技术编号：10533265
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。由于含有集成电路电路的设备工作环境温度是零下40度到零上85度，如果该设备应用于军事领域，它的环境温度可能是零下55度到零上125度，所以，为了保证设备的正常运行，要求指定的温度范围内对集成电路的功能、直流、交流参数进行全部测试；常温、高温测试都容易实现，低温测试容易结霜，结霜之后，影响被测电路的漏电流、功能测试结果；在现有技术中，低温测试方法有多个，比如使用专用仪器-热流罩，对集成电路进行功能、参数测试，测试温度可根据需要设定，缺点是时间长，因为需要把温...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。