一种监控太阳电池片抗pid性能的测试装置的制造方法技术资料下载

技术编号:10171365

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随着光伏发电在世界能源消耗中占有越来越重要的席位,在实际应用过程中,一个发电系统会集成多个光伏组件,组件会暴露在非常高的电压下,在长期高电压的作用下,组件中玻璃和封装材料之间存在漏电现象,使得大量电荷和Na+富集在电池片表面,造成表面钝化减反射膜失效,随后PN结失效,最终使得组件性能持续衰减,这种衰减被称为电位诱发衰减(Potential Induced Degrat1n),即PID效应。造成此类衰减的机理是多方面的,例如在上述高电压的作用下,组件电池的封...
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