技术编号：10517714
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。在监测对象或监测散装材料的领域中使用的已知物位测量设备或其它测量设备发射电磁波或超音波，这些电磁波或超声波在填充材料、散装材料或相应对象的表面上至少被部分反射。随后可通过测量设备的天线装置接收至少被部分反射的发射信号，并通过与之相连的电子装置分析该发射信号。通过对填充材料或散装材料的表面进行扫描，能够测定该表面的拓扑(topology)。在本说明书的上下文中，“拓扑”是指填充材料或散装材料(或更广义的对象)的表面的形状。就此而言，也可使用术语“构形(top...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。