试。
[0006]作为本设计的进一步改进，所述连接器为两竖排。
[0007]作为本设计的进一步改进，所述测试点表面为镀金材质，电阻小，便于测试。
[0008]作为本设计的进一步改进，所述测试点外设有与所述测试点同心的疏水油墨环，防止连接线受潮使得测试点之间导通，测试成功率高。
[0009]作为本设计的进一步改进，所述过孔直径大于所述测试线宽度，连接强度大，防止测试点撕裂导致连接器损坏。
[0010]作为本设计的进一步改进，所述过孔截面为梅花状，防撕裂效果好。
[0011]本实用新型的有益效果是:本实用新型在连接器左右两侧设有裸露的测试点不破坏整机情况下能够直接量测其相关屏参数，同时又可以直接利用整机中的主板更加方便地测试显示模组；相邻测试点之间距离为0.6-0.8mm，便于测试，防止相互干扰;所述连接器、脱锡层、测试线以及测试点均位于所述覆铜层的镂空区，信号干扰屏蔽效果好，提高测试点处的硬度，便于测试。
【附图说明】
[0012]下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
[0013]图1是本实用新型的线材基体尾部反面结构示意图。
[0014]图2是本实用新型的线材基体头部正面结构示意图。
[0015]在图中1.线材基体，2.过孔，3.测试点，4.覆铜层，5.插拔手指，6.连接器，7.测试线，8.脱锡层，9.疏水油墨环，10.连接线，11.镂空区。
【具体实施方式】
[0016]下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，其中的示意性实施例以及说明仅用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。
[0017]实施例:一种预留测试点3手机转接线，包括线材基体1、覆盖在线材基体I正面的连接线10、设置在所述线材基体I头部正面的插拔手指5、设置在线材基体I尾部的连接器6，所述连接器6设置在所述线材基体I反面，所述连接器6前后两侧设有脱锡层8，所述连接器6左右两侧设有与所述连接器6电连接的测试线7，所述测试线7末端设有裸露的测试点3，相邻测试点3之间距离为0.6-0.8mm，所述测试线7自连接器6向外扩散，所述测试线7上设有与所述连接线10对应电连接的过孔2，所述线材基体I反面设有覆铜层4，所述覆铜层4中心设有镂空区11，所述连接器6、脱锡层8、测试线7以及测试点3均位于所述镂空区11，所述覆铜层4前后两侧各设有一排接地的过孔2。
[0018]上述设计中在连接器6左右两侧设有裸露的测试点3不破坏整机情况下能够直接量测其相关屏参数，同时又可以直接利用整机中的主板更加方便地测试显示模组；相邻测试点3之间距离为0.6-0.8mm，便于测试，防止相互干扰;所述连接器6、脱锡层8、测试线7以及测试点3均位于所述覆铜层4的镂空区11，信号干扰屏蔽效果好，提高测试点3处的硬度，便于测试。
[0019]作为本设计的进一步改进，所述连接器6为两竖排。
[0020]作为本设计的进一步改进，所述测试点3表面为镀金材质，电阻小，便于测试。
[0021]作为本设计的进一步改进，所述测试点3外设有与所述测试点3同心的疏水油墨环9，防止连接线10受潮使得测试点3之间导通，测试成功率高。
[0022]作为本设计的进一步改进，所述过孔2直径大于所述测试线7宽度，连接强度大，防止测试点3撕裂导致连接器6损坏
[0023]作为本设计的进一步改进，所述过孔2截面为梅花状，防撕裂效果好。
[0024]使用时，直接将本产品插入到整机连接器6中通过量测本产品上的测试点3以获取主板相关电性参数;同时将本产品一端插入整机连接器6另一端插入显示屏，这样就可以实现利用整机的主板提供的信号来驱动显示屏，该方案可以方便地做到有些模拟测试治具所检测不到而整机可以检测到的不良品，同时又方便作业员作业，提高筛选良率，最大程度地将不良品拦截下来。
[0025]以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
【主权项】
1.一种预留测试点手机转接线，包括线材基体、覆盖在线材基体正面的连接线、设置在所述线材基体头部正面的插拔手指、设置在线材基体尾部的连接器，其特征在于，所述连接器设置在所述线材基体反面，所述连接器前后两侧设有脱锡层，所述连接器左右两侧设有与所述连接器电连接的测试线，所述测试线末端设有裸露的测试点，相邻测试点之间距离为0.6-0.8_，所述测试线自连接器向外扩散，所述测试线上设有与所述连接线对应电连接的过孔，所述线材基体反面设有覆铜层，所述覆铜层中心设有镂空区，所述连接器、脱锡层、测试线以及测试点均位于所述镂空区，所述覆铜层前后两侧各设有一排接地的过孔。2.根据权利要求1所述的一种预留测试点手机转接线，其特征是，所述连接器为两竖排。3.根据权利要求1所述的一种预留测试点手机转接线，其特征是，所述测试点表面为镀金材质。4.根据权利要求1所述的一种预留测试点手机转接线，其特征是，所述测试点外设有与所述测试点同心的疏水油墨环。5.根据权利要求1所述的一种预留测试点手机转接线，其特征是，所述过孔直径大于所述测试线宽度。6.根据权利要求5所述的一种预留测试点手机转接线，其特征是，所述过孔截面为梅花状。
【文档编号】H01R31/06GK205488922SQ201620018838
【公开日】2016年8月17日
【申请日】2016年1月8日
【发明人】赵武, 张啟保, 马晓康
【申请人】昆山龙显电子有限公司