技术编号：10139741
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。然而，在当前半导体芯片测试领域，测试插座主要包括下测试座主体、测试探针以及下测试座探针保持板，以此来完成单面引脚阵列芯片的测试。即其只能用来测试单面引脚阵列的芯片，针对双面引脚阵列的新型封装技术芯片，尤其是层叠式半导体芯片的主芯片而言，这种测试插座就不具有同时测试芯片的上下两面的功能。因此，本实用新型的发...
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