技术编号:10421496
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。近年来,以信息技术为代表的新技术促进了电子行业的飞速增长,也极大地推动了测试测量仪器和设备例如芯片测试装置的快速发展;现有技术中,芯片在制作完成后需要对其进行测试,而芯片测试装置均是采用导电针结构,具体的,利用导电针将芯片的接线端子与PCB板接触,而这种导电针通常包括弹簧、套筒等多个部件,结构相对复杂,且无法实现长期高寿命使用。实用新型内容为解决上述技术问题,本实用新型的目的是提供一种用于芯片测试、结构简单、使用寿命高的芯片测试针。本实用新型的一种芯片测试...
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